CN113300057B - 一种极耳错位调整方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种极耳错位调整方法及系统，获取极片、隔膜并膜后的标准厚度、卷针的第一外周长、极耳组的标准距离、极耳组实际距离和卷针卷绕圈数，并计算得到卷针的外周长调整量；根据所述外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕，以使下一次卷绕错位距离尽可能的减小，避免因错位量大造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难以及严重时会直接造成电池的报废的问题。

Description

一种极耳错位调整方法及系统
技术领域
本申请涉及动力电池技术领域，具体而言，涉及一种极耳错位调整方法及系统。
背景技术
多极耳电动汽车(Electric Vehicle，EV)动力电池是通过EV卷绕机根据一定的电池工艺卷绕制成，极片的裸露铜箔或铝箔于电池卷绕前被按照规定的尺寸切割以形成相互间隔排布的多个极耳，以使卷绕后的所有极耳尽量相互重叠，极耳间的错位距离需要在合理范围之内。
一般通过控制极耳之间的切割间距，来调整极耳间的错位距离。而，多极耳动力电池因同一电芯极耳数量多，在极耳模切参数固定的来料情况下，来料的隔离膜厚度不均引起的极耳错位，将导致推算出的切割间距无法保证错位距离尽可能的减小，而极耳间的错位距离过大，会造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难，严重时会直接造成电池的报废。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种极耳错位调整方法及系统，用以使下一次卷绕错位距离尽可能的减小，避免因错位量大造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难以及严重时会直接造成电池的报废的问题。
本申请实施例提供的一种极耳错位调整方法，包括：
获取卷针的第一外周长；
获取标准卷芯的极耳组的标准距离及对应的卷绕圈数；极耳组为第1个极耳到第i个极耳，2<i<n+1，标准距离即标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离；
获取实际卷芯的极耳组的实际距离；实际距离即实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离；
获取极片、隔膜并膜后的标准厚度；
根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；
根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
上述技术方案，通过将实际卷芯与标准卷芯进行对比得到错位量，再根据错位量计算卷针的外周长需调整量，最后利用外周长调整量来调整卷针的外周长，以使下一次卷绕错位距离尽可能的减小，避免因错位量大造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难以及严重时会直接造成电池的报废的问题。
在一些可选的实施例中，实际卷芯由第一外周长的卷针卷绕实际极耳组得到；
获取实际卷芯的极耳组的实际距离，包括：
利用第一外周长的卷针对实际极耳组进行实际卷绕过程中，测长单元测量第1个极耳到第i个极耳的实际距离。
本极耳错位调整方法，可以适用于没有预设调整量的首次实际卷绕，根据首次实际卷绕的结果，与标准卷芯进行对比，从而调整下一次实际卷绕的卷针外周长，使下一次实际卷绕的结果更加符合要求，错位量更小。
在一些可选的实施例中，包括：
外周长调整量△L＝[(L1-L)/(α-1)]-πβ；
其中，L1为实际距离，L为标准距离，α为卷绕圈数，β为标准厚度。
在一些可选的实施例中，实际距离L1＝b1-a1；
其中，a1为实际卷绕过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，b1为实际卷绕过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置。
其中，测长单元通常为过辊和编码器，极耳检测单元、过辊和编码器都是卷绕机的基本配置，即以卷绕机的基本配置即可完成实际距离的测量。
在一些可选的实施例中，标准厚度β＝β1+β2+β3+β4；
其中，β1为上层隔离膜的厚度，β2为下层隔离膜的厚度，β3为阳极片的厚度，β4为阴极片的厚度。
极片上下均有一层隔离膜，即上层隔离膜和下层隔离膜，极片包括阳极片和阴极片，这里默认上层隔离膜与下层隔离膜的厚度相等且均匀不变。
在一些可选的实施例中，标准距离L＝b-a；
其中，a为卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，b为卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置。
在一些可选的实施例中，卷绕圈数α为卷绕标准卷芯过程中，测长单元测量第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数。
本申请实施例还提供的一种电子设备，具体包括：
获取模块，用于获取极片、隔膜并膜后的标准厚度，获取卷针的第一外周长，以及获取标准卷芯的极耳组的标准距离及对应的卷绕圈数，以及获取实际卷芯的极耳组的实际距离；
计算模块，用于根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；
调整模块，用于根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
本申请实施例还提供的一种极耳错位调整系统，具体包括：
外周长调节模组，用于根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量，并根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕；
极耳检测单元，其与外周长调节模组电连接，其用于检测极耳位置信息；
测长单元，其与外周长调节模组电连接，其用于在实际卷绕过程中，第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，以及卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，卷绕标准卷芯过程中测量标准卷芯第1个极耳到第i个极耳计卷绕圈数。
在一些具体的实施方式中，外周长调节模组包括：控制器、卷针主体、驱动组件以及变径滑块；
变径滑块用于调整卷针主体的外周长；
驱动组件，其与控制器电连接，用于带动变径滑块沿卷针主体径向滑动；
控制器分别与极耳检测单元、测长单元电连接。
本申请实施例还提供了另一种极耳错位调整方法，包括：
获取极片、隔膜并膜后的标准厚度；
获取卷针的第一外周长；
获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数；其中，标准卷芯由第一外周长的卷针卷绕极耳组得到，极耳组具有n个极耳，2<i<n+1；获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离；根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；
重复上述步骤，对i取j个不同的值，得到j个外周长调整量，取j个外周长调整量的均值；其中，0<j<n-2；
根据j个外周长调整量的均值，调整卷针的外周长至第三周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
本申请实施例还提供的一种存储介质，存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被执行时实现以上任意一项的极耳错位调整方法。
综上，本申请的一个或多个实施例具有以下有益效果：
本申请实施例的一种极耳错位调整方法，获取极片、隔膜并膜后的标准厚度、卷针的第一外周长、极耳组的标准距离、极耳组实际距离和卷针卷绕圈数，并计算得到卷针的外周长调整量；根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕，以使下一次卷绕错位距离尽可能的减小，避免因错位量大造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难以及严重时会直接造成电池的报废的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种极耳错位调整方法流程图；
图2为本申请实施例提供的一种EV卷绕机的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种极耳错位调整系统的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的外周长调节模组的结构示意图；
图6为隔离膜厚度不均厚度导致的极耳错位的示意图。
附图中标记：201-过辊，202-极片，203-卷针，204-极耳，301-测长单元，302-极耳检测单元，303-外周长调节模组，401-获取模块，402-计算模块，403-调整模块，1-卷针主体，11-第一针体，12-第二针体，2-驱动组件，21-推块，22-推块驱动件，211-调节部，3-变径滑块，31-斜面。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
目前，多极耳电动汽车(ElectricVehicle，EV)动力电池是通过EV卷绕机根据一定的电池工艺卷绕制成，极片两侧的裸露铜箔或铝箔于电池卷绕前被按照规定的尺寸切割以形成相互间隔排布的多个极耳。
极耳可通过激光模切卷绕一体机的模切部分直接切出来。相邻极耳之间具有切割间距A(A>0)，其中，在本发明实施例进行实施前，可预先制作一个标准电池或程序仿真，用作标定；该标准电池所有的极耳都是对齐的，即极耳组卷绕后得到的标准卷芯，该标准卷芯的多个极耳重叠对齐。其中，可在标准电池的卷绕过程中通过人工调整各极耳切割间距的方式以使卷绕完成后的各个极耳相对齐。然后将标准电池的第一个极耳和不相邻的一个或多个极耳分别对应的极片所在位置和卷针角度进行采集，用于作为参考基准。在实际卷绕过程中，即使极片厚度均匀不变，在极耳模切参数固定的来料情况下，来料(隔离膜与极片)具有一定厚度，也会引起极耳错位(极耳错位的情形如图6所示，图中a、b、c和d为极耳，其相互产生了错位)，那么根据极片厚度推算出的切割间距无法保证错位距离尽可能减小。应理解，在实际生产过程中，由于隔离膜厚度不均导致的极耳错位，相邻两个极耳的错位距离可能非常小，但是随着卷绕层数的累加，隔离膜导致的极耳总错位距离也是累加的，该极耳总错位距离则不可忽视。
基于此，本发明实施例提供的一种极耳错位调整方法、系统、电子设备和存储介质，考虑隔离膜厚度不均的影响因素，通过调整卷针的外周长，来对极耳错位量进行优化调整。
为便于对本实施例进行理解，首先对本发明实施例所公开的一种极耳错位调整方法进行详细介绍；
请参照图1，图1为一种极耳错位调整方法的步骤流程图，具体包括步骤101-103：
101、利用输入设备(例如键盘、触摸屏等)手动输入，或其他终端设备导入，或调用内部存储数据，来获取极片、隔膜并膜后的标准厚度以及卷针的第一外周长；获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数；其中，标准卷芯由第一外周长的卷针卷绕极耳组得到，极耳组具有n个极耳，2<i<n+1；获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离。
在步骤101中，需事先对极耳组卷绕后得到标准卷芯，该标准卷芯的多个极耳重叠对齐，以标准卷芯作为基准与实际卷芯进行对比。其中，可在标准卷芯的卷绕过程中通过人工调整各极耳切割间距的方式得到多个极耳，以使利用第一外周长的卷针卷绕极耳组后的各个极耳相对齐。
在实际卷绕时，可以由第一外周长的卷针卷绕实际极耳组，也可以根据预设调整量调整其外周长后的卷针卷绕实际极耳组。
其中，第1个极耳是指卷绕时极片上被卷绕的首极耳，即卷芯最内层的极耳。第i个极耳时至卷绕时极片上被卷绕的第i个极耳，这里的2<i<n+1，即选取与首极耳不相邻的极耳或者末极耳来参与后续运算。
102、根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量。
由于隔离膜厚度不均引起错位量变化时，卷芯周长的变化引起极耳错位可以看做是相邻的外层比内层多一个定值。因此，该步骤102中，以标准卷芯为参照物，通过目标的实际卷芯与标准卷芯进行对比做差，得出极耳总错位量，进而得到外周长需调整的量。
103、根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
要调整卷针的外周长，可以采用改变卷针结构，例如将圆形卷针通过机械结构改变为椭圆卷针，使外周长改变。
步骤101-103中，仅选取了一个极耳(即第i个极耳)，来进行测量与计算，确定外周长调整量，需要明确的是，在一些实施例中可以选取多个极耳来进行测量与计算后得到相应的多个外周长调整量，再取多个外周长调整量的均值，用该均值调整卷针的外周长进行下一次卷绕，详细如下：
获取极片、隔膜并膜后的标准厚度，获取卷针的第一外周长；获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及所述标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数；其中，所述标准卷芯由第一外周长的卷针卷绕极耳组得到，所述极耳组具有n个极耳，2<i<n+1；获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离；根据所述标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量。
重复上述步骤，对i取j个不同的值，得到j个外周长调整量，取所述j个外周长调整量的均值；其中，0<j<n-2。
最后，根据所述j个外周长调整量的均值，调整卷针的外周长至第三周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
上述极耳错位调整方法，在实际卷绕时，可以由第一外周长的卷针卷绕实际极耳组，也可以根据预设调整量调整其外周长后的卷针卷绕实际极耳组。下面先介绍第一种应用场景，实际卷芯由第一外周长的卷针卷绕实际极耳组得到。
步骤101中，获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离，包括：利用第一外周长的卷针对实际极耳组进行实际卷绕过程中，测长单元测量第1个极耳到第i个极耳的实际距离。
该场景适用于没有预设调整量的首次实际卷绕，根据首次实际卷绕的结果，与标准卷芯进行对比，从而调整下一次实际卷绕的卷针外周长，使下一次实际卷绕的结果更加符合要求，错位量更小。实际生产时，根据相关的质量检测，可能检测出首次实际卷绕的实际卷芯不合规，也可能检测处首次实际卷绕合规，但是对下一次实际卷绕的实际卷芯检测出合规的概率将会大大提高。
下面介绍第二种应用场景，实际卷芯由根据预设调整量调整其外周长后的卷针卷绕实际极耳组。
步骤101中，获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离，包括：利用调整其外周长后的卷针对实际极耳组进行实际卷绕过程中，测长单元测量第1个极耳到第i个极耳的实际距离。
该场景，例如有计算出外周长调整量的非首次实际卷绕，或通过人工录入、平台下达、调用内部存储数据等方式获取适用于当前实际卷绕的外周长调整量的情形下。根据该次实际卷绕的结果，与标准卷芯进行对比，从而调整下一次实际卷绕的卷针外周长，使下一次实际卷绕的结果更加符合要求，错位量更小。实际生产时，根据相关的质量检测，检测出该次实际卷绕的实际卷芯合规的概率较高，并且对下一次实际卷绕的实际卷芯检测出合规的概率还会更高。
下面以由第一外周长的卷针卷绕实际极耳组的第一种应用场景来详细描述极耳错位调整方法一些可选的实施方式，应理解，介绍的方案同样适用于由调整外周长后的卷针卷绕实际极耳组的第二种应用场景。
具体的，步骤102包括：
通过目标物(实际卷芯)与参照物(标准卷芯)的距离差得出：极耳总错位量计为(L1-L)/α；以标准卷芯每圈材料的标准厚度为β，因为卷针周长的变化△L引起极耳错位是相邻的外层比内层多△L+πβ，呈等差数列分布。根据标准距离、卷绕圈数及实际距离，得到极耳组总错位量：
A＝(L1-L)/α
根据卷绕圈数、标准厚度和极耳总错位量，得到外周长调整量：
△L＝A×α/(α-1)-πβ
即，卷针外周长需调整量△L＝[(L1-L)/(α-1)]-πβ，本算式是基于材料厚度引起错位量变化的调整，所以△L相当于补偿的材料厚度变化量。其中，L1为实际距离，L为标准距离，α为卷绕圈数，β为标准厚度。
请参照图2，本实施例所需数据通过如图2所示的EV卷绕机的基本配置测量得到，包括：过辊201、测长单元301、卷针203、控制器(图中未示出)和极耳检测单元302，其中，测长单元301对卷针203的角度进行测量和记录；测长单元301与过辊201相连接，控制器分别与测长单元301、极耳检测单元302相连接，过辊201带动极片202向卷针203方向行进，极耳检测单元302设置在卷针203的上游，这里，极耳检测单元302越靠近卷针203效果越好，图4中仅为一种示范性实施例；
具体地，EV卷绕机在卷绕的工作过程中，极片202卷绕的前端(上游)设置过辊201(动力辊)及与过辊201配合的压辊(从动辊)，过辊201连接测长单元301，测长单元301包括测长编码器或含有测长编码器功能的第一伺服电机，测长单元301通过对过辊201转动角度的检测以检测极片202向卷针203方向的移送距离；当极耳检测单元302检测到极耳204位置时，控制器通过测长单元301记录此时极片202所在位置；进一步的，极片202上设置有多个极耳，极耳组中包括预设个数的极耳204，默认极耳组中的第一极耳与标准电池中第一极耳的标准位置相一致。
其中，实际距离L1＝b1-a1；a1为实际卷绕过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元301记录的长度位置，b1为第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元301记录的长度位置。
标准距离L＝b-a；a为卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元301记录的长度位置，b为卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元301记录的长度位置。
实际距离和标准距离的测量，是通过测长单元301与极耳检测单元302配合测量得到，测长单元301通常为过辊201+编码器，上述的过辊201、编码器和极耳检测单元302都是EV卷绕机的基本配置，无需额外新增测量设备，即可完成标准距离和实际距离的测量工作。
卷绕圈数α为卷绕标准卷芯过程中第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数。卷绕圈数α的测量，可以在卷绕过程中对极耳检测单元检测到的极耳计数得到极耳数量，通过每圈极耳的数量计算卷绕圈数(如图6，每圈的极耳数量为一个，卷绕圈数等于极耳数量)，也可以由设置于卷针203的编码器测量得到，上述的两种测量方式只需通过EV卷绕机的基本配置，无需额外新增测量设备，即可完成卷绕圈数的测量工作。
标准厚度β＝β1+β2+β3+β4；其中，β1为上层隔离膜的厚度，β2为下层隔离膜的厚度，β3为阳极片的厚度，β4为阴极片的厚度。在卷绕时，在极片202上下均设置一层隔离膜一起进行卷绕，即上层隔离膜和下层隔离膜，这里默认上层隔离膜与下层隔离膜的厚度相等且均匀不变。
基于同一发明构思，请参照图3，图3为本实施例提供的一种极耳错位调整系统，包括外周长调节模组303、极耳检测单元302和测长单元301。
外周长调节模组303，用于根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量，并根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。极耳检测单元，其与外周长调节模组303电连接，其用于检测极耳位置信息。测长单元301测量标准卷芯第1个极耳到第i个极耳计卷绕圈数。测长单元301，其与外周长调节模组303电连接，其用于在实际卷绕过程中，第1个极耳经过极耳检测单元302时测长单元301记录的长度位置，第i个极耳经过极耳检测单元302时测长单元301记录的长度位置，以及卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元302时测长单元301记录的长度位置，卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元302时测长单元301记录的长度位置。
其中，外周长调节模组303包括：控制器、卷针主体、驱动组件以及变径滑块；变径滑块用于调整卷针主体的外周长；驱动组件，其与控制器电连接，用于带动变径滑块沿卷针主体径向滑动；控制器分别与极耳检测单元302及测长单元301电连接。
本实施例的外周长调节模组303，通常要改变卷针的外周长，是通过改变卷针结构，将圆形卷针通过机械结构改变为椭圆卷针，使卷针的外周长改变。本申请实施例可以采用上述的方式改变卷针的外周长，但不限于上述方式，下面提供能够实现卷针外周长调整的另一实施方式：
请参照图5的外周长调节模组，卷针主体1用于卷绕电芯，变径滑块3用于调整卷针主体1的外周长，驱动组件用于驱动变径滑块3沿卷针主体1的径向滑动。
本实施例中，卷针主体1呈圆柱形，但不限于此，一些实施例中，卷针主体1可以是菱形或其他形状。卷针主体1包括相对设置的第一针体11和第二针体12，第一针体11、第二针体12为相互独立的半圆柱形。卷针主体1与驱动组件2连接，卷针主体1可在驱动组件2的驱动下沿其轴向转动，从而卷绕电芯。
本实施例中，变径滑块3为两个，两个变径滑块3分别设于第一针体11和第二针体12，但不限于此，一些实施例中，变径滑块3可以是三个或者更多个。变径滑块3配置为可沿卷针主体1的径向移动，变径滑块3设有在卷针主体1的轴向上呈一夹角的驱动斜面31。具体实施时，卷针主体1的外周面对应变径滑块3设有开口，变径滑块3朝向卷针主体1外侧设有支撑面，支撑面与开口的形状尺寸相匹配，初始状态下，支撑面与卷针主体1的外周面齐平，当需要调整卷针主体1的外周长时，变径滑块3沿卷针主体1的径向滑动，使支撑面伸出卷针主体1，从而改变卷针主体1的外周长。
驱动组件2包括推块21和推块驱动件22。推块21，其设于卷针主体1内，并能够沿卷针主体1的轴向移动，推块21设有与驱动斜面31抵接的调节部211，该调节部211与驱动斜面31抵接的一面形成为与驱动斜面31角度相匹配的斜面。推块驱动件22，其设于卷针主体1外部，其与卷针主体1同轴并与卷针主体1的端部隔空相对设置。推块驱动件22与驱动装置连接，在驱动装置的驱动下，推块驱动件22能够沿卷针主体1的轴向滑动，并顶推推块21，使推块21沿卷针主体1的轴向滑动，与此同时，调节部211沿驱动斜面31滑动，在调节部211的压力作用下，带动变径滑块3沿卷针主体1的径向滑动，从而达到改变卷针外周长的目的。
基于同一发明构思，请参照图4，图4为本实施例提供的一种电子设备，具体包括获取模块401、计算模块402和调整模块403：
获取模块401，用于获取极片、隔膜并膜后的标准厚度，获取卷针的第一外周长，以及获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数。计算模块402，用于根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量。调整模块403，用于根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
基于同一发明构思，本实施例还提供的一种存储介质，存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被执行时实现任意一实施例的极耳错位调整方法，例如获取极片、隔膜并膜后的标准厚度；获取卷针的第一外周长；获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数；其中，标准卷芯由第一外周长的卷针卷绕极耳组得到，极耳组具有n个极耳，2<i<n+1；获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离；根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长，以利用调整后的卷针进行下一极耳组的卷绕。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种极耳错位调整方法，其特征在于，包括：
获取卷针的第一外周长；
获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，及对应的卷绕圈数，2<i<n+1，n为极耳组的极耳总数；其中，标准卷芯是：利用第一外周长的卷针卷绕标准卷芯的极耳组后，形成的各个极耳相对齐的卷芯；
获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离；其中，所述实际卷芯由所述第一外周长的卷针卷绕实际极耳组得到；
获取极片、隔膜并膜后的标准厚度；所述标准厚度β=
Figure M_220729154735429_429212001
+
Figure M_220729154735480_480481002
+
Figure M_220729154735496_496117003
+
Figure M_220729154735527_527364004
；其中，
Figure M_220729154735542_542993005
为上层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735574_574237006
为下层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735589_589849007
为阳极片的厚度，
Figure M_220729154735621_621105008
为阴极片的厚度；
根据所述标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；
根据所述外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长；
所述外周长调整量△L=[(L1-L)/(α-1)]-πβ，
其中，L1为所述实际距离，L为所述标准距离，α为所述卷绕圈数，β为所述标准厚度。
2.如权利要求1所述的一种极耳错位调整方法，其特征在于，获取实际距离的方法包括：
利用所述第一外周长的卷针对实际极耳组进行实际卷绕过程中，测长单元测量第1个极耳到第i个极耳的实际距离。
3.如权利要求2所述的一种极耳错位调整方法，其特征在于，所述实际距离L1=b1-a1；
其中，a1为实际卷绕过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，b1为实际卷绕过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置。
4.如权利要求1所述的一种极耳错位调整方法，其特征在于，所述标准距离L=b-a；
其中，a为卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，b为卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置。
5.一种极耳错位调整系统，其特征在于，包括：
外周长调节模组，用于根据标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量，并根据外周长调整量，调整卷针的外周长至第二周长；
其中，所述标准距离为标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离，2<i<n+1，n为极耳组的极耳总数；其中，标准卷芯是：利用第一外周长的卷针卷绕标准卷芯的极耳组后，形成的各个极耳相对齐的卷芯；
所述实际距离为实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离；其中，所述实际卷芯由所述第一外周长的卷针卷绕实际极耳组得到；
所述标准厚度β=
Figure M_220729154735636_636730001
+
Figure M_220729154735652_652354002
+
Figure M_220729154735669_669899003
+
Figure M_220729154735701_701659004
；其中，
Figure M_220729154735717_717290005
为上层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735748_748554006
为下层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735764_764194007
为阳极片的厚度，
Figure M_220729154735779_779815008
为阴极片的厚度；
所述外周长调整量△L=[(L1-L)/(α-1)]-πβ；L1为所述实际距离，L为所述标准距离，α为所述卷绕圈数，β为所述标准厚度；
极耳检测单元，其与所述外周长调节模组电连接，其用于检测极耳位置信息；
测长单元，其与所述外周长调节模组电连接，其用于在实际卷绕过程中，第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，以及卷绕标准卷芯过程中第1个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，卷绕标准卷芯过程中第i个极耳经过极耳检测单元时测长单元记录的长度位置，以及测量标准卷芯第1个极耳到第i个极耳计卷绕圈数。
6.如权利要求5所述的一种极耳错位调整系统，其特征在于，所述外周长调节模组包括：控制器、卷针主体、驱动组件以及变径滑块；
所述变径滑块用于调整卷针主体的外周长；
所述驱动组件，其与控制器电连接，用于带动变径滑块沿卷针主体径向滑动;
所述控制器分别与所述极耳检测单元和测长单元电连接。
7.一种极耳错位调整方法，其特征在于，包括：
获取极片、隔膜并膜后的标准厚度；
获取卷针的第一外周长；
获取标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的标准距离，以及所述标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的卷绕圈数；其中，所述标准卷芯由第一外周长的卷针卷绕极耳组得到，所述极耳组具有n个极耳，2<i<n+1；获取实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的实际距离；根据所述标准厚度、第一外周长、标准距离、实际距离和卷绕圈数，得到卷针的外周长调整量；
重复上述步骤，对i取j个不同的值，得到j个外周长调整量，取所述j个外周长调整量的均值；其中，0<j<n-2；
根据所述j个外周长调整量的均值，调整卷针的外周长至第三周长；
其中，所述标准距离为标准卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离，2<i<n+1，n为极耳组的极耳总数；其中，标准卷芯是：利用第一外周长的卷针卷绕标准卷芯的极耳组后，形成的各个极耳相对齐的卷芯；
所述实际距离为实际卷芯的第1个极耳到第i个极耳的距离；其中，所述实际卷芯由所述第一外周长的卷针卷绕实际极耳组得到；
所述标准厚度β=
Figure M_220729154735811_811036001
+
Figure M_220729154735826_826738002
+
Figure M_220729154735842_842299003
+
Figure M_220729154735874_874487004
；其中，
Figure M_220729154735890_890626005
为上层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735906_906263006
为下层隔离膜的厚度，
Figure M_220729154735937_937511007
为阳极片的厚度，
Figure M_220729154735953_953174008
为阴极片的厚度；
所述外周长调整量△L=[(L1-L)/(α-1)]-πβ；L1为所述实际距离，L为所述标准距离，α为所述卷绕圈数，β为所述标准厚度。
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