CN113574673B - 一种发光二极管显示模组及其修补方法、以及显示设备 - Google Patents
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Abstract
一种发光二极管显示模组(99)，所述显示模组(99)包括：基板(10)；等间隔设置于所述基板(10)上的多个像素区域(20)，每个所述像素区域(20)设置有多个发射不同单色光的像素子区域(21)，每个所述像素子区域(21)包括第一发光区域(211)和第二发光区域(212)；设置于所述基板(10)上的第一电极层(31)和第二电极层(32)，所述第一电极层(31)与所述第二电极层(32)与所述像素子区域(21)位置对应；设置于所述第一发光区域(211)的第一发光二极管(40)；当所述第一发光二极管(40)不能点亮时，还包括将所述第一发光二极管(40)短接后，设置在所述第二发光区域(212)与所述第一发光二极管(40)发光颜色相同的第二发光二极管(41)。此外，还提供一种发光二极管显示模组的修补方法、以及显示设备(1000)。
Description
技术领域
本发明涉及微型发光二极管(Micro-LED)技术领域，尤其涉及一种发光二极管显示模组及其修补方法、以及显示设备。
背景技术
当微型发光二极管显示背板上的微型发光二极管出现损坏或接触不良等情况时，目前关于缺陷微型发光二极管的修补方法，通常是先用自动光学检测(AOI，AutomatedOptical Inspection)的方法检测显示背板上缺陷微型发光二极管的位置，再使用激光将缺陷微型发光二极管去除，去除完毕后在相同位置再焊接一个正常发光的微型发光二极管。
通过这种方法对缺陷微型发光二极管进行修补，必须用高功率的激光才能将缺陷微型发光二极管完全去除干净。因此激光在将缺陷微型发光二极管去除的过程中，可能由于功率过高而造成缺陷微型发光二极管下方的焊料(铟和锡)受损，导致后续修补制程困难度增加。在使用激光去除缺陷微型发光二极管后，需再次集中对一定区域的焊料进行加热，才能在原来的位置补充新的微型发光二极管，并通过焊料让微型发光二极管与背板有良好的导通与固定。但是在激光去除焊料较多的情况下，还需要对该位置补充焊料才能让微型发光二极管更好地与背板导通与固定。
因此，解决在修补过程中激光去除缺陷微型发光二极管时对焊料的影响是亟需克服的问题。
发明内容
本发明提供了一种发光二极管显示模组、发光二极管显示模组的修补方法、以及应用该发光二极管显示模组的显示设备，可以提高发光二极管显示模组的修补效率。
第一方面，本发明实施例提供一种发光二极管显示模组。所述发光二极管显示模组包括：
基板；
等间隔设置于所述基板上的多个像素区域，每个所述像素区域设置有多个发射不同单色光的像素子区域，每个所述像素子区域包括第一发光区域和第二发光区域；
设置于所述基板上的第一电极层和第二电极层，所述第一电极层与所述第二电极层间隔设置于所述基板，且与所述像素子区域位置对应；
设置于所述第一发光区域的第一发光二极管，所述第一发光二极管的第一电极和第二电极分别与对应的所述第一电极层和所述第二电极层电连接；
当所述第一发光二极管不能点亮时，还包括将所述第一发光二极管短接后，设置在所述第二发光区域与所述第一发光二极管发光颜色相同的第二发光二极管。
第二方面，本发明实施例提供一种发光二极管显示模组的修补方法，所述修补方法包括：
提供基板，所述基板等间隔设置有多个像素区域，每个所述像素区域设置有多个发射不同单色光的像素子区域，每个所述像素子区域包括第一发光区域和第二发光区域，所述第一发光区域设置有第一发光二极管；
将检测到存在缺陷的所述第一发光二极管短接；
在所述第二发光区域设置第二发光二极管，所述第二发光区域处于所述第一发光区域相邻位置，且所述第二发光二极管的发光颜色与所述缺陷第一发光二极管颜色相同。
第三方面，本发明实施例提供一种显示设备。所述显示设备包括外壳、设置于所述外壳内的显示模组，所述显示模组为如上所述的发光二极管显示模组。
上述发光二极管显示模组、修补方法以及显示设备，在同一像素子区域设置了第一发光区域和第二发光区域，当第一发光区域上的第一发光二极管损坏或产生缺陷，无需使用激光的方法去除第一发光二极管，有效解决了在修补过程中激光去除缺陷发光二极管时对焊料的影响，提高修补效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的显示设备的示意图。
图2为本发明第一实施例提供的显示模组的俯视图。
图3为本发明第二实施例提供的显示模组的俯视图。
图4为本发明第一实施例提供的显示模组的剖面示意图。
图5为本发明第二实施例提供的显示模组的剖面示意图。
图6为本发明第一实施例提供的修补方法的过程示意图。
图7为本发明第二实施例提供的修补方法的过程示意图。
图8为本发明第一实施例提供的修补方法过程的剖面示意图。
图9为本发明第二实施例提供的修补方法过程的剖面示意图。
图10为本发明实施例提供的修补方法的流程示意图。
图11为本发明实施例提供的显示模组的局部俯视图。
具体实施方式
为使得对本发明的内容有更清楚及更准确的理解，现将结合附图详细说明。说明书附图示出本发明的实施例的示例，其中，相同的标号表示相同的元件。可以理解的是，说明书附图示出的比例并非本发明实际实施的比例，其仅为示意说明为目的，并非依照原尺寸作图。
请参看图1，其为本发明实施例提供的显示设备1000的示意图。显示设备1000可以为具有显示功能的产品，例如笔记本电脑、平板电脑、显示器、电视机、手机等。显示设备1000包括外壳110、以及设置于外壳内的发光二极管显示模组99。
请结合参看图2和图4，其为本发明第一实施例提供的发光二极管显示模组99的示意图。发光二极管显示模组99包括基板10、多个像素区域20、第一电极层31和第二电极层32、绝缘层60、第一发光二极管40。其中，第一发光二极管40为倒装结构。具体地，第一发光二极管40包括发光部、第一电极和第二电极。发光部包括第一导电半导体层、形成于第一导电半导体层上的活性层、形成于活性层上的第二导电半导体层。第一电极形成于第一导电半导体层远离活性层的一侧，第二电极形成于第二导电半导体层朝向第一电极的一侧。
像素区域20等间隔设置于基板10，每个像素区域20有多个发射不同单色光的像素子区域21。每个像素子区域21设置有第一发光区域211和第二发光区域212。
第一电极层31和第二电极层32设置于基板10，第一电极层31和第二电极层32间隔设置于基板10，且与像素子区域21位置对应。
绝缘层60设置于基板10并覆盖第一电极层31和第二电极层32，且在与像素子区域21相对应的位置露出第一电极层31和第二电极层32。
第一发光二极管40设置于第一发光区域211。具体地，第一发光二极管40的第一电极和第二电极分别与第一电极层31和第二电极层32电连接。即第一发光二极管40的第一电极和第二电极分别通过焊料80与第一电极层31和第二电极层32连接。第一发光二极管40远离第二发光区域212的一侧设置有一对连接孔90，每一对连接孔90贯穿绝缘层60并露出第一电极层31和第二电极层32。连接孔90用于当检测到第一发光二极管40不能点亮时，将第一发光二极管40短接。具体地，每一设置于第一发光二极管40一侧的连接孔90与第一发光二极管40另一侧的电极层30用于连接导电物50，以将第一发光二极管40短接。导电物50由导电材料制成。
请结合参看图6、图8和图10，其为本发明第一实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法的示意图。发光二极管显示模组的修补方法用于修补发光二极管显示模组99上产生缺陷的发光二极管。修补步骤包括：
步骤S101，涂布绝缘层60于基板10并覆盖间隔设置于基板10的第一电极层31和第二电极层32。其中，绝缘层60在像素子区域21相对应的位置露出第一电极层31和第二电极层32；
步骤S103，提供基板10。其中，基板10等间隔设置有多个像素区域20，每个像素区域20设置有多个发射不同单色光的像素子区域21，每个像素子区域21包括第一发光区域211和第二发光区域212。第一发光区域211设置有第一发光二极管40，其中，第一发光二极管40的第一电极和第二电极分别与对应的第一电极层31和第二电极层32电连接；
步骤S105，利用自动光学检测检测第一发光二极管40是否存在缺陷。具体地，利用自动光学检测检测基板10上的第一发光二极管40中是否存在缺陷第一发光二极管400；
步骤S107，若存在缺陷，则进一步检测存在缺陷的第一发光二极管400在基板10上的位置。具体地，使用自动光学检测检测缺陷第一发光二极管400在基板10的位置；
步骤S109，将检测到存在缺陷的第一发光二极管400短接。具体地，设置一对连接孔90于缺陷第一发光二极管400远离第二发光区域212的一侧，每一对连接孔90贯穿绝缘层60并露出第一电极层31和第二电极层32；使用导电物50将缺陷第一发光二极管400短接，导电物50的一端通过缺陷第一发光二极管400一侧的一对连接孔90连接第一电极层31或第二电极层32，导电物50的另一端连接缺陷第一发光二极管400另一侧的第二发光区域212的第一电极层31或第二电极层32。其中，导电物50可以为但不限于金属、导电胶材；
步骤S111，在第二发光区域212设置第二发光二极管41。其中，第二发光区域212处于第一发光区域211相邻位置。具体地，第二发光二极管41为倒装结构，包括第一电极和第二电极。第二发光二极管41的第一电极和第二电极分别与第一电极层31和第二电极层32电连接，即第二发光二极管41的第一电极和第二电极分别通过焊料80与第一电极层31和第二电极层32连接。第二发光二极管41的发光颜色与缺陷第一发光二极管400颜色相同。
请结合参看图3和图5，其为本发明第二实施例提供的发光二极管显示模组999的示意图。第二实施例提供的发光二极管显示模组999与第一实施例提供的发光二极管显示模组99的差异在于，第二实施例提供的发光二极管显示模组999的第一发光二极管40两侧分别设置有一对连接孔90，连接孔90贯穿绝缘层60并露出第一电极层31和第二电极层32。具体地，当检测到第一发光二极管40不能点亮时，每一设置于第一发光二极管40一侧的连接孔90与第一发光二极管40另一侧的连接孔90用于连接导电物50，以将第一发光二极管40短接。发光二极管显示模组999的其他结构与发光二极管显示模组99的基本一致，在此不再赘述。
请结合参看图7、图9和图10，其为本发明第二实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法的示意图。发光二极管显示模组的修补方法用于修补发光二极管显示模组999上产生缺陷的发光二极管。第二实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法与第一实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法的差异在于，第二实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法中，将检测到存在缺陷的第一发光二极管400短接具体包括：
分别设置一对连接孔90于缺陷发光二极管400两侧，每一对连接孔90贯穿绝缘层60并露出第一电极层31和第二电极层32；使用导电物50将缺陷第一发光二极管400短接，导电物50的一端通过缺陷第一发光二极管400一侧的一对连接孔90连接第一电极层31或第二电极层32，导电物50的另一端通过缺陷第一发光二极管400另一侧的一对连接孔90连接第一电极层31或第二电极层32。
第二实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法修补缺陷发光二极管400的其他过程与第一实施例提供的发光二极管显示模组的修补方法的基本一致，在此不再赘述。
在一些可行的实施例中，像素子区域21可包括多个第二发光区域212，用于设置第二发光二极管41的备用选择，具体请参看图11。
在上述实施例中，由于在每个像素子区域21设置了第一发光区域211和第二发光区域212，当第一发光区域211上的第一发光二极管40出现损坏现象或产生缺陷时，直接使用导电物50将缺陷第一发光二极管400短路，再在同一像素子区域21的第二发光区域212设置一个第二发光二极管41，免去了激光去除缺陷第一发光二极管400的繁琐步骤，极大地提高了发光二极管显示模组地修补效率。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘且本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
以上所列举的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于本发明所涵盖的范围。
Claims (7)
1.一种发光二极管显示模组，其特征在于，所述发光二极管显示模组包括：
基板；
等间隔设置于所述基板上的多个像素区域，每个所述像素区域设置有多个发射不同单色光的像素子区域，每个所述像素子区域包括第一发光区域和第二发光区域；
设置于所述基板上的第一电极层和第二电极层，所述第一电极层与所述第二电极层间隔设置于所述基板，且与所述像素子区域位置对应；
设置于所述第一发光区域的第一发光二极管，所述第一发光二极管的第一电极和第二电极分别与对应的所述第一电极层和所述第二电极层电连接；
当所述第一发光二极管不能点亮时，还包括将所述第一发光二极管短接后，设置在所述第二发光区域与所述第一发光二极管发光颜色相同的第二发光二极管，将所述第一发光二极管短接的具体方式为：所述第一发光二极管远离所述第二发光区域的一侧设置有一对连接孔，所述每一对连接孔贯穿绝缘层并露出所述第一电极层和所述第二电极层，每一设置于所述第一发光二极管一侧的所述连接孔与所述第一发光二极管另一侧的所述电极层用于连接导电物以将所述第一发光二极管短接。
2.如权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述第一发光二极管和所述第二发光二极管为倒装结构，所述第一发光二极管和所述第二发光二极管包括发光部、第一电极和第二电极，所述发光部包括第一导电半导体层、形成于所述第一导电半导体层上的活性层、形成于所述活性层上的第二导电半导体层，所述第一电极形成于所述第一导电半导体层远离所述活性层的一侧，所述第二电极形成于所述第二导电半导体层朝向所述第一电极的一侧。
3.如权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述显示模组还包括：
所述绝缘层，所述绝缘层设置于所述基板并覆盖所述第一电极层和所述第二电极层，且在与所述像素子区域相对应的位置露出所述第一电极层和所述第二电极层。
4.一种发光二极管显示模组的修补方法，其特征在于，所述修补方法包括：
提供基板，所述基板等间隔设置有多个像素区域，每个所述像素区域设置有多个发射不同单色光的像素子区域，每个所述像素子区域包括第一发光区域和第二发光区域，所述第一发光区域设置有第一发光二极管；
所述提供基板之前还包括：涂布绝缘层于所述基板并覆盖第一电极层和第二电极层，其中，所述第一电极层和所述第二电极层间隔设置于所述基板，所述绝缘层在与所述像素子区域相对应的位置露出所述第一电极层和所述第二电极层；
将检测到存在缺陷的所述第一发光二极管短接；所述将检测到存在缺陷的所述第一发光二极管短接具体包括：
设置一对连接孔于所述缺陷第一发光二极管远离所述第二发光区域的一侧，其中，所述每一对连接孔贯穿所述绝缘层并露出所述第一电极层和所述第二电极层；
使用导电物将所述缺陷第一发光二极管短接，其中，所述导电物的一端通过所述缺陷第一发光二极管一侧的所述一对连接孔连接所述第一电极层或所述第二电极层，另一端连接所述缺陷第一发光二极管另一侧的所述第二发光区域的所述第一电极层或所述第二电极层；
在所述第二发光区域设置第二发光二极管，所述第二发光区域处于所述第一发光区域相邻位置，且所述第二发光二极管的发光颜色与所述缺陷第一发光二极管颜色相同。
5.如权利要求4所述的修补方法，其特征在于，所述将检测到存在缺陷的所述第一发光二极管短接之前还包括：
利用自动光学检测检测所述第一发光二极管是否存在缺陷；
若存在缺陷，则进一步检测存在缺陷的所述第一发光二极管在所述基板上的位置。
6.如权利要求4所述的修补方法，其特征在于，所述在所述第二发光区域设置第二发光二极管具体包括：
将所述第二发光二极管的第一电极和第二电极分别与对应的所述第一电极层和所述第二电极层电连接。
7.一种显示设备，所述显示设备包括外壳、设置于所述外壳内的显示模组，其特征在于，所述显示模组为如权利要求1～3任意一项所述的发光二极管显示模组。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant after: Chongqing Kangjia Optoelectronic Technology Co.,Ltd. Address before: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant before: Chongqing Kangjia Photoelectric Technology Research Institute Co.,Ltd. |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |