CN114074080A - 一种dip元件检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种DIP元件检测装置，包括通过搬运组件依次连接的上料组件、加热组件、高温测试组件、冷却组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件、激光打标组件、光学印字面检测组件和良品收料组件，所述电性测试组件和方向点检测组件之间设有翻转组件，所述高温测试组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件和光学印字面检测组件侧面均设有不良品收料组件。本发明兼具高温测试、高压测试、电性测试、方向点检测和光学印字面检测多种检测功能于一体，可对DIP元件进行全方位的检测，检测的效率更高，可充分保证DIP元件成品的质量。

Description

一种DIP元件检测装置及检测方法

技术领域

本发明属于DIP元件检测领域，具体涉及一种DIP元件检测装置及检测方法。

背景技术

DIP元件是一种采用双列直插封装方式封装的元件，其可以焊接在印刷电路板电镀的贯穿孔中，或是插入在DIP插座上。为满足DIP元件的使用需求，需要在元件封装后对元件进行多种的检测。目前，针对DIP元件的数种检测多通过不同的设备来完成。现有技术中，也存在一些组合几种检测方式的设备，但这些组合还是不能满足DIP元件检测的需求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种DIP 元件检测装置及检测方法，兼具高温测试、高压测试、电性测试、方向点检测和光学印字面检测多种检测功能于一体，可对DIP元件进行全方位的检测，检测的效率更高，可充分保证DIP元件成品的质量。

本发明所采用的技术方案是：一种DIP元件检测装置，包括通过搬运组件依次连接的上料组件、加热组件、高温测试组件、冷却组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件、激光打标组件、光学印字面检测组件和良品收料组件，所述电性测试组件和方向点检测组件之间设有翻转组件，所述高温测试组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件和光学印字面检测组件侧面均设有不良品收料组件。

其中一个实施例中，所述上料组件与加热组件之间、高温测试组件与冷却组件之间、冷却组件与高压测试组件之间、高压测试组件与电性测试组件之间和电性测试组件与方向点检测组件之间均设有中转输送组件。

其中一个实施例中，所述加热组件包括顶部开有进料口的加热框架，所述加热框架内底面设有下导向板，所述加热框架内部位于下导向板上方的位置设有上导向板，所述下导向板和上导向板上均设有与其相对滑动的加热循环治具，所述下导向板和上导向板内部均设有数个循环加热件，所述加热框架两相对的外侧壁与设置于下导向板上和设置于上导向板上的加热循环治具对应的位置分别设有加热横推组件，所述加热横推组件延伸至加热框架内侧且推动所述加热循环治具平移，所述加热框架底部靠近加热横推组件的位置设有加热上下移动组件，所述加热上下移动组件延伸至加热框架内部且带动加热循环治具上移和下移。

其中一个实施例中，所述高温测试组件包括高温测试支撑组件和设置于高温测试支撑组件上方的两高温测试安装板，两所述高温测试安装板之间设有高温测试加热板，所述高温测试加热板上表面设有数个其中一端设有开口的高温测试治具，所述高温测试加热板内部设有高温测试加热件，两所述高温测试安装板上表面与每个高温测试治具对应的位置对称设有沿高温测试安装板平移的高温测试探针组件，与每个高温测试治具对应的两所述高温测试探针组件均设置于与该高温测试治具的开口相邻的两侧，每个所述高温测试探针组件远离高温测试治具的一端均设有驱动其平移的高温测试平移组件，所述高温测试加热板下方设有延伸至每个高温测试治具内侧且通过位移固定DIP元件的高温测试定位组件。

其中一个实施例中，所述高温测试定位组件包括高温测试定位气缸和设置于高温测试加热板下方且与高温测试治具位置对应的高温测试定位安装板，所述高温测试定位安装板上表面设有数量与高温测试治具一致且延伸至对应的高温测试治具内侧的高温测试定位立板，所述高温测试定位气缸的活塞杆端通过高温测试定位连接板与高温测试定位安装板连接。

其中一个实施例中，所述冷却组件包括冷却安装板，所述冷却安装板上表面通过冷却支撑架设有冷却转筒，所述冷却转筒外表面围绕其轴线设有数个冷却挡块，两相邻冷却挡块之间形成固定DIP元件的冷却固定槽，所述冷却安装板下表面设有驱动装置，所述驱动装置通过动力传送组件与冷却转筒连接且驱动冷却转筒旋转。

其中一个实施例中，所述翻转组件包括翻转安装底座和设置于翻转安装底座其中一侧的旋转电机，所述旋转电机的输出端上通过连接件设有翻转夹爪气缸，所述翻转夹爪气缸的两个夹爪上均设有夹持臂，两所述夹持臂内侧均设有数组夹持固定组件。

其中一个实施例中，所述夹持固定组件包括压紧块，所述压紧块通过弹簧与夹持臂内侧连接，所述压紧块远离弹簧的一端设有摩擦片。

本发明还公开了一种DIP元件检测方法，包括以下步骤：

步骤10、将装有DIP元件的料管放置于上料组件内，依次将DIP元件送入上料组件与加热组件之间的中转输送组件上，过程中保证DIP元件的PIN脚朝上，进入步骤20；

步骤20、搬运组件抓取DIP元件并放置于加热组件内，加热组件对放入的 DIP元件进行加热，进入步骤30；

步骤30、搬运组件抓取DIP元件并放置于高温测试组件内，高温测试组件对放入的DIP元进行高温测试，如高温测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于冷却组件内，进入步骤40，如高温测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与高温测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤40、冷却组件工作，对放入的DIP元件进行冷却，进入步骤50；

步骤50、搬运组件抓取DIP元件并放置于高压测试组件内，高压测试组件对放入的DIP元进行高压测试，如高压测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于电性测试组件内，进入步骤60，如高压测试不合格，搬运组件抓取DIP 元件送入与高压测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤60、电性测试组件对放入的DIP元进行电性测试，如电性测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于电性测试组件和方向点检测组件之间的中转输送组件上，进入步骤70，如电性测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与电性测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤70、翻转组件抓取DIP元件，翻转180°并将DIP元件放置于方向点检测组件上，进入步骤80；

步骤80、方向点检测组件对放入的DIP元件进行方向点测试，如方向点测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于激光打标组件上，进入步骤90，如方向点测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与方向点检测组件对应的不良品收料组件内；

步骤90、激光打标组件工作，对放入的DIP元件进行激光打标，进入步骤 100；

步骤100、搬运组件抓取DIP元件并放置于光学印字面检测组件内，光学印字面检测组件对放入的DIP元进行光学印字面检测，如光学印字面检测合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于良品收料组件内，如光学印字面检测不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与光学印字面检测组件对应的不良品收料组件内，检测结束。

本发明的有益效果在于：

1、本检测设备兼具高温测试、高压测试、电性测试、方向点检测和光学印字面检测多种检测功能于一体，可对DIP元件进行全方位的检测，检测的效率更高，可充分保证DIP元件成品的质量；

2、各检测组配备不良品收料组件，使得不良品的收集更加方便；

3、各组件之间通过搬运组件连接且设置中转输送组件，保证DIP元件流通的效率，从而提高检测的效率；

4、设置加热组件和冷却组件，为高温测试组件提供更好的测试环境，且在加热结束后更快的冷却，节约后续检测的时间。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明上料组件、加热组件、高温测试组件和冷却组件结构示意图；

图3为本发明高压测试组件、电性测试组件、搬运组件和不良品收料组件结构示意图；

图4为本发明方向点检测组件、激光打标组件、光学印字面检测组件、良品收料组件、中转输送组件和翻转组件结构示意图；

图5为本发明加热组件结构示意图；

图6为本发明高温测试组件结构示意图；

图7为本发明图6中A处放大图；

图8为本发明高温测试定位组件结构示意图；

图9为本发明冷却组件结构示意图；

图10为本发明冷却组件内部结构示意图；

图11为本发明图10中A处放大图；

图12为本发明翻转组件结构示意图。

图中：1、上料组件；2、加热组件；3、高温测试组件；4、冷却组件；5、高压测试组件；6、电性测试组件；7、方向点检测组件；8、激光打标组件；9、光学印字面检测组件；10、良品收料组件；11、搬运组件；12、不良品收料组件；13、中转输送组件；14、翻转组件；201、加热框架；202、下导向板；203、上导向板；204、加热循环治具；205、循环加热件；206、加热横推组件；207、加热上下移动组件；208、循环温度检测件；2061、加热横推气缸；2062、加热横推杆；2063、加热横推过渡板；2064、加热横推安装板；2071、加热上下移动气缸；2072、加热上下移动推杆；2073、加热上下移动安装板；301、高温测试支撑组件；302、高温测试安装板；303、高温测试加热板；304、高温测试治具；305、高温测试加热件；306、高温测试探针组件；307、高温测试平移组件；308、高温测试定位组件；309、高温测试温度检测件；3010、滑轨；3061、高温探针安装框架；3062、测试针；3071、高温测试平移安装板；3072、高温测试平移气缸；3081、高温测试定位气缸；3082、高温测试定位安装板； 3083、高温测试定位立板；3084、高温测试定位连接板；401、冷却安装板； 402、冷却支撑架；403、冷却转筒；404、冷却挡块；405、冷却固定槽；406、驱动装置；407、动力传送组件；408、冷却罩；409、进风口；4010、产品检测光纤；4011、夹持口；1401、翻转安装底座；1402、旋转电机；1403、连接件；1404、翻转夹爪气缸；1405、夹持臂；1406、夹持固定组件；14041、夹爪；14051、安装部；14052、夹持部；140511、限位槽；14061、压紧块；14062、弹簧；14063、摩擦片；14064、固定件。

具体实施方式

下面将结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。

如图1-图12所示，一种DIP元件检测装置，包括通过搬运组件11依次连接的上料组件1、加热组件2、高温测试组件3、冷却组件4、高压测试组件5、电性测试组件6、方向点检测组件7、激光打标组件8、光学印字面检测组件9 和良品收料组件10，所述电性测试组件6和方向点检测组件7之间设有翻转组件14，所述高温测试组件3、高压测试组件5、电性测试组件6、方向点检测组件7和光学印字面检测组件9侧面均设有不良品收料组件12。

本实施例中，所述上料组件1与加热组件2之间、高温测试组件3与冷却组件4之间、冷却组件4与高压测试组件5之间、高压测试组件5与电性测试组件6之间和电性测试组件6与方向点检测组件7之间均设有中转输送组件 13。

本实施例中，所述加热组件2包括顶部开有进料口的加热框架201，所述加热框架201内底面设有下导向板202，所述加热框架201内部位于下导向板 202上方的位置设有上导向板203，所述下导向板202和上导向板203上均设有与其相对滑动的加热循环治具204，所述下导向板202和上导向板203内部均设有数个循环加热件205，所述加热框架201两相对的外侧壁与设置于下导向板202上和设置于上导向板203上的加热循环治具204对应的位置分别设有加热横推组件206，所述加热横推组件206延伸至加热框架201内侧且推动所述加热循环治具204平移，所述加热框架201底部靠近加热横推组件206的位置设有加热上下移动组件207，所述加热上下移动组件207延伸至加热框架201 内部且带动加热循环治具204上移和下移。

本实施例中，所述高温测试组件3包括高温测试支撑组件301和设置于高温测试支撑组件301上方的两高温测试安装板302，两所述高温测试安装板302 之间设有高温测试加热板303，所述高温测试加热板303上表面设有数个其中一端设有开口的高温测试治具304，所述高温测试加热板303内部设有高温测试加热件305，两所述高温测试安装板302上表面与每个高温测试治具304对应的位置对称设有沿高温测试安装板302平移的高温测试探针组件306，与每个高温测试治具304对应的两所述高温测试探针组件306均设置于与该高温测试治具304的开口相邻的两侧，每个所述高温测试探针组件306远离高温测试治具304的一端均设有驱动其平移的高温测试平移组件307，所述高温测试加热板303下方设有延伸至每个高温测试治具304内侧且通过位移固定DIP元件的高温测试定位组件308。

本实施例中，所述高温测试定位组件308包括所述高温测试定位组件308 包括高温测试定位气缸3081和设置于高温测试加热板303下方且与高温测试治具304位置对应的高温测试定位安装板3082，所述高温测试定位安装板3082 上表面设有数量与高温测试治具304一致且延伸至对应的高温测试治具304内侧的高温测试定位立板3083，所述高温测试定位气缸3081的活塞杆端通过高温测试定位连接板3084与高温测试定位安装板3083连接。

本实施例中，所述冷却组件4包括冷却安装板401，所述冷却安装板401 上表面通过冷却支撑架402设有冷却转筒403，所述冷却转筒403外表面围绕其轴线设有数个冷却挡块404，两相邻冷却挡块404之间形成固定DIP元件的冷却固定槽405，所述冷却安装板401下表面设有驱动装置406，所述驱动装置406通过动力传送组件407与冷却转筒403连接且驱动冷却转筒403旋转。

本实施例中，所述翻转组件14包括翻转安装底座1401和设置于翻转安装底座1401其中一侧的旋转电机1402，所述旋转电机1402的输出端上通过连接件1403设有翻转夹爪气缸1404，所述翻转夹爪气缸1404的两个夹爪14041 上均设有夹持臂1405，两所述夹持臂1405内侧均设有数组夹持固定组件1406。

本实施例中，所述夹持固定组件1406包括压紧块14061，所述压紧块14061 通过弹簧14062与夹持臂1405内侧连接，所述压紧块14061远离弹簧14062 的一端设有摩擦片14063。

本发明所述的加热组件2至少设置于下导向板202上的其中一循环加热件 205和至少设置于上导向板203上的其中一循环加热件205上设有循环温度检测件208。所述加热横推组件206包括加热横推气缸2061和设置于加热横推气缸2061上且延伸至加热框架201内部的加热横推杆2062。所述加热横推气缸 2061和加热横推杆2062之间通过加热横推过渡板2063连接。所述加热横推气缸2061通过加热横推安装板2064设置于加热框架201外侧壁。所述加热上下移动组件207包括加热上下移动气缸2071和设置于加热上下移动气缸2071上且延伸至加热框架201内部的加热上下移动推杆2072。所述加热上下移动气缸 2071通过加热上下移动安装板2073设置于加热框架201底部。

本发明所述的高温测试组件3的高温测试加热件305上设有高温测试温度检测件309。两所述高温测试安装板302上表面与每个高温测试治具304对应的位置对称设有滑轨3010，每个所述高温测试探针组件306设置于对应的滑轨 3010上且沿所述滑轨3010移动。所述高温测试探针组件306包括高温探针安装框架3061，所述高温探针安装框架3061靠近高温测试治具304的一端设有测试针3062。所述高温测试平移组件307包括设置于高温测试安装板302侧面的高温测试平移安装板3071和设置于高温测试平移安装板3071侧面的高温测试平移气缸3072，所述高温测试平移气缸3072与其对应的高温测试探针组件 306的高温探针安装框架3061连接。

本发明所述的冷却组件4的冷却安装板401上表面设有冷却罩408，所述冷却转筒403设置于所述冷却罩408内侧，所述冷却罩408外表面开有数个与其内部连通的冷却进风口409。所述冷却罩408靠近两冷却支撑架402的两端均设有开口。所述冷却支撑架402上设有产品检测光纤4010。每个所述冷却挡块404上均开有数个夹持口4011。每个所述冷却挡块404上的夹持口4011数量与所述冷却固定槽405可固定的DIP元件数量一致。相邻两所述冷却挡块404 上与每个DIP元件对应的夹持口4011设置位置一致。

本发明所述的翻转组件14的夹持臂1405包括相互连接的安装部14051和夹持部14052，所述安装部14051内侧与翻转夹爪气缸1404的夹爪14041连接，所述夹持部14052内侧与数组夹持固定组件1406连接。所述安装部14051内侧开有与翻转夹爪气缸1404的夹爪14041匹配的限位槽140511。所述夹持固定组件1406的数量与夹持臂1405可夹持的DIP元件数量一致。所述压紧块 14061通过固定件14064与夹持臂1405连接。

本设备可通过PLC对每个机构进行整体控制，也可单独进行控制。为达到更好的检测效果，可在电性测试组件6与方向点检测组件7之间的中转输送组件13上设置人工PIN脚垂直度检测。其中，上料组件1为可以实现自动上料的组件，其结构不限，能满足将DIP元件一一送入到上料组件1与加热组件2 之间的中转输送组件13上即可。高压测试组件5、电性测试组件6、方向点检测组件7、激光打标组件8和光学印字面检测组件9能满足高压测试、电性测试、方向点检测、激光打标和光学印字面检测的要求即可。搬运组件11用于各组件之间DIP元件的中转，其为机械手、夹爪等，能满足夹持和搬运即可。中转输送组件13包括但不限于传送带组件。

加热组件2工作时，将DIP元件通过加热框架201的进料口放置于加热循环治具204上，与设置于上导向板203上的加热循环治具204对应的加热横推组件206推动加热循环治具204移动。其中一加热上下移动组件207上移，托住靠近加热框架201的加热循环治具204，待加热循环治具204位于该加热上下移动组件207上时。该加热上下移动组件207下移，将加热循环治具204带到下导向板202一侧。与设置于下导向板202上的加热循环治具204对应的加热横推组件206推动加热循环治具204移动。当加热循环治具204移动到另一加热上下移动组件207上方时，加热上下移动组件207上移，将该加热循环治具204送到上导向板203侧面。与设置于上导向板203上的加热循环治具204 对应的加热横推组件206推动加热循环治具204移动，形成循环。加热循环治具204循环的过程中，循环加热件205持续加热，以保证DIP元件足以达到后续高温测试的标准。本申请的循环加热件205包括但不限于加热棒。

加热横推组件206和加热上下移动组件207分别通过加热横推气缸2061 和加热上下移动气缸2071作为驱动，并分别通过加热横推杆2062和加热上下移动推杆2072推动加热循环治具204移动。

本组件设置循环温度检测件208，用于掌握循环加热件205的温度，便于对温度进行控制。本申请的循环温度检测件208包括但不限于热电偶。本组件可与PLC等控制元件连接，通过设置加热温度的方式控温。

高温测试组件3工作时，将DIP元件放置于高温测试治具304内。由于高温测试治具304的其中一端开有开口，因此当DIP元件放置于高温测试治具304 内部时，DIP元件只有一端有定位。因此，设置高温测试定位组件308，在测试开始前，通过高温测试定位组件308对DIP元件的另一端进行定位，以保证高温测试探针组件306的测试针3062能够准确的对准DIP元件。测试开始时，高温测试平移组件307的高温测试平移气缸3072驱动高温测试探针组件306 的高温探针安装框架3061朝高温测试治具304的方向移动，通过测试针3062 进行高温测试。高温测试的过程中，高温测试加热件305持续加热，保证高温测试的环境。本申请的高温测试加热件305包括但不限于加热棒。

本组件设置高温测试温度检测件309，用于掌握高温测试加热件305的温度，便于对温度进行控制。本申请的高温测试温度检测件309包括但不限于热电偶。本组件可与PLC等控制元件连接，通过设置加热温度的方式控温。

冷却组件4在冷却转筒403上设置冷却挡块404，以两相邻冷却挡块404 之间形成的冷却固定槽405固定DIP元件。冷却固定槽405需能固定住DIP元件且随冷却转筒403旋转不掉落，其实际尺寸和形状根据DIP元件调整。为满足夹持的需求，在冷却挡块404上设置夹持口4011，夹持口4011的数量与DIP 元件的数量设置为一致。冷却开始时，驱动装置406带动动力传送组件407运行，从而带动冷却转筒403旋转，以实现自然降温的目的。为提高降温的效率，可在冷却转筒403外侧设置冷却罩408并在其上设置冷却进风口409。在冷却进风口409上设置风机等冷却装置，可提高降温的效率。驱动装置406和动力传送组件407可根据实际情况进行调整，不局限于电机和皮带及皮带轮组件。产品检测光纤4010的设置，可在冷却的过程中，实时检测冷却转筒403上是否有DIP元件，便于及时补充。本申请的驱动装置406包括但不限于电机。本申请的动力传送组件407包括但不限于皮带及皮带轮组件。

翻转组件14工作时，首先通过旋转电机1402带动夹持臂1405、翻转夹爪气缸1404和夹持固定组件1406旋转到DIP元件的一侧。翻转夹爪气缸1404 驱动其夹爪14041打开，旋转电机1402将夹持固定组件1406旋转到DIP元件两侧。翻转夹爪气缸1404驱动其夹爪14041闭合。压紧块14061通过摩擦片 14063与DIP元件，在弹簧14062的作用下，压紧DIP元件。夹持完成后，旋转电机1402带动DIP元件旋转，从而实现翻转，以满足后续检测的需求。为保证夹爪气缸与夹持臂1405的安装部14051更好的固定，设置限位槽140511，限位槽140511需保证能容纳翻转夹爪气缸1404但不妨碍夹爪14041运行。本申请的连接件1403能连接旋转电机1402和翻转夹爪气缸1404即可。本申请的固定件14064包括但不限于固定螺钉。

本发明还公开了一种DIP元件检测方法，包括以下步骤：

步骤10、将装有DIP元件的料管放置于上料组件1内，依次将DIP元件送入上料组件1与加热组件2之间的中转输送组件13上，过程中保证DIP元件的PIN脚朝上，进入步骤20；

步骤20、搬运组件11抓取DIP元件并放置于加热组件2内，加热组件2 对放入的DIP元件进行加热，进入步骤30；

步骤30、搬运组件11抓取DIP元件并放置于高温测试组件3内，高温测试组件3对放入的DIP元进行高温测试，如高温测试合格，搬运组件11抓取 DIP元件并放置于冷却组件4内，进入步骤40，如高温测试不合格，搬运组件 11抓取DIP元件送入与高温测试组件3对应的不良品收料组件12内；

步骤40、冷却组件4工作，对放入的DIP元件进行冷却，进入步骤50；

步骤50、搬运组件11抓取DIP元件并放置于高压测试组件5内，高压测试组件5对放入的DIP元进行高压测试，如高压测试合格，搬运组件11抓取 DIP元件并放置于电性测试组件6内，进入步骤60，如高压测试不合格，搬运组件11抓取DIP元件送入与高压测试组件5对应的不良品收料组件12内；

步骤60、电性测试组件6对放入的DIP元进行电性测试，如电性测试合格，搬运组件11抓取DIP元件并放置于电性测试组件6和方向点检测组件7之间的中转输送组件13上，进入步骤70，如电性测试不合格，搬运组件11抓取 DIP元件送入与电性测试组件6对应的不良品收料组件12内；

步骤70、翻转组件14抓取DIP元件，翻转180°并将DIP元件放置于方向点检测组件7上，进入步骤80；

步骤80、方向点检测组件7对放入的DIP元件进行方向点测试，如方向点测试合格，搬运组件11抓取DIP元件并放置于激光打标组件8上，进入步骤90，如方向点测试不合格，搬运组件11抓取DIP元件送入与方向点检测组件7 对应的不良品收料组件12内；

步骤90、激光打标组件8工作，对放入的DIP元件进行激光打标，进入步骤100；

步骤100、搬运组件11抓取DIP元件并放置于光学印字面检测组件9内，光学印字面检测组件9对放入的DIP元进行光学印字面检测，如光学印字面检测合格，搬运组件11抓取DIP元件并放置于良品收料组件10内，如光学印字面检测不合格，搬运组件11抓取DIP元件送入与光学印字面检测组件9对应的不良品收料组件12内，检测结束。

以上所述实施例仅表达了本发明的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种DIP元件检测装置，其特征在于，包括通过搬运组件依次连接的上料组件、加热组件、高温测试组件、冷却组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件、激光打标组件、光学印字面检测组件和良品收料组件，所述电性测试组件和方向点检测组件之间设有翻转组件，所述高温测试组件、高压测试组件、电性测试组件、方向点检测组件和光学印字面检测组件侧面均设有不良品收料组件。

2.根据权利要求1所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述上料组件与加热组件之间、高温测试组件与冷却组件之间、冷却组件与高压测试组件之间、高压测试组件与电性测试组件之间和电性测试组件与方向点检测组件之间均设有中转输送组件。

3.根据权利要求1或2所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述加热组件包括顶部开有进料口的加热框架，所述加热框架内底面设有下导向板，所述加热框架内部位于下导向板上方的位置设有上导向板，所述下导向板和上导向板上均设有与其相对滑动的加热循环治具，所述下导向板和上导向板内部均设有数个循环加热件，所述加热框架两相对的外侧壁与设置于下导向板上和设置于上导向板上的加热循环治具对应的位置分别设有加热横推组件，所述加热横推组件延伸至加热框架内侧且推动所述加热循环治具平移，所述加热框架底部靠近加热横推组件的位置设有加热上下移动组件，所述加热上下移动组件延伸至加热框架内部且带动加热循环治具上移和下移。

4.根据权利要求3所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述高温测试组件包括高温测试支撑组件和设置于高温测试支撑组件上方的两高温测试安装板，两所述高温测试安装板之间设有高温测试加热板，所述高温测试加热板上表面设有数个其中一端设有开口的高温测试治具，所述高温测试加热板内部设有高温测试加热件，两所述高温测试安装板上表面与每个高温测试治具对应的位置对称设有沿高温测试安装板平移的高温测试探针组件，与每个高温测试治具对应的两所述高温测试探针组件均设置于与该高温测试治具的开口相邻的两侧，每个所述高温测试探针组件远离高温测试治具的一端均设有驱动其平移的高温测试平移组件，所述高温测试加热板下方设有延伸至每个高温测试治具内侧且通过位移固定DIP元件的高温测试定位组件。

5.根据权利要求4所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述高温测试定位组件包括高温测试定位气缸和设置于高温测试加热板下方且与高温测试治具位置对应的高温测试定位安装板，所述高温测试定位安装板上表面设有数量与高温测试治具一致且延伸至对应的高温测试治具内侧的高温测试定位立板，所述高温测试定位气缸的活塞杆端通过高温测试定位连接板与高温测试定位安装板连接。

6.根据权利要求5所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述冷却组件包括冷却安装板，所述冷却安装板上表面通过冷却支撑架设有冷却转筒，所述冷却转筒外表面围绕其轴线设有数个冷却挡块，两相邻冷却挡块之间形成固定DIP元件的冷却固定槽，所述冷却安装板下表面设有驱动装置，所述驱动装置通过动力传送组件与冷却转筒连接且驱动冷却转筒旋转。

7.根据权利要求6所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述翻转组件包括翻转安装底座和设置于翻转安装底座其中一侧的旋转电机，所述旋转电机的输出端上通过连接件设有翻转夹爪气缸，所述翻转夹爪气缸的两个夹爪上均设有夹持臂，两所述夹持臂内侧均设有数组夹持固定组件。

8.根据权利要求7所述的一种DIP元件检测装置，其特征在于，所述夹持固定组件包括压紧块，所述压紧块通过弹簧与夹持臂内侧连接，所述压紧块远离弹簧的一端设有摩擦片。

9.一种DIP元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤10、将装有DIP元件的料管放置于上料组件内，依次将DIP元件送入上料组件与加热组件之间的中转输送组件上，过程中保证DIP元件的PIN脚朝上，进入步骤20；

步骤20、搬运组件抓取DIP元件并放置于加热组件内，加热组件对放入的DIP元件进行加热，进入步骤30；

步骤30、搬运组件抓取DIP元件并放置于高温测试组件内，高温测试组件对放入的DIP元进行高温测试，如高温测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于冷却组件内，进入步骤40，如高温测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与高温测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤40、冷却组件工作，对放入的DIP元件进行冷却，进入步骤50；

步骤50、搬运组件抓取DIP元件并放置于高压测试组件内，高压测试组件对放入的DIP元进行高压测试，如高压测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于电性测试组件内，进入步骤60，如高压测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与高压测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤60、电性测试组件对放入的DIP元进行电性测试，如电性测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于电性测试组件和方向点检测组件之间的中转输送组件上，进入步骤70，如电性测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与电性测试组件对应的不良品收料组件内；

步骤70、翻转组件抓取DIP元件，翻转180°并将DIP元件放置于方向点检测组件上，进入步骤80；

步骤80、方向点检测组件对放入的DIP元件进行方向点测试，如方向点测试合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于激光打标组件上，进入步骤90，如方向点测试不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与方向点检测组件对应的不良品收料组件内；

步骤90、激光打标组件工作，对放入的DIP元件进行激光打标，进入步骤100；

步骤100、搬运组件抓取DIP元件并放置于光学印字面检测组件内，光学印字面检测组件对放入的DIP元进行光学印字面检测，如光学印字面检测合格，搬运组件抓取DIP元件并放置于良品收料组件内，如光学印字面检测不合格，搬运组件抓取DIP元件送入与光学印字面检测组件对应的不良品收料组件内，检测结束。

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