CN113432835A - 一种多腔体高低温测试装置及具其系统 - Google Patents

一种多腔体高低温测试装置及具其系统 Download PDF

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CN113432835A CN202110618803.3A CN202110618803A CN113432835A CN 113432835 A CN113432835 A CN 113432835A CN 202110618803 A CN202110618803 A CN 202110618803A CN 113432835 A CN113432835 A CN 113432835A
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Abstract

本发明提出一种多腔体高低温测试装置及具其系统。本发明的多腔体高低温测试装置包括上下盒体及多个控温腔室,下盒体通过活动隔板划分成多个控温腔室,待测屏幕治具可拆卸地设置于每个控温腔室中,满足同时对多个显示屏幕进行高低温测试的需求,效率高,同时能够对不同点亮方式的显示屏幕同时进行测试,适用性高;上盒体可拆卸地与下盒体嵌合连接,结构简单,拆卸方便。本发明的多腔体高低温测试系统包括多腔体高低温测试装置、温控箱和循环管道,温控箱可根据多腔体高低温测试装置中温度传感器反馈温度值,分别调节多腔体高低温测试装置的每个控温腔室的高温气体或低温气体进气量,从而实现不同控温腔室不同温度条件下的光学测试,结构简单,设备成本低。

Description

一种多腔体高低温测试装置及具其系统
技术领域
本发明涉及显示屏幕的检测技术领域,特别是一种多腔体高低温测试装置及具有该多腔体高低温测试装置的系统。
背景技术
高低温测试装置是显示屏幕光学性能测试中常用设备,在显示屏幕光学性能测试时,需要在高温环境或低温环境中进行测试,以验证显示屏幕的适用性。但目前的高低温测试装置为单个腔体结构,只能适用于单个显示屏幕的高低温测试,无法同时满足多个显示屏幕的测试需求。单腔体高低温测试装置进行测试时,每次只能更换一个显示屏幕,当进行多个显示屏幕测试时需多次更换测试,消耗时间;同时每次测试,还需等待测试装置的温度上升或下降至所需的测试温度,等待时间长,导致测试效率低下;同时,频繁更换显示屏幕,容易造成测试治具的磨损,降低其使用寿命。
因此,需要一种多腔体高低温测试装置及具其系统能够同时满足多个显示屏幕的高低温光学性能测试需求。
发明内容
本发明针对现有显示屏幕多腔体高低温测试装置的不足,提供一种多腔体高低温测试装置及具其系统,能够实现同时进行多个显示屏幕高温或低温检测,提高测试效率,且操作简单,设备成本低。
本发明采用以下技术方案:
一种多腔体高低温测试装置包括上盒体和下盒体;所述上盒体包括至少两个可视窗口;所述下盒体包括至少两个控温腔室,所述可视窗口与所述控温腔室一一对应;所述下盒体的每个控温腔室分别设置有待测屏幕治具、进气口、出气口和温度传感器;所述进气口与所述出气口设于所述控温腔室的相对的两侧;且所述上盒体可拆卸地与所述下盒体嵌合连接。
进一步,所述上盒体还包括保温盖和壳体;所述壳体中设置有所述至少两个可视窗口,每个所述可视窗口设有高透玻璃和可视窗空气进气管,所述可视窗空气进气管设于所述可视窗口的侧壁;所述保温盖包括至少两个孔洞,所述至少两个孔洞的形状和大小与所述可视窗口相对应,所述可视窗口贯穿于所述对应的孔洞,所述保温盖与所述壳体固定连接,所述壳体的内部填充保温材料。
进一步,所述下盒体还包括外腔体和内腔体,所述内腔体嵌设于所述外腔体中,所述外腔体与内腔体之间填充保温材料。
进一步,所述内腔体还设置有凹槽和活动隔板,所述活动隔板设置于所述凹槽中,将所述内腔体划分成所述至少两个独立的控温腔室。
进一步,所述凹槽设有至少一个强力磁体,所述活动隔板的底部靠近所述凹槽的一侧也设有至少一个强力磁体,所述两个强力磁体极性相反、数量相同。
进一步,所述待测屏幕治具包括第一待测屏幕治具和第二待测屏幕治具,所述第一待测屏幕治具和第二待测屏幕治具结构不完全相同;所述每个控温腔室分别设置有所述第一待测屏幕治具或所述第二待测屏幕治具,且所述第一待测屏幕治具或所述第二待测屏幕治具分别通过螺孔用螺丝可拆卸地安装于对应的所述控温腔室中。
进一步,所述第一测屏幕治具包括针块、压块、放置块和固定板,所述压块转动连接于所述固定板,所述针块固定于所述压块上,待测屏幕固定于所述放置块,所述压块与所述放置块采用磁性吸附以固定待测屏幕。
进一步,所述第二待测屏幕治具包括吸附块、PCB转接板以及连接所述PCB转接板的铜柱,所述吸附块通过真空吸附以固定待测屏幕,所述PCB转接板通过排线与待测屏幕连接,所述PCB转接板通过铜柱固定于所述控温腔室。
本发明另一方面提供一种多腔体高低温测试系统,包括多腔体高低温测试装置、温控箱和循环管道,所述多腔体高低温测试装置通过所述循环管道与所述温控箱连接。
进一步,所述循环管道包括主进气循环管道、分进气循环管道、主出气循环管道及分出气循环管道;所述主进气循环管道一端连接至少两条所述分进气循环管道,另一端连接所述温控箱,所述主出气循环管道一端连接所述温控箱,另一端连接至少两条所述分出气循环管道,所述每条分进气循环管道一端与所述对应的进气口连接;所述每条分出气循环管道一端与所述对应的出气口连接;每条所述分进气循环管道内设有电磁阀,所述温控箱根据所述每个温度传感器反馈的测试温度分别控制相对应所述电磁阀的阀门开度。
本发明多腔体高低温测试装置及多腔体高低温测试系统具有以下有益效果:
(1)本发明的多腔体高低温测试装置相对于单腔体高低温测试装置,包括至少两个控温腔室,可以满足同时对多个显示屏幕进行温度测试,能有效地提高测试效率,减少显示屏幕的更换次数,从而降低对待测试屏幕治具的磨损。
(2)本发明的多腔体高低温测试装置通过上盒体和下盒体可拆卸嵌合连接,结构简单,拆卸方便,便于多个显示屏幕的放置或更换,操作方便,效率高。
(3)本发明的多腔体高低温测试装置采用活动隔板将下盒体划分成多个独立控温腔室,从而在一个多腔体高低温测试装置中实现不同温度环境下的多个显示屏幕的光学性能测试,测试效率高,设备成本低。
(4)本发明的多腔体高低温测试装置可根据不同显示屏幕可拆卸更换待测屏幕治具,满足不同显示屏幕的光学测试需求,适用性高,可满足多种显示屏幕的测试需求。
(5)本发明的多腔体高低温测试装置的进气口和出气口设于每个控温腔室的相对的两侧,保证控温腔室内部气体分布更加均匀,温度均衡,提高显示屏幕高低温光学测试的精确性。
(6)本发明的多腔体高低温测试系统能够根据温度传感器反馈温度值分别调节每个控温腔室的温度,控制精度高,且仅通过一个温控箱可实现多个腔室的温度控制,结构简单,成本低。
本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
图1为本发明提供的多腔体高低温测试装置的整体结构示意图。
图2为图1中所示的多腔体高低温测试装置的上盒体的结构示意图。
图3为图1中所示的多腔体高低温测试装置的下盒体的结构示意图。
图4为图1中所示的多腔体高低温测试装置的下盒体的内腔结构示意图。
图5为图1中所示的多腔体高低温测试装置的待测屏幕治具一实施例的结构示意图。
图6为图1中所示的多腔体高低温测试装置的待测屏幕治具另一实施例的结构示意图。
图7为本发明提供多腔体高低温测试系统的平面结构示意图。
附图标记
1-多腔体高低温测试装置;11-上盒体;12-下盒体;2-温控箱;3-循环管道;111-可视窗口;112-高透玻璃;113-可视窗空气进气管;114-保温盖;1141-孔洞;115-壳体;116-把手;117-空气进气孔;121-控温腔室;1211-控温腔室侧面1;1212-控温腔室侧面2;1213-螺丝;122-待测屏幕治具;1221-待测屏幕治具;1222-待测屏幕治具;12211-针块;12212-压块;12213-放置块;12214-固定板;12215-针孔;1223-螺孔;12221-吸附块;12222-PCB转接板;12223-铜柱;123-进气口;124-出气口;125-温度传感器;126-外腔体;127-内腔体;1271-凹槽;1272-活动隔板;128-测试穿线孔;31-主进气循环管道;311-分进气循环管道;312-电磁阀;32-主出气循环管道;321-分出气循环管道。
具体实施方式
下面将结合本发明的附图,对本发明的技术方案进行描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本发明中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的或者是针对竖直、垂直或重力方向上而言的各部件相互位置关系描述用词。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
本发明公开的一种多腔体高低温测试装置,如附图1所示,本发明公开的多腔体高低温测试装置1包括:上盒体11、下盒体12,上盒体11可拆卸地与下盒体12嵌合连接。上盒体11底部靠近下盒体12的表面设有凹槽,下盒体12上表面靠近上盒体11的一侧设有轮廓与所述上盒体11的凹槽对应的凸台。当上盒体11与下盒体12闭合时,凸台嵌入凹槽中。
上盒体11包括至少两个可视窗口111,如图1中所示实施例中,上盒体11包括3个可视窗口111。在其他实施例中,可视窗口111的数量也可以根据测试需要设置4个、5个、6个等,在此不做限制。可视窗口111的形状和大小可以相同也可以根据实际测试需求进行不同设置,在此也不做限制。下盒体12包括至少两个控温腔室121,如图1中所示实施例中,下盒体12包括3个控温腔室121。在其他实施例中,控温腔室121的数量也可以根据测试需要设置4个、5个、6个等,在此不做限制,只要满足可视窗口111与控温腔室121数量一致即可。每个可视窗口111相应地设置于其控温腔室121的正上方,便于光学仪器透过可视窗口111检测置于对应的控温腔室121中的屏幕。
如附图2所示,上盒体11还包括保温盖114和壳体115。3个可视窗口111设置在壳体115中。每个可视窗口111还包括高透玻璃112和可视窗空气进气管113。高透玻璃112的形状可以与可视窗口111的形状一致也可以不一致,只要高透玻璃112能将可视窗口111覆盖,使得从上盒体11往下盒体12方向看,上盒体11从上到下形成一个开放式的凹窗,从而使得光学仪器能够透过该可视窗口111对位于对应的控温腔室121的待测显示屏幕进行光学检测。可视窗空气进气管113为L型弯管,设置于其对应的可视窗口111的侧壁。当进行低温测试时,向该可视窗空气进气管113通入干燥空气,干燥空气吹向对应的高透玻璃112,以避免低温环境导致高透玻璃112结霜。此外,在壳体115的其中一个侧面设有空气进气孔117,通过向该空气进气孔117通入干燥空气,干燥空气再通过各可视窗空气进气管113分别进入相应的可视窗口111。
上述空气进气孔117设于与其中一个把手116同侧的壳体115侧面以通入干燥空气,该空气进气孔117可设置于壳体115其他三个侧面,并不局限于上述一侧,只要能实现干燥空气的吹入功能即可。
保温盖114包括至少两个孔洞1141,如图2中所示实施例中,保温盖114包括3个孔洞1141。在其他实施例中,保温盖114上的孔洞1141的数量也可以根据测试需要设置4个、5个、6个等,在此不做限制,孔洞1141的数量、形状和大小与可视窗口111相对应,可视窗口111贯穿其对应的孔洞1141。壳体115上表面设置有轮廓与保温盖114形状大小相应的凹槽,保温盖114嵌于该凹槽中,并通过螺丝将保温盖114与壳体115固定连接,实现上盒体11的密封。
保温盖114与壳体115之间填充有保温材料,如隔热石棉等,通过保温材料的设置实现隔热作用,并进行高低温测试时可避免温度流失。
壳体115的两侧还设置有用于帮助上盒体11和下盒体12分离的把手116,当放置或更换待测屏幕时,可通过把手116打开上盒体11,操作方便。该把手116可采用耐温和防滑材料如黑色合成石,避免在握持把手116时烫伤或滑落。
如附图3所示,下盒体12包括外腔体126和内腔体127,内腔体127嵌设于外腔体126中。内腔体127底部为台阶状,内腔体127可以嵌入外腔体126内。外腔体126与内腔体127之间填充保温材料,防止高低温测试时温度流失,保证每个控温腔室121内部温度均衡,提高测试精度。
下盒体12包括至少两个控温腔室121,如图3中所示实施例中,下盒体12包括3个控温腔室121。每个控温腔室121沿长度方向的侧面1211设有进气口123,侧面1212设有出气口124。当进行高低温测试时,高温或低温气体从进气口123进入相应的控温腔室121,并从出气口124排出气体,形成气体循环流动,保证温度的恒定。此处需要说明的是,每个控温腔室121的进气口123和出气口124分别设置于该控温腔室121的两侧,从而能提高气体流动均衡性,使高温或低温气体充满整个控温腔室121。相对于进气口和出气口设置于同侧的腔室,本发明的各控温腔室的气体分布更加均匀,温度均衡,提高显示屏幕高低温光学测试的精确性。
每个控温腔室121均对应设有温度传感器125,可根据温度传感器125的温度测试值控制高温或低温气体的进气量大小,以达到调节控温腔室121内部温度的目的,使其测试温度与设定温度一致。下盒体12侧面还设有测试穿线孔128。
如附图4所示,内腔体127还设置有凹槽1271和活动隔板1272,活动隔板1272设置于凹槽1271中,如图4中所示实施例中,内腔体127设置2个凹槽1271和2个活动隔板1272,将内腔体127划分成3个独立的控温腔室121。在其他实施例中,凹槽1271和活动隔板的数量也可以根据测试需要设置4个、5个、6个等,在此不做限制,满足凹槽1271和活动隔板1272数量一致即可。内腔体127的底部靠近上盒体11的一侧设有凹槽1271,其宽度略大于活动隔板1272宽度,活动隔板1272可容纳于凹槽1271中。每个凹槽1271设有至少一个强力磁体12711,对应的活动隔板1272的底部靠近凹槽1271的一侧也设有相同数量的强力磁体12721,强力磁体12711与强力磁体12721的磁性相反、数量相同。当安装活动隔板1272时,活动隔板1272从上而下插入对应的凹槽1271中,同时凹槽1271中强力磁体12711与对应的活动隔板1272的强力磁体12721之间强力吸合将活动隔板1272固定于凹槽1271中,实现内腔体127的分区,以形成3个独立的控温腔室121。可根据测试需求设置控温腔室121的数量;活动隔板1272采用保温材料以提高保温性能,防止相邻两个控温腔室121之间温度相互干扰。该内腔体127通过活动隔板1272划分成多个独立的控温腔室121,实现多个显示屏幕同时进行高低温测试,大大提高显示屏幕的测试效率。活动隔板1272与凹槽1271之间采用磁性吸附,便于安装,配合牢固。
待测屏幕治具122可拆卸安装于对应的控温腔室121,待测屏幕治具122用于固定待测屏幕。图5为本发明提供的待测屏幕治具122的一实施例的结构示意图。如图5所示,在本实施例中,待测屏幕治具1221用于呈半成品状态的待测屏幕的点亮测试,该待测屏幕治具1221包括针块12211、压块12212、放置块12213、固定板12214,压块12212转动连接于固定板12214。针块12211通过螺丝与对应的螺孔1223配合固定于压块12212上,针块12211可跟随压块12212翻转。高低温点亮测试时,将待测屏幕放置于放置块12213上,翻转压块12212压住待测屏幕,压块12212与放置块12213之间采用磁性吸附以固定待测屏幕,防止待测屏幕点亮后发生晃动。针块12211上设置有探针对应的针孔12215,测试时探针通过针孔12215向呈半成品状态的待测屏幕传输测试信号。该待测屏幕治具1221通过螺丝和对应的螺孔1223配合,可拆卸地安装于控温腔室121,便于更换待测屏幕治具1221。
图6为本发明提供的待测屏幕治具122的另一实施例的结构示意图。如图6所示,在本实施例中,待测屏幕治具1222用于待测屏幕成品的点亮测试,该待测屏幕治具1222包括吸附块12221、PCB转接板12222以及连接PCB转接板12222的铜柱12223。吸附块12221用于吸附待测屏幕起到固定待测屏幕作用,若干个真空吸附孔均匀分布于吸附块12221,真空泵通过通气管路连通真空吸附孔。待测屏幕进行点亮测试时,将待测屏幕放置于吸附块12221上,真空泵开启,真空吸附孔产生负压,将待测屏幕稳固吸附于吸附块12221上。吸附块12221通过螺丝和对应的螺孔1223’配合,可拆卸地安装于控温腔室121。如图6实施例2所示,4个铜柱12223将PCB转接板12222固定于其对应的控温腔室121中,待测屏幕通过排线与PCB转接板12222连接,从而将测试信号通过排线传输给待测屏幕,以点亮待测屏幕。
在本发明提供的待测屏幕治具的上述两个实施例可适用于半成品屏幕和成品测试,并可拆卸地固定于控温腔室121,可根据待测屏幕的测试需求更换待测屏幕治具122,可满足不同规格的待测屏幕的测试,适用性高,并且该待测屏幕治具122采用磁性或真空吸附方式固定待测屏幕,更换方便,且可避免夹伤待测屏幕。本发明的待测屏幕治具122不仅限于上述实施例方式中的具体细节,在本发明的技术构思范围内,可以对本发明的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本发明的保护范围。
在本发明公开的一种多腔体高低温测试装置的实施例中,多腔体高低温测试装置的3个控温腔室121中可以根据待测屏幕的结构设置不同的待测屏幕治具122。比如3个控温腔室121中可以设置3个如图5所示的用于呈半成品状态的待测屏幕的点亮测试的待测屏幕治具122,也可以设置1个如图6中所示的用于待测屏幕成品的点亮测试的待测屏幕治具122和2个图5中所示的用于呈半成品状态的待测屏幕的点亮测试的待测屏幕治具122,或者也可以设置2个如图6中所示的用于待测屏幕成品的点亮测试的待测屏幕治具122和1个图5所示的用于呈半成品状态的待测屏幕的点亮测试的待测屏幕治具122,还可以是设置3个如图6中所示的用于待测屏幕成品的点亮测试的待测屏幕治具122。具体设置方式在此不受限制,可以根据待测屏幕的结构不同相应对待测屏幕治具122的合理设置。这样可以使得本发明提供的一种多腔体高低温测试装置可以同时对多个不同点亮方式的屏幕进行测试,其结构简单适用性强,且操作灵活方便,不需要针对不同点亮方式的屏幕采用不同的高低温测试装置进行测试,可以简化测试流程,缩短测试时间。
本发明提出的一种多腔体高低温测试装置,通过活动隔板划分成多个控温腔室,满足同时对多个显示屏幕进行测试的需求,提高测试效率;可根据不同显示屏幕可拆卸更换待测屏幕治具,满足多个不同显示屏幕的光学测试需求,适用性高;同时该装置的上下盒体采用可拆卸方式连接,便于待测屏幕的更换,操作方便,结构简单。
本发明还提出一种多腔体高低温测试系统,如附图7所示,该系统包括多腔体高低温测试装置1、温控箱2和循环管道3。多腔体高低温测试装置1通过循环管道3与温控箱2连接,该循环管道3为回路式结构,具体为:循环管道3包括主进气循环管道31、分进气循环管道311、主出气循环管道32及分出气循环管道321。如图7中所示实施例中,主进气循环管道31一端连接3条分进气循环管道311,另一端连接温控箱2,每条分进气循环管道311另一端与对应的进气口123连接,温控箱2通过主进气循环管道31将高温或低温气体经与之连接的分进气循环管道311输送至相应的控温腔室121。主出气循环管道32一端连接温控箱2,另一端3条分出气循环管道321,每条分出气循环管道321另一端与对应的出气口124连接,主出气循环管道32将高温或低温气体回收至温控箱2,实现高温或低温气体循环利用。在其他实施例中,分进气循环管道311和分出气循环管道321的数量也可以根据测试需要设置4个、5个、6个等,在此不做限制。只要满足分进气循环管道311和分出气循环管道321的数量与多腔体高低温测试装置1中的控温腔室121的数量一致即可。
每条分进气循环管道311内设有电磁阀312,温控箱2根据每个温度传感器125反馈的测试温度分别控制相对应电磁阀312。每个控温腔室121设置的温度传感器125连接于温控箱2,温控箱2接收温度传感器125反馈的测试温度值,根据测试温度与设定温度的偏差值控制对应的分进气循环管道311电磁阀312的阀门开度,以控制分进气循环管道311的进气量的大小,从而实现各控温腔室121的温度调节。如对显示屏幕进行高温测试时,某一控温腔室121的温度传感器125测试的温度值比设定值低时,可增大该控温腔室121对应的电磁阀312的开度,增加该控温腔室121的高温气体进气量,从而提高其温度;相应的,若该控温腔室121的温度传感器125测试的温度值比设定值高,则减小该控温腔室121对应的电磁阀312的开度,减少该控温腔室121的高温气体进气量,降低其温度。
该系统每个控温腔室121均具有温度传感器125、分进气循环管道311、分出气循环管道321及电磁阀312,通过调节相应的控温腔室121的进气量大小,便可调节该控温腔室121内部温度,从而实现不同控温腔室的不同温度下的光学测试,从而满足不同温度的测试需求,提高测试效率。且该系统只需设置一个温控箱2配合其电磁阀312,即可实现每个控温腔室121的温度调节,结构简单,成本低。
该多腔体高低温测试系统的温度范围为:-40℃~120℃,温度偏差为±1℃,温箱温度均匀度为2℃。
本发明提出的一种多腔体高低温测试方法,该方法包括以下步骤:
1.打开多腔体高低温测试装置1的上盒体11,分别将第一待测屏幕治具1221和/或第二待测屏幕治具1222用螺丝安装于对应的控温腔室121,再将各待测屏幕固定于对应的待测屏幕治具122;
上述步骤1中,当待测屏幕治具122为第一待测屏幕治具1221时,将待测屏幕放置于放置块12213上,翻转压块12212压住待测屏幕,探针插入针块12211上的针孔12215,启动测试时,探针向呈半成品状态的待测屏幕传输测试信号;
当待测屏幕治具122为第二待测屏幕治具1222时,将待测屏幕放置于吸附块12221上,并将待测屏幕的排线插入PCB转接板12222;真空泵开启以固定待测屏幕,启动测试,测试信号通过排线传输给待测屏幕;
2、将上盒体11的凹槽对准下盒体12的凸台,上盒体11嵌合于下盒体12,形成多腔体高低温测试装置1;
3、启动温控箱2,调节需进行测试的各多腔体高低温测试装置1对应的电磁阀门312,分别向各控温腔体121通入高温或低温气体;
4、温控箱2根据各温度传感器125反馈的测试温度,基于测试温度与设定温度的偏差值控制对应的分进气循环管道311电磁阀312的阀门开度,使其测试温度与设定温度一致。
上述步骤4中,当对一控温腔室121的待测屏幕进行高温测试时,假设测试温度为80℃,当需要测试温度为90℃时,温控箱2自动增大该控温腔室121对应的电磁阀门312的阀门开度,提高该控温腔室121高温气体的进气量,直至该控温腔室121温度上升至90℃,温控箱2接收该控温腔室121对应的温度传感器125反馈的温度值,停止对其电磁阀门312开度的调节。
5、通过光学测试仪器,观察在设定温度下,待测屏幕的光电学性能。
上述方法只需通过打开上盒体11即可一次性安装多个治具及其对应点亮方式的显示屏幕,操作简单,效率高;同时温控箱2只需根据各温度传感器125反馈的温度值调节各控温腔室121对应的电磁阀门,就可对各控温腔室121进行温度调节,控制方法简单,设备成本低。
以上所述,仅为本发明的优选实施例而已,故不能依此限定本发明实施的范围,即依本发明专利范围及说明书内容所作的等效变化,皆应仍属本发明涵盖的范围内。

Claims (10)

1.一种多腔体高低温测试装置,其特征在于,包括上盒体(11)、下盒体(12);所述上盒体(11)包括至少两个可视窗口(111);所述下盒体(12)包括至少两个控温腔室(121),所述可视窗口(111)与所述控温腔室(121)一一对应;所述下盒体(12)的每个控温腔室(121)分别设置有待测屏幕治具(122)、进气口(123)、出气口(124)和温度传感器(125);所述进气口(123)与所述出气口(124)设于所述控温腔室(121)的相对的两侧;且所述上盒体(11)可拆卸地与所述下盒体(12)嵌合连接。
2.根据权利要求1所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述上盒体(11)还包括保温盖(114)和壳体(115);所述壳体(115)中设置有所述至少两个可视窗口(111),每个所述可视窗口(111)设有高透玻璃(112)和可视窗空气进气管(113),所述可视窗空气进气管(113)设于所述可视窗口(111)的侧壁;所述保温盖(114)包括至少两个孔洞(1141),所述至少两个孔洞(1141)的形状和大小与所述可视窗口(111)相对应,所述可视窗口(111)贯穿于所述对应的孔洞(1141);所述保温盖(114)与所述壳体(115)固定连接;所述壳体(115)的内部填充保温材料。
3.根据权利要求1所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述下盒体(12)还包括外腔体(126)和内腔体(127),所述内腔体(127)嵌设于所述外腔体(126)中,所述外腔体(126)与内腔体(127)之间填充保温材料。
4.根据权利要求3所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述内腔体(127)还设置有凹槽(1271)和活动隔板(1272),所述活动隔板(1272)设置于所述凹槽(1271)中,将所述内腔体(127)划分成至少两个独立的控温腔室(121)。
5.根据权利要求4所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述凹槽(1271)设有至少一个强力磁体(12711),所述活动隔板(1272)的底部靠近所述凹槽(1271)的一侧也设有至少一个强力磁体(12712),所述强力磁体(12711)与所述强力磁体(12712)极性相反、数量相同。
6.根据权利要求1所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所待测屏幕治具(122)包括第一待测屏幕治具(1221)和第二待测屏幕治具(1222),所述第一待测屏幕治具(1221)和第二待测屏幕治具(1222)结构不完全相同;所述每个控温腔室(121)分别设置有所述第一待测屏幕治具(1221)或所述第二待测屏幕治具(1222),且所述第一待测屏幕治具(1221)或所述第二待测屏幕治具(1222)分别通过螺孔用螺丝可拆卸地安装于对应的所述控温腔室(121)中。
7.根据权利要求6所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述第一测屏幕治具(1221)包括针块(12211)、压块(12212)、放置块(12213)和固定板(12214),所述压块(12212)转动连接于所述固定板(12214),所述针块(12211)固定于所述压块(12212)上,待测屏幕固定于所述放置块(12213),所述压块(12212)与所述放置块(12213)采用磁性吸附以固定待测屏幕。
8.根据权利要求6所述的多腔体高低温测试装置,其特征在于,所述第二待测屏幕治具(1222)包括吸附块(12221)、PCB转接板(12222)以及连接所述PCB转接板(12222)的铜柱(12223),所述吸附块(12221)通过真空吸附以固定待测屏幕,所述PCB转接板(12222)通过排线与待测屏幕连接,所述PCB转接板(12222)通过铜柱(12223)固定于所述控温腔室(121)。
9.一种多腔体高低温测试系统,其特征在于,包括如权利要求1至8任一项所述的多腔体高低温测试装置(1)、温控箱(2)和循环管道(3),所述多腔体高低温测试装置(1)通过所述循环管道(3)与所述温控箱(2)连接。
10.根据权利要求9所述的高低温光学测试系统,其特征在于,所述循环管道(3)包括主进气循环管道(31)、分进气循环管道(311)、主出气循环管道(32)及分出气循环管道(321);所述主进气循环管道(31)一端连接至少两条所述分进气循环管道(311),另一端连接所述温控箱(2),所述主出气循环管道(32)一端连接所述温控箱(2),另一端连接至少两条所述分出气循环管道(321),所述每条分进气循环管道(311)一端与所述对应的进气口(123)连接;所述每条分出气循环管道(321)一端与所述对应的出气口(124)连接;每条所述分进气循环管道(311)内设有电磁阀(312),所述温控箱(2)根据所述每个温度传感器(125)反馈的测试温度分别控制相对应所述电磁阀(312)的阀门开度。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113917272A (zh) * 2021-12-13 2022-01-11 海拓仪器(江苏)有限公司 一种电子元器件的带电老化测试装置
CN114486205A (zh) * 2022-02-21 2022-05-13 上海天马微电子有限公司 一种光学测试装置及方法
CN115825161A (zh) * 2022-10-09 2023-03-21 宁波大学 一种车用薄膜电阻型气体传感器的测试装置
CN116166067A (zh) * 2022-12-30 2023-05-26 至誉科技(武汉)有限公司 支持多腔体独立控温的Chamber装置的方法

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1249535A (zh) * 1998-09-28 2000-04-05 日本电气株式会社 用于非破坏性的检查半导体器件的装置和方法
JP2005069938A (ja) * 2003-08-26 2005-03-17 Risou Keisoku Kk 電子部品の試験装置
US20110011553A1 (en) * 2008-03-12 2011-01-20 Honda Motor Co., Ltd. Multi-cavity mold
CN205067257U (zh) * 2015-10-14 2016-03-02 南京日东光学薄膜技术有限公司 一种高低温冲击试验箱
CN107063635A (zh) * 2017-04-28 2017-08-18 苏州易锐光电科技有限公司 光模块高低温测试装置
CN108414912A (zh) * 2018-03-01 2018-08-17 上海华岭集成电路技术股份有限公司 半导体成品高低温多工位测试装置
CN108931717A (zh) * 2017-05-25 2018-12-04 京元电子股份有限公司 高低温切换测试模块
CN208805347U (zh) * 2018-08-24 2019-04-30 武汉光为通信科技有限公司 用于光模块高低温测试的装置
CN209055301U (zh) * 2018-08-24 2019-07-02 武汉光为通信科技有限公司 用于光模块高低温测试的导流罩
CN209416654U (zh) * 2019-03-25 2019-09-20 苏州弗士达科学仪器有限公司 摆臂式微型显示器光学特性测试设备
CN110361419A (zh) * 2019-07-08 2019-10-22 上海同果智能科技有限公司 高低温探针台测试装置
CN209858696U (zh) * 2019-04-02 2019-12-27 苏州韬盛电子科技有限公司 带气道高低温测试座
CN210293625U (zh) * 2019-09-04 2020-04-10 厦门特仪科技有限公司 一种新型的屏幕测试治具
CN111947889A (zh) * 2020-09-11 2020-11-17 大连藏龙光电子科技有限公司 一种多通道光模块高低温测试装置
CN212363615U (zh) * 2020-09-11 2021-01-15 大连藏龙光电子科技有限公司 一种多通道光模块高低温测试装置
US20210132142A1 (en) * 2019-11-01 2021-05-06 One Test Systems Environment control apparatus and chip testing system

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1249535A (zh) * 1998-09-28 2000-04-05 日本电气株式会社 用于非破坏性的检查半导体器件的装置和方法
JP2005069938A (ja) * 2003-08-26 2005-03-17 Risou Keisoku Kk 電子部品の試験装置
US20110011553A1 (en) * 2008-03-12 2011-01-20 Honda Motor Co., Ltd. Multi-cavity mold
CN205067257U (zh) * 2015-10-14 2016-03-02 南京日东光学薄膜技术有限公司 一种高低温冲击试验箱
CN107063635A (zh) * 2017-04-28 2017-08-18 苏州易锐光电科技有限公司 光模块高低温测试装置
CN108931717A (zh) * 2017-05-25 2018-12-04 京元电子股份有限公司 高低温切换测试模块
CN108414912A (zh) * 2018-03-01 2018-08-17 上海华岭集成电路技术股份有限公司 半导体成品高低温多工位测试装置
CN209055301U (zh) * 2018-08-24 2019-07-02 武汉光为通信科技有限公司 用于光模块高低温测试的导流罩
CN208805347U (zh) * 2018-08-24 2019-04-30 武汉光为通信科技有限公司 用于光模块高低温测试的装置
CN209416654U (zh) * 2019-03-25 2019-09-20 苏州弗士达科学仪器有限公司 摆臂式微型显示器光学特性测试设备
CN209858696U (zh) * 2019-04-02 2019-12-27 苏州韬盛电子科技有限公司 带气道高低温测试座
CN110361419A (zh) * 2019-07-08 2019-10-22 上海同果智能科技有限公司 高低温探针台测试装置
CN210293625U (zh) * 2019-09-04 2020-04-10 厦门特仪科技有限公司 一种新型的屏幕测试治具
US20210132142A1 (en) * 2019-11-01 2021-05-06 One Test Systems Environment control apparatus and chip testing system
CN111947889A (zh) * 2020-09-11 2020-11-17 大连藏龙光电子科技有限公司 一种多通道光模块高低温测试装置
CN212363615U (zh) * 2020-09-11 2021-01-15 大连藏龙光电子科技有限公司 一种多通道光模块高低温测试装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张建东: "柔性发光器件光电特性测试技术及装备研究", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113917272A (zh) * 2021-12-13 2022-01-11 海拓仪器(江苏)有限公司 一种电子元器件的带电老化测试装置
CN114486205A (zh) * 2022-02-21 2022-05-13 上海天马微电子有限公司 一种光学测试装置及方法
CN115825161A (zh) * 2022-10-09 2023-03-21 宁波大学 一种车用薄膜电阻型气体传感器的测试装置
CN116166067A (zh) * 2022-12-30 2023-05-26 至誉科技(武汉)有限公司 支持多腔体独立控温的Chamber装置的方法

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