CN105207712A - 一种光模块多通道并行测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块多通道并行测试系统及方法。所述光模块多通道并行测试系统包括测试板模块、光源、上位机及至少一台光学测试设备，所述测试板模块包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块；所述光源为各个待测试光模块提供光；所述上位机通过控制光开关的通断及发送测试数据控制所述两个以上的待测试光模块进行性能测试。本发明提供的多通道并行测试系统及方法可实现同时对多个待测试光模块进行性能测试，可通过上位机切换不同的待测试光模块利用不同的测试设备完成不同的性能测试，使得测试设备和人员利用率理论上可以达到100%，大大提高了测试效率。

Description

一种光模块多通道并行测试系统及方法

技术领域

本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块多通道并行测试系统及方法。

背景技术

在当前光模块测试领域，通常的测试模式为：由一台上位机（一般为电脑）通过中间转接板（也可称之为协议转换转发模块，其负责将上位机发送的协议转换为待测试光模块可以识别的协议，如RS232转IIC、USB转IIC等）向待测试光模块发送测试数据；这种测试方式的缺点为：每次仅将一个待测试光模块与上位机连接，而在一个待测试光模块测试完毕后，需人工将该待测试光模块取下，再将下一块待测试光模块与上位机连接，才能进行后续的测试；而在更换待测试光模块的这段时间，会造成另外外围测试设备（如示波器）会一直等待状态，这无疑造成了测试设备资源的浪费；同时，相对于待测试光模块与测试设备之间的通讯速度，上位机与待测试光模块之间的通信速度相对较慢（以IIC通信接口为例，最大的传输速度只能达到400kbit/s），这也会造成这造成在测试过程中测试设备（尤其是进行光眼图测试的示波器）经常处于等待状态，特别的，当同一个上位机连接多个设备时，其中一个设备正在使用时，其他的设备必须等待，造成测试设备资源浪费；这都造成了整个光模块测试效率的低下。

发明内容

本发明的目的在于克服现有测试方式中外围测试设备（如示波器）经常处于等待状态而造成的测试效率低下的问题，提供一种可以同时向两个以上的光模块发送测试数据，以使得各个待测试光模块可以无间隔利用外围测试设备进行测试的光模块多通道并行测试系统

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

一种光模块多通道并行测试系统，包括，

测试板模块，包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块接口；所述待测试光模块接口用于连接待测试光模块，每个所述待测试光模块接口均可连接一待测试光模块；所述协议转换转发模块用于将接收到的测试数据转换为接收到的上位机通信接口协议（该协议中包含着各个待测试光模块的测试数据）与对应待测试光模块相匹配的通讯协议，所述协议转换转发模块还将转换后的所述测试数据发送至对应待测试光模块；

光源，通过光开关与待测试光模块连接并为各个待测试光模块提供光；

至少一台光学测试设备，通过光开关（某些实施例中还包括分光器）与所述两个以上待测试光模块连接，用于对所述待测试光模块进行性能测试；

上位机，同时与所述测试板模块及光学测试设备连接，所述上位机根据测试流程对两个以上待测试光模块进行读写操作。所述上位机还通过控制光开关的通断/切换（与上述的对待测试光模块进行读写操作发送测试数据共同作用）控制所述两个以上的待测试光模块进行性能测试。

进一步的，所述光学测试设备为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪，其中，示波器用来测试光口和电口的眼图参数。测光口时，输入到光口的光强度和实际模块的光强度差异不能太大。所以直接将光开关的输出端接到示波器光口。测试电眼图时，将测试板的电信号直接接到示波器的电口输入端。多个模块的RX信号可以通过外接电开关或者电开关芯片进行切换。连接方式和光开关一致。测试项目主要有：ER，CrossingPoint，Jitter等。

光功率计和光谱仪的输入口，可以直接接到光开关的输出端，如果光开关输出端数量有限，可以通过分光器进行分路处理,如图1。光功率主要测试模块发光强度，实际测试值和真实值需要进行校正。光谱仪主要测试光信号的SMSR等。

误码仪用来测试模块的灵敏度。

进一步的，所述两个以上的待测试光模块分别通过1*N光开关或2*N光开关与所述光源及光学测试设备连接；N大于或等于所述待测试光模块数量；

进一步的，所述测试板模块还设置有与所述待测试光模块一一对应的声提示模块或光提示模块；所述声提示模块通过不同的声音区分所述待测试光模块的测试状态；所述光提示模块通过不同颜色的指示灯区分所述待测试光模块的测试状态。

进一步的，所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。

进一步的，待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。

进一步的，待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。

进一步的，上位机与协议转换转发模块通过网口连接、USB连接或串口连接。

进一步的，所述上位机通过不同的通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据；同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。

进一步的，所述上位机通过同一通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识；所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。

优选的，所述测试板模块中包含8个、16个或32个待测试光模块。

本发明同时提供一种光模块多通道并行测试方法，包括，

上位机将两个以上的待测试光模块的测试数据统一发送至协议转换转发模块，所述协议转换转发模块将接收到的测试数据转换为与各个待测试光模块相匹配的通讯协议并将所述测试数据发送至对应待测试光模块；

所述两个以上的待测试光模块与光学测试设备及光源之间通过光开关连接；上位机通过控制光开关的通断及测试数据实现任意时刻同一光学测试设备只与一个待测试光模块接通并对其进行性能测试；

进一步的，所述光学测试设备为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪；即所述光学测试设备可以是示波器、误码仪、信号发生器及光谱仪中的一种或几种或全部，且每种光学测试设备的数量可以根据需要进行调整，如可以同时有2台示波器、1台误码仪、3台信号发生器及4台光谱仪等（数量仅为列举，不代表任何限定）。

进一步的，所述两个以上的待测试光模块分别通过1*N光开关与所述光源及光学测试设备连接；N大于或等于所述待测试光模块数量；

上位机通过控制各个1*N光开关各路输入输出的通断实现待测试光模块与光源、示波器或其他光学设备的接通、关断。

进一步的，本方法通过光提示方式或声提示方式对各个待测试光模块的测试状态进行提示；所述声提示方式指通过不同的声音区分待测试光模块的测试状态；所述光提示方式指通过不同颜色的指示灯区分待测试光模块的测试状态。

进一步的，所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。

进一步的，待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。

进一步的，待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。

进一步的，所述上位机与协议转换转发模块通过网口连接、USB连接或串口连接。

进一步的，所述上位机通过不同的端口向不同的待测试光模块发送测试数据；同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。

进一步的，所述上位机通过一个端口向不同的待测试光模块发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识；所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。

与现有技术相比，本发明的有益效果：本发明提供的多通道并行测试系统及方法可实现同时对多个待测试光模块进行性能测试，可通过上位机切换不同的待测试光模块利用不同的测试设备完成不同的性能测试，使得测试设备和人员利用率理论上可以达到100%，大大提高了测试效率。

附图说明：

图1为现有技术中对光模块测试框架示意图。

图2为本发明实施例1中对光模块测试框架示意图。

图3为本发明实施例2中对光模块测试框架示意图。

图4为本发明实施例中各个光模块某一时刻测试示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

实施例1：如图2所示，本实施例提供一种光模块多通道并行测试系统，包括，测试板模块2，包括协议转换转发模块21及16个待测试光模块接口，所述待测试光模块接口均连接一待测试光模块22；所述协议转换转发模块21用于将接收到的测试数据转换为与对应待测试光模块22相匹配的通讯协议，所述协议转换转发模块21还将转换后的所述测试数据发送至对应待测试光模块22；

光源4，通过1*16光开关与所述16个待测试光模块22连接并为各个待测试光模块提供光；

本实施例中有三种光学测试设备3，分别为一台示波器、一台误码仪和一台光谱仪（应注意的是，所示光学测试设备的种类及台数可以根据需求而设置，如在另外一些实施例中光学测试设备还可以包括信号发生器，而在另外一些实施例中，光学测试设备3可以同时包括2台示波器、3台误码仪、4台光谱仪及7台信号发生器）；本实施例中，所述光学测试设备3均为通过1*16光开关与所述16个待测试光模块22连接（一些实施例中，各个光学测试设备3可以分别单独通过1*1光开关与各个待测试光模块22连接），用于对所述待测试光模块22进行性能测试；其中，示波器用来测试光口和电口的眼图参数。测光口时，输入到光口的光强度和实际模块的光强度差异不能太大。所以直接将光开关的输出端接到示波器光口。测试电眼图时，将测试板的电信号直接接到示波器的电口输入端。多个模块的RX信号可以通过外接电开关或者电开关芯片进行切换。连接方式和光开关一致。测试项目主要有：ER，CrossingPoint，Jitter等。

光功率计和光谱仪的输入口，可以直接接到光开关的输出端，如果光开关输出端数量有限，可以通过分光器进行分路处理,如图1。光功率主要测试模块发光强度，实际测试值和真实值需要进行校正。光谱仪主要测试光信号的SMSR等。

误码仪用来测试模块的灵敏度。

上位机1，同时与所述测试板模块2及光学测试设备3连接，所述上位机1通过控制各个光开关的通断（本实施例中因为光开关为1*16光开关，因此上位机实际控制的为各个1*16光开关不同通道的通断）及发送测试数据控制所述16个待测试光模块22进行性能测试，应注意的是，图1中未显示上位机1与各个光开关的连接关系。本实施例中，所述上位机1通过不同的端口向不同的待测试光模块22发送测试数据；同时所述协议转换转发模块21通过辨认上位机1发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块22，如来自8080端口号的测试数据转发给第5个待测试光模块22，将来自8081端口号的测试数据转发给第6个待测试光模块22；另外一些实施例中，所述上位机1通过一个端口向不同的待测试光模块22发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块22的标识；所述协议转换转发模块21通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块22。

另外，所述上位机还对光学测试设备21进行直接控制，从而获得测试数据；如,测眼图时,上位机给示波器下达测试眼图的指令.测试光功率时,上位机给光功率计下达测试功率的指令,并将测试值返回到上位机。

进一步的，本实施例中，所述测试板模块2还设置有与所述待测试光模块22一一对应的光提示模块（图1中未显示）；所述光提示模块通过不同颜色的指示灯区分所述待测试光模块的测试状态，如绿色指示灯表示对应待测试光模块22正在测试，黄色指示灯表示对应待测试光模块22测试结束。本实施例中所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态,。

进一步的，所述待测试光模块22为通过热插拔方式与所述待测试光模块接口连接，所述协议转换转发模块21通过所述待测试光模块接口向待测试光模块22发送信息。本实施例中，所述待测试光模块22为通过USB连接的方式与所述协议转换转发模块21连接；而在另外一些实施例中也可采用网口或串口方式将所述待测试光模块22与所述协议转换转发模块21连接。

本实施例中，假设每个光模块把每项性能测试做完需要160s，其中瓶颈环节为光口眼图测试（应用示波器进行测试）需要30s，而现有技术中更换不同光模块时间为15s，则意味着采用现有技术中的单通道测试系统进行测试：测试一个模块需要：175s，其中，示波器利用率：30/175x100%，为17.1%；人员利用率：15/175x100%，为8.55%。

图4为本实施例中同时对16个待测试光模块22进行性能测试的示意图，图中通道1表示第1个待测试光模块22，通道4表示第4个待测试光模块，通道14表示第14个待测试光模块22，通道1、通道4、通道14从上往下依次排列表示三个待测四光模块在排队等待使用示波器，这样示波器及人员的利用率理论可以达到100%。

实施例2：一些实施例中，还可以通过增加光分光器的方式进一步来增加接入的待测试光模块或光学测试设备3的数量，如通过2*N光开关和多路分光器配合使用。

如图3所示，本实施例中，同样有16个待测试光模块22，而光学测试设备3包括示波器、光谱仪及光功率计，所述待测试光模块22分别与一2*16光开关的16路输入端连接，该2*16光开关的一路输出端与示波器连接，而另一路输出端通过一1*2分光器分别与光谱仪及光功率计连接，这种连接方式无疑会更加节省开关器件。另外，在需要的情况下，所述16个待测试光模块同样可以采用如实施例1的方式另外通过一个个1*16光开关连接一个误码仪（图3中未显示与误码仪连接的光开关）。

应注意的是，采用光开关与多路分光器配合使用作为待测试光模块22与光学测试设备3的连接中介具有多种形式，需要根据实际情况进行配置，并不仅限于上述情况。

实施例3：本发明同时提供一种光模块多通道并行测试方法，包括，

上位机1将两个以上的待测试光模块的测试数据以通信协议的方式统一发送至协议转换转发模块，所述协议转换转发模块将接收到的测试数据转换为与各个待测试光模块相匹配的通讯协议并将所述测试数据发送至对应待测试光模块22；

所述两个以上的待测试光模块22与光学测试设备3及光源4之间通过光开关连接；上位机通过控制光开关的通断及测试数据实现任意时刻同一光学测试设备只与一个待测试光模块接通并对其进行性能测试；

进一步的，所述光学测试设备3为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪；即所述光学测试设备可以是示波器、误码仪、信号发生器及光谱仪中的一种或几种或全部，且每种光学测试设备的数量可以根据需要进行调整，如可以同时有2台示波器、1台误码仪、3台信号发生器及4台光谱仪等（数量仅为列举，不代表任何限定）。

进一步的，所述两个以上的待测试光模块22分别通过1*N光开关或2*N光开关与所述光源及光学测试设备连接；N大于或等于所述待测试光模块22数量，如，允许使用1*16光开关，但同时只对10个待测试光模块22进行性能测试。

上位机通过控制各个1*N光开关各路输入输出的通断/切换实现待测试光模块22与光源4、示波器或其他光学测试设备3的接通、关断。

进一步的，本方法通过光提示方式或声提示方式对各个待测试光模块22的测试状态进行提示；所述声提示方式指通过不同的声音区分待测试光模块22的测试状态；所述光提示方式指通过不同颜色的指示灯区分待测试光模块的测试状态。

进一步的，所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。

进一步的，所述协议转换转发模块与所述待测试光模块为电气连接，实际应用时，所述协议转换转发模块21设置有采用电气连接方式的待测试光模块接口，所述待测试光模块22通过改待测试光模块接口与所述协议转换转发模块21连接。

进一步的，上位机1与协议转换转发模块21通过网口连接、USB连接或串口连接。

进一步的，所述上位机1通过不同的端口向不同的待测试光模块22发送测试数据；同时所述协议转换转发模块21通过辨认上位机1发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块22。

实施例4：与实施例3中不同点在于，本实施例中，所述协议转换转发模块21与所述待测试光模块22通过热插拔方式连接，实际应用时，所述协议转换转发模块21设置有支持热插拔方式的待测试光模块接口，所述待测试光模块22通过改待测试光模块接口与所述协议转换转发模块21连接。同时，所述上位机1通过一个端口向不同的待测试光模块22发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块22的标识；所述协议转换转发模块21通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块22。

Claims (21)

1.一种光模块多通道并行测试系统，其特征在于，包括，

测试板模块，包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块接口；所述待测试光模块接口连接有待测试光模块；所述协议转换转发模块用于将接收到的上位机通信接口协议转换为与对应待测试光模块相匹配的通讯协议，所述协议转换转发模块还将转换后的所述测试数据通过所述待测试光模块接口发送至对应待测试光模块；

光源，通过光开关与待测试光模块连接并为各个待测试光模块提供光；

至少一台光学测试设备，通过光开关与所述待测试光模块连接，用于对所述待测试光模块进行性能测试；

上位机，同时与所述测试板模块及光学测试设备连接。

2.所述上位机根据测试流程对待测试光模块进行读写操作，所述上位机还通过控制光开关的通断/切换控制所述两个以上的待测试光模块进行性能测试。

3.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述光学测试设备为示波器、误码仪、光功率计和/或光谱仪。

4.如权利要求2所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，各个所述待测试光模块分别通过1*N光开关或者2*N光开关与所述光源及光学测试设备连接；N大于或等于所述待测试光模块数量。

5.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述测试板模块还设置有与所述待测试光模块一一对应的声提示模块或光提示模块；所述声提示模块通过不同的声音区分所述待测试光模块的测试状态；所述光提示模块通过不同颜色的指示灯区分所述待测试光模块的测试状态。

6.如权利要求4所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。

7.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。

8.如权利要求6所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。

9.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，上位机与协议转换转发模块通过网口连接、USB连接或串口连接。

10.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述上位机通过不同的通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据；同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。

11.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述上位机通过同一通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识；所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。

12.如权利要求1所述的光模块多通道并行测试系统，其特征在于，所述测试板模块中包含8个、16个或32个待测试光模块。

13.一种光模块多通道并行测试方法，其特征在于，

上位机将两个以上的待测试光模块的测试数据统一发送至协议转换转发模块，所述协议转换转发模块将接收到的测试数据的通信协议转换为与各个待测试光模块相匹配的通讯协议并将所述测试数据发送至对应待测试光模块；

所述两个以上的待测试光模块与光学测试设备及光源之间通过光开关连接；上位机通过控制光开关的通断/切换及测试数据实现任意时刻同一光学测试设备只与一个待测试光模块接通并对其进行性能测试；

如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述光学测试设备为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪。

14.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述两个以上的待测试光模块分别通过1*N光开关或2*N光开关与所述光源及光学测试设备连接；N大于或等于所述待测试光模块数量；

上位机通过控制各个1*N光开关或2*N光开关的各路输入输出的通断实现待测试光模块与光源、示波器或其他光学设备的接通、关断。

15.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，本方法通过光提示方式或声提示方式对各个待测试光模块的测试状态进行提示；所述声提示方式指通过不同的声音区分待测试光模块的测试状态；所述光提示方式指通过不同颜色的指示灯区分待测试光模块的测试状态。

16.如权利要求15所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。

17.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。

18.如权利要求17所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。

19.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述热插拔方式是指通过网口连接、USB连接或串口连接。

20.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述上位机通过不同的端口向不同的待测试光模块发送测试数据；同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。

21.如权利要求12所述的光模块多通道并行测试方法，其特征在于，所述上位机通过一个端口向不同的待测试光模块发送测试数据，并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识；所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。