CN113270055A - 显示面板及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板及测试装置，显示面板包括阵列基板，以及测试电路，测试电路包括第一输入端子、第二输入端子以及第一数据线和第二数据线。其中，阵列基板上设置有第一信号线和第二信号线，第一输入端子通过多条第一数据线分别与第一信号线电连接，且第二输入端子通过第二数据线与第二信号线面接触电连接，从而通过改变布线的排布，有效的改善显示面板在测试时电压输入端容易产生较大热量的问题，并提高面板的性能。

Description

显示面板及测试装置

技术领域

本发明涉及显示面板制造技术领域，特别是涉及一种显示面板及测试装置。

背景技术

随着显示技术的不断提升，人们对显示装置的性能以及质量均提出了更高的要求。

有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)显示技术相比于液晶显示器(liquid crystal display，LCD)，具有自发光、轻薄以及响应速度快的特点，被广泛应用于透明显示和柔性显示装置中。显示装置在制备过程中需要经过寿命老化((lifetime-aging，l-aging)工艺以及点亮测试，以确保显示装置的性能并提高其可靠性。但是，现有工艺在对显示面板进行点亮测试时，在测试初期，测试装置的电源输入端附近温度往往会过高，过高的温度很容易对输入端附件的膜层造成损坏，另一方面，由于老化装置的电源VDD输入端与Vss输入端比较靠近，二者共同产生的热量会造成累加，会进一步恶化对产品造成的不良影响。虽然老化装置的电压输入端附件的温度在一定范围内可控，但是由于电源输入端近端和远端位置的不同，流经发光器件上的电流密度是不均衡的。其中，电源输入端近端压差大，电流大，温度较高；远端则相反，远端与近端之间较大的差异影响了产品的老化测试效果。

综上所述，在对显示器件进行寿命老化工艺时，在测试初期，显示面板及装置靠近电源输入端的温度过高并且电流密度较大，而远离电源输入端的区域内的电流密度较小，进而出现温度和电压的差异，进而对器件的品质和良率造成影响。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及测试装置，以有效的改善显示面板在点亮及老化工艺时，在电源输入端的不同区域内电压之间的差异，在靠近电源输入端区域的电压以及温度过高，远离电源输入端的电压较小的问题，从而有效的提高产品的品质和良率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供的技术方法如下：

本发明实施例的第一方面，提供了一种显示面板，包括：

显示区和非显示区，所述非显示区设置在所述显示区的一侧；

阵列基板，所述阵列基板的一侧设置有第一信号线和第二信号线，所述第一信号线设置在所述显示区的边缘，所述第二信号线设置在所述非显示区内；以及，

测试电路，所述测试电路设置在所述非显示区内，所述测试电路包括第一输入端子、第二输入端子以及与所述第一输入端子电连接的第一数据线，与所述第二输入端子电连接的第二数据线；

其中，所述第一输入端子通过至少两条所述第一数据线分别与所述第一信号线电连接，且所述第二输入端子通过所述第二数据线与所述第二控制信号线面接触电连接。

根据本发明一实施例，所述非显示区包括绑定区和端子切除区，所述端子切除区设置在所述绑定区的一侧，且所述第二信号线对应设置在所述绑定区内。

根据本发明一实施例，所述第一信号线和所述第二信号线互不重合。

根据本发明一实施例，所述第一输入端子为高电平信号输入端，所述第二输入端子为低电平信号输入端。

根据本发明一实施例，所述第一输入端子通过所述第一数据线为所述第一信号线输入高电平信号，所述第二输入端子通过所述第二数据线为所述第二信号线输入低电平信号。

根据本发明一实施例，所述第二数据线与所述第二信号线的连接区域为梯形的连接区域。

根据本发明一实施例，所述第一输入端子与所述第二输入端子并排间隔设置。

根据本发明一实施例，所述显示面板内还包括对位标记，所述对位标记设置在所述非显示区内，且设置在相邻的所述第一输入端子和所述第二输入端子之间。

根据本申请一实施例，任一所述第一输入端子至少通过四条所述第一数据线与所述第一信号线电连接。

根据本发明实施例的第二方面，还提供一种测试装置，包括：

边框；以及，

信号接入端，所述信号接入端设置在所述边框上；

其中，所述信号接入端包括多个连接端子，所述连接端子与本申请实施例中提供的显示面板，其中显示面板中任一所述第一输入端子和所述第二连接端子对应连接，并向所述连接端子传输测试信号。

综上所述，本发明实施例的有益效果为：

本发明实施例提供一种显示面板及测试装置，通过在显示面板的非显示区域内设置测试电路，其中，测试电路中包括第一输入端子和第二输入端子，第一输入端子通过多个数据线与显示面板内的第一信号线电连接，第二输入端子通过数据线与面板内的第二信号线面接触形式电连接。通过多个连接点有效的降低了输入的电压，同时，面接触的连接方式有效的增大了接触面积，进而减小了在对显示面板进行测试时，靠近连接端子区域处容易发热的问题，并提高了显示面板的测试效果，提高了显示面板及装置的可靠性。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果更显而易见。

图1为显示面板在试验测试时各发热区域的示意图；

图2A为本申请实施例提供的一种显示面板的测试电路布线示意图；

图2B为本申请实施例提供的第一信号线207的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的测试装置在寿命老化测试时的发光性能示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

随着显示面板制备技术的不断发展，人们希望制备并获得到质量及性能最佳的面板。在器件制备过程中，需要对面板进行各项测试，如寿命老化测试等，各项测试均需要对面板进行点灯，但是，显示面板在点亮的初期，其电压及亮度往往达不到理想值。具体的，在点灯过程中，容易出现在靠近电源输入端一侧的电流较大，较大的电流容易造成器件发热严重，而在远离电源输入端一侧的器件电流较小，造成面板的显示品质较低，进而不利于显示面板综合性能的提高。

如图1所示，图1为显示面板在试验测试时各发热区域的示意图。在对显示面板进行点亮测试时，需要通过信号接入端子以将外部的测试信号传输至显示面板中。具体的，接入端子包括第一接入端子100和第二接入端子101，其中，第一接入端子100为高电平接入端子，通过第一接入端子100为面板102提供VDD电源电压，第二接入端子101为低电平接入端子，通过第二接入端子101为面板102提供Vss电源电压。在每个接入端子之间的布线区105以及绑定区106内，面板102上设置有多条信号线。当对显示面板施加不同的驱动电压时，在接入端子附近，端子区的温度迅速升高，当电源输入端附近温度过高(如>100℃)时，可能会对其附近的膜层造成损坏，带来诸如不同信号间短路，进而影响薄膜晶体管的电性、劣化器件的性能、烧毁导线或者面阴极等严重的产品问题。另一方面，由于在设置接入端子时，第一接入端子100与第二连接端子比较靠近，二者共同产生的热量会在一定的区域内进行累加，即在第一发热区域103和第二发热区104形成较高的热量，进而影响测试效果并对器件的性能造成危害。

如图2A所示，图2A为本申请实施例提供的一种显示面板的测试电路布线示意图。具体的，显示面板200包括显示区域201和非显示区域202，非显示区域202设置在显示区域201的一侧。本发明实施例中，显示面板200的显示区域201主要为面板的发光显示区，非显示区域202可设置在显示面板200的边缘区域。

具体的，在非显示区域202内还包括端子切除区2021以及绑定区2022，绑定区2022与端子切除区2021相邻设置，且绑定区2022靠近显示面板200的显示区域201的一侧。

其中，显示面板200包括阵列基板206，阵列基板206设置在面板的显示区域201内，通过阵列基板206以及其他膜层实现显示面板的发光显示。在设置阵列基板206时，可将阵列基板206设置在衬底上，本实施例中的衬底结构仅为示例，衬底的具体结构未详细画出。

显示面板还包括第一信号线207以及第二信号线208，其中，第一信号线207设置在阵列基板206靠近绑定区2022一侧的边缘区域处，且第一信号线207设置在阵列基板206的显示区的一侧边缘处，并与边缘处的信号线相连接，以便为阵列基板206提供控制信号。在设置第一信号线207时，第一信号线207可设置为短路条结构的信号线，从而提高第一信号线207与阵列基板206之间的接触面积，并且增大第一信号线207的面积。

第二信号线208设置在绑定区2022内，在本申请实施例中，第二信号线208可为面阴极，将该面阴极铺设在绑定区2022上，从而实现传输控制的功能。并且，在设置第一信号线207和第二信号线208时，两信号线之间相互错开，互不重叠。

显示面板在未完成成品之前，需要经过多项测试工艺测试。而在测试时，均需要通过测试线将测试信号传输至显示面板内，因此，对应于测试装置及测试面板，还需要在显示面板上设置对应的测试电路203。其中，测试电路203设置在显示面板200的非显示区域202内。优选的，可将测试电路203设置在显示面板200非显示区域202内的端子切除区2021内。以便对显示面板进行后续的工艺操作。

在本申请实施例中的测试电路203中，测试电路203包括多个输入端子以及与输入端子相电连接的多条引线。该引线可为导电金属线或其他可传输信号以及导电的数据线。在进行测试时，将测试装置内的测试端口对应的与本申请实施例中提供的输入端子对应连接，从而实现对显示面板的测试。

具体的，本申请实施例中的输入端子包括第一输入端子204和第二输入端子205。第一输入端子204和第二输入端子205均设置在端子切除区2021内，并且，第一输入端子204和第二输入端子205可设置在衬底上，并且第一输入端子204和第二输入端子205可并排等间隔进行设置，从而简化制备工艺。

本申请实施例中，以第一输入端子204为高电平信号输入端子，即第一输入端子204为VDD输入端子，以第二输入端子205为低电平信号输入端子，即第二输入端子205为Vss输入端子为例进行说明，除此信号类型外，第一输入端子204和第二输入端子205还可为其他类型的输入端子。

其中，VDD输入端子通过第一数据线2041与第一信号线207电连接，Vss输入端子通过第二数据线2051与第二信号线208电连接。

以1个VDD输入端子为例对其连接关系进行说明。任意一个VDD输入端子均通过一根引线2042引出，然后再通过第一连接点a和第二连接点b，以及第一信号线207上的第一连接点A和第二连接点B，将第一数据线2041与第一信号线207相电连接。

上述第一连接点a、第二连接点b、第一信号线207上的第一连接点A以及第二连接点B均为示例，还可在不同位置上设置多个互不相同的连接点，并保证引线2042上的连接点能与第一信号线207上的连接点一一对应，使第一数据线2041的一端通过第一连接点a与引线2042电连接，第一数据线2041的另一端通过另一连接点A与第一信号线207电连接，依此连接关系，将第一数据线2041通过多个连接点与第一信号线207进行连接。

由于本申请实施例中通过多个连接点与第一信号线207相连接，并且在设置第一信号线207时，第一信号线207可设置为短路条结构的信号线，以增大第一信号线207的面积。因此，当第一输入端子204提供VDD高电平电压时，电压会通过多条第一数据线传到第一信号线207上，多条第一数据线可有效的将电流在单一线路上产生的热量进行分散，以平衡电流输入的差异，并且，多根第一数据线，有效的改善了电源近端和远端压差较大的问题。从而有效的避免了在电源输入端VDD处产生较大热量的问题，并解决了器件在测试过程中发热严重的问题。

进一步的，如图2B所示，图2B为本申请实施例提供的第一信号线207的结构示意图。本申请实施例中的第一信号线207优选为短路条结构的信号线，同时第一信号线207设置在阵列基板的显示区的边缘。为了便于安装以及连接，本申请实施例中的第一信号线207还包括连接端2071，多个连接端2071背离显示面板的显示区的一侧进行设置，且多个连接端2071设置在第一信号线207的同一侧，同时，在连接端2071内或者连接端2071的端部设置连接点，连接点对应的与第一连接点A和第二连接点B等连接。由于本申请实施例中的第一信号线207设置有连接端2071，并且对应的在各连接端2071上设置连接点，且连接端2071不与第二信号线208相接触，因此，本申请实施例中的第一信号线207更容易进行安装以及连接，从而有效的提高了显示面板的制备工艺流程，并且，设置的多个连接端2071进一步的增大了第一信号线207的面积，减小了第一信号线207的发热等问题。

另一方面，显示面板200还包括第二输入端子205，第二输入端子205可与第一输入端子204并排间隔设置，并且，第二输入端子205可为低电平信号输入端，如Vss电源电压端。当长时间对显示面板进行测试时，在第二输入端子205附近，也会产生大量的热，因此，本申请实施例提供一种第二输入端子205的布线结构设计。

其中，第二输入端子205通过第二数据线2051与第二信号线208电连接，本申请实施例中，第二信号线208可为面阴极。同时，从第二输入端子205的一端引出的第二数据线2051通过面接触的接触方式与第二信号线208相连接。

详见图2A，将与面阴极相对应的连接区域内的第二数据线2051设置为梯形形状的短路条结构。这样，第二数据线2051与面阴极之间具有较大的接触面积。本申请实施例中第二数据线2051与第二信号线208的面接触区210还可以为长条形、方形等其他形状的面接触形状，从而有效的利用面板的设计空间。其他具体形状这里不再赘述。通过增大两者之间的接触区域的面积，进而达到减小热量的目的。当向第二输入端子205提供Vss低电平电压时，面接触的设计结构可增大两者之间的接触面积，当长时间提供电流时，面接触区210内产生较小的热量，并且，通过面接触形式的方式进行连接，还进一步的提高了不同器件之间连接的可靠性。

优选的，第二输入端子205可设置为多个，根据显示面板型号的不同，每一列像素单元可单独设计一个第二输入端子走线，或者多列像素单元共享同一根第二输入端子走线，这里不再详细赘述。

本申请实施例中，每一个第一输入端子204可通过多条或者至少两条第一数据线2041与第一信号线207相连接。在设置第一数据线2041时，由同一第一输入端子204延伸出的引线2042可与至少四根第一数据线2041电连接，并向第一信号线207提供电压信号，优选的，通过四根第一数据线2041与第一信号线207相连接。

本申请实施例中，在第一输入端子204和第二输入端子205之间还可设置其他输入端子，其他输入端子也对应的与显示面板内像素单元的驱动信号线对应连接，从而实现面板的点亮测试工艺。其他输入端子可包括红色像素单元输入端子、蓝色像素单元输入端子以及绿色像素单元输入端子等，通过不同的传输信号线以对显示面板进行控制并点亮。

具体的，显示面板200还包括多个绑定端子211，对应的，从红色像素单元输入端子、蓝色像素单元输入端子以及绿色像素单元输入端子所引出来的数据线汇集在各自对应的绑定端子211内，如图2A中从每一个输入端子引出的数据线所示，绑定端子211同时与阵列基板206内部的各个信号线相连接。

当对显示面板进行寿命老化测试中的点灯操作时，将各个输入端分别与本申请中设置的第一输入端子204、第二输入端子205以及绑定端子211对应连接，通过各个端子向显示面板提供不同的电压信号，并驱动显示面板的正常发光。

本申请实施例中，第一输入端子204提供的高电压经过多条数据线的分压，从而使得达到第一信号线上的电压与第一输入端子204上的电压差别较小，进而有效的减少了电源端产生热量的问题。

同时，第二输入端子205引出的第二数据线2051通过面接触的连接方式与第二信号线相连，由于接触面积增大，因此，两端处的发热减小，从而有效的保证了显示面板的各项性能。

本申请实施例中，在设置各条数据线时，可均设置为短路条结构的数据线，以降低显示面板在工作时数据线上所产生的热量，并提高显示面板的可靠性。

优选的，本申请实施例中的显示面板还包括对位标记209，对位标记209可设置为多个，并且将对位标记209设置在显示面板的非显示区域202内。具体的，可将对位标记209设置在相邻的两个绑定端子211之间，当对显示面板进行点亮连接时，将测试电路上的接口与本申请中的对位标记209对齐，并进行连接，从而有效的提高了线路连接的效率，并最终提高了生产效率。

进一步的，本申请实施例提供的显示面板在经过各项点亮测试完成后，可在非显示区域202内，沿着裁剪线C1或C2对端子切除区2021进行切除，由于本申请实施例中设置的为测试电路，因此，在将辅助点亮测试的部分电路进行切除后，并不会影响显示面板后续的装配及连接，从而有效的提高了显示面板的生产效率。

在设置本申请实施例中的测试电路时，测试电路可设置在显示面板的至少两边上，包括任意两边、三边的组合或者在四边上均进行设置。同时，各个输入端子的数量也可根据实际产品的需求进行设定。从而达到尽可能多的增加输入端子的数目，以分散同一输入端附近产生较大的热量。

如图3所示，图3为本身实施例提供的测试装置的结构示意图。测试装置300包括测试边框3001以及设置在测试边框3001上的多个信号接入端子301，同时，信号接入端子301与对应的输出端302对应连接，通过输出端302将信号接入端子301传输的信号传输至显示面板内。本实施例中的信号接入端子301可设置在测试装置的至少两个测试边框3001上，从而尽可能多的设置信号接入端子301，进而降低在同一电源输入端上产生较多热量的问题。

在进行测试时，将本申请实施例中提供的显示面板放入到测试装置300的显示区域304内，同时使显示面板的非显示区与测试装置300的非显示区域303相对应，由于在显示面板上以及测试装置300的非显示区域303内均设置有测试电路。在进行连接时，将测试装置300的测试边框3001上的输出端302与显示面板中设置的第一输入端子、第二输入端子以及其他信号输入端子对应连接。这样，可在测试装置的多个边框处进行信号输入，将测试信号从多个输入点输入到显示面板内部，并实现对显示面板的点灯功能。从而有效的减小了显示面板内部靠近信号输入端容易发热的问题，并保证显示面板的质量及可靠性。

优选的，测试装置300还包括散热系统以及对流系统，散热系统以及对流系统可设置在测试装置300的非显示区域303内，或者直接将散热系统铺设在显示区域304内，并且不对显示面板的装配造成影响。

如图4所示，图4为本申请实施例提供的测试装置在寿命老化测试时的发光性能示意图。a和b分别对应未老化寿命测试以及经过寿命老化测试时的亮度随时间的变化示意图。具体而言，寿命老化测试是在一定温度(如室温)下，对红色子像素、蓝色子像素或者绿色子像素同时或分开进行一定时间和一定电流密度的高亮度测试。本申请实施例中，测试时间设置为5min～10min，电流密度设置为50mA/cm²～150mA/cm²，由不同条件下的亮度曲线可知，面板在发光初期亮度波动较大，即在时间为0附近的亮度曲线。当继续点亮最高灰阶测试器件的发光寿命时，初期亮度一般会有先上升再下降最后接近线性自然衰减，或者剧烈下降再缓慢自然衰减的趋势。而初期亮度的不稳定性会对器件的寿命造成影响，也会造成使用过程中偏色导致色彩失真等品质问题。T1，T2分别为未老化测试以及经过老化测试时对应的面板的亮度衰减至50％的时间，其中，T2＞T1。因此，通过本申请实施例中提供的测试装置，通过提高测试温度，使显示面板的初期的亮度曲线提前，最终达到提高显示面板的显示效果的目的。

同时，本申请实施例中提供的测试装置内设置有与本申请实施例中的显示面板相对应的布线结构设计，因此，在对显示面板进行测试时，面板内部的布线以及连接端处不容易发热，进而有效的提高了面板的测试性能以及显示性能。

本申请实施例中提供的测试电路的布线结构设计可应用于小、中、大尺寸OLED显示产品的制造上，通过对OLED发光器件初期亮度的不稳定性进行改善，进而提升显示产品的寿命和显示性能，有效弥补OLED发光器件自身的性能不足。

以上对本发明实施例所提供的一种显示面板及测试装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区和非显示区，所述非显示区设置在所述显示区的一侧；

阵列基板，所述阵列基板的一侧设置有第一信号线和第二信号线，所述第一信号线设置在所述显示区的边缘，所述第二信号线设置在所述非显示区内；以及，

测试电路，所述测试电路设置在所述非显示区内，所述测试电路包括第一输入端子、第二输入端子以及与所述第一输入端子电连接的第一数据线，与所述第二输入端子电连接的第二数据线；

其中，所述第一输入端子通过至少两条所述第一数据线分别与所述第一信号线电连接，且所述第二输入端子通过所述第二数据线与所述第二信号线面接触电连接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括绑定区和端子切除区，所述端子切除区设置在所述绑定区的一侧，且所述第二信号线对应设置在所述绑定区内。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一信号线和所述第二信号线互不重合。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一输入端子为高电平信号输入端，所述第二输入端子为低电平信号输入端。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一输入端子通过所述第一数据线为所述第一信号线输入高电平信号，所述第二输入端子通过所述第二数据线为所述第二信号线输入低电平信号。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二数据线与所述第二信号线的连接区域为梯形的连接区域。

7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一输入端子与所述第二输入端子并排间隔设置。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板内还包括对位标记，所述对位标记设置在所述非显示区内，且设置在相邻的所述第一输入端子和所述第二输入端子之间。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，任一所述第一输入端子至少通过四条所述第一数据线与所述第一信号线电连接。

10.一种测试装置，其特征在于，包括：

边框；以及，

信号接入端，所述信号接入端设置在所述边框上；

其中，所述信号接入端包括多个连接端子，所述连接端子与如权利要求1-9中任一所述第一输入端子和所述第二连接端子对应连接，并向所述连接端子传输测试信号。

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