CN113640643A - 一种ntc热敏芯片测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种NTC热敏芯片测试装置，包括输送带，其特征在于：所述输送带的一侧设置有间歇转动的测试台，在输送带的另一侧设置有一斜块，在测试台上环向均布有四个测试区域，每个测试区域阵列有多个测试槽，在测试台上方设置有一支撑杆，支撑杆上连接有一驱动支撑杆竖向往复滑动的驱动机构，支撑杆的下方固定连接有测试块，支撑杆的侧部固定连接有连接杆，连接杆上滑动设置有一移动杆，移动杆的一端设置有一移动块，移动杆的另一端滑动限位于斜块之上，测试块的下侧面上设置有测试探针，移动块的下侧面上设置有吸嘴。本发明提供了一种NTC热敏芯片测试装置，实现NTC热敏芯片的自动测试，提高测试效率。

Description

一种NTC热敏芯片测试装置
技术领域
本发明涉及热敏电阻生产领域，尤其涉及一种NTC热敏芯片测试装置。
背景技术
NTC热敏芯片作为核心采取不同封装形式构成的热敏电阻和温度传感器广泛应用于各种温度探测、温度补偿、温度控制电路，其在电路中起到将温度的变量转化成所需的电子信号的核心作用。
NTC热敏电阻芯片作为一种感温元件，具有电阻值随温度变化负相关的特性变化。它是以锰(Mn)，钴(Co)，镍(Ni)，铝(Al)，锌(Zn)等两种或多种高纯度金属氧化物为主要材料，通过共沉淀或水热法合成纳米粉体，经球磨机充分混合后、等静压成型、高温烧结、半导体芯片、切割、玻璃密封烧结或环氧封装等密封工艺制成的接近理论密度的半导体电子陶瓷材料的结构，这些金属氧化物材料具有半导体性能，因为导电方式完全类似于锗、硅等半导体材料。
其中，NTC热敏芯片测试是芯片生产工艺中的重要环节。在现有技术中，目前对该种NTC热敏芯片的检测通常由检测人员通过手工完成，先将NTC热敏芯片进行定位，再由检测人员手握检测电极完成检测，这种手工检测方式检测效率低，不利于现代化大规模生产。
发明内容
本发明要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种NTC热敏芯片测试装置，实现NTC热敏芯片的自动测试，提高测试效率。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种NTC热敏芯片测试装置，包括机架、用于输送NTC热敏芯片的输送带，其特征在于：所述输送带的一侧设置有间歇转动的测试台，在输送带的另一侧设置有一斜块，斜块上形成有一面向测试台的斜面，在测试台上环向均布有四个测试区域，每个测试区域阵列有多个测试槽，每个测试槽的槽底设置有测试极片，在测试槽和测试极片之间设置有压缩弹簧，在测试台上方设置有一支撑杆，支撑杆上连接有一驱动支撑杆竖向往复滑动的驱动机构，支撑杆的下方固定连接有测试块，支撑杆的侧部固定连接有连接杆，连接杆上滑动设置有一移动杆，移动杆的一端设置有一移动块，移动杆的另一端滑动限位于斜块的斜面之上，移动块和测试块在测试台上的投影对应四个测试区域中的两个测试区域，测试块的下侧面上设置有与测试槽相对的测试探针，移动块的下侧面上设置有与测试槽相对的用于取放NTC热敏芯片的吸嘴，驱动机构包括驱动电机、驱动轴、驱动锥齿轮、从动锥齿轮、间歇转动组件、转盘和连杆，驱动轴与驱动电机相连，转盘和驱动锥齿轮分别设置于驱动轴之上，间歇转动组件设置于测试台的转轴和从动锥齿轮的转轴之间，连杆的下端偏心设置于转盘之上，连杆的上端铰接于支撑杆之上。
作为改进，所述间歇转动组件包括相互啮合的完全齿轮和不完全齿轮，完全齿轮和测试台的转轴连接，不完全齿轮和从动锥齿轮的转轴连接。
再改进，所述间歇转动组件包括拨盘和槽轮，槽轮和测试台的转轴连接，拨盘和从动锥齿轮的转轴连接，拨盘上设置有一拨动销，槽轮上环向均布有多个拨槽，相邻两个拨槽之间形成有弧度和拨盘外周壁相适配的弧形槽。
再改进，所述间歇转动组件圆盘、凸轮、摆杆和弹簧，圆盘和测试台的转轴连接，凸轮和从动锥齿轮的转轴连接，圆盘的外周壁上均布有多个条形槽，凸轮的外周壁形成有近圆弧段和远圆弧段，在凸轮的转动中心处固定连接有一拨杆，拨杆的外端设置有用于插入条形槽内的拨动柱，摆杆转动设置于机架之上，摆杆的一端转动设置有用于抵靠于凸轮外壁之上的抵靠销，摆杆的另一端形成有用于插入条形槽内对圆盘进行限位的限位销，弹簧的一端连接于机架之上，弹簧的另一端连接于摆杆之上使得摆杆的抵靠销抵靠于凸轮外壁之上。
再改进，所述移动块内形成有一连通腔，在移动块的下侧面上开设有多个与连通腔连通的吸嘴通道，每个吸嘴和对应的吸嘴通道连接，移动块的上侧面上开设有与连通腔连通的总通道，总通道和气泵连接。
再改进，所述斜台的斜面上开设有燕尾槽，所述移动杆的另一端形成有限位于燕尾槽内的燕尾部。
再改进，还包括放置于输送带上的料盒，料盒上开设有形状和位置与测试台上的测试区域相适配的凹槽。
与现有技术相比，本发明的优点在于：利用同一驱动电机实现测试台、测试块和移动块的协同运动，测试台的间歇转动带动四个测试区域循环变换，测试块的上下滑动带动测试探针移动实现对测试区域内的NTC热敏芯片进行检测，移动块的来回移动实现NTC热敏芯片在输送带和测试台之间移动，测试台、测试块和移动块之间的协同动作实现NTC热敏芯片的自动化检测，提高了测试效率。
附图说明
图1是本发明实施例中NTC热敏芯片测试装置的结构示意图；
图2是本发明实施例中测试台、移动块和测试块之间的相对位置结构示意图；
图3是本发明实施例中测试台上四个测试区域的布局图；
图4是本发明实施例中斜块和移动杆之间的连接结构示意图；
图5是本发明实施例中间歇转动组件的结构示意图；
图6是图5中凸轮的结构示意图；
图7是本发明实施例中NTC热敏芯片测试方法的结构框图。
具体实施方式
以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。
如图1至6所示，本实施中的NTC热敏芯片测试装置，包括机架、输送带1、料盒、测试台3、斜块22、移动块5、测试块4、测试极片32、压缩弹簧、支撑杆2和驱动机构。
其中，测试台3间歇转动设置于输送带1的一侧，在测试台3上环向均布有四个测试区域301，每个测试区域301阵列有多个测试槽31，每个测试槽31的槽底设置有测试极片32，在测试槽31和测试极片32之间设置有压缩弹簧，料盒间隔放置于输送带1之上，料盒上开设有形状和位置与测试台3上的测试区域301相适配的凹槽，多个待测试的NTC热敏芯片10一次性置于料盒之上，输送带1用于将装有待测试NTC热敏芯片10的料盒间隔输送至测试台3处，同时，又将测试完成后的NTC热敏芯片10重新放回料盒内，在输送带1的另一侧设置有一斜块22，斜块22上形成有一面向测试台3的斜面，在测试台3上方设置有一支撑杆2，支撑杆2上连接有一驱动支撑杆2竖向往复滑动的驱动机构，支撑杆2的下方固定连接有测试块4，支撑杆2的侧部固定连接有连接杆21，连接杆21上滑动设置有一移动杆501，具体地，移动杆501穿过连接杆21，移动杆501的一端设置有一移动块5，移动杆501的另一端滑动限位于斜块22的斜面之上，优选地，如图4所示，斜台22的斜面上开设有燕尾槽221，移动杆501的另一端形成有限位于燕尾槽221内的燕尾部502，移动块5和测试块4在测试台3上的投影对应四个测试区域301中的两个测试区域，测试块3的下侧面上设置有与测试槽31相对的测试探针41，移动块5的下侧面上设置有与测试槽31相对的用于取放NTC热敏芯片10的吸嘴51，进一步地，如图2所示，移动块5内形成有一连通腔52，在移动块5的下侧面上开设有多个与连通腔52连通的吸嘴通道54，每个吸嘴51和对应的吸嘴通道54连接，移动块5的上侧面上开设有与连通腔52连通的总通道53，总通道53和气泵连接，驱动机构包括驱动电机、驱动轴61、驱动锥齿轮62、从动锥齿轮621、间歇转动组件、转盘63和连杆64，驱动轴61与驱动电机相连，转盘63和驱动锥齿轮62分别设置于驱动轴61之上，间歇转动组件设置于测试台3的转轴和从动锥齿轮621的转轴之间，连杆64的下端偏心设置于转盘63之上，连杆64的上端铰接于支撑杆2之上。
另外，在本发明实施例中，间歇转动组件可以有多个结构，第一种，间歇转动组件包括相互啮合的完全齿轮和不完全齿轮，完全齿轮和测试台的转轴连接，不完全齿轮和从动锥齿轮的转轴连接。
第二种，如图1所示，间歇转动组件包括拨盘65和槽轮66，槽轮66和测试台3的转轴连接，拨盘65和从动锥齿轮621的转轴连接，拨盘65上设置有一拨动销651，槽轮66上环向均布有多个拨槽661，相邻两个拨槽661之间形成有弧度和拨盘65外周壁相适配的弧形槽。
第一种结构和第二结构均能实现测试台3的间歇转动，但是，无法对测试台3进行限位，在没有传动连接的时间段，在外力干扰下，测试台3有可能会出现来回摆动。为此，本发明还设计了第三种结构，具体地，如图5所示，间歇转动组件圆盘7、凸轮73、摆杆72和弹簧75，圆盘71和测试台3的转轴连接，凸轮73和从动锥齿轮621的转轴连接，圆盘7的外周壁上均布有多个条形槽711，凸轮73的外周壁形成有近圆弧段732和远圆弧段731，在凸轮73的转动中心处固定连接有一拨杆74，拨杆74的外端设置有用于插入条形槽711内的拨动柱741，摆杆72转动设置于机架之上，摆杆72的一端转动设置有用于抵靠于凸轮73外壁之上的抵靠销721，摆杆72的另一端形成有用于插入条形槽711内对圆盘71进行限位的限位销722，弹簧75的一端连接于机架之上，弹簧75的另一端连接于摆杆72之上使得摆杆72的抵靠销721抵靠于凸轮73外壁之上。当拨杆74没有带动圆盘71转动时，摆杆72一端上的抵靠销721和凸轮73的远圆弧段731接触，摆杆72另一端上的限位销722插入圆盘71的条形槽711内，实现对圆盘71进行限位，使得圆盘71无法转动，即使得测试台3不会无故出现摆动；而当摆杆72一端上的抵靠销721和凸轮73的近圆弧段732接触时，弹簧75将摆杆72另一端下拉，限位销722离开条形槽711，拨杆74上的拨动柱741即可带动圆盘71间歇转动。
此外，本发明还提供了一种NTC热敏芯片10的自动化测试方法，如图7所示，包括以下步骤：
步骤S1，将待测试的NTC热敏芯片10放入料盒内，输送带1将料盒间歇等距向前输送，装有待测试的热敏芯片10移动至测试台3附近；
步骤S2，支撑杆2位于底部位置，移动块5上的吸嘴51抓取输送带1上待测试NTC芯片10，转盘63带动支撑杆2上行移动至顶部位置，吸嘴51将从输送带1上抓取的待测试NTC热敏芯片10放入测试台3上空的测试区域301内；
步骤S3，测试台3转动90度，待测试NTC热敏芯片10向前输送一个工位，同时，已完成测试NTC热敏芯片10也同步向前输送一个工位；
步骤S4，移动块5上的吸嘴51抓取位于下方已完成测试的NTC热敏芯片10，支撑杆2下行，测试块4移动至测试台3的上表面，同时，在斜块22的作用下，移动块5沿着斜面向下运动，移动块5移动至输送带1的上表面；
步骤S5，移动块5上的吸嘴51将已完成测试的NTC热敏芯片10放回空的料盒内，输送带1向前输送一个间距，吸嘴51重新将料盒上的待检测NTC热敏芯片10吸住，于此同时，测试块4上的测试探针41对位于测试块4正下方的NTC热敏芯片10进行测试；
步骤S6，转盘63带动支撑杆2上行，测试块4远离测试台3，移动块5沿着斜面22移动至测试台3上表面，于此同时，移动块5上的吸嘴51将在步骤S3中抓取的NTC热敏芯片10放入空测试区域301内；
步骤S7，测试台3转动转动90度，步骤S4中刚放入待测试NTC热敏芯片10的测试区域301以及步骤S5中刚完成测试的NTC热敏芯片10所在的测试区域301同步转动一个工位；
步骤S8，移动块5上的吸嘴51再将位于其下方的已完成测试的NTC热敏芯片10进行抓取，支撑杆2从顶部位置移动至底部位置，移动块5重新移动至输送带1上表面，并将已完成测试的NTC热敏芯片10放入输送带1上空的料盒内，输送带1向前输送一个间距；
步骤S9，重复步骤S2至S8。
综上，利用同一驱动电机实现测试台3、测试块4和移动块5的协同运动，测试台3的间歇转动带动四个测试区域301循环变换，测试块4的上下滑动带动测试探针41移动实现对测试区域301内的NTC热敏芯片10进行检测，移动块5的来回移动实现NTC热敏芯片10在输送带1和测试台3之间移动，测试台3、测试块4和移动块5之间的协同动作实现NTC热敏芯片10的自动化检测，提高了测试效率。

Claims (7)

1.一种NTC热敏芯片测试装置，包括机架、用于输送NTC热敏芯片(10)的输送带(1)，其特征在于：所述输送带(1)的一侧设置有间歇转动的测试台(3)，在输送带(1)的另一侧设置有一斜块(22)，斜块(22)上形成有一面向测试台(3)的斜面，在测试台(3)上环向均布有四个测试区域(301)，每个测试区域(301)阵列有多个测试槽(31)，每个测试槽(31)的槽底设置有测试极片(32)，在测试槽(31)和测试极片(32)之间设置有压缩弹簧，在测试台(3)上方设置有一支撑杆(2)，支撑杆(2)上连接有一驱动支撑杆(2)竖向往复滑动的驱动机构，支撑杆(2)的下方固定连接有测试块(4)，支撑杆(2)的侧部固定连接有连接杆(21)，连接杆(21)上滑动设置有一移动杆(501)，移动杆(501)的一端设置有一移动块(5)，移动杆(501)的另一端滑动限位于斜块(22)的斜面之上，移动块(5)和测试块(4)在测试台(3)上的投影对应四个测试区域(301)中的两个测试区域(301)，测试块(4)的下侧面上设置有与测试槽(31)相对的测试探针(41)，移动块(5)的下侧面上设置有与测试槽(31)相对的用于取放NTC热敏芯片(10)的吸嘴(51)，驱动机构包括驱动电机、驱动轴(61)、驱动锥齿轮(62)、从动锥齿轮(621)、间歇转动组件、转盘(63)和连杆(64)，驱动轴(61)与驱动电机相连，转盘(63)和驱动锥齿轮(62)分别设置于驱动轴(61)之上，间歇转动组件设置于测试台(3)的转轴和从动锥齿轮(621)的转轴之间，连杆(64)的下端偏心设置于转盘(63)之上，连杆(64)的上端铰接于支撑杆(2)之上。
2.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：所述间歇转动组件包括相互啮合的完全齿轮和不完全齿轮，完全齿轮和测试台(3)的转轴连接，不完全齿轮和从动锥齿轮(621)的转轴连接。
3.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：所述间歇转动组件包括拨盘(65)和槽轮(66)，槽轮(66)和测试台(3)的转轴连接，拨盘(65)和从动锥齿轮(621)的转轴连接，拨盘(65)上设置有一拨动销(651)，槽轮(66)上环向均布有多个拨槽(661)，相邻两个拨槽(661)之间形成有弧度和拨盘(65)外周壁相适配的弧形槽。
4.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：所述间歇转动组件圆盘(71)、凸轮(73)、摆杆(72)和弹簧(75)，圆盘(71)和测试台(3)的转轴连接，凸轮(73)和从动锥齿轮(621)的转轴连接，圆盘(71)的外周壁上均布有多个条形槽(711)，凸轮(73)的外周壁形成有近圆弧段(732)和远圆弧段(731)，在凸轮(73)的转动中心处固定连接有一拨杆(74)，拨杆(74)的外端设置有用于插入条形槽(711)内的拨动柱(741)，摆杆(72)转动设置于机架之上，摆杆(72)的一端转动设置有用于抵靠于凸轮(73)外壁之上的抵靠销(721)，摆杆(72)的另一端形成有用于插入条形槽(711)内对圆盘(71)进行限位的限位销(722)，弹簧(75)的一端连接于机架之上，弹簧(75)的另一端连接于摆杆(72)之上使得摆杆(72)的抵靠销(721)抵靠于凸轮(73)外壁之上。
5.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：所述移动块(5)内形成有一连通腔(52)，在移动块(5)的下侧面上开设有多个与连通腔(52)连通的吸嘴通道(54)，每个吸嘴(51)和对应的吸嘴通道(54)连接，移动块(5)的上侧面上开设有与连通腔(52)连通的总通道(53)，总通道(53)和气泵连接。
6.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：所述斜台(22)的斜面上开设有燕尾槽(221)，所述移动杆(501)的另一端形成有限位于燕尾槽(221)内的燕尾部(502)。
7.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片测试装置，其特征在于：还包括放置于输送带(1)上的料盒，料盒上开设有形状和位置与测试台(3)上的测试区域(301)相适配的凹槽。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113900016A (zh) * 2021-12-08 2022-01-07 深圳市汤诚科技有限公司 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114055115A (zh) * 2021-11-19 2022-02-18 绍兴柯锐医疗用品股份有限公司 一种呼吸过滤器的自动装配设备
CN113900016A (zh) * 2021-12-08 2022-01-07 深圳市汤诚科技有限公司 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法
CN113900016B (zh) * 2021-12-08 2022-02-18 深圳市汤诚科技有限公司 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法
CN115615283A (zh) * 2022-11-07 2023-01-17 哈尔滨东安实业发展有限公司 一种异形件的内孔槽测量装置

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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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