CN114113711A - 一种多接口并行测试的方法和系统 - Google Patents

一种多接口并行测试的方法和系统 Download PDF

Info

Publication number
CN114113711A
CN114113711A CN202111444218.2A CN202111444218A CN114113711A CN 114113711 A CN114113711 A CN 114113711A CN 202111444218 A CN202111444218 A CN 202111444218A CN 114113711 A CN114113711 A CN 114113711A
Authority
CN
China
Prior art keywords
interface
test
tested
interfaces
intermediate connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111444218.2A
Other languages
English (en)
Inventor
李超
苏昆
胡瑞璟
董逢华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Tianyu Information Industry Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Tianyu Information Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Tianyu Information Industry Co Ltd filed Critical Wuhan Tianyu Information Industry Co Ltd
Priority to CN202111444218.2A priority Critical patent/CN114113711A/zh
Publication of CN114113711A publication Critical patent/CN114113711A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board

Abstract

本发明公开了一种多接口并行测试的方法,包括:测试端获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类准备对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块连接测试端和待测试接口;测试端通过中间连接模块向对应的待测试接口发送测试指令;待测试接口接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。本发明能对不同种类的接口同时进行测试,统一调动各种类型接口,对多接口实时并发完成精细化的测试。

Description

一种多接口并行测试的方法和系统
技术领域
本发明涉及的是接口测试领域,特别涉及一种多接口并行测试的方法和系统。
背景技术
测试在产品开发中占据着重要的地位,一种产品能不能够发布,它首先必须通过可行性、功能性测试等等。目前,现有的产品测试往往采用的是单一接口的测试形式,以智能卡测试为例,常用的是使用7816接口对接测试PC。
但随着测试需求的不断进化,单一测试接口的测试方法已经不能满足于测试的正常流程,且产品端所能实现的接口类型也越发增多,每种测试接口由于其测试方式的不同,又含有不同的测试用途。那么对于接口种类不同,如何统一调度它们,确认实时并发完成精细化的测试为现阶段亟待解决。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种多接口并行测试的方法和系统。
为了解决上述技术问题,本申请实施例公开了如下技术方案:
一种多接口并行测试的方法,包括:
S100.测试端获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类确定对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块连接测试端和待测试接口;
S200.测试端通过中间连接模块向对应的待测试接口发送测试指令;
S300.待测试接口接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。
进一步地,S100中,待测试接口种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。
进一步地,S200中,对应中间连接模块可以预先集成在一个测试终端内集中控制,或采取多个分散控制,通过连通性测试确认此时处于通路的测试接口。
进一步地,S200中,测试端发送的测试指令包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。
进一步地,当中间连接模块预先集成在一个测试终端时,采用统一的时钟源进行控制。
进一步地,当中间连接模块分散控制时,通过设置一个统一的RTC作为时钟源基数进行校准。
进一步地,S300中,根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理,具体为:根据时钟校准对每个接口进行时钟校准,然后按照数据控制发送逻辑和时延发送测试数据到产品。
本发明还公开了一种多接口并行测试的系统,包括测试端、中间连接模块和待测试接口,其中:
测试端,用于获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类准备对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块向所有待测试接口发送测试指令;
中间连接模块,用于将测试端与待测试接口连接,中间连接模块与待测试接口种类相适应;
待测试接口,用于接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。
进一步地,待测试接口的种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。
进一步地,测试端发送的测试指令,包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。
本发明实施例提供的上述技术方案的有益效果至少包括:
本发明公开的一种多接口并行测试的方法,包括:测试端获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类准备对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块连接测试端和待测试接口;测试端通过对应的中间连接模块向所有待测试接口发送测试指令;待测试接口接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。本发明能对不同种类的接口同时进行测试,统一调动各种类型接口,对多接口实时并发完成精细化的测试。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明实施例1中,一种多接口并行测试的方法的流程图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
为了解决现有技术中存在的问题,本发明实施例提供一种多接口并行测试的方法和系统。
实施例1
本实施例公开了一种多接口并行测试的方法,如图1,包括:
S100.测试端获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类确定对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块连接测试端和待测试接口;
具体的,本实施中,产品所有待测试接口种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。不同的测试接口所采用的中间连接模块并不相同,可以统一命名为相应的模块名。中间连接模块测试端与待测试接口连接,测试端通过主控制器连接不同的接口模块。例如,当待测试接口为蓝牙接口时,中间连接模块为蓝牙模块,通过蓝牙模块将测试端与待测试接口连接;当待测试接口为为wifi接口时,中间连接模块为wifi模块,通过wifi模块将测试端与待测试接口连接。
S200.测试端通过中间连接模块向对应的待测试接口发送测试指令;具体的,测试端发送的测试指令包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。假设当前测试需求和测试场景需求多路并发测试,且测试精度要求的实时性极高,所有的测试模块可以集成在一个测试终端内,或采用多个分散的模块控制,集成在一个终端内可采用统一的时钟源进行控制,采用分散的模块需要设置一个统一的RTC作为时钟源基数进行校准。
S300.待测试接口接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。具体的,根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理,具体为:根据时钟校准对每个接口进行时钟校准,然后按照数据控制发送逻辑和时延发送测试数据到产品。例如以三路(7816、蓝牙、nfc)测试为例,当接受到测试命令对每个接口进行时钟校准后,读取各个时间点所需发送的数据,将数据实时对齐。例如:7816模块待发送数据为:1、2、3、4、5,蓝牙模块待发送数据为:A、B、C、D、E、nfc模块待发送数据为:a、b、c、d、e,那么可以根据发送逻辑控制1的发送时间点,2的发送时间点与A的发送时间点对齐,3的发送时间点与B与a的发送时间点对齐。
本实施例还公开了一种多接口并行测试的系统,包括测试端、中间连接模块和待测试接口,其中:
测试端,用于获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类准备对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块向所有待测试接口发送测试指令;
中间连接模块,用于将测试端与待测试接口连接,中间连接模块与待测试接口种类相适应;
待测试接口,用于接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。
具体的,对于一种多接口并行测试的系统,待测试接口的种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。测试端发送的测试指令,包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。
应该明白,公开的过程中的步骤的特定顺序或层次是示例性方法的实例。基于设计偏好,应该理解,过程中的步骤的特定顺序或层次可以在不脱离本公开的保护范围的情况下得到重新安排。所附的方法权利要求以示例性的顺序给出了各种步骤的要素,并且不是要限于所述的特定顺序或层次。
在上述的详细描述中,各种特征一起组合在单个的实施方案中,以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图,即,所要求保护的主题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反,如所附的权利要求书所反映的那样,本发明处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此,所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中,其中每项权利要求独自作为本发明单独的优选实施方案。
本领域技术人员还应当理解,结合本文的实施例描述的各种说明性的逻辑框、模块、电路和算法步骤均可以实现成电子硬件、计算机软件或其组合。为了清楚地说明硬件和软件之间的可交换性,上面对各种说明性的部件、框、模块、电路和步骤均围绕其功能进行了一般地描述。至于这种功能是实现成硬件还是实现成软件,取决于特定的应用和对整个系统所施加的设计约束条件。熟练的技术人员可以针对每个特定应用,以变通的方式实现所描述的功能,但是,这种实现决策不应解释为背离本公开的保护范围。
结合本文的实施例所描述的方法或者算法的步骤可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或其组合。软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质连接至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该ASIC可以位于用户终端中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于用户终端中。
对于软件实现,本申请中描述的技术可用执行本申请所述功能的模块(例如,过程、函数等)来实现。这些软件代码可以存储在存储器单元并由处理器执行。存储器单元可以实现在处理器内,也可以实现在处理器外,在后一种情况下,它经由各种手段以通信方式耦合到处理器,这些都是本领域中所公知的。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然,为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的,但是本领域普通技术人员应该认识到,各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此,本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外,就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”,该词的涵盖方式类似于术语“包括”,就如同“包括,”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外,使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。

Claims (10)

1.一种多接口并行测试的方法,其特征在于,包括:
S100.测试端获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类确定对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块连接测试端和待测试接口;
S200.测试端通过中间连接模块向对应的待测试接口发送测试指令;
S300.待测试接口接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。
2.如权利要求1所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,S100中,待测试接口种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。
3.如权利要求1所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,S200中,对应中间连接模块预先集成在一个测试终端内集中控制,或采取多个分散控制,通过连通性测试确认此时处于通路的测试接口。
4.如权利要求1所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,S200中,测试端发送的测试指令包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。
5.如权利要求3所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,当中间连接模块预先集成在一个测试终端时,采用统一的时钟源进行控制。
6.如权利要求3所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,当中间连接模块分散控制时,通过设置一个统一的RTC作为时钟源基数进行校准。
7.如权利要求1所述的一种多接口并行测试的方法,其特征在于,S300中,根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理,具体为:根据时钟校准对每个接口进行时钟校准,然后按照数据控制发送逻辑和时延发送测试数据到产品。
8.一种多接口并行测试的系统,其特征在于,包括测试端、中间连接模块和待测试接口,其中:
测试端,用于获取产品所有待测试接口种类,并根据所有待测试接口种类准备对应中间连接模块,通过对应的中间连接模块向所有待测试接口发送测试指令;
中间连接模块,用于将测试端与待测试接口连接,中间连接模块与待测试接口种类相适应;
待测试接口,用于接收测试端发送的测试指令,并根据测试指令对所有待测试接口进行相应处理。
9.如权利要求8所述的一种多接口并行测试的系统,其特征在于,待测试接口的种类,至少包括:7816接口、14443接口、蓝牙接口、nfc接口、wifi接口、串口、SPI接口和IIC接口。
10.如权利要求8所述的一种多接口并行测试的系统,其特征在于,测试端发送的测试指令,包括对每个测试接口对应中间模块的时钟校准和数据控制发送逻辑及时延。
CN202111444218.2A 2021-11-30 2021-11-30 一种多接口并行测试的方法和系统 Pending CN114113711A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111444218.2A CN114113711A (zh) 2021-11-30 2021-11-30 一种多接口并行测试的方法和系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111444218.2A CN114113711A (zh) 2021-11-30 2021-11-30 一种多接口并行测试的方法和系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114113711A true CN114113711A (zh) 2022-03-01

Family

ID=80368668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111444218.2A Pending CN114113711A (zh) 2021-11-30 2021-11-30 一种多接口并行测试的方法和系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114113711A (zh)

Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0685793A2 (en) * 1994-03-09 1995-12-06 Texas Instruments Incorporated Emulation device, system and method with distributed control of test interfaces in clock domains
CN102353923A (zh) * 2011-06-17 2012-02-15 杭州炬华科技股份有限公司 用于电能表的多工位并行测试台
CN103136078A (zh) * 2011-12-01 2013-06-05 上海华虹集成电路有限责任公司 基于c模型的多接口仿真测试系统
US20140035607A1 (en) * 2012-08-03 2014-02-06 Fluke Corporation Handheld Devices, Systems, and Methods for Measuring Parameters
CN105182210A (zh) * 2015-09-29 2015-12-23 中国电力科学研究院 一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法
CN105207712A (zh) * 2015-08-31 2015-12-30 索尔思光电(成都)有限公司 一种光模块多通道并行测试系统及方法
CN106443412A (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 杭州万高科技股份有限公司 一种ic测试装置及方法
CN207588888U (zh) * 2017-07-31 2018-07-06 深圳市菲菱科思通信技术股份有限公司 一种测试装置以及主板
CN110095973A (zh) * 2019-05-24 2019-08-06 国网四川省电力公司电力科学研究院 基于多信号通用接口的时间同步测试仪
CN110737726A (zh) * 2018-07-03 2020-01-31 北京京东尚科信息技术有限公司 一种确定待测试接口的测试数据的方法和装置
CN110798376A (zh) * 2019-10-09 2020-02-14 苏宁云计算有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN210431439U (zh) * 2019-08-23 2020-04-28 北京华大智宝电子系统有限公司 一种蓝牙测试设备
CN111858296A (zh) * 2019-12-31 2020-10-30 北京嘀嘀无限科技发展有限公司 接口测试方法、装置、设备和存储介质
CN112414207A (zh) * 2020-11-03 2021-02-26 北京机电工程研究所 一种便携式通用并行测试设备
CN212965298U (zh) * 2020-09-07 2021-04-13 深圳晶华显示电子股份有限公司 一种带背光端子的显示屏测试系统
CN112668349A (zh) * 2019-10-15 2021-04-16 上海华虹集成电路有限责任公司 一种支持7816与14443接口的参数、指令与加密的测试读卡器
CN112685299A (zh) * 2020-12-25 2021-04-20 广东乐心医疗电子股份有限公司 自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN113138929A (zh) * 2021-05-12 2021-07-20 平安国际智慧城市科技股份有限公司 分布式接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113238904A (zh) * 2021-05-25 2021-08-10 海光信息技术股份有限公司 接口切换装置、接口测试方法及接口切换系统
CN113656301A (zh) * 2021-08-13 2021-11-16 北京锐安科技有限公司 一种接口测试方法、装置、设备及存储介质
CN113672441A (zh) * 2021-08-05 2021-11-19 展讯半导体(成都)有限公司 对智能设备的测试方法及装置

Patent Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0685793A2 (en) * 1994-03-09 1995-12-06 Texas Instruments Incorporated Emulation device, system and method with distributed control of test interfaces in clock domains
CN102353923A (zh) * 2011-06-17 2012-02-15 杭州炬华科技股份有限公司 用于电能表的多工位并行测试台
CN103136078A (zh) * 2011-12-01 2013-06-05 上海华虹集成电路有限责任公司 基于c模型的多接口仿真测试系统
US20140035607A1 (en) * 2012-08-03 2014-02-06 Fluke Corporation Handheld Devices, Systems, and Methods for Measuring Parameters
CN105207712A (zh) * 2015-08-31 2015-12-30 索尔思光电(成都)有限公司 一种光模块多通道并行测试系统及方法
CN105182210A (zh) * 2015-09-29 2015-12-23 中国电力科学研究院 一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法
CN106443412A (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 杭州万高科技股份有限公司 一种ic测试装置及方法
CN207588888U (zh) * 2017-07-31 2018-07-06 深圳市菲菱科思通信技术股份有限公司 一种测试装置以及主板
CN110737726A (zh) * 2018-07-03 2020-01-31 北京京东尚科信息技术有限公司 一种确定待测试接口的测试数据的方法和装置
CN110095973A (zh) * 2019-05-24 2019-08-06 国网四川省电力公司电力科学研究院 基于多信号通用接口的时间同步测试仪
CN210431439U (zh) * 2019-08-23 2020-04-28 北京华大智宝电子系统有限公司 一种蓝牙测试设备
CN110798376A (zh) * 2019-10-09 2020-02-14 苏宁云计算有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN112668349A (zh) * 2019-10-15 2021-04-16 上海华虹集成电路有限责任公司 一种支持7816与14443接口的参数、指令与加密的测试读卡器
CN111858296A (zh) * 2019-12-31 2020-10-30 北京嘀嘀无限科技发展有限公司 接口测试方法、装置、设备和存储介质
CN212965298U (zh) * 2020-09-07 2021-04-13 深圳晶华显示电子股份有限公司 一种带背光端子的显示屏测试系统
CN112414207A (zh) * 2020-11-03 2021-02-26 北京机电工程研究所 一种便携式通用并行测试设备
CN112685299A (zh) * 2020-12-25 2021-04-20 广东乐心医疗电子股份有限公司 自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN113138929A (zh) * 2021-05-12 2021-07-20 平安国际智慧城市科技股份有限公司 分布式接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113238904A (zh) * 2021-05-25 2021-08-10 海光信息技术股份有限公司 接口切换装置、接口测试方法及接口切换系统
CN113672441A (zh) * 2021-08-05 2021-11-19 展讯半导体(成都)有限公司 对智能设备的测试方法及装置
CN113656301A (zh) * 2021-08-13 2021-11-16 北京锐安科技有限公司 一种接口测试方法、装置、设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI286214B (en) Device test apparatus and test method
CN100382016C (zh) 具有加速器的数字信号系统及其操作方法
US7590903B2 (en) Re-configurable architecture for automated test equipment
US7673193B1 (en) Processor-memory unit for use in system-in-package and system-in-module devices
CN103616937B (zh) 一种主板、pcie网卡和服务器系统
US20030105607A1 (en) Circuit testing with ring-connected test instrument modules
US6772248B1 (en) Protocol adapter for in-vehicle networks
CN107451025B (zh) 控制存储芯片的测试方法及系统
US7363188B1 (en) Apparatus and method for operating automated test equipment (ATE)
US7970959B2 (en) DMA transfer system using virtual channels
EP1482412A1 (en) Shared storage arbitration
CN110235393A (zh) 自动化测试方法及系统
CN115641906A (zh) 存储装置的测试方法、测试装置及系统
CN114113711A (zh) 一种多接口并行测试的方法和系统
CN108628712A (zh) 一种应用程序测试方法及终端设备
CN114356820A (zh) 基于ate设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统
US20070250740A1 (en) System and method for conducting BIST operations
CN104615558B (zh) 一种数据传送方法及电子装置
CN110544505B (zh) 用于筛选Wafer中不良Die的测试系统和方法
CN110764835B (zh) 应用环境的文件配置方法、装置、计算机设备和存储介质
CN114610549A (zh) 一种串口闪存芯片测试系统和测试方法
CN101888715A (zh) 具有usb通信和自定位功能的无线电基站及通信方法
CN115328708A (zh) 串行外设接口时序的参数测试方法及测试装置
CN112817893A (zh) 具备扩充外部装置功能的桥接芯片以及扩充方法
CN217766718U (zh) 一种芯片测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination