CN114089056B - 一种微波环形器的抗干扰性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种微波环形器的抗干扰性能测试装置，测试装置包括检测组件和分拣组件，所述检测组件包括底板、循环组件，底板上方设有磁场模拟器和下压柱，循环组件包括第一支撑板和测试模具，输送架侧面均设有可滑动的第一移动架，第一移动架内均设有阵列分布的导向件和滑动配合的第一推动板，底板上方还设有转运组件和分拣组件，第一调节板上方设有可调高度的环形照明灯，第二调节板上方设有可调位置的视觉传感器，第二调节板一侧设有挑件组件。本发明测试装置能够自动带动测试模具循环转动，能够在环形器自动运行过程中自动对环形器进行抗磁场干扰检测、下压柱检测环形器的抗压性或抗刺穿性，进行分类时采用自动化分类设计，不造成产品二次损坏。

Description

一种微波环形器的抗干扰性能测试装置

技术领域

本发明涉及一种环形器检测技术领域，具体是一种微波环形器的抗干扰性能测试装置。

背景技术

环形器是一种使电磁波单向环形传输的器件，在近代雷达和微波多路通信系统中都要用单方向环形特性的器件。随着通信技术的不断发展，通信的可靠性已经成为人们越来越关注的问题。在通信领域中，经常需要用到微波隔离器以及环形器来对信号进行转换。环形器产品制作完成后，需要对产品的抗干扰能力进行测试，环形器上设置有三个针脚，三个针脚与环形器的底壳不在同一水平面。环形器在使用时可能会遇到高磁场，造成环形器性能下降，而且剧烈运动过程中，环形器可能会受到挤压，外壳的强度也需要进行测试，常规的环形器检测通常采用人工进行手动操作，耗费人力，整体检测过程慢，而且在检测完成后，人工进行分类时容易疏忽而放错位置，导致不良品混入良品内，且人工拿取的过程中容易造成产品二次损坏，影响产品质量。针对这种情况，现提出一种微波环形器的抗干扰性能测试装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种微波环形器的抗干扰性能测试装置，能够有效解决上述背景技术中的不足。环形器生产装置将生产完成的环形器放置在一端升降架内的测试模具上，第二连接器推动检测柱插入对称的两组针脚内，升降架与两组第一移动架、第一推动板、第一气缸配合带动测试模具循环转动，磁场模拟器模拟生成磁场，对环形器进行抗磁场干扰检测，下压柱检测环形器的抗压性或抗刺穿性，滑台带动第一连接器检测柱插入第三组针脚内，从而进行检测环形器的性能受损情况，环形照明灯、视觉传感器启动对环形器外观进行检测，性能及外观均合格的环形器，第四气缸启动推动推料块将环形器推至传送带上，传送带转动输送离去，性能及外观不合格、性能或外观不合格的环形器被拨板继续前进带动掉落剔除。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种微波环形器的抗干扰性能测试装置，测试装置包括检测组件和分拣组件，所述检测组件包括底板、循环组件，底板上方设有磁场模拟器和下压柱，循环组件包括第一支撑板和测试模具，第一支撑板固定在底板上，第一支撑板一侧设有阵列分布的输送架，输送架两端均设有升降架，输送架侧面均设有可滑动的第一移动架，第一移动架内均设有阵列分布的导向件和滑动配合的第一推动板，底板上方还设有转运组件和分拣组件，分拣组件包括第一安装板，第一安装板一端设有第一调节板，第一调节板一侧设有第二调节板，第一调节板上方设有可调高度的环形照明灯，第二调节板上方设有可调位置的视觉传感器，第二调节板一侧设有挑件组件。

进一步地，所述底板上方设有固定连接的第一支架、第二支架，第一支架上方设有固定连接的第一液压杆，第一液压杆下方伸缩端设有可拆卸更换的下压柱，第二支架下方设有固定连接的磁场模拟器，第一支架下方设有与底板固定连接的第三支架，第三支架上端设有固定连接的滑台，滑台上方滑动端固定连接有第一连接器。

进一步地，所述输送架内设有第一移动槽，输送架一侧均设有固定连接的滑轨，滑轨上均设有滑动配合的滑块，滑块上设有固定连接的第一移动架。

进一步地，所述第一移动架内设有第一滑动槽，第一滑动槽内设有阵列分布的贯穿第一移动架，导向槽内设有滑动配合的Z型的导向件，导向件上设有转动连接的转动柱，第一滑动槽内设有滑动连接的第一推动板；

两组所述第一推动板上分别设有阵列分布的倾斜的第一推动槽和第二推动槽，转动柱分别安装在第一推动槽和第二推动槽内，第一推动板一端设有第一气缸。

进一步地，所述第一滑动槽内设有阵列分布的测试模具，测试模具上设有安装槽，安装槽两侧均设有第二连接器，环形器放置在安装槽内；

所述升降架内均设有第二移动槽，升降架下方均设有第二气缸，第二气缸固定在底板下方，第二气缸伸缩柱穿过底板固定在升降架下方。

进一步地，所述第一安装板上设有转动连接的滚轮，滚轮上设有转动连接传送带，第一安装板一侧还设有第七支架，第七支架内设有第二丝杆，第二丝杆一端设有第二电机，第二丝杆上设有螺纹配合的第二丝杆滑块，第二丝杆滑块上设有固定连接的第二移动架，第二移动架上端设有存放件，存放件上设有阵列分布的存放槽。

进一步地，所述第一调节板上设有第一调节槽，第二调节板上设有第二调节槽，第一调节槽内设有可滑动调节高度的第一调节架，第二调节槽内设有阵列分布的限位杆，第二调节槽内还设有可滑动调节高度的第二调节架，第二调节架上设有阵列分布的限位槽，限位杆插入不同高度的限位槽内；

进一步地，所述第二调节架上端设有可滑动调节位置的第二安装板，第二安装板上设有固定连接的视觉传感器，第一调节架一侧设有固定连接第三安装板，第三安装板上设有贯穿的圆形开孔，第三安装板下方固定设有环形照明灯。

进一步地，所述挑件组件包括第八支架，第八支架上端设有分拣块，分拣块上设有分拣槽，分拣块内设有贯穿的滑动连接的推料块，分拣块一侧设有第四气缸，第四气缸伸缩端与推料块固定连接，第八支架侧面还固定设有第五气缸，第五气缸伸缩端固定连接有第二推动板，第二推动板上设有固定连接的安装块，安装块上固定连接有第六气缸，第六气缸下方伸缩端设有固定连接的L形状的拨板。

进一步地，所述转运组件包括第六支架，第六支架内设有第一丝杆，第一丝杆一端设有第一电机，第一丝杆上设有螺纹配合的第一丝杆滑块，第一丝杆滑块上方固定设有第一移动板，第一移动板上方设有固定连接的第三气缸，第三气缸下方伸缩端固定连接有吸盘。

本发明的有益效果：

1.本发明测试装置采用自动化设计，能够自动带动测试模具循环转动，降低了人工参与环节，极大地提升了生产效率，整体检测过程快速；

2.本发明测试装置能够自动夹紧环形器的三个针脚进行检测，无需人工进行检测，能够在环形器自动运行过程中自动对环形器进行抗磁场干扰检测、下压柱检测环形器的抗压性或抗刺穿性；

3.本发明测试装置进行分类时采用自动化分类设计，降低了不良品混入良品内的几率，不造成产品二次损坏。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1是本发明测试装置结构示意图；

图2是本发明测试装置部分结构示意图；

图3是本发明测试装置部分结构示意图；

图4是本发明测试装置部分结构示意图；

图5是本发明图4中A处结构放大示意图；

图6是本发明循环组件部分结构示意图；

图7是本发明循环组件部分结构爆炸示意图；

图8是本发明循环组件部分结构示意图；

图9是本发明测试装置部分结构示意图；

图10是本发明分拣组件结构示意图；

图11是本发明分拣组件部分结构示意图；

图12是本发明挑件组件结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

请参阅图1-图11所示，一种微波环形器的抗干扰性能测试装置，测试装置包括检测组件1和分拣组件4，检测组件1包括底板2、循环组件3，底板2上方设有磁场模拟器221和下压柱212，循环组件3包括可循环往复运动的测试模具38，分拣组件4包括挑件组件44、视觉传感器473，分拣组件4一侧设有转运组件5。

底板2上方设有固定连接的第一支架21、第二支架22，第一支架21上方设有固定连接的第一液压杆211，第一液压杆211下方伸缩端设有可拆卸更换的下压柱212，下压柱212为圆柱形或圆锥形，根据生产要求更换不同的下压柱212，检测环形器的抗压性或抗刺穿性，第二支架22下方设有固定连接的磁场模拟器221，磁场模拟器221模拟生成磁场，对环形器进行抗磁场干扰检测，第一支架21下方设有与底板2固定连接的第三支架23，第三支架23上端设有固定连接的滑台231，滑台231上方滑动端固定连接有第一连接器232，底板2上方还设有第四支架24和第五支架25。

循环组件3包括第一支撑板31，第一支撑板31固定在底板2上，第一支撑板31一侧设有阵列分布的输送架32，输送架32两端均设有升降架311，输送架32内设有第一移动槽321，输送架32一侧均设有固定连接的滑轨33，滑轨33上均设有滑动配合的滑块331，滑块331上设有固定连接的第一移动架34；

两组第一移动架34内设有第一滑动槽341，第一滑动槽341内设有阵列分布的贯穿第一移动架34，导向槽342内设有滑动配合的Z型的导向件35，导向件35上设有转动连接的转动柱351，第一滑动槽341内设有滑动连接的第一推动板36，上方的第一推动板36上设有阵列分布的倾斜的第一推动槽361，下方的第一推动板36上设有阵列分布的倾斜的第二推动槽362，上方的转动柱351安装在第一推动槽361内，下方的转动柱351安装在第二推动槽362内，第一推动板36一端设有第一气缸37，第一气缸37分别固定在第四支架24和第五支架25上。

第一滑动槽341内设有阵列分布的测试模具38，测试模具38上设有安装槽381，安装槽381两侧均设有第二连接器39，环形器被机械手放置在安装槽381内，第二连接器39推动检测柱插入对称的两组针脚内，滑台231带动第一连接器232检测柱插入第三组针脚内，从而进行检测环形器的性能受损情况；

升降架311内均设有第二移动槽312，升降架311下方均设有第二气缸310，第二气缸310固定在底板2下方，第二气缸310伸缩柱穿过底板2固定在升降架311下方,升降架311一端设有防脱板，防止导向件35在输送时将测试模具38推出掉落。

转运组件5包括第六支架51，第六支架51内设有第一丝杆52，第一丝杆52一端设有第一电机521，第一电机521带动第一丝杆52转动，第一丝杆52上设有螺纹配合的第一丝杆滑块53，第一丝杆滑块53上方固定设有第一移动板54，第一移动板54上方设有固定连接的第三气缸55，第三气缸55下方伸缩端固定连接有吸盘56。

分拣组件4包括第一安装板41，第一安装板41固定在底板2上方，第一安装板41一侧设有固定连接的第二支撑板411，第二支撑板411两端均设有与第一安装板41转动连接的滚轮42，滚轮42上设有转动连接传送带421，第一安装板41一侧还设有第七支架43，第七支架43内设有第二丝杆431，第二丝杆431一端设有第二电机432，第二电机432带动第二丝杆431转动，第二丝杆431上设有螺纹配合的第二丝杆滑块436，第二丝杆滑块436上设有固定连接的第二移动架433，第二移动架433上端设有存放件434，存放件434上设有阵列分布的存放槽435；

第一安装板41一端设有第一调节板46，第一调节板46一侧设有第二调节板45，第二调节板45一侧设有挑件组件44，第一调节板46、第二调节板45同样固定在底板2上方，第一调节板46上设有第一调节槽461，第二调节板45上设有第二调节槽451，第一调节槽461内设有可滑动调节高度的第一调节架462，第一调节架462通过螺钉与第一调节板46固定相应的高度，第二调节槽451内设有阵列分布的限位杆452，第二调节槽451内还设有可滑动调节高度的第二调节架47，第二调节架47上设有阵列分布的限位槽471，限位杆452插入不同高度的限位槽471内，从而固定第二调节架47的高度；

第二调节架47上端设有可滑动调节位置的第二安装板472，第二安装板472上设有固定连接的视觉传感器473，第一调节架462一侧设有固定连接第三安装板463，第三安装板463上设有贯穿的圆形开孔，第三安装板463下方固定设有环形照明灯464；

挑件组件44包括第八支架441，第八支架441上端设有分拣块442，分拣块442上设有分拣槽443，分拣块442内设有贯穿的滑动连接的推料块445，分拣块442一侧设有第四气缸444，第四气缸444与第八支架441固定连接，第四气缸444伸缩端与推料块445固定连接，第八支架441侧面还固定设有第五气缸446，第五气缸446伸缩端固定连接有第二推动板447，第二推动板447上设有固定连接的安装块448，安装块448上固定连接有第六气缸449，第六气缸449下方伸缩端设有固定连接的L形状的拨板4410。

使用时，将测试模具38放置在升降架311和输送架32上，阵列分布的放置完成，环形器生产装置将生产完成的环形器放置在一端升降架311内的测试模具38上，第二连接器39推动检测柱插入对称的两组针脚内，第一气缸37推动第一推动板36移动，第一推动槽361移动时带动转动柱351倾斜移动，351先推动导向件35伸出卡在输送架32上的测试模具38之间，然后转动柱351到达第一推动槽361一端时，由于第一气缸37推动第一推动槽361继续前进，此时第一推动板36推动第一移动架34继续前进，从而推动测试模具38前进，两组第一移动架34移动方向相反，第二推动槽362运动带动测试模具38反向移动，两端的第二气缸310一组推动升降架311上升，另一组带动升降架311下降，升降架311与两组第一移动架34、第一推动板36、第一气缸37配合带动测试模具38循环转动，当环形器经过磁场模拟器221下方时，磁场模拟器221模拟生成磁场，对环形器进行抗磁场干扰检测，测试模具38带动环形器继续前进，下压柱212检测环形器的抗压性或抗刺穿性，抗磁场干扰检测和抗压性或抗刺穿性完成后，环形器到达第一连接器232位置时停止，滑台231带动第一连接器232检测柱插入第三组针脚内，从而进行检测环形器的性能受损情况，然后测试模具38继续前进，吸盘56将环形器放置在存放槽435上，环形照明灯464、视觉传感器473启动对环形器外观进行检测，第六气缸449启动带动拨板4410上升，第五气缸446推动拨板4410前进达到存放槽435上，拨板4410下降，第二推动板447后退带动环形器运行到分拣槽443内，性能及外观均合格的环形器，第四气缸444启动推动推料块445将环形器推至传送带421上，传送带421转动输送离去，性能及外观不合格、性能或外观不合格的环形器被拨板4410继续前进带动掉落剔除。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。

Claims (8)

1.一种微波环形器的抗干扰性能测试装置，测试装置包括检测组件（1）和分拣组件（4），其特征在于，所述检测组件（1）包括底板（2）、循环组件（3），底板（2）上方设有磁场模拟器（221）和下压柱（212），循环组件（3）包括第一支撑板（31）和测试模具（38），第一支撑板（31）固定在底板（2）上，第一支撑板（31）一侧设有阵列分布的输送架（32），输送架（32）两端均设有升降架（311），输送架（32）侧面均设有可滑动的第一移动架（34），第一移动架（34）内均设有阵列分布的导向件（35）和滑动配合的第一推动板（36），底板（2）上方还设有转运组件（5）和分拣组件（4），分拣组件（4）包括第一安装板（41），第一安装板（41）一端设有第一调节板（46），第一调节板（46）一侧设有第二调节板（45），第一调节板（46）上方设有可调高度的环形照明灯（464），第二调节板（45）上方设有可调位置的视觉传感器（473），第二调节板（45）一侧设有挑件组件（44）；

所述第一移动架（34）内设有第一滑动槽（341），第一滑动槽（341）内设有阵列分布的贯穿第一移动架（34），导向槽（342）内设有滑动配合的Z型的导向件（35），导向件（35）上设有转动连接的转动柱（351），第一滑动槽（341）内设有滑动连接的第一推动板（36）；

两组所述第一推动板（36）上分别设有阵列分布的倾斜的第一推动槽（361）和第二推动槽（362），转动柱（351）分别安装在第一推动槽（361）和第二推动槽（362）内，第一推动板（36）一端设有第一气缸（37）；

所述第一滑动槽（341）内设有阵列分布的测试模具（38），测试模具（38）上设有安装槽（381），安装槽（381）两侧均设有第二连接器（39），环形器放置在安装槽（381）内；

所述升降架（311）内均设有第二移动槽（312），升降架（311）下方均设有第二气缸（310），第二气缸（310）固定在底板（2）下方，第二气缸（310）伸缩柱穿过底板（2）固定在升降架（311）下方。

2.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述底板（2）上方设有固定连接的第一支架（21）、第二支架（22），第一支架（21）上方设有固定连接的第一液压杆（211），第一液压杆（211）下方伸缩端设有可拆卸更换的下压柱（212），第二支架（22）下方设有固定连接的磁场模拟器（221），第一支架（21）下方设有与底板（2）固定连接的第三支架（23），第三支架（23）上端设有固定连接的滑台（231），滑台（231）上方滑动端固定连接有第一连接器（232）。

3.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述输送架（32）内设有第一移动槽（321），输送架（32）一侧均设有固定连接的滑轨（33），滑轨（33）上均设有滑动配合的滑块（331），滑块（331）上设有固定连接的第一移动架（34）。

4.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述第一安装板（41）上设有转动连接的滚轮（42），滚轮（42）上设有转动连接传送带（421），第一安装板（41）一侧还设有第七支架（43），第七支架（43）内设有第二丝杆（431），第二丝杆（431）一端设有第二电机（432），第二丝杆（431）上设有螺纹配合的第二丝杆滑块（436），第二丝杆滑块（436）上设有固定连接的第二移动架（433），第二移动架（433）上端设有存放件（434），存放件（434）上设有阵列分布的存放槽（435）。

5.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述第一调节板（46）上设有第一调节槽（461），第二调节板（45）上设有第二调节槽（451），第一调节槽（461）内设有可滑动调节高度的第一调节架（462），第二调节槽（451）内设有阵列分布的限位杆（452），第二调节槽（451）内还设有可滑动调节高度的第二调节架（47），第二调节架（47）上设有阵列分布的限位槽（471），限位杆（452）插入不同高度的限位槽（471）内。

6.根据权利要求5所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述第二调节架（47）上端设有可滑动调节位置的第二安装板（472），第二安装板（472）上设有固定连接的视觉传感器（473），第一调节架（462）一侧设有固定连接第三安装板（463），第三安装板（463）上设有贯穿的圆形开孔，第三安装板（463）下方固定设有环形照明灯（464）。

7.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述挑件组件（44）包括第八支架（441），第八支架（441）上端设有分拣块（442），分拣块（442）上设有分拣槽（443），分拣块（442）内设有贯穿的滑动连接的推料块（445），分拣块（442）一侧设有第四气缸（444），第四气缸（444）伸缩端与推料块（445）固定连接，第八支架（441）侧面还固定设有第五气缸（446），第五气缸（446）伸缩端固定连接有第二推动板（447），第二推动板（447）上设有固定连接的安装块（448），安装块（448）上固定连接有第六气缸（449），第六气缸（449）下方伸缩端设有固定连接的L形状的拨板（4410）。

8.根据权利要求1所述的一种微波环形器的抗干扰性能测试装置,其特征在于，所述转运组件（5）包括第六支架（51），第六支架（51）内设有第一丝杆（52），第一丝杆（52）一端设有第一电机（521），第一丝杆（52）上设有螺纹配合的第一丝杆滑块（53），第一丝杆滑块（53）上方固定设有第一移动板（54），第一移动板（54）上方设有固定连接的第三气缸（55），第三气缸（55）下方伸缩端固定连接有吸盘（56）。

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