CN113415626A - 内存条老化测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种内存条老化测试设备,包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构;所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处,飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处;所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置;所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手;所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处,中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处。本发明通过自动化测试代替了人工劳动,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点,结构简单、合理,使用方便、效率高,扩展性高,还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。
Description
技术领域
本发明涉及内存条测试领域,尤其涉及了一种内存条老化测试设备。
背景技术
内存条是用于储存数据的一个重要电脑部件,由于电脑的广泛普及,电脑主板在组装成成品前,需要进行全部的功能测试。现有的内存条老化测试设备存在如下缺陷:(1)在进行功能测试时,需要进行上料和下料,通常可以手动上料和下料,或者采用机械手进行上料和下料,随着科技的发展,机械手上料和下料的方式逐渐取代了手动上料和下料,但是市场上的机械手多为单轴上下料,一个夹爪进行抓取上料或者下料;并且多轴伺服,多个夹爪也只能同时上升,同时下降,使用起来很不方便,而且夹爪效率低;(2)采用机械手在内存条测试时进行上料和下料,把上下料区和测试区分开分别通过机械手取放,上下料区的机械手从料盘取料至飞梭来回往复运动,然后测试区处的机械手从飞梭上取料至测试区进行测试,测试区在测试内存条后,测试区的机械手将测试完的内存条取回放置飞梭上,然后飞梭运动至上下料区处,再由机械手出料,一般采用电机丝杠机构将飞梭在上下料区与测试区之间往复运送,这样只能一块飞梭来回往复运动,不能满足整个机台快速高效的需求;(3)在进行功能测试时,需要将内存条安装到主板上,主板才能正常工作,流水线上大批量的主板功能测试,就需要耗费大量的人工来安装内存条,人为检测不仅效率低而且最为重要的是在操作过程中会不小心接触到内存条,使得内存条受到一定程度上的损伤,现有技术中有使用到机械手等自动化设备对内存条进行夹取拔插检测,提高了测试效率,但是通过机械手进行拔插操作,机械手臂自动化操作速度较快,也会造成内存条在拔插的过程中被损坏。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的就在于提供了一种内存条老化测试设备,通过自动化测试代替了人工劳动,采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求,从而提高机台的整体效率,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点,结构简单、合理,使用方便、效率高,扩展性高,还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是这样的:一种内存条老化测试设备,包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构,所述储存机构用于装载放置内存条的料盘;所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处,飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处;所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置,用于在储存机构与飞梭机构之间取放内存条;所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手,该上下料机械手用于在上下料机构与飞梭机构之间取放内存条;所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处,中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处,所述中转机构用于送入待测试内存条或取出已测试内存条;
所述上下料夹爪机构包括夹爪三维运动模组、夹爪模组,所述夹爪模组设置于夹爪三维运动模组上,所述夹爪三维运动模组驱动夹爪模组在X向、Y向、Z向位移运动;所述夹爪模组包括夹爪框架、至少两个夹爪组件,夹爪组件呈阵列分布设置于夹爪框架上,每个夹爪组件包括一对夹爪;
所述上下料机构包括内存条测试治具、治具移载模组,所述内存条测试治具设置于治具移载模组上,治具移载模组将内存条测试治具送入或取出中转机构;所述内存条测试治具包括测试底板、测试主板、测试导向组件,所述测试主板设置于测试底板上;所述测试导向组件包括测试架、高度限位板、宽度限位板、导向块、插拔件,所述测试架上开设有安装孔,该安装孔位于测试主板的内存条插板上方位置;所述高度限位板、宽度限位板设置于安装孔内,并位于测试主板的内存条插板两侧;所述宽度限位板设置于高度限位板的上方位置,所述导向块设置于宽度限位板的端部;所述插拔件呈杠杆式贯穿设置于导向块内,靠近内存条插板的一端设置有提拉部、另一端设置有按压部。
作为一种优选方案,所述飞梭机构包括飞梭底板、第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨、第一飞梭导向板、第二飞梭导向板、飞梭驱动模组,所述第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨平行设置于飞梭底板上;所述第一飞梭滑轨上滑动连接有第一飞梭支架,所述第一飞梭支架的上部设置有第一飞梭载料台;所述第一飞梭导向板上设置有第一飞梭导向槽,所述第一飞梭导向槽限定第一飞梭载料台的移动路径;所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架,所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架,所述第二飞梭支架的上部设置有第二飞梭载料台;所述第二飞梭导向板上设置有第二飞梭导向槽,所述第二飞梭导向槽限定第二飞梭载料台的移动路径;所述飞梭驱动模组分别与第一飞梭支架、第二飞梭支架相连接,用于驱动第一飞梭支架与第二飞梭支架进行相对运动。
作为一种优选方案,所述第一飞梭支架通过飞梭支架滑块连接有飞梭升降线轨,所述第一飞梭载料台设置于飞梭升降线轨的顶部;所述飞梭升降线轨的侧壁通过设置第一飞梭滚轮与第一飞梭导向槽连接,所述第一飞梭导向槽呈U形状;所述第二飞梭导向槽为直线槽,第二飞梭支架的侧壁通过第二飞梭滚轮与第二飞梭导向槽连接。
作为一种优选方案,每个所述夹爪包括夹持件、夹爪水平气缸、夹爪升降气缸,所述夹爪升降气缸设置于夹爪框架的顶部,夹爪水平气缸通过夹爪安装件设置于夹爪框架的底部;所述夹爪框架内贯穿设置有夹爪传动杆、夹爪导向杆,所述夹爪传动杆的顶部与夹爪升降气缸的推杆相连接、夹爪传动杆的底部与夹爪安装件相连接,所述夹爪导向杆的顶部向上延伸出夹爪框架的顶部、夹爪导向杆的底部与夹爪安装件相连接;所述夹爪水平气缸设置于夹爪安装件上,所述夹持件与夹爪水平气缸的推杆相连接,夹爪水平气缸驱动夹持件在水平方向上运动,一对夹爪的夹持件对应设置。
作为一种优选方案,所述夹爪导向杆上套设有竖直限位件,该竖直限位件设置于夹爪框架的中部;所述夹爪安装件上设置有水平限位件,所述水平限位件呈倒“凹”状,所述夹持件设置于水平限位件的凹槽内。
作为一种优选方案,所述治具移载模组上设置有内存条压紧组件、内存条撑开组件,所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条压紧组件处,内存条压紧组件用于将内存条压入测试主板的内存条插板内;所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条撑开组件处,内存条撑开组件用于下压插拔件的按压部,内存条从测试主板的内存条插板松开。
作为一种优选方案,所述储存机构包括至少一个储存组件,所述储存组件包括储存料框、储存丝杆、储存螺母、储存电机,所述储存电机设置于储存料框的下方位置,所述储存电机通过储存皮带与储存螺母传动连接,所述储存丝杆套设于储存螺母内,且储存丝杆的上部从储存料框的底部贯穿设置于储存料框内。
作为一种优选方案,所述储存组件处设置有移料盘机构,所述移料盘机构包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪,所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个储存组件间运动,所述移料升降气缸驱动移料夹爪在储存组件上做升降运动,所述移料夹爪用于储存组件处夹取料盘。
作为一种优选方案,所述中转机构包括升降转运组件,所述升降转运组件将所述治具移载模组上的内存条测试治具放置于测试机构处或将测试机构处的内存条测试治具取放至治具移载模组上。
作为一种优选方案,所述测试机构包括测试支架、测试信号板,所述测试信号板设置于测试支架上。
与现有技术相比,本发明的有益效果:
(1)结构合理,在使用过程中不用反复更换夹爪,节省了夹取时间;使用方便,使用时根据需要内存条的尺寸选择对应的夹爪,通过升降可以快速完成切换,效率更高;扩展性高,夹爪模组与夹爪三维运动模组连接形成的夹爪机构可以自动化生产;
(2)采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求,从而提高机台的整体效率;通过自动化测试代替了人工劳动,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点;
(3)结构简单、使用方便、效率高,能够防止内存条在拔插的过程中被损坏;测试导向组件设置有导向块,使得内存条在插入或拔出内存条插板内时起到一个导向作用,避免了直接撞击损坏内存条,节约成本;使用高度限位板、宽度限位板对内存条进行限位,根据测试的内存条的形状和大小可以更换高度限位板、宽度限位板,能够保证内存条定位精准、取放方便,通用性更强;采用杠杆式的插拔件对内存条进行插拔位置限位,减少内存条的损坏。
附图说明
图1是本发明的整体结构布局图;
图2是本发明中上下料夹爪机构的结构示意图;
图3是本发明中夹爪模组的结构示意图一;
图4是本发明中夹爪模组的结构示意图二;
图5是本发明中三维模组的结构示意图一;
图6是本发明中三维模组的结构示意图二;
图7是本发明中图5的A处局部放大图;
图8是本发明中上下料机构的结构示意图一;
图9是本发明中上下料机构的结构示意图二;
图10是本发明中内存条测试治具的结构示意图;
图11是本发明中测试导向组件的结构剖视图;
图12是本发明中图10的B处放大图;
图13是本发明中治具移载模组的结构示意图一;
图14是本发明中治具移载模组的结构示意图二;
图15是本发明中飞梭机构的结构示意图一;
图16是本发明中飞梭机构的结构示意图二;
图17是本发明中储存机构的结构示意图;
图18是本发明中移料盘机构的结构示意图;
图19是本发明中升降转运组件的结构示意图;
图20是本发明中中转机构的结构示意图;
图21是本发明中测试机构的结构示意图;
其中:储存机构1、飞梭机构2、上下料夹爪机构3、上下料机构4、中转机构5、测试机构6、内存条7、上下料机械手8、夹爪三维运动模组9、夹爪模组10、夹爪框架11、夹爪组件12、夹爪13、内存条测试治具14、治具移载模组15、测试底板16、测试主板17、测试导向组件18、测试架19、高度限位板20、宽度限位板21、导向块22、插拔件23、安装孔24、内存条插板25、提拉部26、按压部27、视觉检测机构28、飞梭底板29、第一飞梭滑轨30、第二飞梭滑轨31、第一飞梭导向板32、第二飞梭导向板33、飞梭驱动模组34、第一飞梭支架35、第一飞梭载料台36、第一飞梭导向槽37、第二飞梭支架38、第二飞梭载料台39、第二飞梭导向槽40、飞梭支架滑块41、飞梭升降线轨42、飞梭电机43、飞梭传动带44、飞梭从动轮45、飞梭主动轮46、飞梭转动杆47、夹持件48、夹爪水平气缸49、夹爪升降气缸50、夹爪安装件51、夹爪传动杆52、夹爪导向杆53、竖直限位件54、水平限位件55、X向移动模组56、Y向移动模组57、Z向移动模组58、Z向安装板59、第一Z向滑轨60、第二Z向滑轨61、Z向电机62、Z向传动带63、Z向滑板64、Z向主动轮65、Z向从动轮66、Z向限位件67、固定底座68、测试主板定位销69、定位板70、安装立柱71、定位孔72、弧状凹部73、内存条压紧组件74、内存条撑开组件75、治具位移组件76、治具进出组件77、第一位移滑轨78、第二位移滑轨79、位移电机80、位移传动带81、位移从动轮82、位移主动轮83、进出滑轨84、进出电机85、进出传动带86、进出从动轮87、进出主动轮88、压紧立柱89、压紧横梁90、压紧升降气缸91、压紧件92、撑开立柱93、撑开横梁94、撑开升降气缸95、撑开件96、防弹出缓冲部97、高度调节组件98、宽度调节组件99、储存组件100、储存料框101、储存丝杆102、储存螺母103、储存电机104、储存皮带105、分并储存组件106、待料储存组件107、空料储存组件108、NG料储存组件109、移料盘机构110、同步带直线模组111、移料升降气缸112、移料夹爪113、移料板114、移料气缸115、移料爪子116、升降转运组件117、升降支架118、升降台119、升降驱动组件120、转运模组121、转运驱动组件122、推送板123、水平驱动组件124、测试支架125、测试信号板126。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
实施例:
如图1~21所示,一种内存条老化测试设备,包括储存机构1、飞梭机构2、上下料夹爪机构3、上下料机构4、中转机构5、测试机构6,所述储存机构1用于装载放置内存条7的料盘;所述飞梭机构2的一进出料端设置于储存机构1处,飞梭机构2的另一进出料端设置于上下料机构4处;所述上下料夹爪机构3设置于储存机构1的上方位置,用于在储存机构1与飞梭机构2之间取放内存条7;所述上下料机构4的上方位置设置有上下料机械手8,该上下料机械手8用于在上下料机构4与飞梭机构2之间取放内存条7;所述中转机构5的一进出料端设置于上下料机构4处,中转机构5的另一进出料端设置于所述测试机构6处,所述中转机构5用于送入待测试内存条7或取出已测试内存条7;
所述上下料夹爪机构3包括夹爪三维运动模组9、夹爪模组10,所述夹爪模组10设置于夹爪三维运动模组9上,所述夹爪三维运动模组9驱动夹爪模组10在X向、Y向、Z向位移运动;所述夹爪模组10包括夹爪框架11、至少两个夹爪组件12,夹爪组件12呈阵列分布设置于夹爪框架11上,每个夹爪组件12包括一对夹爪13;
所述上下料机构4包括内存条测试治具14、治具移载模组15,所述内存条测试治具14设置于治具移载模组15上,治具移载模组15将内存条测试治具14送入或取出中转机构5;所述内存条测试治具14包括测试底板16、测试主板17、测试导向组件18,所述测试主板17设置于测试底板16上;所述测试导向组件18包括测试架19、高度限位板20、宽度限位板21、导向块22、插拔件23,所述测试架19上开设有安装孔24,该安装孔24位于测试主板17的内存条插板25上方位置;所述高度限位板20、宽度限位板21设置于安装孔24内,并位于测试主板17的内存条插板25两侧;所述宽度限位板21设置于高度限位板20的上方位置,所述导向块22设置于宽度限位板21的端部;所述插拔件23呈杠杆式贯穿设置于导向块22内,靠近内存条插板25的一端设置有提拉部26、另一端设置有按压部27。
具体的,所述上下料机构4处还设置有视觉检测机构28,该视觉检测机构28用于内存条7的外观检测,采用CCD相机。
优选的,如图15~16所示,所述飞梭机构2包括飞梭底板29、第一飞梭滑轨30、第二飞梭滑轨31、第一飞梭导向板32、第二飞梭导向板33、飞梭驱动模组34,所述第一飞梭滑轨30、第二飞梭滑轨31平行设置于飞梭底板29上;所述第一飞梭滑轨30上滑动连接有第一飞梭支架35,所述第一飞梭支架35的上部设置有第一飞梭载料台36;所述第一飞梭导向板32上设置有第一飞梭导向槽37,所述第一飞梭导向槽37限定第一飞梭载料台36的移动路径;所述第二飞梭滑轨31上滑动连接有第二飞梭支架38,所述第二飞梭滑轨31上滑动连接有第二飞梭支架38,所述第二飞梭支架38的上部设置有第二飞梭载料台39;所述第二飞梭导向板33上设置有第二飞梭导向槽40,所述第二飞梭导向槽40限定第二飞梭载料台39的移动路径;所述飞梭驱动模组34分别与第一飞梭支架35、第二飞梭支架38相连接,用于驱动第一飞梭支架35与第二飞梭支架38进行相对运动。
优选的,所述第一飞梭支架35通过飞梭支架滑块41连接有飞梭升降线轨42,所述第一飞梭载料台36设置于飞梭升降线轨42的顶部;所述飞梭升降线轨42的侧壁通过设置第一飞梭滚轮(由于安装于构件内,图中并未示出)与第一飞梭导向槽37连接,所述第一飞梭导向槽37呈U形状;所述第二飞梭导向槽40为直线槽,第二飞梭支架38的侧壁通过第二飞梭滚轮(由于安装于构件内,图中并未示出)与第二飞梭导向槽40连接。
进一步的,第一飞梭支架35移动时,带动飞梭升降线轨42在第一飞梭导向槽37内运动,第一飞梭导向槽37中间位置比两端位置低,因此飞梭升降线轨42沿着第一飞梭导向槽37移动时,即沿着第一飞梭支架35上下滑动,实现升降功能。
更进一步的,通过设置直线槽来保证第二飞梭支架38移动的直线度,通过设置第二飞梭导向板33对第二飞梭支架38的运动路径进行限制,有利于第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39之间的相对运动。
优选的,所述飞梭驱动模组34包括飞梭电机43、飞梭传动带44,所述飞梭传动带44通过两个飞梭从动轮45布设于第一飞梭滑轨30、第二飞梭滑轨31之间,且飞梭传动带44分别与第一飞梭支架35、第二飞梭支架38相连接,所述飞梭电机43通过飞梭主动轮46与其中一个飞梭从动轮45相连接。
具体的,通过飞梭驱动模组34驱动第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39相对运动,从而实现第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39交替往复运动,从而能够快速的把待测的和已测试过的内存条7往复运送于上下料机构4和储存机构1,也大大提高了检测的整体效率;通过第一飞梭导向板32限定第一飞梭载料台36的运动路线,使第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39在中间相遇时相互避开,使得第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39在同一直线上往复运动,占用空间小,使得飞梭机构2的结构更加紧凑。
更为具体的,通过将第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39固定在飞梭传动带44两侧,由于飞梭传动带44运动的特性,实现第一飞梭载料台36与第二飞梭载料台39相对运动,结构简单,易于实现。
进一步的,为了提高传动效率的稳定性,飞梭从动轮45通过飞梭转动杆47连接飞梭主动轮46,飞梭主动轮46通过飞梭传动带44与飞梭电机43输出端连接,飞梭电机43启动时,驱动飞梭主动轮46转动,从而带动飞梭从动轮45转动,使得飞梭传动带44绕着飞梭从动轮45转动,从而带动第一飞梭支架35与第二飞梭支架38交底往复运动。
优选的,如图3~4所示,每个所述夹爪13包括夹持件48、夹爪水平气缸49、夹爪升降气缸50,所述夹爪升降气缸50设置于夹爪框架11的顶部,夹爪水平气缸49通过夹爪安装件51设置于夹爪框架11的底部;所述夹爪框架11内贯穿设置有夹爪传动杆52、夹爪导向杆53,所述夹爪传动杆52的顶部与夹爪升降气缸50的推杆相连接、夹爪传动杆52的底部与夹爪安装件51相连接,所述夹爪导向杆53的顶部向上延伸出夹爪框架11的顶部、夹爪导向杆53的底部与夹爪安装件51相连接;所述夹爪水平气缸49设置于夹爪安装件51上,所述夹持件48与夹爪水平气缸49的推杆相连接,夹爪水平气缸49驱动夹持件48在水平方向上运动,一对夹爪13的夹持件48对应设置。
具体的,在本实施例中所述夹爪模组10有四个夹爪组件12,因此在具体上下料时,当需要单轴上下料,则一个夹爪组件12进行动作,一对夹爪13的夹爪升降气缸50驱动夹持件48在竖直方向上运动,而夹爪水平气缸49驱动一对夹持件48在水平方向上运动进行取放料,当需要多轴上下料时,则多个夹爪组件12同步动作,每一对夹爪13的夹爪升降气缸50同步驱动每一对夹持件48在竖直方向上运动,而夹爪水平气缸49驱动每一对夹持件48在水平方向上运动进行取放料。
优选的,所述夹爪导向杆53上套设有竖直限位件54,该竖直限位件54设置于夹爪框架11的中部;所述夹爪安装件51上设置有水平限位件55,所述水平限位件55呈倒“凹”状,所述夹持件48设置于水平限位件55的凹槽内。
具体的,采用竖直限位件54和水平限位件55,使用方便,使用时根据需要内存条7的尺寸选择对应的夹爪13,通过升降可以快速完成切换,效率更高。进一步的,夹爪升降气缸50对夹持件48进行升降运动进行高度限位调整,然后夹爪水平气缸49对夹持件48的水平长度进行限位调整,从而夹取不同尺寸的内存条7。
优选的,所述夹爪升降气缸50为自由安装型气缸,所述夹爪水平气缸49为笔型气缸。
具体的,本实施例中采用自由安装型气缸,可以从任意一个方向安装,它的优点是从任何方向都可以安装节省空间,缸体与缸盖一体化,安装精度提高长方形缸体的安装面与推杆的轴芯的平行度、直角度的精度提高,且直接安装也使强度提高。
具体的,本实施例中采用笔型气缸,结构紧凑,外观美观,前后螺纹安装固定,能有效节省安装空间,适用于高频率的使用要求。
优选的,如图5~7所示,所述夹爪三维运动模组9包括X向移动模组56、Y向移动模组57、Z向移动模组58,所述Y向移动模组57设置于X向移动模组56上,所述Z向移动模组58设置于Y向移动模组57上,所述夹爪模组10设置于Z向移动模组58上。
更为优选的,所述X向移动模组56、Y向移动模组57均为直线型导轨。
具体的,本实施例中的直线型导轨为本领域的常规技术,故此处不再一一赘述。
更为优选的,所述Z向移动模组58包括Z向安装板59、第一Z向滑轨60、第二Z向滑轨61、Z向电机62、Z向传动带63,所述Z向安装板59设置于Y向移动模组57上,所述第一Z向滑轨60、第二Z向滑轨61竖直设置于Z向安装板59上,所述夹爪模组10通过Z向滑板64设置于第一Z向滑轨60、第二Z向滑轨61上,所述Z向传动带63通过Z向主动轮65、Z向从动轮66布设于第一Z向滑轨60、第二Z向滑轨61之间,且Z向传动带63与Z向滑板64相连接,所述Z向电机62与Z向主动轮65相连接。
更为优选的,所述Z向安装板59上设置有Z向限位件67,该Z向限位件67设置于Z向滑板64的下方位置。
具体的,如图8~14所示,在内存条测试治具14中,通过高度限位板20对内存条7进行高度上的限位,通过宽度限位板21对内存条7进行宽度上的限位,从而在将内存条7放置入测试主板17的内存条插板25时起到一个定位作用,根据测试的内存条7的形状和大小可以更换高度限位板20、宽度限位板21,能够保证内存条7定位精准、取放方便,通用性更强。具体实施时,当内存条7向下卡入测试主板17的内存条插板25内时,提拉部26随着内存条7一起向下直至与高度限位板20相抵,此时内存条7嵌于内存条插板25内用于测试,当测试完成后内存条7需从内存条插板25内拔出时,通过轻轻压下按压部27从而提升提拉部26,使得提拉部26对内存条7进行一个拔出动作,此时内存条7从内存条插板25中松开。
优选的,所述测试底板16设置于固定底座68上,固定底座68上设置有测试主板定位销69,所述测试主板17安装于测试主板定位销69上。
更为优选的,所述测试架19包括定位板70与安装立柱71,所述安装立柱71的顶部与定位板70固定连接、底部设置于固定底座68上;所述安装孔24开设于定位板70上,且定位板70上开设有与测试主板定位销69相匹配的定位孔72。
具体的,所述固定底座68上设置有测试主板定位销69,其中测试底板16、测试主板17、定位板70由下至上依次设置于测试主板定位销69上,起到定位的作用,使得定位板70上的安装孔24位于测试主板17的内存条插板25正上方位置。
优选的,所述导向块22靠近内存条插板25的一侧设置有弧状凹部73,内存条7沿着弧状凹部73向下插入内存条插板25内。
具体的,在导向块22上设置有弧状凹部73,该弧状凹部73的底部与内存条插板25相衔接,内存条7在进行插拔时起到导向作用,防止损坏。
优选的,所述插拔件23的提拉部26呈钩子状,且内存条7向下插入内存条插板25内,提拉部26的钩子上部与内存条7接触、提拉部26的钩子底部向下抵在高度限位板20上。
更为优选的,所述插拔件23的按压部27为橡胶滚轮。
具体的,采用钩子状的提拉部26为插拔件23的一端、采用橡胶滚轮的按压部27为插拔件23的另一端,当内存条7插入内存条插板25中时提拉部26向下、按压部27向上直到提拉部26的钩子底部抵在高度限位板20上,当内存条7从内存条插板25中拔出时提拉部26向上、按压部27向下直到内存条7离开内存条插板25内,采用杠杆式的插拔件23,使用简单。
优选的,所述治具移载模组15上设置有内存条压紧组件74、内存条撑开组件75,所述治具移载模组15带动内存条测试治具14移载到内存条压紧组件74处,内存条压紧组件74用于将内存条7压入测试主板17的内存条插板25内;所述治具移载模组15带动内存条测试治具14移载到内存条撑开组件75处,内存条撑开组件75用于下压插拔件23的按压部27,内存条7从测试主板17的内存条插板25松开。
具体的,所述治具移载模组15包括治具位移组件76、治具进出组件77,所述治具位移组件76包括第一位移滑轨78、第二位移滑轨79、位移电机80、位移传动带81,所述治具进出组件77设置于第一位移滑轨78、第二位移滑轨79上,所述位移传动带81通过两个位移从动轮82布设于第一位移滑轨78、第二位移滑轨79之间,且位移传动带81与治具进出组件77相连接,所述位移电机80通过位移主动轮83与其中一个位移从动轮82相连接;所述治具进出组件77包括进出滑轨84、进出电机85、进出传动带86,内存条测试治具14设置于进出滑轨84上,所述进出传动带86通过两个进出从动轮87设置于进出滑轨84上,且进出传动带86与内存条测试治具14相连接,所述进出电机85通过进出主动轮88与其中一个进出从动轮87相连接。
具体的,所述内存条压紧组件74包括压紧立柱89、压紧横梁90、压紧升降气缸91、压紧件92,所述压紧升降气缸91设置于压紧立柱89上,所述压紧横梁90设置于压紧升降气缸91的推杆上,所述压紧件92设置于压紧横梁90的下表面上,所述压紧升降气缸91驱动压紧横梁90上的压紧件92将内存条7压入测试主板17的内存条插板25内。
具体的,所述内存条撑开组件75包括撑开立柱93、撑开横梁94、撑开升降气缸95、撑开件96,所述撑开升降气缸95设置于撑开立柱93上,所述撑开横梁94设置于撑开升降气缸95的推杆上,所述撑开件96设置于撑开横梁94的下表面上,所述撑开升降气缸95驱动撑开横梁94上的撑开件96下压插拔件23的按压部27,内存条7从测试主板17的内存条插板25松开,同时撑开件96的中部设置有防弹出缓冲部97。
更为具体的,所述治具进出组件77还包括高度调节组件98、宽度调节组件99,所述高度调节组件98、宽度调节组件99采用电机带动丝杆的常规组件,这里不再一一赘述了。
进一步的,采用本实施例的治具移载模组15,无需人力,实现了自动插拔内存条7的功能,稳定性好,提高了测试效率。
优选的,如图17所示,所述储存机构1包括至少一个储存组件100,所述储存组件100包括储存料框101、储存丝杆102、储存螺母103、储存电机104,所述储存电机104设置于储存料框101的下方位置,所述储存电机104通过储存皮带105与储存螺母103传动连接,所述储存丝杆102套设于储存螺母103内,且储存丝杆102的上部从储存料框101的底部贯穿设置于储存料框101内。
具体的,所述储存电机104通过储存皮带105驱动储存螺母103,进而传动储存丝杆102旋转,从而带动储存料框101内的料盘做升降运动。
更为具体的,在本实施例中,储存组件100有若干组,分别为分并储存组件106、待料储存组件107、空料储存组件108、NG料储存组件109,分并储存组件106的料盘用于放置测试合格的内存条7,待料储存组件107的料盘用于放置待测试的内存条7,空料储存组件108用于回收空的料盘,NG料储存组件109用于放置测试不合格的内存条7。
优选的,如图18所示,所述储存组件100处设置有移料盘机构110,所述移料盘机构110包括同步带直线模组111、移料升降气缸112、移料夹爪113,所述同步带直线模组111驱动移料夹爪113在至少两个储存组件100间运动,所述移料升降气缸112驱动移料夹爪113在储存组件100上做升降运动,所述移料夹爪113用于储存组件100处夹取料盘。
具体的,所述移料夹爪113包括移料板114、移料气缸115、移料爪子116,所述移料气缸115固定设置于移料板114上,所述移料爪子116设置于移料气缸115的推杆上。进一步的,所述移料气缸115有四个,每两个移料气缸115的移料爪子116形成一组夹爪结构。
优选的,如图19~20所示,所述中转机构5包括升降转运组件117,所述升降转运组件117将所述治具移载模组15上的内存条测试治具14放置于测试机构6处或将测试机构6处的内存条测试治具14取放至治具移载模组15上。
具体的,所述升降转运组件117包括升降支架118、升降台119、升降驱动组件120、转运模组121,其中,所述升降台119滑动安装于所述升降支架118上;所述升降驱动组件120与所述升降台119连接,所述升降驱动组件120驱动所述升降台119沿所述升降支架118上下移动;所述转运模组121设置于所述升降台119上,所述转运模组121将所述治具进出组件77上的内存条测试治具14转运至所述测试机构6或将所述测试机构6的内存条测试治具14转运至所述治具进出组件77上;具体的,升降驱动组件120采用电机丝杆机构,电机与传动丝杆布设于升降支架118上,传动丝杆与电机输出端连接,且升降台119螺合于传动丝杆上,当电机驱动传动丝杆转动时,升降台119沿着传动丝杆向上或向下运动,由于电机丝杆机构为本领域的技术人员的常规技术,这里不再一一赘述。
更为具体的,所述转运模组121包括转运驱动组件122以及推送板123,所述推送板123与所述转运驱动组件122连接。进一步的,转运驱动组件122可以是直线电机模组,直线电机模组带动推送板123运动,从而将内存条测试治具14推出或拉入升降台119上。
更为具体的,所述升降转运组件117还包括水平驱动组件124,所述水平驱动组件124与所述升降支架118连接,以驱动所述升降支架118水平移动。进一步的,水平驱动组件124包括电机丝杆机构,传动丝杆与升降支架118连接,电机驱动传动丝杆转动时,传动丝杆带动升降支架118移动,由于电机丝杆机构为本领域的技术人员的常规技术,这里不再一一赘述。
优选的,如图21所示,所述测试机构6包括测试支架125、测试信号板126,所述测试信号板126设置于测试支架125上。
具体的,所述上下料机构4的两端均设置有中转机构5、测试机构6,从而可以交替进行测试,大大提高了测试数量,减少设备投入,降低生产成本。
具体实施时,先使用料盘上料内存条7至储存机构1,上下料夹爪机构3上料至飞梭机构2,飞梭机构2移载内存条7到上下料机构4处,上下料机械手8抓起飞梭机构2内的内存条7在视觉检测机构28处检测后放入内存条测试治具14中,治具移载模组15带动内存条测试治具14移载到内存条压紧组件74处,然后将内存条7压入测试主板17的内存条插板25内,治具移载模组15继续带动内存条测试治具14移载到中转机构5处,由中转机构5将内存条测试治具14送入测试机构6处进行内存条7测试,测试完成后中转机构5将内存条测试治具14勾出送至治具移载模组15,治具移载模组15带动内存条测试治具14移载到内存条撑开组件75处,内存条撑开组件75下压使得内存条7弹出测试主板17的内存条插板25,机械手取出内存条7并放入飞梭机构2,飞梭机构2运输到储存机构1处,上下料夹爪机构3从飞梭机构2上取内存条7放置储存机构1的料盘上下料分料。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种内存条老化测试设备,其特征在于:包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构,所述储存机构用于装载放置内存条的料盘;所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处,飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处;所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置,用于在储存机构与飞梭机构之间取放内存条;所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手,该上下料机械手用于在上下料机构与飞梭机构之间取放内存条;所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处,中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处,所述中转机构用于送入待测试内存条或取出已测试内存条;
所述上下料夹爪机构包括夹爪三维运动模组、夹爪模组,所述夹爪模组设置于夹爪三维运动模组上,所述夹爪三维运动模组驱动夹爪模组在X向、Y向、Z向位移运动;所述夹爪模组包括夹爪框架、至少两个夹爪组件,夹爪组件呈阵列分布设置于夹爪框架上,每个夹爪组件包括一对夹爪;
所述上下料机构包括内存条测试治具、治具移载模组,所述内存条测试治具设置于治具移载模组上,治具移载模组将内存条测试治具送入或取出中转机构;所述内存条测试治具包括测试底板、测试主板、测试导向组件,所述测试主板设置于测试底板上;所述测试导向组件包括测试架、高度限位板、宽度限位板、导向块、插拔件,所述测试架上开设有安装孔,该安装孔位于测试主板的内存条插板上方位置;所述高度限位板、宽度限位板设置于安装孔内,并位于测试主板的内存条插板两侧;所述宽度限位板设置于高度限位板的上方位置,所述导向块设置于宽度限位板的端部;所述插拔件呈杠杆式贯穿设置于导向块内,靠近内存条插板的一端设置有提拉部、另一端设置有按压部。
2.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述飞梭机构包括飞梭底板、第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨、第一飞梭导向板、第二飞梭导向板、飞梭驱动模组,所述第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨平行设置于飞梭底板上;所述第一飞梭滑轨上滑动连接有第一飞梭支架,所述第一飞梭支架的上部设置有第一飞梭载料台;所述第一飞梭导向板上设置有第一飞梭导向槽,所述第一飞梭导向槽限定第一飞梭载料台的移动路径;所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架,所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架,所述第二飞梭支架的上部设置有第二飞梭载料台;所述第二飞梭导向板上设置有第二飞梭导向槽,所述第二飞梭导向槽限定第二飞梭载料台的移动路径;所述飞梭驱动模组分别与第一飞梭支架、第二飞梭支架相连接,用于驱动第一飞梭支架与第二飞梭支架进行相对运动。
3.根据权利要求2所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述第一飞梭支架通过飞梭支架滑块连接有飞梭升降线轨,所述第一飞梭载料台设置于飞梭升降线轨的顶部;所述飞梭升降线轨的侧壁通过设置第一飞梭滚轮与第一飞梭导向槽连接,所述第一飞梭导向槽呈U形状;所述第二飞梭导向槽为直线槽,第二飞梭支架的侧壁通过第二飞梭滚轮与第二飞梭导向槽连接。
4.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:每个所述夹爪包括夹持件、夹爪水平气缸、夹爪升降气缸,所述夹爪升降气缸设置于夹爪框架的顶部,夹爪水平气缸通过夹爪安装件设置于夹爪框架的底部;所述夹爪框架内贯穿设置有夹爪传动杆、夹爪导向杆,所述夹爪传动杆的顶部与夹爪升降气缸的推杆相连接、夹爪传动杆的底部与夹爪安装件相连接,所述夹爪导向杆的顶部向上延伸出夹爪框架的顶部、夹爪导向杆的底部与夹爪安装件相连接;所述夹爪水平气缸设置于夹爪安装件上,所述夹持件与夹爪水平气缸的推杆相连接,夹爪水平气缸驱动夹持件在水平方向上运动,一对夹爪的夹持件对应设置。
5.根据权利要求4所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述夹爪导向杆上套设有竖直限位件,该竖直限位件设置于夹爪框架的中部;所述夹爪安装件上设置有水平限位件,所述水平限位件呈倒“凹”状,所述夹持件设置于水平限位件的凹槽内。
6.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述治具移载模组上设置有内存条压紧组件、内存条撑开组件,所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条压紧组件处,内存条压紧组件用于将内存条压入测试主板的内存条插板内;所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条撑开组件处,内存条撑开组件用于下压插拔件的按压部,内存条从测试主板的内存条插板松开。
7.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述储存机构包括至少一个储存组件,所述储存组件包括储存料框、储存丝杆、储存螺母、储存电机,所述储存电机设置于储存料框的下方位置,所述储存电机通过储存皮带与储存螺母传动连接,所述储存丝杆套设于储存螺母内,且储存丝杆的上部从储存料框的底部贯穿设置于储存料框内。
8.根据权利要求7所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述储存组件处设置有移料盘机构,所述移料盘机构包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪,所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个储存组件间运动,所述移料升降气缸驱动移料夹爪在储存组件上做升降运动,所述移料夹爪用于储存组件处夹取料盘。
9.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述中转机构包括升降转运组件,所述升降转运组件将所述治具移载模组上的内存条测试治具放置于测试机构处或将测试机构处的内存条测试治具取放至治具移载模组上。
10.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备,其特征在于:所述测试机构包括测试支架、测试信号板,所述测试信号板设置于测试支架上。
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Cited By (1)
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CN115849005A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-03-28 | 苏州乾鸣半导体设备有限公司 | 一种同步上下料设备 |
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- 2021-07-30 CN CN202110872754.6A patent/CN113415626A/zh active Pending
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