CN109494342B - 极耳错位控制方法及卷绕装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及极耳错位控制方法及卷绕装置。极耳错位控制方法包括：步骤S20，获取卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，所述T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻，步骤S40，判断所述第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，如果是，重复步骤S20，反之，进入步骤S60，步骤S60，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度。上述方法以第一极耳为例，当第一极耳存在错位现象，通过控制喷涂在电极组件的涂层的厚度，以调节卷针转过相同角度时第一极片卷绕于卷针的长度不同，从而使得第一极耳的位置向预想的方向产生偏移，进而使得第一极耳的错位得到纠正。

Description

极耳错位控制方法及卷绕装置

技术领域

本申请涉及储能器件制造技术领域，尤其涉及极耳错位控制方法及卷绕装置。

背景技术

为了提高电极组件的能量密度，通常将电极组件的尺寸做的相对较大。对于卷绕式的电极组件而言，则需要增加极片卷绕的圈数，从而提高卷绕式电极组件的能量密度。

通常，极片上未涂覆活性物质浆料的部分经过切制形成极耳，在极片的卷绕过程中，各极耳层叠在一起。然而，当极片的卷绕圈数增多时，极耳层叠时就会出现明显的错位现象。

发明内容

本申请提供了一种极耳错位控制方法及卷绕装置，能够改善卷绕过程中极耳的错位现象。

本申请的第一方面提供了一种极耳错位控制方法，包括：

步骤S20，获取卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，所述T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻；

步骤S40，判断所述第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，如果是，重复步骤S20，反之，进入步骤S60；

步骤S60，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度；

和/或

步骤S20’，获取卷针从第二计时零点到T₂时刻所转过的第二角度值θ₂，所述T₂时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻；

步骤S40’，判断所述第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂，如果是，重复步骤S20’，反之，进入步骤S60’；

步骤S60’，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度。

可选地，在所述步骤S40之后还包括：

步骤S42，判断所述第一角度值θ₁是否小于第一预设值θ₀₁，如果是，进入步骤S44，反之，进入步骤S46；

步骤S44，减小所述涂层的厚度；

步骤S46，增大所述涂层的厚度；

和/或

在所述步骤S40’之后还包括：

步骤S42’，判断所述第二角度值θ₂是否小于第二预设值θ₀₂，如果是，进入步骤S44’，反之，进入步骤S46’；

步骤S44’，减小所述涂层的厚度；

步骤S46’，增大所述涂层的厚度。

可选地，在所述步骤S60和/或步骤S60’中，涂层喷涂在电极组件的隔离膜上，所述调节喷涂于电极组件的涂层的厚度具体为调节喷涂于隔离膜上的涂层的厚度。

本申请的第二方面提供了一种卷绕装置，该卷绕装置采用上述任一项所述的极耳错位控制方法加工电极组件，包括：

第一检测部，用于检测即将卷绕于卷针上的第一极耳；

第一处理部，用于获取卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，以及用于判断所述第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，所述T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻；

第一喷涂部，用于向电极组件喷涂涂层；以及

第一控制部，用于控制所述第一喷涂部的喷涂量，以调节涂层的厚度，

其中，所述第一处理部、所述第一检测部、所述第一喷涂部以及所述第一控制部通信连接，

和/或

第二检测部，用于检测即将卷绕于卷针上的第二极耳；

第二处理部，用于获取卷针从第二计时零点到T₂时刻所转过的第二角度值θ₂，以及用于判断所述第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂，所述T₂时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻；

第二喷涂部，用于向电极组件喷涂涂层；以及

第二控制部，用于控制所述第二喷涂部的喷涂量，以调节涂层的厚度，

其中，所述第二处理部、所述第二检测部、所述第二喷涂部以及所述第二控制部通信连接。

可选地，还包括：

第一判断部，用于判断所述第一角度值θ₁是否小于所述第一预设值θ₀₁，所述第一判断部与所述第一控制部通信连接，

当所述第一角度值θ₁小于所述第一预设值θ₀₁时，所述第一控制部控制所述第一喷涂部减小喷涂量；当所述第一角度值θ₁大于所述第一预设值θ₀₁时，所述第一控制部控制所述第一喷涂部增大喷涂量。

可选地，还包括：

第二判断部，用于判断所述第二角度值θ₂是否小于所述第二预设值θ₀₂，所述第二判断部与所述第二控制部通信连接，

当所述第二角度值θ₂小于所述第二预设值θ₀₂时，所述第二控制部控制所述第二喷涂部减小喷涂量；当所述第二角度值θ₂大于所述第二预设值θ₀₂时，所述第二控制部控制所述第二喷涂部增大喷涂量。

可选地，所述第一喷涂部与所述第二喷涂部共用同一个喷涂机构。

可选地，所述第一喷涂部和所述第一检测部沿第一极片的延伸方向排布，且所述第一喷涂部比所述第一检测部更靠近卷针，

和/或

所述第二喷涂部和所述第二检测部沿第二极片的延伸方向排布，且所述第二喷涂部比所述第二检测部更靠近卷针。

可选地，还包括第一张力调节部，所述第一张力调节部用于调节第一极片的张力，

和/或

还包括第二张力调节部，所述第二张力调节部用于调节第二极片的张力。

可选地，所述第一检测部与所述第二检测部中的至少一者包括光电传感器。

本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果：

本申请提供了一种极耳错位控制方法，以第一极耳为例，该方法通过获取到的卷针转过的第一角度值θ₁，并将第一角度值θ₁与第一预设值θ₀₁比较来判断第一极耳是否存在错位现象，如果第一角度值θ₁与第一预设值比较θ₀₁相等，则说明即将卷绕于卷针的第一极耳未出现错位现象，如果第一角度值θ₁与第一预设值比较θ₀₁存在差值，则说明第一极耳存在错位现象，此时，通过控制喷涂在电极组件的涂层的厚度，以调节卷针转过相同角度时第一极片卷绕于卷针的长度不同，从而使得第一极耳的位置向预想的方向产生偏移，进而使得第一极耳的错位得到纠正。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。

附图说明

图1为本申请实施例提供的第一极耳错位控制方法的第一实施例的流程图；

图2为本申请实施例提供的第一极耳错位控制方法的第二实施例的流程图；

图3为本申请实施例提供的第二极耳错位控制方法的一个实施例的流程图；

图4为本申请实施例提供的第一极耳和第二极耳错位控制方法的一个实施例的流程图；

图5为本申请实施例提供的卷绕装置的示意图。

附图标记：

1-卷绕装置；

102-第一检测部；

104-第一喷涂部；

106-卷针；

108-第二检测部；

110-第一张力调节部；

110a-张紧辊；

112-第二张力调节部；

114-第一隔离膜张力调节部；

116-第二隔离膜张力调节部；

202-第一极片；

204-第二极片；

206-第一隔离膜；

208-第二隔离膜。

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

具体实施方式

下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。

如图1所示，本申请提供了一种极耳错位控制方法，该极耳错位控制方法用于缓解极耳错位现象的发生，确保层叠后的极耳相对集中、整齐。

以第一极耳为例，该控制方法具体包括：

步骤S20，获取卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，其中，T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻。

通常情况下，第一极耳通过模切的方式形成在第一极片上，卷针每转动一周，相应长度的第一极片则被卷绕在了卷针上，该相应长度的第一极片可以包括一个第一极耳，也可以包括两个第一极耳，卷绕后，各第一极耳叠置。

容易理解的，在卷针卷绕的过程中，由于卷针每转动一周，相应长度的一段第一极片被卷绕在了卷针上，因此，对于即将被卷绕的下一段第一极片而言，其能够在卷针上卷绕一周的长度也在逐渐增加。

第一计时零点可以是卷针开始转动一周的行程的起始点处，也可以是其它位置处，针对第一计时零点的设置时刻的不同，只需改变第一预设值θ₀₁即可，当第一角度值θ₁被获取，即可进入步骤S40。

步骤S40为判断步骤，这里判断的依据主要基于所获取的第一角度值θ₁，具体为，判断第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，如果是，重复步骤S20，反之，进入步骤S60。也就是说，如果第一角度值θ₁等于第一预设值θ₀₁，则说明该第一极耳卷绕于卷针后不会出现错位现象，或者说，第一极耳的错位量在偏差允许的范围内，因而，无需对该第一极耳的位置进行调节，在此情况下，可以重复执行步骤S20，卷针继续下一周的卷绕，并获取下一个第一角度值θ₁。这里需要强调的是，“判断第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁”并不是严格意义上的相同，而是在一个允许的范围内，两者就可以被认为是相等的。

反之，如果不满足上述条件，则进入步骤S60，在步骤S60中，改变喷涂于电极组件的涂层的厚度，此处所指的电极组件是指还在卷绕过程中未卷绕完成的电极组件。

根据以上的描述可知，通过比较第一角度值θ₁与第一预设值θ₀₁的大小，即可判断第一极耳是否存在错位现象，并通过调节喷涂在电极组件上的涂层的厚度，使得卷针转过相同角度时第一极片卷绕于卷针的长度不同，涂层的厚度越大，卷绕于卷针一周时需要的第一极片的长度越长，反之，则卷绕于卷针一周时需要的第一极片的长度越短，从而使得第一极片在输送过程中产生向预想的方向的偏移，该偏移会带动第一极耳产生偏移，进而使得第一极耳的错位现象得到有效控制。

且容易理解的，卷针每卷绕一周，都会执行步骤S20～步骤S60的操作，从而使得第一极片上的每一个第一极耳的错位都得到了控制，提高了电极组件的良品率。

如图2所示，为了确保第一极耳的偏移方向为预想方向，在步骤S40之后还进一步加入判断步骤S42，在步骤S42中，判断第一角度值θ₁是否小于第一预设值θ₀₁，如果是，进入步骤S44，反之，进入步骤S46。

具体的，如果第一角度值θ₁小于第一预设值θ₀₁，则说明第一极耳的位置较预设位置靠前，此时，应执行步骤S44，减小电极组件的涂层的厚度，这样就可以缩短第一极片卷绕于卷针的长度，使得第一极片向后偏移，以纠正第一极耳的错位量。

反之，如果第一角度值θ₁大于第一预设值θ₀₁，则说明第一极耳的位置较预设位置靠后，此时，应执行步骤S46，增大电极组件的涂层的厚度，这样就可以增加第一极片卷绕于卷针的长度，使得第一极片向前偏移，以纠正第一极耳的错位量。

对于电极组件而言，其包括依次叠置的第一极片、第一隔离膜、第二极片以及第二隔离膜，其中，第一极片和第二极片均涂覆有活性物质，该活性物质用于与电解液反应，为了避免涂层对活性物质的性能造成不良影响，更优的方式是将涂层喷涂在第一隔离膜或第二隔离膜上，因此，在步骤S60中，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度实际上具体为调节喷涂于电极组件中的隔离膜上的涂层的厚度。

以上仅针对第一极耳的错位控制方法进行了说明，可选择地，还可以对第二极耳的错位进行控制，第二极耳的错位控制方法可以与第一极耳的错位控制方法相同，也可以不同。

本实施例中，第二极耳的错位控制方法与前述中第一极耳的错位控制方法相同，此处不再赘述，并且，适应于第一极耳的错位控制方法的其它实施例同样适应于对第二极耳的错位控制。第二极耳的错位控制方法流程图可参见图3。

在另外一种实施例中，还可以同时对第一极耳和第二极耳的错位进行控制，由于本领域技术人员在阅读前述内容后，很清楚的知道如何将第一极耳的错位控制方法和第二极耳的错位控制方法结合，以实现同时对第一极耳和第二极耳的错位控制，此处不再赘述，具体的错位控制方法的流程图可参见图4。

基于上述的极耳错位控制方法，本申请还提供了一种卷绕装置1，该卷绕装置采用上述任一实施例中的极耳错位控制方法加工电极组件。

如图5所示，该卷绕装置1包括卷针106，卷针106用于卷绕第一极片202、第二极片204以及第一隔离膜206和第二隔离膜208。

为了对极耳进行纠偏，该卷绕装置1还包括第一检测部102，其用于检测即将卷绕于卷针106上的第一极耳；

第一处理部(附图中未示出)，其用于获取卷针106从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针106的第一极耳的这一时刻，以及用于判断第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁；第一喷涂部104，其用于向电极组件喷涂涂层；第一控制部(附图中未示出)，其用于控制第一喷涂部104的喷涂量，以调节涂层的厚度。

其中，第一处理部、第一检测部102、第一喷涂部104以及第一控制部通信连接。

当第一检测部102检测到第一极耳时，第一检测部102向第一处理部发出电信号，第一处理部接收到该电信号后，同时获取第一计时零点到T₁时刻这一时段内卷针106转动的第一角度值θ₁，并将第一角度值θ₁与第一预设值θ₀₁比较，判断第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，然后将判断结果输送至第一控制部，由第一控制部控制第一喷涂部104的喷涂量，以调节涂层的厚度。

具体的，当第一角度值θ₁等于第一预设值θ₀₁时，第一控制部控制第一检测部102继续对下一个即将卷绕在卷针106上的第一极耳进行检测，并按既定步骤循环。

反之，当第一角度值θ₁与第一预设值θ₀₁不相等时，由第一控制部控制第一喷涂部104的喷涂量，从而调节喷涂于电极组件的涂层的厚度，涂层的厚度的增大或减小会改变卷绕于卷针106上的第一极片202的长度，从而调节第一极耳卷绕在卷针106上的位置，以纠正第一极耳的错位。

该卷绕装置1中，第一处理部、第一检测部102、第一喷涂部104以及第一控制部的通信连接，并采用前述中的极耳错位控制方法，实现了对第一极耳错位现象的有效控制。其中，第一处理部、第一检测部102以及第一控制部可以集成设置。

进一步，该卷绕装置1还包括第一判断部(附图中未示出)，第一判断部用于判断第一角度值θ₁是否小于第一预设值θ₀₁，第一判断部与第一控制部通信连接，当判断结果为第一角度值θ₁小于第一预设值θ₀₁时，第一控制部控制第一喷涂部104减小喷涂量，以减小涂层的厚度，反之，增大喷涂量，增大涂层的厚度。

第一判断部的设置可以精确获取第一角度值θ₁与第一预设值θ₀₁的差值，进而对第一极耳的错位实现精确控制。

第一判断部与第一检测部102、第一处理部以及第一控制部也可以集成设置。

在图5所示的实施例中，第一检测部102、第一喷涂部104沿第一极片21的延伸方向排布，优选的实施例中，可以设置第一喷涂部104比第一检测部102更靠近卷针106，这样设置的好处在于，当第一处理部获取到第一角度值θ₁并将其与第一预设值θ₀₁比较后，第一控制部根据比较结果控制第一喷涂部104的喷涂量，此时，如果将第一喷涂部104设置在距离卷针106相对较近的位置，则第一喷涂部104喷涂的位置则更加靠近卷针106，对即将卷绕在卷针106上的第一极耳的错位现象就可以得到及时有效的调节，相比将第一喷涂部104设置在第一检测部102的后方，调节效果更加，则卷绕后第一极耳错位的风险显著降低。

请继续参考图5，卷绕装置1还可以包括第二检测部108，其用于检测即将卷绕于卷针106上的第二极耳；第二处理部(图中未示出)，用于获取卷针106从第二计时零点到T₂时刻所转过的第二角度值θ₂，T₂时刻为检测到即将卷绕于卷针106的第二极耳的这一时刻，以及用于判断第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂；第二喷涂部(图中未示出)，其用于向电极组件喷涂涂层；第二控制部(附图中未示出)，其用于控制第二喷涂部的喷涂量，以调节涂层的厚度。

其中，第二处理部、第二检测部108、第二喷涂部以及第二控制部通信连接。

当第二检测部108检测到第二极耳时，第二检测部108向第二处理部发出电信号，第二处理部接收到该电信号后，同时获取第二计时零点到T₂时刻这一时段内卷针106转动的第二角度值θ₂，并将第二角度值θ₂与第二预设值θ₀₂比较，判断第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂，将比较结果输送至第二控制部，由第二控制部控制第二喷涂部的喷涂量，以调节涂层的厚度。

具体为，当第二角度值θ₂等于第二预设值θ₀₂时，第二控制部控制第二检测部108继续对下一个即将卷绕在卷针106上的第二极耳进行检测，并按既定步骤循环。

反之，当第二角度值θ₂与第二预设值θ₀₂不相等时，第二控制部控制第二喷涂部动作，以调节涂层的厚度，纠正错位。

该卷绕装置1通过第二处理部、第二检测部108、第二喷涂部以及第一控制部的通信连接，并采用前述中的极耳错位控制方法，实现了对第二极耳错位现象的有效控制。

进一步，卷绕装置1还可以包括第二判断部(附图中未示出)，第二判断部用于判断第二角度值θ₂是否小于第二预设值θ₀₂，第二判断部与第二控制部通信连接，当判断结果为第二角度值θ₂小于第二预设值θ₀₂时，第二控制部控制第二喷涂部减小喷涂量，反之，增大喷涂量。

第二判断部可以精确获取第二角度值θ₂与第二预设值θ₀₂的差值，以便于对第二极耳的错位实现精确控制。

此外，为了减小卷绕装置1的体积，本申请设置第一喷涂部104与第二喷涂部共用一个喷涂机构，也就是说，第一控制部和第二控制部均与此喷涂机构通信连接，当第一极耳和第二极耳中的一者出现错位时，均可以通过该喷涂机构向电极组件喷涂涂层。本实施例中，仅设置第一喷涂部104，省略第二喷涂部的设置。

卷绕装置1还包括用于调节第一极片202的张力的第一张力调节部110以及用于调节第二极片204的张力第二张力调节部112，第一张力调节部110和第二张力调节部112可以分别向第一极片202和第二极片204施加与极片的延伸方向相同的作用力，以此避免第一极片202和第二极片204在卷绕过程中出现褶皱等缺陷。

一种实施例，以第一张力调节部110为例，第一张力调节部110包括多个张紧辊110a，第一极片202包绕在各张紧辊110a上，分别位于各张紧辊110a两侧的第一极片202的输送方向不同，当第一极片202的张力出现波动时，可以通过调节各张紧辊110a的位置增大或减小张力，缓解波动。

第二张力调节部112与第一张力调节部110的结构相同，此处不再赘述。

相应的，为了调节第一隔离膜206以及第二隔离膜208的张力，卷绕装置1还可以包括第一隔离膜张力调节部114以及第二隔离膜张力调节部116，第一隔离膜张力调节部114用于调节第一隔离膜206的张力，第二隔离膜张力调节部116用于调节第二隔离膜208的张力。

第一隔离膜张力调节部114以及第二隔离膜张力调节部116采用与第一张力调节部110相同的结构，此处不再赘述。

本申请中，第一检测部102和第二检测部108中的至少一者采用光电传感器，以第一检测部102为例，当第一极耳阻挡使得光电传感器的光信号无法传递时，光电传感器感应到第一极耳，并将电信号传递至第一处理部，光电传感器结构简单，实现方便。

此外，第一控制部和第二控制部可以均采用PLC处理单元，当然，第一控制部和第二控制部可以共用一个PLC处理单元。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种极耳错位控制方法，其特征在于，包括：

步骤S20，获取卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，所述T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻；

步骤S40，判断所述第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，所述第一预设值θ₀₁根据所述第一计时零点设置，如果是，重复步骤S20，反之，进入步骤S60；

步骤S60，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度；

和/或

步骤S20’，获取卷针从第二计时零点到T₂时刻所转过的第二角度值θ₂，所述T₂时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻；

步骤S40’，判断所述第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂，所述第二预设值θ₀₂根据所述第二计时零点设置，如果是，重复步骤S20’，反之，进入步骤S60’；

步骤S60’，调节喷涂于电极组件的涂层的厚度。

2.根据权利要求1所述的极耳错位控制方法，其特征在于，

在所述步骤S40之后还包括：

步骤S42，判断所述第一角度值θ₁是否小于第一预设值θ₀₁，如果是，进入步骤S44，反之，进入步骤S46；

步骤S44，减小所述涂层的厚度；

步骤S46，增大所述涂层的厚度；

和/或

在所述步骤S40’之后还包括：

步骤S42’，判断所述第二角度值θ₂是否小于第二预设值θ₀₂，如果是，进入步骤S44’，反之，进入步骤S46’；

步骤S44’，减小所述涂层的厚度；

步骤S46’，增大所述涂层的厚度。

3.根据权利要求1所述的极耳错位控制方法，其特征在于，在所述步骤S60和/或步骤S60’中，所述涂层喷涂在电极组件的隔离膜上，所述调节喷涂于电极组件的涂层的厚度具体为调节喷涂于隔离膜上的涂层的厚度。

4.一种卷绕装置，该卷绕装置采用如权利要求1-3任一项所述的极耳错位控制方法加工电极组件，其特征在于，包括：

第一检测部，用于检测即将卷绕于卷针上的第一极耳；

第一处理部，用于获取所述卷针从第一计时零点到T₁时刻所转过的第一角度值θ₁，以及用于判断所述第一角度值θ₁是否等于第一预设值θ₀₁，所述T₁时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻；

第一喷涂部，用于向电极组件喷涂涂层；以及

第一控制部，用于控制所述第一喷涂部的喷涂量，以调节所述涂层的厚度，

其中，所述第一处理部、所述第一检测部、所述第一喷涂部以及所述第一控制部通信连接，

和/或

第二检测部，用于检测即将所述卷绕于卷针上的第二极耳；

第二处理部，用于获取所述卷针从第二计时零点到T₂时刻所转过的第二角度值θ₂，以及用于判断所述第二角度值θ₂是否等于第二预设值θ₀₂，所述T₂时刻为检测到即将卷绕于所述卷针的第二极耳的这一时刻；

第二喷涂部，用于向电极组件喷涂涂层；以及

第二控制部，用于控制所述第二喷涂部的喷涂量，以调节所述涂层的厚度，

其中，所述第二处理部、所述第二检测部、所述第二喷涂部以及所述第二控制部通信连接。

5.根据权利要求4所述的卷绕装置，其特征在于，还包括：

第一判断部，用于判断所述第一角度值θ₁是否小于所述第一预设值θ₀₁，所述第一判断部与所述第一控制部通信连接，

当所述第一角度值θ₁小于所述第一预设值θ₀₁时，所述第一控制部控制所述第一喷涂部减小喷涂量；当所述第一角度值θ₁大于所述第一预设值θ₀₁时，所述第一控制部控制所述第一喷涂部增大喷涂量。

6.根据权利要求4所述的卷绕装置，其特征在于，还包括：

第二判断部，用于判断所述第二角度值θ₂是否小于所述第二预设值θ₀₂，所述第二判断部与所述第二控制部通信连接，

当所述第二角度值θ₂小于所述第二预设值θ₀₂时，所述第二控制部控制所述第二喷涂部减小喷涂量；当所述第二角度值θ₂大于所述第二预设值θ₀₂时，所述第二控制部控制所述第二喷涂部增大喷涂量。

7.根据权利要求4所述的卷绕装置，其特征在于，所述第一喷涂部与所述第二喷涂部共用同一个喷涂机构。

8.根据权利要求4所述的卷绕装置，其特征在于，所述第一喷涂部和所述第一检测部沿第一极片的延伸方向排布，且所述第一喷涂部比所述第一检测部更靠近所述卷针，

和/或

所述第二喷涂部和所述第二检测部沿第二极片的延伸方向排布，且所述第二喷涂部比所述第二检测部更靠近所述卷针。

9.根据权利要求4-8任一项所述的卷绕装置，其特征在于，还包括第一张力调节部，所述第一张力调节部用于调节第一极片的张力，

和/或

还包括第二张力调节部，所述第二张力调节部用于调节第二极片的张力。

10.根据权利要求4-8任一项所述的卷绕装置，其特征在于，所述第一检测部与所述第二检测部中的至少一者包括光电传感器。

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