CN113228286B - 发光二极管显示模组、修复方法、以及显示设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种发光二极管显示模组，包括：基板：间隔设置于基板上的若干像素区、驱动电路、以及修复层，每个像素区域设置有三个发射不同单色光的子像素区域，每个子像素区域设置一个发光单元，发光单元包括主发光二极管和替补发光二极管；主发光二极管和替补发光二极管发射相同颜色的单色光；主发光二极管包括第一电极和第二电极，替补发光二极管包括第三电极和第四电极。此外，本发明还提供了一种发光二极管显示模组修复方法和显示设备。
Description
技术领域
本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种发光二极管显示模组、及其修复方法和显示设备。
背景技术
LED(Light Emitting Diode，发光二极管)作为一种新型的固体光源，已经被广泛应用于显示器件中。
微型发光二极管(Micro light emitting diode，MicroLED)通常是指在传统MicroLED芯片结构基础上，将MicroLED芯片尺寸规格缩小到200微米以内的尺寸，将红、绿、蓝三色MicroLED按照一定的规则排列在薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)或互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，COMS)上，则形成了能够实现全彩显示的微器件。此种显示器具有独立控制的显示画素，具有独立发光控制、高辉度、低耗电、超高分辨率和超高色彩饱和度等特点，并且MicroLED微显示器件由于具有自发光的技术特性，还可以实现柔性、透明显示等，而其耗电量仅约为液晶面板的10％。
Micro LED显示器,具有良好的稳定性，寿命，以及运行温度上的优势，同时也承继了LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点,具有极大的应用前景。
在现有技术中，Micro LED显示面板上包括了若干像素区域SPR，每个像素区域SPR包括红色LED芯片、蓝色LED芯片以及绿色LED芯片，在显示器制作过程中，需要将红绿蓝三色LED芯片从各自的生长基板转移到显示面板上，但是，如果任意一个LED芯片出现损坏或者接触不良的情况下，经转移后，损坏或者接触不良的LED芯片将会在显示面板上呈现一个坏点，从而影响成像效果。因此需要对显示面板上的坏点LED芯片进行修复。
目前的修复方法，如果在某一像素点LED出现不良，那么可以通过切断损坏或者接触不良的LED芯片所连接的导电部件，从而不良点修复为暗点，在面板显示中，对比不良亮点，暗点屏幕显示的影响相对较小，所以一般修复为暗点。但是暗点仍然是显示中的一个缺陷。对于这种情况，有待进一步改善。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种发光二极管显示模组、发光二极管显示模组的修复方法、以及应用该发光二极管显示模组的显示设备。可以使修复损坏或者接触不良的发光二极管后，具有较佳的显示效果。
第一方面，本发明提供一种发光二极管显示模组。该发光二极管显示模组包括基板、间隔设置于所述基板上的若干像素区、设置于基板上的驱动电路和修复层，每个像素区域设置有三个发射不同单色光的子像素区域。所述每个子像素区域设置一个发光单元，所述发光单元包括主发光二极管和替补发光二极管；所述主发光二极管和所述替补发光二极管发射相同颜色的单色光。所述主发光二极管包括第一电极和第二电极，所述替补发光二极管包括第三电极和第四电极。所述驱动电路为每个发光单元提供相应的数据电压端以及扫描电压端；所述第一电极和所述第二电极分别通过对应的数据电压端以及扫描电压端接入所述基板的驱动电路形成通路。所述替补发光二极管与所述主发光二极管所对应的数据电压端和扫描电压端相同，所述第三电极通过对应的数据电压端接入驱动电路。所述修复层包括绝缘层、设置于所述绝缘层的导电层。所述绝缘层铺设于所述第四电极和所述对应的扫描电压端之间以使所述替补发光二极管与所述驱动电路之间呈断路状态，所述导电层一端与所述扫描电压端电性连接，另一端靠近所述第四电极并与所述第四电极处于断开状态。所述导电层的另一端形态可发生变化且当所述导电层的另一端形态发生变化时，所述导电层的另一端与所述第四电极电连接。
第二方面，本发明提供一种发光二极管显示模组的修复方法，所述修复方法包括：
检测是否存在有缺陷的主发光二极管；
当检测到存在有缺陷的主发光二极管，将存在缺陷的主发光二极管从所述驱动电路中断开；以及
使所述绝缘层和所述导电层靠近所述第四电极的另一端发生形变以使所述导电层与所述第四电极电性连接。
第三方面，本发明提供一种显示设备。显示设备包括外壳、显示面板以及设置于所述外壳和所述显示面板之间的上述发光二极管显示模组。
上述发光二极管显示模组、及其修复方法和显示设备，在同一子像素区域中设置了主发光二极管和替补发光二极管，主发光二极管被损坏，可以驱动替补发光二极管发光，从而使子像素区域不会因为主发光二极管损坏而影响显示组件或者显示设备的显示效果。
附图说明
图1为发光二极管显示模组的立体示意图。
图2为发光二极管显示模组的局部剖面示意图。
图3为发光二极管显示模组的另一局部剖面示意图。
图4为发光二极管显示模组的修复方法流程示意图。
图5为应用发光二极管显示模组的显示设备示意图。
具体实施方式
为使得对本发明的内容有更清楚及更准确的理解，现将结合幅图详细说明。说明书附图示出本发明的实施例的示例，其中，相同的标号表示相同的元件。可以理解的是，说明书附图示出的比例并非本发明实际实施的比例，其仅为示意说明为目的，并非依照原尺寸作图。
请参看图1，其为一种发光二极管显示模组99的示意图。发光二极管显示模组99包括基板10、等间隔设置于基板10上的若干像素区20、每一像素区20安装有发射三种不同颜色发光单元30、设置于基板10上的驱动电路40和修复层50。其中，驱动电路40用于驱动发光单元30发光。
请结合参看图2和图3，像素区域20设置有多个子像素区域21。每个子像素区域21设置一个发光单元30。每一发光单元30包括主发光二极管31和替补发光二极管32。主发光二极管31和替补发光二极管32发射相同颜色的单色光。主发光二极管31设有第一电极310和第二电极312。替补发光二极管32还有第三电极320和第四电极322。在本实施例中，第一电极310和第三电极320为P极，第二电极312和第四电极322为N极。
驱动电路40为主发光二极管31和替补发光二极管32提供数据电压端41以及扫描电压端42。第一电极310和第二电极312分别通过对应的数据电压端41以及扫描电压端42接入驱动电路40形成通路。替补发光二极管32与主发光二极管31所对应的数据电压端41和扫描电压端42相同。第三电极31通过对应的数据电压端42接入驱动电路40。
修复层50包括绝缘层51以及设置于绝缘层51的导电层52。绝缘层51铺设于第四电极322和对应的扫描电压端42之间以使替补发光二极管32与驱动电路40之间呈断路状态。导电层52一端520与扫描电压端42电性连接；另一端522靠近第四电极322并与第四电极322处于断开状态。导电层52的另一端522形态可发生变化且导电层52的另一端522形态发生变化时，导电层的另一端522与第四电极320电连接。具体地，绝缘层51和导电层52在受热下形态发生变化。绝缘层51由SiNx或者SiOx制成。在本实施例中，可以利用激光照射于绝缘层51的另一端522，从而使得绝缘层51和导电层51靠近第四电极322的一端熔融而发生形变。
请再次参看图3，每一数据电压端41包括第一导电体410和第三导电体420。每一扫描电压端42包括第二导电体412和第四导电体422。第一导电体410、第二导电体412、第四导电体420、第三导电体420依次间隔设置于基板10。第一电极310与第一导电体410电性连接。第二电极312与第二导电体412电性连接。第三电极320与第三导电体420电性连接。第四电极322与第四导电体422电性连接。第一导电体410和第三导电体420电性连接。第二导电体412和第四导电体422分离设置。修复层50设置于第二导电体322和第四导电体422之间。
在初始状态下，第一导电体410和第二导电体412分别与相对应的数据电压端41和扫描电压端42电性连接，即，第一导电体410和第二导电体412分别接入数据信号线43和扫描信号线44；第三导电体420与相对应的数据电压端41电性连接，即，第三导体体420接入数据信号线43；第四导电体422未与相对应的扫描电压端42电性连接，即，第四导电体422未接入扫描信号线44。即在初时状态下，主发光二极管31与驱动电路40电性连接，驱动电路40可以点亮主发光二极管31。
检测过程中，当主发光二极管31被检测出存在缺陷，即，出现暗点或者闪烁时，首先将主发光二极管31的第一电极310从第一导电体410中断开；接着，利用激光照射于修复层50靠近第四电极322的一端，使绝缘层51和导电层52靠近第四电极322的另一端熔融发生形变以使第四电极322与第四导电体422电性连接，使第四电极322通过导电层52电性连接至第二导电体412，即接入扫描信号线44，从而替补发光二极管32接入驱动电路40，从而可以受驱动电路40驱动发光。如此，即便主发光二极管31被损坏，替补发光二极管32发光，使显示效果不受影响。
在本实施中，绝缘层51填充于驱动电路40和发光单元30之间。发光单元30通过第一～第四电极310，312，320，322与相应的第一～第四导电体410，412，420，422分别电性连接。可以理解地，当第一～第四导电体410，412，420，422接入数据信号线43和扫描信号线44时，主发光二极管31和替补发光二极管32接入驱动电路40。
请参看图4，其为发光二极管显示模组99的修复方法流程图。修复方法包括下面步骤。
步骤S401，检测是否存在有缺陷的主发光二极管31。
步骤S403，当测到存在有缺陷的主发光二极管31，将存在缺陷的主发光二极管31从驱动电路40断开。具体地，切断第一电极310与数据电压端41的电连接。
步骤S405，使绝缘层51和导电层52靠近第四电极的另一端发生形变以使导电层52与第四电极电性连接。具体地，利用激光照射绝缘层的另一端，以使绝缘层51和导电层52受热熔融而发生形变。
上述方法中，当主发光二极管31被损坏，可以通过修复层50使替补发光二极管32发光，如此，即便主发光二极管31被损坏，可通过位于同一子像素区域21的替补发光二极管32发光，使显示效果不受影响。
请参看图5，其为第一实施提供的显示设备199示意图。显示设备199包括外壳200和设置于外壳200的发光二极管显示模组99。其中，显示设备199可以为具有显示功能的电子产品。电子产品可以为但不限于手机，显示器，笔记本电脑，平板电脑等。在本实施例中，由于使用了发光二极管显示模组99，可以让显示设备199的显示效果更佳，修复效果更好更便捷。
以上结合附图对本发明的实施方式作了详细说明，但本发明不限于所描述的实施方式。对于本领域的技术人员而言，在不脱离本发明原理和精神的情况下，对这些实施方式进行多种变化、修改、替补和变型，仍落入本发明的保护范围内。
Claims (9)
1.一种发光二极管显示模组，其特征在于：包括：
基板；
间隔设置于所述基板上的若干像素区，每个像素区域设置有三个发射不同单色光的子像素区域，所述每个子像素区域设置一个发光单元，所述发光单元包括主发光二极管和替补发光二极管；所述主发光二极管和所述替补发光二极管发射相同颜色的单色光；所述主发光二极管包括第一电极和第二电极，所述替补发光二极管包括第三电极和第四电极；
设置于基板上的驱动电路，所述驱动电路为每个发光单元提供相应的数据电压端以及扫描电压端；所述第一电极和所述第二电极分别通过对应的数据电压端以及扫描电压端接入所述基板的驱动电路形成通路；所述替补发光二极管与所述主发光二极管所对应的数据电压端和扫描电压端相同，所述第三电极通过对应的数据电压端接入驱动电路；
修复层，所述修复层包括绝缘层、设置于所述绝缘层的导电层，所述绝缘层铺设于所述第四电极和所述对应的扫描电压端之间以使所述替补发光二极管与所述驱动电路之间呈断路状态；所述导电层一端与所述扫描电压端电性连接，另一端靠近所述第四电极并与所述第四电极处于断开状态；所述导电层的另一端形态可发生变化且当所述导电层的另一端形态发生变化时，所述导电层的另一端与所述第四电极电连接；
所述对应的数据电压端包括第一导电体和第三导电体，所述扫描电压端包括第二导电体和第四导电体，所述第一电极与所述第一导电体电性连接，所述第二电极与所述第二导电体电性连接，所述第三电极与所述第三导电体电性连接，所述第四电极与所述第四导电体电性连接，所述第一导电体和所述第三导电体电性导通，所述第二导电体和所述第四导电体分离设置，所述修复层设置于所述第二导电体和所述第四导电体之间。
2.如权利要求1所述的发光二极管显示模组，其特征在于，所述绝缘层和所述导电层在受热下形态发生变化。
3.如权利要求2所述的发光二极管显示模组，其特征在于，所述第一电极和第三电极为P极，所述第二电极和第四电极为N极。
4.如权利要求1所述的发光二极管显示模组，其特征在于，所述绝缘层由SiNx或者SiOx制成。
5.一种发光二极管显示模组的修复方法，其特征在于：所述发光二极管显示模组包括：
基板；
等间隔设置于所述基板上的若干像素区，等间隔设置于所述基板上的若干像素区，每个像素区域设置有三个发射不同单色光的子像素区域，所述每个子像素区域设置一个发光单元，所述发光单元包括主发光二极管和替补发光二极管；所述主发光二极管和所述替补发光二极管发射相同颜色的单色光；所述主发光二极管包括第一电极和第二电极，所述替补发光二极管包括第三电极和第四电极；
设置于基板上的驱动电路，所述驱动电路为每个发光二极管和替补发光二极管提供数据电压端以及扫描电压端；所述第一电极和所述第二电极分别通过对应的数据电压端以及扫描电压端接入所述基板的驱动电路形成通路；所述替补发光二极管与所述主发光二极管所对应的数据电压端和扫描电压端相同，所述第三电极通过对应的数据电压端接入驱动电路；
修复层，所述修复层包括绝缘层、设置于所述绝缘层的导电层，所述绝缘层铺设于所述第四电极和所述对应的扫描电压端之间以使所述替补发光二极管与所述驱动电路之间呈断路状态；所述导电层一端与所述扫描电压端电性连接，另一端靠近所述第四电极并与所述第四电极处于断开状态；
所述对应的数据电压端包括第一导电体和第三导电体，所述扫描电压端包括第二导电体和第四导电体，所述第一电极与所述第一导电体电性连接，所述第二电极与所述第二导电体电性连接，所述第三电极与所述第三导电体电性连接，所述第四电极与所述第四导电体电性连接，所述第一导电体和所述第三导电体电性连接，所述第二导电体和所述第四导电体分离设置，所述修复层设置于所述第二导电体和所述第四导电体之间；所述修复方法包括：
检测是否存在有缺陷的主发光二极管；
当检测到存在有缺陷的主发光二极管，将存在缺陷的主发光二极管从所述驱动电路中断开；以及
使所述绝缘层和所述导电层靠近所述第四电极的另一端发生形变以使所述导电层与所述第四电极电性连接；
其中，当检测到存在有缺陷的主发光二极管，将存在缺陷的主发光二极管从所述驱动电路中断开具体包括：
切断所述第一电极与所述第一导电体之间的电性连接。
6.如权利要求5所述的修复方法，其特征在于，当检测到存在有缺陷的主发光二极管，将存在缺陷的主发光二极管从所述驱动电路中断开具体包括：
切断所述第一电极与所述对应的数据电压端的电连接。
7.如权利要求5所述的修复方法，其特征在于，使所述绝缘层和所述导电层靠近所述第三电极的另一端发生形变以使所述导电层与所述第三电极电性连接具体包括：
利用激光照射所述导电层的另一端。
8.如权利要求5所述的修复方法，其特征在于，所述修复层受热发生形变。
9.一种显示设备，所述显示设备包括外壳、显示面板以及设置于所述外壳和所述显示面板之间的如权利要求1-4任意一项所述的发光二极管显示模组。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant after: Chongqing Kangjia Optoelectronic Technology Co.,Ltd. Address before: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant before: Chongqing Kangjia Photoelectric Technology Research Institute Co.,Ltd. |
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| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |