CN209416654U - 摆臂式微型显示器光学特性测试设备 - Google Patents

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赵光辉
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Abstract

本实用新型涉及一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备。它包括第一摆臂、第二摆臂、镜头、光学仪器、激光测距仪、灰阶响应时间测量仪、光源、高低温箱、积分球、机架和底板,第一摆臂和第二摆臂通过转轴设置在机架上,光源设置在第二摆臂上,灰阶响应时间测量仪设置在机架上,光学仪器、镜头和激光测距仪设置在第一摆臂上,镜头通过光纤与灰阶响应时间测量仪相连,积分球设置在高低温箱顶部的开口内。本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,能解决不同温度下产品全方位可视角测量的问题,而且旋转所占用的空间小,仪器整体体积小,测试时间短,同时被测产品旋转时,不需要做追点位置补偿,操作简单。

Description

摆臂式微型显示器光学特性测试设备
技术领域
本实用新型涉及一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备。属于测量技术领域。
背景技术
日常生活中的各种设备的屏幕和显示器与我们息息相关,其种类繁多,各式各样,OLED微型显示屏因其高对比度、高色域和高速响应能力等优点,能够极大改善画质,被广泛用于数码相机电子取景器(EVF),以提供更真实的图像显示和准确的拍摄主题。显示器品质的提升也一直人们关注的一个问题。显示器模拟高低温及常温环境下进行测试是检验显示器光电性能的重要参数之一。
传统的五轴光学测量仪,存在以下问题:
1、被测产品旋转进行光学特性测试,旋转所占用的空间大,使仪器整体体积大
2、需要设计复杂的夹具,操作复杂。
3、被测产品旋转的速度慢,测试时间长。
4、被测产品旋转时,需要做追点位置补偿,使得操作进一步复杂化。
发明内容
本实用新型的目的在于克服上述不足,提供了一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备。
本实用新型的目的是这样实现的:
一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特点是:它包括第一摆臂、第二摆臂、镜头、光学仪器、激光测距仪、灰阶响应时间测量仪、光源、高低温箱、积分球、机架和底板,第一摆臂和第二摆臂通过转轴设置在机架上,光源设置在第二摆臂上,灰阶响应时间测量仪设置在机架上,光学仪器、镜头和激光测距仪设置在第一摆臂上,镜头通过光纤与灰阶响应时间测量仪相连,积分球设置在高低温箱顶部的开口内。
进一步的,底板上设置有纵向导轨,第一底座设置在纵向导轨上,第一底座能够沿着纵向导轨在Y轴方向上移动,第一底座上设置有横向导轨,第二底座设置在与横向导轨上,第二底座能够沿着横向导轨在X轴方向上移动,升降装置设置在第二底座上,升降装置的升降轴与高低温箱内的连接板连接。
进一步的,积分球通过单独臂杆支撑。
进一步的,高低温箱包括箱体、盖板和进气管,盖板设置在箱体的顶部,进气管设置在箱体的侧面。
进一步的,箱体内设置有隔板,隔板将箱体分割成两部分,形成双层保温腔体,其中上层为保温腔室;
进一步的,箱体上层的保温腔室内设置有旋转台,积分球设置在旋转台上。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,旋转所占用的空间小,使机台整体体积变小。
2、本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,被测产品可直接放在平躺的载物治具上,不需要像传统五轴机台一样设计复杂的对夹治具,操作也更快捷方便。
3、本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,旋转的速度更快,节约测量时间。
4、本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,旋转时不需要像传统五轴机台一样做追点位置补偿,FS-TC探测器旋转时测量点位置不会改变。
附图说明
图1为本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备的立体图。
图2为本实用新型的摆臂摆动示意图。
图3为本实用新型的高低温箱的示意图。
图4为本实用新型的高低温箱去除盖板后的示意图。
图中:
第一摆臂1,第二摆臂2,镜头3,光学仪器4,激光测距仪5,灰阶响应时间测量仪6,光源7,高低温箱8,箱体8.1,盖板8.2,进气管8.3,连接板8.4,旋转台8.5,隔板8.6,积分球9,机架10,底板11,纵向导轨12,第一底座13,横向导轨14,第二底座15,升降装置16,升降轴16.1。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案,而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
参见图1-2,本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备包括第一摆臂1、第二摆臂2、镜头3、光学仪器4、激光测距仪5、灰阶响应时间测量仪6、光源7、高低温箱8、积分球9、机架10、底板11,纵向导轨12,第一底座13,横向导轨14和第二底座15,第一摆臂1和第二摆臂2通过转轴设置在机架10上,灰阶响应时间测量仪6设置在机架10上,光学仪器4、镜头3和激光测距仪5设置在第一摆臂1上,光源7设置在第二摆臂2上,灰镜头3通过光纤与灰阶响应时间测量仪6相连,灰阶响应时间测量仪用于测试灰阶响应时间。
底板11上设置有纵向导轨12,第一底座13设置在纵向导轨12上,第一底座13能够沿着纵向导轨12在Y轴方向上移动,第一底座13上设置有横向导轨14,第二底座15设置在与横向导轨14上,第二底座15能够沿着横向导轨15在X轴方向上移动,升降装置16设置在第二底座15上,升降装置16的升降轴16.1与高低温箱8内的连接板8.4连接。
高低温箱8包括箱体8.1、盖板8.2、进气管8.3和连接板8.4,盖板8.2设置在箱体8.1的顶部,进气管8.3设置在箱体8.1的侧面;
箱体8.1为双层保温腔体;箱体8.1内设置有隔板8.6,隔板8.6将箱体8.1分割成两部分,其中上层为保温腔室;保温腔室内设置有旋转台8.5,盖板8.2设置在箱体8.1的顶部,积分球9设置在高低温箱8顶部的开口内,积分球9设置在旋转台8.5上,积分球9通过单独臂杆支撑,高低温箱8移动时,积分球9不动。
盖板8.2上具有与积分球9对应的开口。
工作原理:
本实用新型一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,激光测距仪5调整产品高度,使得产品显示面与第一摆臂1和第二摆臂2的转轴中心重合,确保旋转时测试点不会改变,高度调整完成后,旋转第一摆臂1和第二摆臂2,即可完成产品不同视角光学特性的测试,灰阶响应时间测试和激光测距仪距离测试均需摆臂旋转使其垂直产品。
光学仪器4的上方设置有CCD成像系统,CCD成像系统观察被测物的位置,通过电脑显示屏幕即时显示,在视频观察窗上,有红色十字对位线,方便对位。
光源7设置在第二摆臂2上,光源7用于镜面反射测试,第一摆臂1与第二摆臂2呈V形。
第一底座13能够沿着纵向导轨12在Y轴方向上移动,第二底座15能够沿着横向导轨15在X轴方向上移动,XY轴配合移动完成不同点位的测试,升降装置16与激光位移传感器形成闭环控制,确保产品显示面与摆臂旋转中心重合。高低温箱8的上层保温腔室、隔板8.5及盖板8.2形成较小的空间,便于温度的快速改变。
常温测试时,去除盖板8.2,摆臂的摆动角度加大,避免干涉。
在上述实施例中,仅对本实用新型进行示范性描述,但是本领域技术人员在阅读本专利申请后可以在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下对本实用新型进行各种修改。

Claims (6)

1.一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:它包括第一摆臂、第二摆臂、镜头、光学仪器、激光测距仪、灰阶响应时间测量仪、光源、高低温箱、积分球、机架和底板,第一摆臂和第二摆臂通过转轴设置在机架上,光源设置在第二摆臂上,灰阶响应时间测量仪设置在机架上,光学仪器、镜头和激光测距仪设置在第一摆臂上,镜头通过光纤与灰阶响应时间测量仪相连,积分球设置在高低温箱顶部的开口内。
2.根据权利要求1所述的一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:底板上设置有纵向导轨,第一底座设置在纵向导轨上,第一底座能够沿着纵向导轨在Y轴方向上移动,第一底座上设置有横向导轨,第二底座设置在与横向导轨上,第二底座能够沿着横向导轨在X轴方向上移动,升降装置设置在第二底座上,升降装置的升降轴与高低温箱内的连接板连接。
3.根据权利要求1所述的一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:积分球通过单独臂杆支撑。
4.根据权利要求1所述的一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:高低温箱包括箱体、盖板和进气管,盖板设置在箱体的顶部,进气管设置在箱体的侧面。
5.根据权利要求4所述的一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:箱体内设置有隔板,隔板将箱体分割成两部分,形成双层保温腔体,其中上层为保温腔室。
6.根据权利要求4所述的一种摆臂式微型显示器光学特性测试设备,其特征在于:箱体上层的保温腔室内设置有旋转台,积分球设置在旋转台上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111288905A (zh) * 2020-03-11 2020-06-16 江苏理工学院 一种散热器铜管检测装置
CN113432835A (zh) * 2021-06-03 2021-09-24 厦门特仪科技有限公司 一种多腔体高低温测试装置及具其系统

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