CN113447748B - 一种用于电子产品高低温试验的装置 - Google Patents

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Abstract

一种用于电子产品高低温试验的装置，包括连接板、密封腔以及测试电缆，连接板上下两表面均设置有待试验电子产品的凸台和安装孔；密封腔通过法兰盘分别安装于连接板的上下两表面处，并将安装待试验电子产品的凸台和安装孔围于其中，与安装板的上下两表面各形成一个可将待试验电子产品包围的腔室；测试电缆将电子产品的在试验过程中的测试信号传输至外部测试设备。本发明将试验的电子产品进行包裹后进行试验，能有效解决电子产品在进行高低温试验时受到试验环境的干扰而影响试验数据准确性的问题，能避免在试验过程中开箱产生大量水汽和温度骤升或骤降问题对产品的影响，而且一次可对两台产品进行试验，同时该装置结构简单，便于制作，安装、操作和维护方便，试验效率高，成本低。

Description

一种用于电子产品高低温试验的装置
技术领域
本发明属于电子产品试验技术领域，具体涉及一种用于电子产品高低温试验的装置。
背景技术
随着电子技术的飞速发展，对电子产品的要求也越来越高，不仅要求在常温下性能优良，更要求在高低温条件下能正常可靠的工作，因此对电子产品进行高低温可靠性试验具有十分重要的意义。目前高低温试验已广泛应用于航空航天、通信、测试、武器系统等领域，以检测和鉴定电子产品在高低温环境的综合性能。进行高低温试验就是将电子产品放置在高低温试验箱中，通过高低温试验箱模拟低温、高温低湿以及高温高湿等各种环境条件从而测试电子产品在这种环境条件下的各项性能指标。在利用高低温试验箱进行试验过程中，外界环境与箱体内环境差异较大，此时若开箱进行测试，箱体内短时间会产生大量水汽和温度骤升或骤降问题，影响产品的试验质量和性能指标。另外，由于高低温试验时间较长，在试验时单台产品进行试验，生产效率较低。因此，亟需提供一种可以解决电子产品受到试验环境的干扰而影响试验数据的试验装置，避免在试验过程中开箱产生大量水汽和温度骤升或骤降问题对产品的影响，也能够提高试验的效率。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种用于电子产品高低温试验的装置。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种用于电子产品高低温试验的装置，包括连接板、密封腔以及测试电缆，所述连接板上下两表面均设置有待试验电子产品的凸台和安装孔；所述密封腔为两个，均为平底薄壁中空桶状，开口处设置有法兰盘，所述两个密封腔通过法兰盘分别安装于连接板的上下两表面处，并将安装待试验电子产品的凸台和安装孔围于其中，与连接板的上下两表面各形成一个可将待试验电子产品包围的腔室；所述测试电缆为两个，与连接板外表面密封连接，并分别向连接板的上下表面伸出，对内可与试验时安装于连接板上下两表面的电子产品进行连接，对外与测试设备连接，将电子产品的在试验过程中的测试信号传输至外部测试设备。
进一步的，所述密封腔的法兰盘上均布设置有多个安装孔，通过螺钉拧入安装孔并旋入连接板后将所述两个密封腔分别紧固于所述连接板的上下表面上。
进一步的，还包括不脱出螺钉，所述密封腔的法兰盘上设置的安装孔为阶梯状，小端为螺纹孔，与不脱出螺钉的螺纹匹配，大端为光孔，大端的光孔直径大于不脱出螺钉螺纹大径，所述密封腔进行安装时，使用不脱出螺钉进行密封腔的连接安装。
进一步的，所述不脱出螺钉从上到下为螺钉头部、光杆部以及外螺纹部，外螺纹部与密封腔法兰盘上设置的安装孔小端螺纹孔匹配，光杆部直径小于外螺纹部大径，不脱出螺钉旋过密封腔法兰盘上设置的安装孔后光杆部置于孔中形成自由状态，但不脱出于密封腔设置的法兰盘。
进一步的，还包括密封圈，所述连接板的上下表面与密封腔的法兰盘接触处设有环形凹槽，所述密封圈放置于所述环形凹槽中。
进一步的，所述密封腔的法兰盘在连接板的环形凹槽处设置有楔形止口，尺寸与连接板的上下表面设置的环形凹槽一致，并与密封圈以及连接板的上下表面设置的环形凹槽抵触连接。
进一步的，所述测试电缆对称设置于连接板两侧。
进一步的，所述连接板的上下表面上在不脱出螺钉安装处设置有与不脱出螺钉外螺纹相适应的螺纹孔，进行安装时，所述不脱出螺钉旋入连接板的上下表面设置的螺纹孔中后分别将两个密封腔紧固于连接板的上下两表面上。
本发明的有益效果在于：通过本发明的实施，提供了一种电子产品高低温试验装置，将试验的电子产品进行包裹后进行试验，能有效解决电子产品在进行高低温试验时受到试验环境的干扰而影响试验数据准确性的问题，能避免在试验过程中开箱产生大量水汽和温度骤升或骤降问题对产品的影响，而且一次可对两台产品进行试验，同时，该装置结构简单，便于制作，安装、操作和维护方便，试验效率高，成本低。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图中：1-连接板，2-密封腔，3-密封圈，4-不脱出螺钉，5-测试电缆。
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
如图1所示，一种用于电子产品高低温试验的装置，包括连接板1、密封腔2以及测试电缆5，连接板1上下两表面均设置有待试验电子产品的凸台和安装孔；密封腔2为两个，均为平底薄壁中空桶状，开口处设置有法兰盘，两个密封腔2通过法兰盘分别安装于连接板1的上下两表面处，并将安装待试验电子产品的凸台和安装孔围于其中，与连接板11的上下两表面各形成一个可将待试验电子产品包围的腔室；测试电缆5为两个，测试电缆5对称设置于连接板1两侧，均与连接板1外表面密封连接，并分别向连接板1的上下表面伸出，对内可与试验时安装于连接板1上下两表面的电子产品进行连接，对外与测试设备连接，将电子产品的在试验过程中的测试信号传输至外部测试设备。密封腔2的法兰盘上均布设置有多个安装孔，通过螺钉拧入安装孔并旋入连接板11后将两个密封腔2分别紧固于连接板1的上下表面上。
还包括不脱出螺钉4，密封腔2的法兰盘上设置的安装孔为阶梯状，小端为螺纹孔，与不脱出螺钉4的螺纹匹配，大端为光孔，大端的光孔直径大于不脱出螺钉4螺纹大径，密封腔2进行安装时，使用不脱出螺钉4进行密封腔2的连接安装。不脱出螺钉4从上到下为螺钉头部、光杆部以及外螺纹部，外螺纹部与密封腔2法兰盘上设置的安装孔小端螺纹孔匹配，光杆部直径小于外螺纹部大径，不脱出螺钉4旋过密封腔2法兰盘上设置的安装孔后光杆部置于孔中形成自由状态，但不脱出于密封腔2设置的法兰盘。连接板1的上下表面上在不脱出螺钉4安装处设置有与不脱出螺钉4外螺纹相适应的螺纹孔，进行安装时，不脱出螺钉4旋入连接板1的上下表面设置的螺纹孔中后分别将两个密封腔2紧固于连接板1的上下两表面上。还包括密封圈3，连接板1的上下表面与密封腔2的法兰盘接触处设有环形凹槽，密封圈3放置于环形凹槽中。密封腔2的法兰盘在连接板1的环形凹槽处设置有楔形止口，尺寸与连接板1的上下表面设置的环形凹槽一致，并与密封圈3以及连接板1的上下表面设置的环形凹槽抵触连接。
使用时，将待试验的电子产品分别安装在连接板1上下表面上，连接测试电缆5，然后将带有不脱出螺钉4的密封腔2以楔形止口对齐连接板1上凹槽的方式安装到连接板1的上、下表面，最后用不脱出螺钉4拧入连接板1上下表面进行紧固。随后将带有电子产品的装置放入高低温试验箱，将测试电缆5通过高低温试验箱一侧的过线孔引出到试验箱外连接测试设备，关上试验箱门，即可开始对电子产品进行高低温试验。

Claims (8)

1.一种用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：包括连接板、密封腔以及测试电缆，所述连接板上下两表面均设置有待试验电子产品的凸台和安装孔；所述密封腔为两个，均为平底薄壁中空桶状，开口处设置有法兰盘，所述两个密封腔通过法兰盘分别安装于连接板的上下两表面处，并将安装待试验电子产品的凸台和安装孔围于其中，与连接板的上下两表面各形成一个可将待试验电子产品包围的腔室；所述测试电缆为两个，与连接板外表面密封连接，并分别向连接板的上下表面伸出，对内可与试验时安装于连接板上下两表面的电子产品进行连接，对外与测试设备连接，将电子产品的在试验过程中的测试信号传输至外部测试设备。
2.如权利要求1所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：所述密封腔的法兰盘上均布设置有多个安装孔，通过螺钉拧入安装孔并旋入连接板后将所述两个密封腔分别紧固于所述连接板的上下表面上。
3.如权利要求2所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：还包括不脱出螺钉，所述密封腔的法兰盘上设置的安装孔为阶梯状，小端为螺纹孔，与不脱出螺钉的螺纹匹配，大端为光孔，大端的光孔直径大于不脱出螺钉螺纹大径，所述密封腔进行安装时，使用不脱出螺钉进行密封腔的连接安装。
4.如权利要求3所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：所述不脱出螺钉从上到下为螺钉头部、光杆部以及外螺纹部，外螺纹部与密封腔法兰盘上设置的安装孔小端螺纹孔匹配，光杆部直径小于外螺纹部大径，不脱出螺钉旋过密封腔法兰盘上设置的安装孔后光杆部置于孔中形成自由状态，但不脱出于密封腔设置的法兰盘。
5.如权利要求1所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：还包括密封圈，所述连接板的上下表面与密封腔的法兰盘接触处设有环形凹槽，所述密封圈放置于所述环形凹槽中。
6.如权利要求5所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：所述密封腔的法兰盘在连接板的环形凹槽处设置有楔形止口，尺寸与连接板的上下表面设置的环形凹槽一致，并与密封圈以及连接板的上下表面设置的环形凹槽抵触连接。
7.如权利要求1所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：所述测试电缆对称设置于连接板两侧。
8.如权利要求2所述的用于电子产品高低温试验的装置，其特征在于：所述连接板的上下表面上在不脱出螺钉安装处设置有与不脱出螺钉外螺纹相适应的螺纹孔，进行安装时，所述不脱出螺钉旋入连接板的上下表面设置的螺纹孔中后分别将两个密封腔紧固于连接板的上下两表面上。
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