CN114486205A - 一种光学测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种光学测试装置及方法，包括：第一腔体为温度控制箱，温度控制箱内设置有承载至少两个待测样品光学平台，温度控制箱在对待测样品进行光学测试时将待测样品调整为预设温度；第一腔体和第二腔体之间通过隔板隔开，隔板设置有与待测样品对应的第一通孔以及与第一通孔一一对应的开关单元，开关单元在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔；第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，运动机构带动光学测试单元移动，光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能。本发明实施例提供的技术方案，以解决现有光学测试设备结构复杂、测试效率低、成本高且存在安全隐患的问题。

Description

一种光学测试装置及方法

技术领域

本发明实施例涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种光学测试装置及方法。

背景技术

随着显示技术的快速发展，人们对显示屏的品质要求也越来越高。高低温光学测试装置是显示屏光学性能测试中的常用设备，可以对显示屏进行高低温光学测试。

现有的光学测试设备，结构复杂且测试效率低，容易造成实验排程紧张、研发项目进度缓慢和成本高等问题，并且，在手动换片过程中也容易造成温度稳定性受到干扰，影响测试结果精确性，同时存在一定的安全隐患。

发明内容

本发明提供一种光学测试装置及方法，以解决现有光学测试设备结构复杂、测试效率低、成本高且存在安全隐患的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种光学测试装置，包括：

机柜，所述机柜包括第一腔体和第二腔体；

所述第一腔体为温度控制箱，所述温度控制箱内设置有光学平台，所述光学平台用于承载至少两个待测样品，所述温度控制箱用于在对所述待测样品进行光学测试时将所述待测样品调整为预设温度；

所述第一腔体和所述第二腔体之间通过隔板隔开，所述隔板设置有与所述待测样品对应的第一通孔以及与所述第一通孔一一对应的开关单元，所述开关单元用于在光学测试阶段依次打开对应的所述第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的所述第一通孔；

所述第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，所述运动机构用于带动所述光学测试单元移动，所述光学测试单元根据所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光学性能。

第二方面，本发明实施例还提供了一种光学测试方法，适用于第一方面所述的光学测试装置，所述光学测试方法包括：

S1、将至少两个待测样品放置于温度控制箱内的光学平台上；

S2、所述温度控制箱调整所述待测样品至第一预设温度；

S3、运动机构带动光学测试单元与某一第一通孔对应，与所述第一通孔对应的气缸打开所述第一通孔；

S4、所述光学测试单元根据所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光学性能；

S5、循环执行S3和S4，完成所有所述待测样品的测试。

本发明实施例，通过设置光学测试装置的机柜包括第一腔体和第二腔体，其中，第一腔体为温度控制箱，温度控制箱内设置有光学平台，光学平台用于承载至少两个待测样品，温度控制箱在对待测样品进行光学测试时将待测样品调整为预设温度，使得通过设置温度控制箱内温度的高低，可以实现同时对多个待测样品在不同温度下的光学测试，提高测试效率，简化测试装置的结构和节约成本。第一腔体和第二腔体之间通过隔板隔开，以避免温度控制箱内的高温或低温对第一腔体内器件的损坏，隔板设置有与待测样品对应的第一通孔以及与第一通孔一一对应的开关单元，开关单元用于在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔，以保证温度控制箱内温度的稳定，避免影响光学测试结果。第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，运动机构用于带动光学测试单元移动至与第一通孔对应位置处，使得光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能，如此，通过运动机构带动光学测试单元的移动来逐一对多个待测样品进行光学测试，提高测试效率的同时还保证温度控制箱内的测试环境不会发生变化。因此，本实施例中光学测试装置不仅可以提高测试效率、简化结构、节约成本，还能够避免安全隐患，提高整个测试装置的可靠性和安全性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图虽然是本发明的一些具体的实施例，对于本领域的技术人员来说，可以根据本发明的各种实施例所揭示和提示的器件结构，驱动方法和制造方法的基本概念，拓展和延伸到其它的结构和附图，毋庸置疑这些都应该是在本发明的权利要求范围之内。

图1是本发明实施例提供的一种光学测试装置的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种光学测试装置的正视结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种光学测试装置的正视结构示意图；

图4是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种光学测试装置的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图；

图8是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图；

图9是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图；

图10是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的结构示意图；

图11是本发明实施例提供的一种光学测试方法的流程图；

图12是本发明实施例提供的另一种光学测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本发明实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例所揭示和提示的基本概念，本领域的技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在显示屏高低温光学测试领域主要使用的是DMS803设备，使用该设备可以实现伽马值、色亮度均匀性、色域、视角、串扰、反射率、色偏和灰阶响应时间等测试，但是，现行DMS803存在升降温时间缓慢和测试过程耗时久等问题，往往造成实验排程紧张和研发项目进度缓慢等问题。此外，还应用LCD5200设备进行高低温光学测试，该设备在DMS803的基础上可以实现多片样品同时升降温，但是该设备需手动更换待测样品，换片过程中也容易造成温度稳定性受到干扰，且当测试室内温度较高或较低时存在一定的安全隐患。综上，现有的光学测试设备，具有结构复杂、测试效率低、成本高且存在安全隐患的问题。

基于上述技术问题，本发明实施例提供了一种光学测试装置，包括：机柜，机柜包括第一腔体和第二腔体；第一腔体为温度控制箱，温度控制箱内设置有光学平台，光学平台用于承载至少两个待测样品，温度控制箱用于在对待测样品进行光学测试时将待测样品调整为预设温度；第一腔体和第二腔体之间通过隔板隔开，隔板设置有与待测样品对应的第一通孔以及与第一通孔一一对应的开关单元，开关单元用于在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔；第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，运动机构用于带动光学测试单元移动，光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能。

采用上述技术方案，通过设置光学测试装置的机柜包括第一腔体和第二腔体，其中，第一腔体为温度控制箱，温度控制箱内设置有光学平台，光学平台用于承载至少两个待测样品，温度控制箱在对待测样品进行光学测试时将待测样品调整为预设温度，使得通过设置温度控制箱内温度的高低，可以实现同时对多个待测样品在不同温度下的光学测试，提高测试效率，简化测试装置的结构和节约成本。第一腔体和第二腔体之间通过隔板隔开，以避免温度控制箱内的高温或低温对第一腔体内器件的损坏，隔板设置有与待测样品对应的第一通孔以及与第一通孔一一对应的开关单元，开关单元用于在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔，以保证温度控制箱内温度的稳定，避免影响光学测试结果。第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，运动机构用于带动光学测试单元移动至与第一通孔对应位置处，使得光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能，如此，通过运动机构带动光学测试单元的移动来逐一对多个待测样品进行光学测试，提高测试效率的同时还保证温度控制箱内的测试环境不会发生变化。因此，本实施例中光学测试装置不仅可以提高测试效率、简化结构、节约成本，还能够避免安全隐患，提高整个测试装置的可靠性和安全性。

以上是本申请的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明实施例提供的一种光学测试装置的结构示意图，图2是本发明实施例提供的一种光学测试装置的正视结构示意图，如图1和图2所示，该装置包括：机柜1，机柜1包括第一腔体10和第二腔体20；第一腔体10为温度控制箱，温度控制箱内设置有光学平台11，光学平台11用于承载至少两个待测样品12，温度控制箱用于在对待测样品12进行光学测试时将待测样品12调整为预设温度；第一腔体10和第二腔体20之间通过隔板30隔开，隔板30设置有与待测样品12对应的第一通孔31以及与第一通孔31一一对应的开关单元32，开关单元32用于在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔31，在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔31；第二腔体20内包括光学测试单元21和运动机构22，运动机构22用于带动光学测试单元21移动，光学测试单元21根据第一通孔31透射的光线测试对应的待测样品12的光学性能。

可以理解的，图1和图2仅示例性地给出了光学测试装置的结构示意图，隔板30将整个柜体分隔成第一腔体10和第二腔体20两部分，使得第一腔体10和第二腔体20可以具有完全不同的温度环境，以避免第一腔体10内的高温或者低温环境影响第二腔体20内光学测试单元21等器件。同时，第一腔体10具有独立且密闭的升降温空间，提高升降温的速率，进而缩短待测样品12的测试时间，提高测试效率。具体实施时，可以在第一腔体10内设置压缩机等温度调节机构，以改变第一腔体10内的温度。隔板30的材质可以是任意能够起到隔热作用的材质，本发明实施例不做特殊限定。

其中，运动机构22带动光学测试单元21可移动至第一腔体10内的任意位置，保证光学测试单元21总是能够与第一通孔31位置对齐，以实现精准定位第一通孔31的位置，并根据透过第一通孔31的光线测试待测样品12的光学性能，运动机构22可以是滑轨或者万向结构，本发明实施例不进行限定。第一通孔31的形状和具体尺寸可根据实际情况适应性设置，本发明实施例对此不做特殊限定，例如第一通孔31可以为柱状结构，孔径的直径为45mm～55mm。

具体的，在第一腔体10的光学平台11上可以放置多个待测样品12，对应的隔板30上设置有多个第一通孔31，每个第一通孔31一一对应设置有开关单元32，同时，每个第一通孔31与待测样品相对放置。在光学测试阶段，移动运动机构22的位置，使运动机构22带动光学测试单元21进行移动，从而使得光学测试单元21移动至与第一通孔31相对的位置，在第一腔体10内的温度达到预设温度时，通过控制与需要进行光学测试的待测样品12对应的开关单元32，打开对应的第一通孔31，使得光线通过打开的第一通孔31透射至第二腔体20内，进而光学测试单元21根据透射的光线测试对应的待测样品12的光学性能，例如待测样品12的色域、反射率、色偏和灰阶响应时间等。

同样的，当在非光学测试阶段或者对待测样品12完成光学测试后，通过控制与该待测样品12对应的开关单元32，关闭对应的第一通孔31，并继续移动运动机构22的位置，使光学测试单元21移动至下一个需要进行测试的待测样品12对应的第一通孔31位置处，然后控制对应的开关单元32打开该第一通孔31，由光学测试单元21继续根据该第一通孔31透射的光线继续测试对应的待测样品12的光学性能。依次循环，完成光学平台11上所有的待测样品12的光学性能测试，进而提高光学测试装置的测试效率。

需要说明的是，在对待测样品12进行光学测试时，可以根据实际测试要求随时调整预设温度的值，并相应的调整温度控制箱内的温度，以实现对待测样品12光学性能的全面测试。

可选的，继续参考图1和图2所示，第一通孔31与对应的待测样品12的中心位置对齐。

具体的，第一通孔31与对应的待测样品12的中心位置对齐，使得待测样品12出射的光线可以准确地通过第一通孔31，以保证在光学测试单元21能够根据透射的光线准确测试出待测样品12的光学性能，保证测试结果的准确性。可以理解的，在在光学测试阶段中，若光学测试装置因受到外力作用而使得光学平台11上的待测样品12发生轻微的位置移动，由于第一通孔31与对应的待测样品12的中心位置对齐且待测样品12的尺寸大于第一通孔31的孔径，待测样品12的光学性能测试结果不会收到影响，保证测试装置的可靠性。

可选的，图3是本发明实施例提供的另一种光学测试装置的正视结构示意图，如图3所示，该装置还包括控制单元40和处理单元50；温度控制箱、开关单元32和运动机构22均与控制单元40连接，控制单元40用于协同控制温度控制箱、开关单元32和运动机构22，以使光学测试单元21依次采集待测样品12的数据；处理单元50与光学测试单元21连接，处理单元50用于根据数据得出样品的光学性能。

可以理解的，图3示例性地给出了光学测试装置的结构示意图，控制单元40和处理单元50的具体安装位置可根据实际情况适应性设置，本发明实施例对此不做特殊限定。

具体的，控制单元40包括微控制器等，本发明实施例对此不做限定，控制单元40分别与温度控制箱、开关单元32和运动机构22连接，通过控制温度控制箱在达到预设温度时，然后控制运动机构22移动至待测样品12对应的第一通孔31的位置，使得光学测试单元21与第一通孔31的相对位置对齐，再控制开关单元32打开待测样品12对应的第一通孔31，以实现光学测试单元21根据透射的光线采集对应的待测样品12的数据。如此，通过控制单元40的协同控制，可以实现对待测样品12的全自动光学检测，避免操作人员的干预而引发的安全事故，同时提高测试效率。需要说明的是，控制单元40在控制运动机构22移动过程中，会实时检测运动机构22的移动路径和位置，避开其他器件，避免碰撞到其他器件而造成设备损坏。

此外，处理单元50与光学测试单元21连接，光学测试单元21采集到的对应的待测样品12的数据后，发送至处理单元50，由处理单元50进一步处理分析得到待测样品的光学性能，例如待测样品12的反射率或色偏等。如此，通过处理单元50与光学测试单元21的协同控制，可以更加全面地、快速地测试到待测样品12的光学性能，提高光学测试装置的智能化和功能全面化，并提高测试效率。

可选的，开关单元32包括气缸和气缸塞，气缸用于在光学测试阶段控制气缸塞打开对应的第一通孔31，在非光学测试阶段控制气缸塞关闭对应的第一通孔31。

具体的，开关单元32用于打开或关闭第一通孔31，由于第一腔体10和第二腔体20之间的温度环境不同，对开关单元32的设计要求较高。如此，设置开关单元32包括气缸和气缸塞，本发明实施例对气缸和气缸塞的具体类型和结构不做限定，例如气缸为双作用气缸，通过气缸内推力和拉力来控制气缸塞打开或关闭第一通孔31，能够快速打开或关闭第一通孔31，又能保证温度控制箱内的温度快速实现升降温，且温度均匀。

可选的，待测样品12包括显示面板。

具体的，显示面板可以是应用在任何具有显示功能的电子产品，包括但不限于以下类别：电视机、笔记本电脑、桌上型显示器、平板电脑、数码相机、手机、智能手环、智能眼镜、车载显示器、医疗设备、工控设备、触摸交互终端等。显示面板包括液晶显示面板和有机发光显示面板，其中，显示面板的结构可以是曲面或平面。显示面板的主要光学性能包括光效率、光强、色亮度、CRI显色指数、对比度、伽马值、响应时间等。因此，本实施例提供的光学测试装置可以更加智能化和全面化地对显示面板进行光学检测，以验证显示面板的品质特性，同时提高测试效率。

可选的，图4是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图，如图4所示，光学测试单元21包括第一镜头211和第二镜头212，第一镜头211用于对显示面板的色亮度、对比度和伽马值进行测试，第二镜头212用于对显示面板的响应时间、灰阶响应时间和闪烁进行测试。

具体的，第一镜头211和第二镜头212的具体尺寸和类型本发明实施例不做特殊限定。第一镜头211可以对显示面板的色亮度、对比度和伽马值进行测试，同时第二镜头212可以对显示面板的响应时间、灰阶响应时间和闪烁进行测试，两个镜头独立且同时进行测试，可以大大缩减待测样品的测试时间，且能够实现对显示面板光学性能的全面测试，使得测试装置智能化程度更高。

可选的，图5是本发明实施例提供的另一种光学测试装置的结构示意图，如图5所示，运动机构22包括X轴滑轨、Y轴滑轨和Z轴滑轨，X轴滑轨、Y轴滑轨和Z轴滑轨分别带动光学测试单元21沿X轴、Y轴和Z轴移动；其中，X轴、Y轴和Z轴两两相互垂直。

可以理解的，图5示例性地给出了光学测试装置的结构示意图，X轴滑轨、Y轴滑轨和Z轴滑轨可以分别是独立的一个滑轨，也可以是由两个滑轨共同构成任意一个轴，本发明实施例对此不做特殊限定。示例性的，参考图5所示，Y轴滑轨由两个分别设置在第二腔体20两侧的滑轨共同构成，X轴滑轨搭载在Y轴滑轨的上面，并通过在Y轴滑轨上移动，来带动光学测试单元21沿Y轴移动。

具体的，运动机构22可以根据第一通孔31在水平面的坐标位置，其中本实发明实施例中的水平面为X轴和Y轴所在的平面，分别在X轴滑轨和Y轴滑轨上移动，从而带动光学测试单元21沿X轴和Y轴移动，使得在光学测试阶段，光学测试单元21可以依次移动至与需要进行测试的待测样品12对应的第一通孔31的位置，并能够与其中心位置对齐，保证运动机构22具有较高的位移精度。同时，通过运动机构22在Z轴滑轨上移动，带动光学测试单元21在第二腔内20内上升或下降，来调整光学测试单元21与第一通孔31在Z轴方向上的距离，在第一通孔31打开后以完成对待测样品12的不同光学性能的测试要求。

此外，在非光学测试阶段或完成待测样品12的光学测试后，运动机构22可以通过在Z轴滑轨上移动，带动光学测试单元21在第二腔体20内上升到一定高度，使得开关单元32在关闭过程中，不会触碰到光学测试单元21，保证测试装置的可靠性。

可选的，图6是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的结构示意图，如图6所示，光学平台11包括支撑结构111和光学台面112，支撑结构111用于支撑光学台面112，光学台面112用于承载至少两个待测样品12。

具体的，光学台面112与水平面保持平行，且光学台面112的尺寸足够大，将多个待测样品12放置在光学台面112上，保证光学测试装置可以持续不间断地对多个待测样品12进行检测，提高测试效率。同时，光学台面112的下面设置有支撑结构111来支撑光学台面112，保证光学台面112的稳定性和可靠性，进而保证光学测试结果的准确性。进一步可选地，光学台面112的材质和厚度分布均匀，进一步使得光学台面12的光学性质在面内各处均匀，这样便于测试的时候时候统一环境基准，提高测试的精度。

需要说明的是，图6仅示例性地给出了光学平台11的结构示意图，本发明实施例对光学平台11的整体结构形状、以及支撑结构111和光学台面112的结构和材质均不做特殊限定，可根据实际工况适应性设置。

可选的，继续参考图6所示，支撑结构111固定于第一腔体10远离第二腔体20一侧的内表面，光学台面112位于支撑结构111靠近第二腔体20的一侧。

具体的，支撑结构111固定在第一腔体腔体10远离第二腔体20一侧的内表面，使得支撑结构不会在外力作用下而发生移动，保证的测试装置的可靠性。同时，支撑结构111上面设置光学台面112，使得光学台面112上面承载的待测样品12不会距离第二腔体20和隔板30上第一通孔31的距离太远，而影响光学性能测试结果的准确性。

可选的，继续参考图6所示，光学台面112包括多个阵列排布的定位孔1121，定位孔1121内设置有螺纹，定位孔1121用于固定待测样品夹具以及定位待测样品12。

具体的，待测样品12可以直接固定在光学台面112上，或者通过夹具固定在光学台面112上，本实施例对此不做限定。光学台面112上通过设置多个阵列排布的定位孔1121，并且每个定位孔1121内设置有螺纹，相应的，待测样品夹具或者待测样品12也可以设置有同样的多个阵列排布的定位孔，如此通过螺钉、螺柱等定位结构将待测样品夹具或待测样品12固定在光学台面112上。

在另一实施例中，待测样品夹具上固定设置有与定位孔1121相对应的螺钉或螺柱等结构，可以直接由待测样品夹具将待测样品12通过定位孔1121固定在光学台面112上。如此，保证待测样品12在光学测试过程中稳定地固定在光学台面112上，提高测试结果的准确性。

可选的，继续参考图6所示，光学平台11还包括设置于支撑结构111和光学台面112之间的旋转机构113，旋转机构113用于带动光学平台11旋转，以测试待测样品12在不同视角下的光学性能。

具体的，旋转机构113的具体结构类型本发明实施例对此不做特殊限定，例如是万向结构或旋转轴等。通过旋转结构113带动光学平台11旋转，进而使得光学台面112上的待测样品12发生倾斜，如此，可以实现光学测试单元21对待测样品12在不同视角下的光学性能的测试，无需手动调整待测样品12的，避免了安全隐患，同时提高光学测试装置的智能化，缩短测试时长。

可选的，图7是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图，如图7所示，沿第一腔体10指向第二腔体20的方向，第一通孔31在第一平面的截面积逐渐增大，第一平面与第一腔体10指向第二腔体20的方向垂直。

具体的，第一通孔31的形状可以是多面体或者柱状，本发明实施例对此不做特殊限定，通过设置第一通孔31第一平面的截面积沿第一腔体10指向第二腔体20的方向，使得第一通孔31的孔径呈上宽下窄，如此，在第一腔体10的温度明显高于或低于第二腔体20的温度时，避免由于上下腔体内的压强不同，而使得第一腔体10内的冷热空气对第二腔体20内的器件造成冲击和损坏，延长第二腔体20内光学测试单元21等器件的使用寿命，提高测试装置的可靠性和安全性。

可选的，图8是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图，如图8所示，第二腔体20包括多个侧壁23，至少一个侧壁23包括至少一个第二通孔231。

具体的，由于第一腔体10和第二腔体20存在较大温差，特别是当第一腔体10内的温度高于第二腔体20内的温度时，很容易使得第二腔体20内出现结露和结霜等现象，尤其是光学测试单元21，一旦光学测试单元21中的镜头表面出现结露和结霜等现象，将严重影响对待测样品12的光学性能的检测，严重的情况下，还会由于结霜导致温度过低而损坏器件设备。如此，在第二腔体20的至少一个侧壁23上设置至少一个第二通孔231，使得第二腔体20保持与外界的空气流通，进而避免出现结露和结霜等现象，延长第二腔体20内器件设备的使用寿命，提高测试装置的可靠性。

可选的，图9是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的正视结构示意图，如图9所示，隔板30设置有三个第一通孔31，光学平台11对应承载三个待测样品12。

以一具体实例为例，图10是本发明实施例提供的又一种光学测试装置的结构示意图，如图10所示，设置光学测试装置中的隔板30上有三个第一通孔31，每个第一通孔31对应设置有一个开关单元32，如此，光学平台11上对应承载三个待测样品12。

在光学测试阶段，运动机构22带动光学测试单元21进行移动，从而使得光学测试单元21移动至与第一通孔31相对的位置，在第一腔体10内的温度达到预设温度时，通过控制与需要进行光学测试的待测样品12对应的开关单元32，打开对应的第一通孔31，使得光线通过打开的第一通孔31透射至第二腔体20内，进而光学测试单元21根据透射的光线测试对应的待测样品12的光学性能，例如待测样品的色域、反射率、色偏和灰阶响应时间等。

在非光学测试阶段或者对某一待测样品12完成光学测试后，通过控制与该待测样品12对应的开关单元32，关闭对应的第一通孔31，并继续移动运动机构22的位置，使光学测试单元21移动至下一个需要进行测试的待测样品12对应的通孔31位置处，然后控制对应的开关单元32打开该第一通孔31，由光学测试单元21继续根据该第一通孔31透射的光线继续测试对应的待测样品12的光学性能。依次循环，完成光学平台11上三个待测样品12的光学性能测试，提高光学测试装置的测试效率。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种光学测试方法，图11是本发明实施例提供的一种光学测试方法的流程图，如图11所示，适用于上述任一光学测试装置，该光学测试方法包括：

S1、将至少两个待测样品放置于温度控制箱内的光学平台上；

S2、温度控制箱调整待测样品至第一预设温度；

S3、运动机构带动光学测试单元与某一第一通孔对应，与第一通孔对应的开关单元打开第一通孔；

S4、光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能；

S5、循环执行S3和S4，完成所有待测样品的测试。

本实施例中，通过将至少两个待测样品放置于温度控制箱内的光学平台上，并调整温度控制箱的温度，使待测样品快速达到第一预设温度；然后，运动机构带动光学测试单元与某一第一通孔对应，与第一通孔对应的开关单元打开第一通孔，避免在温度控制箱升降温过程，提前打开第一通孔而损坏第二腔体内光学测试单元等器件；在第一通孔打开后，光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能，保证测试结果的准确性。在完成该待测样品的光学性能测试后，运动机构继续带动光学测试单元与下一个第一通孔对应，与第一通孔对应的开关单元打开第一通孔，此时，光学测试单元根据第一通孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能。如此，循环执行步骤S3和S4，直到完成所有待测样品的测试。采用上述光学测试方法，不仅可以提高测试效率、简化结构、节约成本，还能够避免安全隐患，提高整个测试装置的可靠性和安全性。

可选的，图12是本发明实施例提供的另一种光学测试方法的流程图，如图12所示，在图11的基础上，在S5之后，还包括：

S6、温度控制箱调整待测样品至第二预设温度，循环执行S3和S4，完成所有待测样品在第二预设温度下的测试。

具体的，当待测样品需要进行不同温度下的光学性能测试时，先通过温度控制箱调整待测样品至第一预设温度，完成所有待测样品在第一预设温度下的光学性能测试后；再通过温度控制箱调整待测样品至第二预设温度，依次完成所有待测样品的性能测试，依次类推，直到完成待测样品在不同温度下的测试。在光学测试过程中，可以不间断的完成所有测试指标，大大提高了测试效率，且无需人员的手动参与，避免安全隐患，提高测试装置的可靠性和安全性。

可选的，该光学测试方法还包括：在完成当前待测样品的测试后，更换待测样品，执行下一轮测试。

具体的，在完成当前待测样品的测试后，待温度控制箱内温度将至常温温度后，更换待测样品，执行下一轮测试，即重新执行S1～S6的步骤，此处不再进行赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (17)

1.一种光学测试装置，其特征在于，包括：

机柜，所述机柜包括第一腔体和第二腔体；

所述第一腔体为温度控制箱，所述温度控制箱内设置有光学平台，所述光学平台用于承载至少两个待测样品，所述温度控制箱用于在对所述待测样品进行光学测试时将所述待测样品调整为预设温度；

所述第一腔体和所述第二腔体之间通过隔板隔开，所述隔板设置有与所述待测样品对应的第一通孔以及与所述第一通孔一一对应的开关单元，所述开关单元用于在光学测试阶段依次打开对应的所述第一通孔，在非光学测试阶段关闭对应的所述第一通孔；

所述第二腔体内包括光学测试单元和运动机构，所述运动机构用于带动所述光学测试单元移动，所述光学测试单元根据所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光学性能。

2.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，还包括控制单元和处理单元；

所述温度控制箱、所述开关单元和所述运动机构均与所述控制单元连接，所述控制单元用于协同控制所述温度控制箱、所述开关单元和所述运动机构，以使所述光学测试单元依次采集所述待测样品的数据；

所述处理单元与所述光学测试单元连接，所述处理单元用于根据所述数据得出所述样品的光学性能。

3.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述开关单元包括气缸和气缸塞，所述气缸用于在光学测试阶段控制所述气缸塞打开对应的所述第一通孔，在非光学测试阶段控制所述气缸塞关闭对应的所述第一通孔。

4.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述待测样品包括显示面板。

5.根据权利要求4所述的光学测试装置，所述光学测试单元包括第一镜头和第二镜头，所述第一镜头用于对所述显示面板的色亮度、对比度和伽马值进行测试，所述第二镜头用于对所述显示面板的响应时间、灰阶响应时间和闪烁进行测试。

6.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述运动机构包括X轴滑轨、Y轴滑轨和Z轴滑轨，所述X轴滑轨、所述Y轴滑轨和所述Z轴滑轨分别带动所述光学测试单元沿X轴、Y轴和Z轴移动；

其中，所述X轴、所述Y轴和所述Z轴两两相互垂直。

7.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述光学平台包括支撑结构和光学台面，所述支撑结构用于支撑所述光学台面，所述光学台面用于承载至少两个所述待测样品。

8.根据权利要求7所述的光学测试装置，其特征在于，所述支撑结构固定于所述第一腔体远离所述第二腔体一侧的内表面，所述光学台面位于所述支撑结构靠近所述第二腔体的一侧。

9.根据权利要求7所述的光学测试装置，其特征在于，所述光学台面包括多个阵列排布的定位孔，所述定位孔内设置有螺纹，所述定位孔用于固定待测样品夹具以及定位所述待测样品。

10.根据权利要求7所述的光学测试装置，其特征在于，所述光学平台还包括设置于所述支撑结构和所述光学台面之间的旋转机构，所述旋转机构用于带动所述光学平台旋转，以测试所述待测样品在不同视角下的光学性能。

11.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，沿所述第一腔体指向所述第二腔体的方向，所述第一通孔在第一平面的截面积逐渐增大，所述第一平面与所述第一腔体指向所述第二腔体的方向垂直。

12.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述第二腔体包括多个侧壁，至少一个所述侧壁包括至少一个第二通孔。

13.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述第一通孔与对应的所述待测样品的中心位置对齐。

14.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述隔板设置有三个所述第一通孔，所述光学平台对应承载三个所述待测样品。

15.一种光学测试方法，其特征在于，适用于权利要求1～14任一所述的光学测试装置，所述光学测试方法包括：

S1、将至少两个待测样品放置于温度控制箱内的光学平台上；

S2、所述温度控制箱调整所述待测样品至第一预设温度；

S3、运动机构带动光学测试单元与某一第一通孔对应，与所述第一通孔对应的开关单元打开所述第一通孔；

S4、所述光学测试单元根据所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光学性能；

S5、循环执行S3和S4，完成所有所述待测样品的测试。

16.根据权利要求15所述的光学测试方法，其特征在于，在S5之后，还包括：

所述温度控制箱调整所述待测样品至第二预设温度，循环执行S3和S4，完成所有所述待测样品在所述第二预设温度下的测试。

17.根据权利要求16所述的光学测试方法，其特征在于，还包括：

在完成当前待测样品的测试后，更换待测样品，执行下一轮测试。

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