CN113256871A - 介质检测方法、装置、电子设备和存储介质 - Google Patents

介质检测方法、装置、电子设备和存储介质 Download PDF

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CN113256871A CN202110154806.6A CN202110154806A CN113256871A CN 113256871 A CN113256871 A CN 113256871A CN 202110154806 A CN202110154806 A CN 202110154806A CN 113256871 A CN113256871 A CN 113256871A
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Shenzhen Yihua Computer Co Ltd
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Abstract

本发明实施例提供了一种介质检测方法、装置、电子设备和存储介质,方法包括:确定介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式,依据处理方式处理检测信号。本发明实施例中,根据介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,确定对检测信号的处理方式,并依据该处理方式处理检测信号,无需为了得到其介质种类对应的阈值对检测信号进行处理,而对介质提前检测,只需根据介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,对在第二传感器在不同位置关系下的检测出的介质孔洞信号进行相应的处理,消除因介质孔洞异常触发产生的干扰信号,简化了介质检测步骤,提高了处理效率。

Description

介质检测方法、装置、电子设备和存储介质
技术领域
本发明涉及介质处理技术领域,特别是涉及一种介质检测方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
现有的薄片类介质处理装置在处理薄片类介质时,如果薄片类介质存在孔洞、残缺等质量问题,会导致对薄片类介质计数不准确或者出现错误报警,使得薄片类介质处理装置无法正常运行。
以现金自动存取款一体机为例,在顾客存入纸币的过程中,会对纸币进行检测,对检测出为不应交易的纸币退还给客户,对于检测为正常的纸币,在确定顾客存入的金额后,进行第二次检测,然后保存于钞箱中。
目前,存取款过程中纸币的计数都是通过各模块内的传感器来完成的,在第二次检测中,是通过比较阈值将传感器检测纸币孔洞产生的干扰信号无效掉,然而,其用作比较的阈值,需要提前判断纸币的具体种类来确定,因此纸币需要通过多个传感器来识别纸币的具体种类,但是纸币通过多个传感器过程繁琐,导致处理效率低。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种介质检测方法和相应的一种介质处理装置、电子设备、存储介质。
为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种介质检测方法,应用于介质处理装置,所述介质处理装置包括第一传感器和第二传感器,所述第一传感器和所述第二传感器的距离小于所述介质的宽度,所述方法包括:
确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系;
确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式;
依据所述处理方式处理所述检测信号。
可选的,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式,包括:
当所述介质同时通过所述第一传感器和所述第二传感器时,消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
可选的,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式,包括:
当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
可选的,所述当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号,包括:
确定所述检测信号的所述低电平信号持续的第一时间;
判断所述第一时间是否小于所述预设阈值;
若所述第一时间小于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
可选的,在所述判断所述第一时间是否小于预设阈值之后,还包括:
若所述第一时间大于或等于所述预设阈值,确定所述检测信号中所述低电平信号之后的所述高电平信号持续的第二时间;
判断所述第二时间是否小于或等于所述预设阈值;
若所述第二时间小于或等于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
可选的,还包括:
确定所述介质进入所述第一传感器至进入所述第二传感器花费的第三时间;
根据所述第三时间计算得到所述预设阈值。
可选的,所述介质处理装置包括计数器,在所述依据所述处理方式处理所述检测信号之后,还包括:
控制所述计数器,按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
本发明实施例公开了一种介质处理装置实施例的结构框图,包括第一传感器和第二传感器,所述第一传感器和所述第二传感器的距离小于所述介质的宽度,具体可以包括如下模块:
位置关系确定模块,用于确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系;
处理方式确定模块,用于确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式;
检测信号处理模块,用于依据所述处理方式处理所述检测信号。
可选的,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述处理方式确定模块,包括:
第一信号消除子模块,用于当所述介质同时通过所述第一传感器和所述第二传感器时,消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
可选的,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述处理方式确定模块,包括:
第二信号消除子模块,用于当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
可选的,所述第二信号消除子模块,包括:
第一时间确定单元,用于确定所述检测信号的所述低电平信号持续的第一时间;
第一时间比较单元,用于判断所述第一时间是否小于所述预设阈值;
第一信号消除单元,用于若所述第一时间小于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
可选的,在所述第一时间比较单元之后,还包括:
第二时间确定单元,用于若所述第一时间大于或等于所述预设阈值,确定所述检测信号中所述低电平信号之后的所述高电平信号持续的第二时间;
第二时间判断单元,用于判断所述第二时间是否小于或等于所述预设阈值;
第二信号消除单元,用于若所述第二时间小于或等于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
可选的,所述装置还包括:
第三时间确定模块,用于确定所述介质进入所述第一传感器至进入所述第二传感器花费的第三时间;
预设阈值计算模块,用于根据所述第三时间计算得到所述预设阈值。
可选的,所述介质处理装置包括计数器,在所述检测信号处理模块903之后,还包括:
介质计数模块,用于控制所述计数器,按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
本发明实施例公开了一种电子设备,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的介质检测方法的步骤。
本发明实施例公开了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的介质检测方法的步骤。
本发明实施例包括以下优点:
在本发明实施例中,确定介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式,依据处理方式处理检测信号。本发明实施例中,通过介质与第一传感器和第二传感器不同的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式,并依据该处理方式处理检测信号,无需为了得到其介质种类对应的阈值对检测信号进行处理,而对介质提前检测,只需根据介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,对在第二传感器在不同位置关系下的检测出的介质孔洞信号进行相应的处理,消除因介质孔洞异常触发产生的干扰信号,简化了介质检测步骤,提高了处理效率。
附图说明
图1是本发明的一种介质检测方法实施例一的步骤流程图;
图2是本发明的一种介质检测方法实施例二步骤流程图;
图3是本发明的一种传感器检测信号示意图;
图4是本发明的一种纸币进入第二传感器示意图;
图5是本发明的一种纸币离开第一传感器示意图;
图6是本发明的一种纸币后半段存在孔洞一示意图;
图7是本发明的一种纸币后半段存在孔洞二示意图;
图8是本发明的另一种介质处理装置实施例三的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
参照图1,示出了本发明的一种介质检测方法实施例一的步骤流程图,本发明实施例具体可以包括如下步骤:
步骤101,确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系。
其中,介质为薄片类介质,包括纸币、卡片以及发票等;
介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机等,介质处理装置包括第一传感器和第二传感器,第一传感器与第二传感器为光电对射传感器,可以检测出通道中是否存在介质遮挡,第一传感器和第二传感器的距离小于介质的宽度,在介质排出过程中(例如出钞过程),介质先通过第一传感器,然后在通过第二传感器,而介质进入过程(例如进钞过程),是先通过第二传感器再通过第一传感器,本发明实施例以介质排出过程为例。
具体地,在介质排出过程中,介质会在介质处理装置中先通过第一传感器,然后紧接着通过第二传感器,介质与第一传感器和第二传感器的位置关系包括介质仅通过第一传感器、介质同时通过第一传感器和第二传感器,以及介质仅通过第二传感器三种,确定不同时刻,介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系。
步骤102,确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式。
其中,第二传感器在检测介质的过程中,会因介质孔洞或其他因素导致检测介质生成的检测信号存在干扰信号,所以需要对生成的检测信号进行处理,消除干扰信号,而介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系不同,对检测信号的处理方式也不同。
具体地,在确定介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系后,根据介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式。
步骤103,依据所述处理方式处理所述检测信号。
具体地,在根据介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式后,根据该位置关系对应的处理方式,对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号进行处理,消除检测信号中的干扰信号。
在本发明实施例中,确定介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式,依据处理方式处理检测信号。本发明实施例中,通过介质与第一传感器和第二传感器不同的位置关系,确定对第二传感器在位置关系下检测介质时产生的检测信号的处理方式,并依据该处理方式处理检测信号,无需为了得到其介质种类对应的阈值对检测信号进行处理,而对介质提前检测,只需根据介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,对在第二传感器在不同位置关系下的检测出的介质孔洞信号进行相应的处理,消除因介质孔洞异常触发产生的干扰信号,简化了介质检测步骤,提高了处理效率。
参照图2,示出了本发明的一种介质检测方法实施例二的步骤流程图,本发明实施例具体可以包括如下步骤:
步骤201,确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系。
具体地,在介质出钞过程中,介质会在介质处理装置中先通过第一传感器,然后紧接着通过第二传感器,介质与第一传感器和第二传感器的位置关系包括介质仅通过第一传感器、介质同时通过第一传感器和第二传感器,以及介质仅通过第二传感器三种,确定不同时刻,介质与第一传感器和第二传感器对应的位置关系。
步骤202,当所述介质同时通过所述第一传感器和所述第二传感器时,消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
其中,当介质同时通过第一传感器和第二传感器时,即为介质通过第一传感器,刚进入第二传感器直至介质离开第一传感器的过程;
参照图3,为本发明的一种传感器检测信号示意图,如图可知,在介质离开第一传感器或第二传感器时,第二传感检测到存在介质遮挡变为无介质遮挡,触发一个下降沿,将高电平信号转变为低电平信号,在介质进入第一传感器或第二传感器时,第二传感器检测到无介质遮挡变为有介质遮挡,触发一个上升沿,将低电平信号转变为高电平信号,所以检测信号包括高电平信号和低电平信号,高电平信号用于表征第二传感器有介质遮挡,低电平信号用于表征第二传感器无介质遮挡。
具体地,在介质通过第一传感器,刚进入第二传感器直至介质离开第一传感器的过程中,由于通过第二传感器的介质宽度与通过第一传感器的介质宽度相同,说明在该过程,第二传感器不可能检测到介质进入/离开的触发信号形成的低电平信号,所以在这个过程中,直接消除检测信号中的低电平信号。
本发明实施例中,根据介质和第一传感器与第二传感器的位置关系,即在当介质同时通过第一传感器和第二传感器时,直接消除第二传感器检测到的检测信号中的低电平信号,无需根据阈值与低电平信号的持续时间进行比较,简化了介质检测步骤,提高了处理效率,同时确保了该过程中第二传感器检测到通过的一部分介质的检测信号的可靠性和准确性,进而保证计数的可靠性与准确性。
步骤203,当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
其中,当介质仅通过所述第二传感器时,即为介质刚离开第一传感器直至离开第二传感器的过程。
具体地,在介质刚离开第一传感器直至离开第二传感器的过程中,依据预设阈值消除第二传感器检测介质时产生的检测信号的低电平信号。
本发明实施例中,根据介质和第一传感器与第二传感器的位置关系,将介质分割为两部分,先通过第二传感器的部分直接消除检测信号的低电平信号(干扰信号),后通过第二传感器的介质部分,将检测信号中的低电平信号与预设阈值比较,判断出其为干扰信号,则将其消除掉,从而确保了检测信号的有效性,使根据第二传感器检测计数的方案更加完善,保证交易过程计数的可靠性。
在本发明一实施例中,所述步骤203,包括:确定所述检测信号的所述低电平信号持续的第一时间;判断所述第一时间是否小于所述预设阈值;若所述第一时间小于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
具体地,确定检测信号中处于无介质遮挡的低电平信号的持续时间,即第一时间,将第一时间与预设阈值进行比较,判断第一时间是否小于预设阈值后,若第一时间小于预设阈值,表明该低电平信号为第二传感器检测孔洞产生,消除检测信号中的该低电平信号,消除由于孔洞导致的干扰信号。
在本发明一实施例中,在所述判断所述第一时间是否小于预设阈值之后,还包括:若所述第一时间大于或等于所述预设阈值,确定所述检测信号中所述低电平信号之后的所述高电平信号持续的第二时间;判断所述第二时间是否小于或等于所述预设阈值;若所述第二时间小于或等于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
具体地,在将第一时间与预设阈值进行比较,判断第一时间是否小于预设阈值后,且第一时间大于或等于预设阈值时,则确定检测信号中低电平信号之后的高电平信号即存在介质遮挡持续的第二时间,并判断第二时间是否小于或等于预设阈值,若第二时间小于或等于预设阈值,消除检测信号中的该低电平信号,消除由于孔洞导致的干扰信号;若第二时间大于预设阈值时,则对检测信号中的低电平信号进行保留。
在本发明一实施例中,还包括:确定所述介质进入所述第一传感器至进入所述第二传感器花费的第三时间;根据所述第三时间计算得到所述预设阈值。
具体地,确定介质刚进入第一传感器至进入第二传感器的过程中所花费的第三时间,将第三时间的二分之一作为预设阈值,其中第三时间即为走钞通道通过第一传感器与第二传感器之间的距离的时间,例如,第一传感器与第二传感器之间的距离为Nmm(N要小于介质的宽度),取第一传感器与第二传感器之间的距离的一半N/2mm通过走钞通道花费的时间作为预设阈值。
在本发明实施例中,根据第一传感器与第二传感器之间的距离确定固定的预设阈值,无需为了得到其介质种类对应的阈值对检测信号进行处理,而对介质提前检测,简化了介质检测步骤,提高了处理效率。
步骤204,依据所述处理方式处理所述检测信号。
在本发明一实施例中,所述介质处理装置包括计数器,在所述依据所述处理方式处理所述检测信号之后,还包括:
控制所述计数器,按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
具体地,在依据介质和第一传感器与第二传感器的位置关系对应的处理方式对第二传感器检测到的检测信号进行处理后,通过控制介质处理装置中计数器,按照处理后的检测信号对介质进行计数,例如检测信号中存在一段高电平信号则确定为一张介质通过。
需要说明的是,本发明实施例中是以出钞过程为示例,在进钞时,消除方法刚好相反但原理一样,介质先通过第二传感器再通过第一传感器。
在本发明实施例中,确定介质与第一传感器和第二传感器的位置关系,当介质同时通过第一传感器和第二传感器时,消除第二传感器检测介质时产生的检测信号的低电平信号,当介质仅通过第二传感器时,依据预设阈值消除第二传感器检测介质时产生的检测信号的低电平信号,依据处理方式处理检测信号。本发明实施例中,根据介质和第一传感器与第二传感器的位置关系,即在当介质同时通过第一传感器和第二传感器时,直接消除第二传感器检测到的检测信号中的低电平信号,无需根据阈值与低电平信号的持续时间进行比较,简化了介质检测步骤,提高了处理效率,同时确保了该过程中第二传感器检测到通过的一部分介质的检测信号的可靠性和准确性,进而保证计数的可靠性与准确性。
本发明实施例中,根据介质和第一传感器与第二传感器的位置关系,将介质分割为两部分,先通过第二传感器的部分直接消除检测信号的低电平信号(干扰信号),后通过第二传感器的部分,将检测信号中的低电平信号与预设阈值比较,判断其为干扰信号,则将其消除掉,从而确保了检测信号的有效性,使根据第二传感器检测计数的方案更加完善,保证交易过程计数的可靠性。
在本发明实施例中,根据第一传感器与第二传感器之间的距离确定固定的预设阈值,无需为了得到其介质种类对应的阈值对检测信号进行处理,而对介质提前检测,简化了介质检测步骤,提高了处理效率。
为使本领域技术人员更好地理解本发明实施例,参照图4、5、6、7,以纸币通过钞箱作为一个示例,来进一步说明本发明实施例。
参照图4是本发明的一种纸币进入第二传感器示意图,如图可知,在钞箱结构示意图中,布置有一个第二传感器(交接传感器),两个第一传感器(分离传感器),第一传感器与第二传感器的距离设为Nmm,纸币取标准100元人民币的纸币宽度为77mm,在纸币出钞过程中,先通过第一传感器再通过第二传感器,图中为纸币通过第一传感器后刚接触第二传感器时刻,此时第一传感器与第二传感器之间的纸币段宽Nmm,余下的纸币尾部为(77-N)mm。
为了更好地理解,接下来将纸币检测分为两个过程:
过程1:在纸币刚进入第二传感器后,纸币尾巴(77-N)mm的长度后续陆续通过第一传感器,纸币通过第一传感器的同时,第二传感器也通过了同样宽度的纸币长度,即可以确定该过程不可能再有第二传感器进入/离开的触发,若有,说明必然存在孔洞需消除掉,不将该过程触发进入/离开交接节点的事件放至原定队列进行处理,从而达到纸币孔洞消除作用,不让孔洞引起的干扰信号打乱正常的控制分析过程,保证最终钞箱使用第二传感器计数的准确性。该过程确保了前(77-N)mm的纸币宽度部分的检测信号的可靠性,过程1结束后,参照图5是本发明的一种纸币离开第一传感器示意图,如图可知,此时纸币刚好离开第一传感器,有(77-N)mm纸币离开了第二传感器,在第一传感器与第二传感器之间依旧有Nmm的纸币宽度。
过程2:此时纸币尾部边界正完全离开第一传感器,还有Nmm宽度的纸币需通过第二传感器,若此时该段Nmm宽度的纸币存在孔洞,且孔洞宽度(第一时间)小于第一传感器与第二传感器距离的一半(预设阈值),符合消除条件可给予消除,可参照图6;若孔洞宽度(第一时间)大于或等于第一传感器与第二传感器距离的一半N/2mm(预设阈值),则判断那相应的没有孔洞那一段宽度(第二时间)小于第一传感器与第二传感器距离的一半(预设阈值),符合消除条件,可判定为孔洞给予消除,可参照图7。
当在进钞时,检测方法刚好相反但原理一样,先进行过程2再进行过程1。
综合过程1与过程2,采用传感器的分布特性将纸币分作两段对纸币进行了孔洞干扰信号的消除,保证了纸币通过第二传感器触发进入或离开信号的可靠性和有效性,最终保证计数的可靠性。
基于上述传感器布局结构,上面用了特定的币种进行证明。本发明实施例的纸币检测方法也适用于一般纸币情况,假设纸币宽度为X,当出钞时,基于上面过程1,(X-N)mm宽度的消除孔洞干扰;基于上面过程2,剩下的Nmm采用相同的方法,相同的预设阈值N/2mm对孔洞进行处理,确保检测信号的可靠性和有效性。
需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
参照图8,示出了本发明的一种介质处理装置实施例的结构框图,包括第一传感器和第二传感器,所述第一传感器和所述第二传感器的距离小于所述介质的宽度,具体可以包括如下模块:
位置关系确定模块801,用于确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系;
处理方式确定模块802,用于确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式;
检测信号处理模块803,用于依据所述处理方式处理所述检测信号。
在本发明一实施例中,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述处理方式确定模块802,包括:
第一信号消除子模块,用于当所述介质同时通过所述第一传感器和所述第二传感器时,消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
在本发明一实施例中,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述处理方式确定模块802,包括:
第二信号消除子模块,用于当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
在本发明一实施例中,所述第二信号消除子模块,包括:
第一时间确定单元,用于确定所述检测信号的所述低电平信号持续的第一时间;
第一时间比较单元,用于判断所述第一时间是否小于所述预设阈值;
第一信号消除单元,用于若所述第一时间小于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
在本发明一实施例中,在所述第一时间比较单元之后,还包括:
第二时间确定单元,用于若所述第一时间大于或等于所述预设阈值,确定所述检测信号中所述低电平信号之后的所述高电平信号持续的第二时间;
第二时间判断单元,用于判断所述第二时间是否小于或等于所述预设阈值;
第二信号消除单元,用于若所述第二时间小于或等于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
在本发明一实施例中,所述装置还包括:
第三时间确定模块,用于确定所述介质进入所述第一传感器至进入所述第二传感器花费的第三时间;
预设阈值计算模块,用于根据所述第三时间计算得到所述预设阈值。
在本发明一实施例中,所述介质处理装置包括计数器,在所述检测信号处理模块803之后,还包括:
介质计数模块,用于控制所述计数器,按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本发明实施例公开了一种电子设备,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上介质检测方法实施例所述的步骤。
本发明实施例公开了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上介质检测方法实施例所述的步骤。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种介质检测方法、一种介质处理装置、电子设备和存储介质,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种介质检测方法,其特征在于,应用于介质处理装置,所述介质处理装置包括第一传感器和第二传感器,所述第一传感器和所述第二传感器的距离小于所述介质的宽度,所述方法包括:
确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系;
确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式;
依据所述处理方式处理所述检测信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式,包括:
当所述介质同时通过所述第一传感器和所述第二传感器时,消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测信号包括高电平信号和低电平信号,所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡,所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡,所述确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式,包括:
当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述当所述介质仅通过所述第二传感器时,依据预设阈值消除所述第二传感器检测所述介质时产生的所述检测信号的所述低电平信号,包括:
确定所述检测信号的所述低电平信号持续的第一时间;
判断所述第一时间是否小于所述预设阈值;
若所述第一时间小于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述判断所述第一时间是否小于预设阈值之后,还包括:
若所述第一时间大于或等于所述预设阈值,确定所述检测信号中所述低电平信号之后的所述高电平信号持续的第二时间;
判断所述第二时间是否小于或等于所述预设阈值;
若所述第二时间小于或等于所述预设阈值,消除所述低电平信号。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
确定所述介质进入所述第一传感器至进入所述第二传感器花费的第三时间;
根据所述第三时间计算得到预设阈值。
7.根据权利要求1至6所述的方法,其特征在于,所述介质处理装置包括计数器,在所述依据所述处理方式处理所述检测信号之后,还包括:
控制所述计数器,按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
8.一种介质处理装置,其特征在于,包括第一传感器和第二传感器,所述第一传感器和所述第二传感器的距离小于所述介质的宽度,所述装置包括:
位置关系确定模块,用于确定所述介质与所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系;
处理方式确定模块,用于确定对所述第二传感器在所述位置关系下检测所述介质时产生的检测信号的处理方式;
检测信号处理模块,用于依据所述处理方式处理所述检测信号。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的介质检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的介质检测方法的步骤。
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