CN102910468A - 薄片类介质处理系统及其检测薄片类介质实时位置的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种薄片类介质处理系统及其检测薄片类介质实时位置的方法。该薄片类介质处理系统的介质传送通道内设置有多个检测位置，每一检测位置设置有一位置传感器，用以检测薄片类介质在该检测位置的到达与离开事件，其特征在于，沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有至少三个分散的检测点，每个检测点有独立的输出信号，且每个检测点配置有两个计时器，用以获得每个检测点输出信号的时间属性；其他检测位置设置的位置传感器均配置一个计时器，用以获得该普通位置传感器输出信号的时间属性。

Description

薄片类介质处理系统及其检测薄片类介质实时位置的方法

技术领域

本发明涉及薄片类介质的自动传送控制技术，特别涉及需要对薄片类介质进行连续分类并存储到预定位置的处理系统和监测薄片类介质实时位置的方法。

背景技术

一种对薄片类介质自动进行连续分类并存储到预定位置的处理系统，简称薄片类介质处理系统。为了描述方便，假设存在如下一个薄片类介质处理系统，它包括（a)一个内置的主控制器，用于对本系统各个组成部分实施自动控制；(b)具有分支的薄片类介质传送通道；(c)多个存储薄片类介质的场所（薄片类介质存储器）；(d)对薄片类介质进行分类的部件，例如钞票识别器；（e)多个传感器，用于检测薄片类介质的位置。（f）多个电动执行元件；(g)实现薄片类介质传送的结构组件。

此薄片类介质处理系统有如下特点：

（1）整个薄片类介质处理系统的体积受到严格的限制。

（2）被处理的薄片类介质形状是长方形的，薄片类介质是匀速运动的。

（3）由于传送通道的长度远大于薄片类介质的长度、并且薄片类介质处理系统可以连续处理薄片类介质，因此系统必须同时处理多个薄片类介质。

（4）对薄片类介质进行分类的部件具有自己独立的控制器，此控制器与主控制器之间布置了通信线路，用于将分类信息发送给主控制器。

（5）为了准确将薄片类介质传送到预定的薄片类介质存储器，主控制器必须要通过位置传感器准确了解薄片类介质在传送通道上的实时位置和薄片类介质存储器内的薄片类介质数量。

（6）实时性要求很高：典型情况下，系统每秒处理的薄片类介质张数在10张以上，同时由于系统体积限制，因此主控制器必须在非常短的时间内知道薄片类介质的确切位置。

（7）在传送通道上靠近薄片类介质存储器出入口处安装一个位置传感器，主控制器对进入、退出存储器的薄片类介质个数进行计数，并结合存储器内预先存储的薄片类介质个数，即可准确获得仓库内薄片类介质的个数。

位置传感器的工作原理

位置传感器通常使用光学的办法检测薄片类介质的位置。位置传感器由两部分组成，A是光发射端，B是光敏感端，A发射的光线照射到光敏感端B，光敏感端将光线的强弱转换为电压信号输出。当A和B之间的光路上无薄片类介质遮挡时(即无薄片类介质经过时)，光敏感端输出的电压较低；当A和B之间的光路被薄片类介质遮挡时（即有薄片类介质经过时），光敏感端输出的电压较高。控制器检测光敏感端输出的电压高低即可知A和B之间是否存在薄片类介质。在传输薄片类介质的通道上设置多个此类传感器，控制器即可感知薄片类介质在传输通道上的实时位置。

孔洞的定义

由于位置传感器的光学检测原理，当薄片类介质虽然是完整的但存在透明区域时，位置传感器的输出信号与无薄片类介质遮挡时的信号相同；或者，当薄片类介质上存在破损的区域时，位置传感器输出的信号与无薄片类介质遮挡时的信号相同。透明区域或破损的区域，都被称为孔洞。

要解决的问题

由于薄片类介质上的孔洞经过位置传感器时，位置传感器输出的信号与无薄片类介质时的相同，容易导致主控制器判定薄片类介质的位置、薄片类介质的张数时发生错误。

因此，要解决的问题是即使薄片类介质上存在孔洞，主控制器也能够准确判定薄片类介质的位置和对薄片类介质的张数进行计数。

现有的方法

在传送通道上需要根据薄片类介质位置做出反应的地方，安装一个位置传感器。典型情况：在传送通道分支点之前、之后安装位置传感器；在传送通道上靠近薄片类介质存储器出入口处安装位置传感器。因此系统内需要安装多个位置传感器。

现有的对传送通道上的薄片类介质位置的检测和张数计数方法：

方法1：每个位置都使用具有多个检测点的传感器

使用具有多条光路和多个检测点的位置传感器，避免每一条光路同时穿过孔洞，并对多个检测点输出的电压数字化后进行或运算，因此可以得到薄片类介质的准确位置信息。

缺点：位置传感器占用的空间较大，使得整个薄片类介质处理系统体积变大；由于传感器的个数较多，布线复杂，不利于提高可靠性；同时造价昂贵。

方法2：每个位置都使用简单的传感器

参照上面所述，简单的传感器在遇到钞票上的孔洞时，容易导致主控制器判定薄片类介质的位置和薄片类介质张数的计数发生错误。因此，主控制器需要使用软件滤波算法避免出现错误。

软件滤波算法需要事先知道被处理薄片类介质上孔洞的尺寸，根据孔洞的尺寸确定滤波参数。如果孔洞是薄片类介质制造时故意添加的（塑料钞票上的透明窗口），软件就需要针对不同的薄片类介质类型设定不同的滤波参数；如果孔洞是由于薄片类介质使用时造成的破损，软件就需要根据允许的破损程度设定一个滤波参数。

薄片类介质通过分类部件之前，控制器并不知道其类型，也无法知道它是否破损，因此无法应用事先设定的滤波参数，只能采取“总是假设薄片类介质上有孔洞且大小和位置固定”的策略。

薄片类介质通过分类部件之后：Ⅰ、控制器可以利用分类部件输出的数据，选择合适的滤波参数。为了达到良好的效果，应针对每张薄片类介质使用不同的滤波参数，即对于同一个位置信号，其滤波参数动态改变。这会造成控制软件的复杂程度大幅度增加。同时，也增加了分类部件的复杂度：要求分类部件输出薄片类介质上的孔洞的大小和位置信息。分类部件判定孔洞的标准与主控器上的位置传感器判定孔洞的标准有差异时，分类部件认为薄片类介质上没有孔洞，而主控制器上的位置传感器却检测到孔洞时，将造成控制错误。Ⅱ、控制器也可以继续采取“总是假设薄片类介质上有孔洞且大小和位置固定”的策略。

另外，薄片类介质在系统中传送时，总会发生一定的倾斜或平移。这会使得主控制器感知到的孔洞尺寸与预先设定的值不相同，由此可能会造成薄片类介质的位置判断不准确，薄片类介质张数计数不准确。

为了应付上述几种情况，控制器实际采取了“总是假设薄片类介质上有孔洞且大小和位置固定”的策略。因此整个系统只有单一种滤波参数。为了使整个系统具有较好的适应性，主控制器使用的滤波参数倾向于允许较大孔洞的薄片类介质顺利通过系统。

缺点：

（1）难以确定最佳滤波参数，且当薄片类介质形状变化较大时，需要重新确定滤波参数。

（2）薄片类介质的位置检测精度不高。现有的方法可以精确检测薄片类介质的到达时刻，但不能精确检测薄片类介质的离开时刻。

（3）反应薄片类介质实时位置的信号存在较大延迟，不利于实时控制；同时，滤波算法需要频繁占用控制器内部CPU的执行时间，传感器的个数越多，占用的时间越长，这对需要较高实时性的系统而言是一个不利因素。

信号延迟的原因：位置传感器输出的信号变为低电压（即无薄片类介质遮挡）后，控制器无法立即判定这是由于薄片类介质上的孔洞造成的，还是薄片类介质已经离开传感器。当低电压信号持续时间未达到设定的阀值就恢复成高电压时，控制器判定这是薄片类介质上的孔洞；当低电压信号持续时间大于设定的阀值时，控制器判定薄片类介质已经离开传感器，而此时薄片类介质早已离开位置传感器。主控制器允许的孔洞尺寸越大，延迟的时间越大。因此这种方法不适合用在高速的薄片类介质处理系统中。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种薄片介质处理系统，在不明显增加系统体积和造价的基础上，能准确检测薄片类介质在传送通道中的实时位置。

本发明另一目的在于提供一种检测薄片类介质实时位置的方法，能够准确判断每一薄片类介质在某检测位置的进入和离开事件，防止带孔洞类介质引起多触发、计数不准确的问题产生。

该薄片类介质处理系统，包括：主控制器，用以对该薄片类介质处理系统内各个部件实时自动控制；介质存储装置，用以存储薄片类介质；介质识别装置，用以对薄片类介质进行识别，分离及计数；介质传输装置，包括马达、传动机构以及具有多个分支的介质传送通道，其中，该介质传送通道内设置有多个检测位置，每一检测位置设置有一位置传感器，用以检测薄片类介质在该检测位置的到达与离开事件，其特征在于，沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有至少三个分散的检测点，每个检测点有独立的输出信号，且每个检测点配置有两个计时器，用以获得每个检测点输出信号的时间属性；其他检测位置设置的位置传感器均配置一个计时器，用以获得该普通位置传感器输出信号的时间属性。

优选的，该沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有的至少三个分散的检测点中，至少一个检测点对准介质传送通道的中心线。

优选的，其他检测位置设置的位置传感器至少包括两个检测点，该两个检测点分布在介质传送通道的中心线的两侧。

该检测薄片类介质实时位置的方法，包括：步骤1，初始化所有位置传感器数据，停止并清零全部计时器；步骤2，处理沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的输出信号，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T；步骤3，取步骤2中获得的每个检测点的时间属性T中的最大值作为参考时间Ta；以及步骤4，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号，其中，该位置传感器任何一个检测点被覆盖时，即认为待检测薄片类介质到达该检测位置，且同时启动该位置传感器配备的计时器并连续计时，以获取待检测薄片类介质经过该位置传感器的时间Tb，当该位置传感器上所有检测点不被遮挡，且Tb大于Ta时，即认为该薄片类介质已离开该检测位置，且同时停止该位置传感器配备的计时器并清零。

优选的，步骤2中，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T的步骤包括：步骤21，该沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的每一个检测点配置有两个计时器H和L，读取传感器各个检测点的信号电压，当某个检测点输出的电压从低跳变到高时，如果该检测点配置的计时器H还未开始计时，则立即将其清零并开始计时，如果已经开始计时，则继续计时；步骤22，当某个检测点输出的电压为高时，则该检测点配置的计时器L被清零和停止，当输出电压为低时，计时器L连续计时；以及步骤23，当所有检测点输出的电压都是低电压时，所有检测点配置的计时器H停止，并分别读取此时每个检测点的计时器H和计时器L的数值，并用每个检测点配置的计时器H的读数减去其计时器L的读数，得到每个检测点的时间属性T。

优选的，步骤4中，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号的步骤包括：步骤41，流程开始，读取位置传感器的输出电压；步骤42，判断是否设置有介质标记，该介质标记用以记录薄片类介质是否正经过该检测位置，当薄片类介质到达该检测位置时，设置介质标记，当薄片类介质离开该检测位置时，该介质标记被清零；若判断为是，转入步骤45，若判断为否，转入步骤43；步骤43，判断任意检测点输出电压是否由低跳变到高，若判断为是，则转入步骤44，若判断为否，回到步骤41；步骤44，设置介质标记，同时启动该位置传感器配置的计时器；步骤45，判断该计时器读数Tb是否大于参考时间Ta，若判断为是，则转入步骤46，若判断为否，则回到步骤41；步骤46，判断所有检测点的输出电压是否都为低，若判断为是，转入步骤47，若判断为否，则回到步骤41；以及步骤47，清除介质标记，停止并清零计时器，流程结束。

本发明采用沿薄片类介质运动方向第一检测位置设置多检测点位置传感器、其他检测位置设置普通位置传感器的方式，通过第一位置上的多检测点位置传感器获得单个薄片类介质通过检测位置的较为准确的所需时间，且以此为参照，辅助其他检测位置处的普通位置传感器判断薄片类介质是否经过，使得介质位置判断精度提高，可避免薄片类介质上随机出现的孔洞，或者不同介质本身预先设置的透明区域常造成的虚假进入/离开事件。另外，与现有技术相比，本发明不需要采用软件滤波算法，避免了滤波参数的设定和频繁占用控制器内部CPU的执行时间而不利于实时控制和系统的高速化；系统内除了第一检测位置需要采用多检测点位置传感器之外，其他检测位置可以用普通的检测器，使得该薄片类介质处理系统能保持较低的造价和较小的体积。

附图说明

图1是本发明一较佳实施例提供的薄片类介质处理系统中位置传感器布局示意图；

图2是本发明较佳实施例提供的薄片类介质实时位置检测方法总流程图；

图3是获得设置在第一检测位置的位置传感器的多检测点时间属性的步骤流程图；

图4是图3中时间属性获得方法示意图；以及

图5是其他检测位置设置的位置传感器信号处理流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明一较佳实施例提供的薄片类介质处理系统主要包括：主控制器，用以对该薄片类介质处理系统内各个部件实时自动控制；介质存储装置，用以存储薄片类介质；介质识别装置，用以对薄片类介质进行识别，分离及计数；介质传输装置，包括马达、传动机构以及具有多个分支的介质传送通道，其中，该介质传送通道内设置有多个检测位置，每一检测位置设置有一位置传感器，用以检测薄片类介质在该检测位置的到达与离开事件，如图1所示，沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有至少三个分散的检测点，每个检测点有独立的输出信号，且每个检测点配置有两个计时器，用以获得每个检测点输出信号的时间属性；其他检测位置设置的位置传感器均配置一个计时器，用以获得该普通位置传感器输出信号的时间属性。

具体的，如图1所示，沿薄片类介质运动方向上第一个检测位置上设置的位置传感器101具有三个分散的检测点中，至少一个检测点对准介质传送通道的中心线。该种结构的位置传感器可以有效避免所有检测点同时检测到孔洞，因为孔洞同时出现在所有检测点的概率很低，而且检测点越多，这种概率越低。

其他检测位置设置的位置传感器102、103至少包括两个检测点，该两个检测点分布在介质传送通道的中心线的两侧。当任意一个检测点被覆盖时，传感器即输出高电压信号。其目的是当介质在传输通道中发生倾斜时，仍然能正确检测到介质到达和介质离开。相反，如果检测点位于传输通道的中央，介质倾斜时，将会发生如下情况：介质到达一段时间后，传感器才会给出介质到达信号；介质还未离开，传感器就给出了介质离开信号。

以下介绍该薄片类介质处理系统检测薄片类介质实时位置的方法，该方法主要优势在于，能准确判断薄片类介质的到达和离开时间，不会由于孔洞导致误触发或虚假离开事件。其总体流程如图2所示，主要包括：步骤1，初始化所有位置传感器数据，停止并清零全部计时器；步骤2，处理沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的输出信号，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T；步骤3，取步骤2中获得的每个检测点的时间属性T中的最大值作为参考时间Ta；以及步骤4，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号，其中，该位置传感器任何一个检测点被覆盖时，即认为待检测薄片类介质到达该检测位置，且同时启动该位置传感器配备的计时器并连续计时，以获取待检测薄片类介质经过该位置传感器的时间Tb，当该位置传感器上所有检测点不被遮挡，且Tb大于Ta时，即认为该薄片类介质已离开该检测位置，且同时停止该位置传感器配备的计时器并清零。

其中，步骤2中，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T的步骤包括：步骤21，该沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的每一个检测点配置有两个计时器H和L，读取传感器各个检测点的信号电压，当某个检测点输出的电压从低跳变到高时，如果该检测点配置的计时器H还未开始计时，则立即将其清零并开始计时，如果已经开始计时，则继续计时；步骤22，当某个检测点输出的电压为高时，则该检测点配置的计时器L被清零和停止，当输出电压为低时，计时器L连续计时；以及步骤23，当所有检测点输出的电压都是低电压时，所有检测点配置的计时器H停止，并分别读取此时每个检测点的计时器H和计时器L的数值，并用每个检测点配置的计时器H的读数减去其计时器L的读数，得到每个检测点的时间属性T。

具体一点，如图3所示，流程为：步骤201，流程开始，读取该第一检测位置上设置的位置传感器101上各个检测点的电压信号，转入步骤202；步骤202，检查是否设置介质标记，如果是，则转入步骤208，如果否，则转入步骤203；步骤203，判断某个检测点输出的电压是否从低跳变到高，如果是，则转入步骤204，如果否，则回到步骤201；步骤204，设置介质标记，将该检测点配置的计时器L清零并停止，然后进行步骤205；步骤205，判断该监测点配置的计时器H是否开始计时，如果是，转入步骤207，如果否，则转入步骤206；步骤206，计时器H立即清零并开始计时，然后转入步骤208；步骤207，计时器H继续计时，然后转入步骤208；步骤208，判断该检测点输出的电压是否从高跳变到低，如果是，转入步骤209，如果否，则回到步骤201；步骤209，该检测点配置的计时器L连续计时，转入步骤210；步骤210，判断所有检测点输出电压是否都为低电压，如果是，则转入步骤211，如果否，则回到步骤201；步骤211，所有检测点配置的计时器H停止，并分别读取此时每个计时器H和L的数值，转入步骤212；步骤212，同一个检测点配置的计时器H读数减去计时器L读数，即为该检测点的时间属性T。该计算每个检测点的时间属性T的方法可参考图4，T1=TH1-TL1，T2=TH2-TL2，T3=TH3-TL3。然后取最大值作为参考时间Ta，Ta=max(T1,T2,T3)。

也就是说，主控制器监视薄片类介质运动方向上的第一个检测位置上安装的位置传感器101上每个检测点输出的信号电压，当有一个检测点输出高电压时，主控制器即认为有介质正经过此传感器；当每个检测点都输出低电压时，主控制器可立即判定无介质经过此传感器，无需额外延迟时间进行确认。同时，主控制器使用如图3和图4所示方法分别测量每个检测点输出信号的时间属性T，并取其值为最大者作为参考时间Ta。

步骤4中，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号的步骤如图5所示，包括：步骤41，流程开始，读取位置传感器的输出电压；步骤42，判断是否设置有介质标记，该介质标记用以记录薄片类介质是否正经过该检测位置，当薄片类介质到达该检测位置时，设置介质标记，当薄片类介质离开该检测位置时，该介质标记被清零；若判断为是，转入步骤45，若判断为否，转入步骤43；步骤43，判断任意检测点输出电压是否由低跳变到高，若判断为是，则转入步骤44，若判断为否，回到步骤41；步骤44，设置介质标记，同时启动该位置传感器配置的计时器；步骤45，判断该计时器读数Tb是否大于参考时间Ta，若判断为是，则转入步骤46，若判断为否，则回到步骤41；步骤46，判断所有检测点的输出电压是否都为低，若判断为是，转入步骤47，若判断为否，则回到步骤41；以及步骤47，清除介质标记，停止并清零计时器，流程结束。

也就是说，当任何一个检测点输出信号电压为高时，即判定有介质已经到达该位置传感器；当任何一个检测点输出信号电压从低变为高时，如果计时还未开始，就立即清零计时器并开始计时；如果已经开始，则继续计时。主控制器根据计时器的读数Tb进行判定，当Tb<Ta时，无论该检测点输出电压信号为何值，都判定介质正经过此传感器并持续计时；当Tb>=Ta时，主控制器监视该传感器每个检测点输出的电压信号，当每个检测点输出电压信号都是低电压时，计时器停止计时并立即判定介质已离开此传感器，无需延迟时间。

本方法对介质在传输通道中发生倾斜时具有较好容忍性。(1)最大倾斜角度的容忍：只要满足长方形介质四个边中与运动方向垂直的两个边之一最先到达和最后离开每个检测点即可。(2)对倾斜角度在传输过程中发生变化的容忍：介质在通过第一检测位置的具有多个检测点的位置传感器时的倾斜角度与介质在通过普通位置传感器时的倾斜角度的不同，造成的时间测量值的相对变化量为：cos(b)/cos(a)，当倾斜角度变化量在10度以内时，此数值不大于2%。并且由于采用了上述普通位置传感器的信号处理办法，本发明对这种变化具有自同步特性。

惟以上所述仅为本发明的较佳实施例，非意欲局限本发明的专利保护范围，故举凡运用本发明说明书及图式内容所为的等效变化，均同理皆包含于本发明的权利保护范围内，合予陈明。

Claims (6)

1.一种薄片类介质处理系统，包括：

主控制器，用以对该薄片类介质处理系统内各个部件实时自动控制；

介质存储装置，用以存储薄片类介质；

介质识别装置，用以对薄片类介质进行识别，分离及计数；

介质传输装置，包括马达、传动机构以及具有多个分支的介质传送通道，其中，该介质传送通道内设置有多个检测位置，每一检测位置设置有一位置传感器，用以检测薄片类介质在该检测位置的到达与离开事件，其特征在于：沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有至少三个分散的检测点，每个检测点有独立的输出信号，且每个检测点配置有两个计时器，用以获得每个检测点输出信号的时间属性；其他检测位置设置的位置传感器均配置一个计时器，用以获得该普通位置传感器输出信号的时间属性。

2.如权利要求1所述的薄片类介质处理系统，其特征在于，该沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器具有的至少三个分散的检测点中，至少一个检测点对准介质传送通道的中心线。

3.如权利要求2所述的薄片类介质处理系统，其特征在于，其他检测位置设置的位置传感器至少包括两个检测点，该两个检测点分布在介质传送通道的中心线的两侧。

4.一种检测薄片类介质实时位置的方法，包括：

步骤1，初始化所有位置传感器数据，停止并清零全部计时器；

步骤2，处理沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的输出信号，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T；

步骤3，取步骤2中获得的每个检测点的时间属性T中的最大值作为参考时间Ta；以及

步骤4，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号，其中，该位置传感器任何一个检测点被覆盖时，即认为待检测薄片类介质到达该检测位置，且同时启动该位置传感器配备的计时器并连续计时，以获取待检测薄片类介质经过该位置传感器的时间Tb，当该位置传感器上所有检测点不被遮挡，且Tb大于Ta时，即认为该薄片类介质已离开该检测位置，且同时停止该位置传感器配备的计时器并清零。

5.如权利要求4所述的检测薄片类介质实时位置的方法，其特征在于，步骤2中，获取每一个检测点的输出信号的时间属性T的步骤包括：

步骤21，该沿薄片类介质运动方向第一个检测位置上设置的位置传感器的每一个检测点配置有两个计时器H和L，读取传感器各个检测点的信号电压，当某个检测点输出的电压从低跳变到高时，如果该检测点配置的计时器H还未开始计时，则立即将其清零并开始计时，如果已经开始计时，则继续计时；

步骤22，当某个检测点输出的电压为高时，则该检测点配置的计时器L被清零和停止，当输出电压为低时，计时器L连续计时；以及

步骤23，当所有检测点输出的电压都是低电压时，所有检测点配置的计时器H停止，并分别读取此时每个检测点的计时器H和计时器L的数值，并用每个检测点配置的计时器H的读数减去其计时器L的读数，得到每个检测点的时间属性T。

6.如权利要求4所述的检测薄片类介质实时位置的方法，其特征在于，步骤4中，结合参考时间Ta处理其他检测位置的位置传感器信号的步骤包括：

步骤41，流程开始，读取位置传感器的输出电压；

步骤42，判断是否设置有介质标记，该介质标记用以记录薄片类介质是否正经过该检测位置，当薄片类介质到达该检测位置时，设置介质标记，当薄片类介质离开该检测位置时，该介质标记被清零；若判断为是，转入步骤45，若判断为否，转入步骤43；

步骤43，判断任意检测点输出电压是否由低跳变到高，若判断为是，则转入步骤44，若判断为否，回到步骤41；

步骤44，设置介质标记，同时启动该位置传感器配置的计时器；

步骤45，判断该计时器读数Tb是否大于参考时间Ta，若判断为是，则转入步骤46，若判断为否，则回到步骤41；

步骤46，判断所有检测点的输出电压是否都为低，若判断为是，转入步骤47，若判断为否，则回到步骤41；以及

步骤47，清除介质标记，停止并清零计时器，流程结束。

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