CN113167567B - 结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置 - Google Patents

结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置 Download PDF

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Abstract

能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品。结构体检查装置具备：以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元(1a、1b)、对透射了结构体(2)的X射线进行检测的一个以上的X射线检测单元(3)、在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离的多个位置距离测定单元(4)、以及图像处理单元(5)，所述图像处理单元包括：对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选的缺陷候选检测单元、高度测定单元、对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算的图像运算单元、根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围的检查范围设定单元、以及在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷的缺陷判断单元。

Description

结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置
技术领域
本发明涉及能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品的结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置、高压罐制造方法及制造装置、结构体以及高压罐及燃料电池车。
背景技术
近年来，为了应对石油燃料的枯竭、有害气体排放量的削减要求，燃料电池车受到关注。燃料电池车例如搭载使氢和空气中的氧发生电化学反应而发电的燃料电池，将燃料电池发电而得到的电供给到马达作为驱动力。在燃料电池为氢电池的情况下，在汽车搭载氢用高压罐。例举一例，高压罐由树脂制的内衬构件、和覆盖内衬构件的外侧的纤维强化树脂层构成。内衬构件为树脂制、铝、铁等金属制等。其中，树脂制的内衬构件为轻质且成型性优异，所以能够廉价地制造，因此正在进行开发。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特表2014-501818号公报
专利文献2：日本特开平4-9606号公报
发明内容
发明要解决的课题
然而，使用专利文献1所记载的成型品制作出的高压罐在反复进行高压气体(特别是高压氢气)的填充及放压时，有时会发生变形等，成为可靠性降低的原因。这样的突发性异常的发生原因不明，而且其检查方法也没有。
因此，本发明人等为了解决上述课题而进行了深入研究，结果查明了罐的变形等的主要原因在于，存在于将例如分为两个构件而制造的结构体接合的部位的杂质、空隙。在使用通常用于结构体的接合的基于熔敷的接合方法的情况下，为了充分地熔敷而产生压入接合部的工序。在该工序中，在接合部会产生熔融的结构体的隆起(以下记为毛刺)。该毛刺中的空隙、杂质不会成为产生结构体的变形等的主要原因。但是，在结构体的内部的检查中，如专利文献2所记载的检查方法那样，通常使X射线透射并根据其透射量的变化来检测内部的杂质、空隙的有无。图23和图24示出该实施方式。图23是基于通常的X射线透射拍摄的检查构成，由X射线辐射单元1、作为检查对象的结构体2、以及X射线检测单元3构成。图24是用于说明在图23所示的基于通常的X射线透射拍摄的检查构成中无法判别的缺陷和非缺陷部分的一例的示意图。在图24中，为了便于说明，结构体2仅显示X射线辐射单元1侧的接合截面部。在该构成中，由于从X射线辐射单元1辐射出的X射线透射应检查的接合部分和毛刺部分双方，因此难以判别从X射线辐射单元1辐射出的X射线的透射量的变化是由接合部的空隙或杂质引起的，还是由毛刺部分的空隙或杂质引起的。另外，通过来自多个方向的X射线的照射来确定缺陷的发生位置也是经常使用的，但根据该发生位置也难以判别该部分是毛刺还是接合部。
本发明是鉴于这样的以往问题而提出的，目的在于提供能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品且能够事先检测将来可能发生变形等的结构体的结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置、高压罐制造方法及制造装置、结构体以及高压罐及燃料电池车。
用于解决课题的技术方案
即，解决上述课题的本发明的一个技术方案涉及的结构体检查装置的特征在于，具备：X射线辐射单元，其以两个以上的路径辐射X射线；一个以上的X射线检测单元，其对透射了结构体的X射线进行检测；多个位置距离测定单元，其在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离；以及图像处理单元，所述图像处理单元包括：缺陷候选检测单元，其对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选；高度测定单元；图像运算单元，其对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算；检查范围设定单元，其根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围；以及缺陷判断单元，其在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷。
另外，对于本发明的结构体检查装置，优选地，所述多个位置距离测定单元是通过光截法来测定线状的高度轮廓的高度测定单元。
另外，对于本发明的结构体检查装置，优选地，高度测定单元是基于立体匹配法的测定单元。
另外，对于本发明的结构体检查装置，优选地，所述检查范围设定单元根据所述多个距离值求出所述结构体的表面形状，根据所述结构体的厚度设定圆周方向上的每个检查位置的检查范围。
另外，对于本发明的结构体检查装置，优选地，所述结构体为大致圆筒状，其表面形状是根据所述多个距离值算出所述结构体的圆弧中心位置和圆弧半径而推定出的结构体的表面。
另外，对于本发明的结构体检查装置，优选地，所述结构体为高压罐用构件。
另外，本发明的结构体制造装置的特征在于，包括：利用上述结构体检查装置的检查单元；和分选单元，其对在所述检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别。
另外，本发明的高压罐制造装置的特征在于，包括：利用上述结构体检查装置的检查单元；分选单元，其对在所述检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；以及外层形成单元，其对被判定为合格品的结构体形成加强用外层。
另外，解决上述课题的本发明的结构体检查方法的特征在于，包括：以两个以上的路径辐射X射线，在一个以上的位置检测透射了结构体的X射线，在多个位置测定从X射线辐射单元到所述结构体的距离，对检测出的X射线图像检测缺陷候选，测定缺陷候选的高度，对得到的高度信息图像和作为所述缺陷候选得到的图像进行逻辑积运算，根据所述距离和结构体的厚度设定检查范围，在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷。
另外，对于本发明的结构体检查方法，优选地，测定所述距离的方法是利用光截法来测定线状的高度轮廓的方法。
另外，对于本发明的结构体检查方法，优选地，测定缺陷候选的高度的方法是基于立体匹配法的方法。
另外，对于本发明的结构体检查方法，优选地，在设定所述检查范围的方法中，根据所述多个距离值求出所述结构体的表面形状，根据所述结构体的厚度设定每个检查位置的检查范围。
另外，对于本发明的结构体检查方法，优选地，在求出所述表面形状的方法中，所述结构体为大致圆筒状，其表面形状为根据所述多个距离值算出所述结构体的圆弧中心位置和圆弧半径而推定的形状。
另外，对于本发明的结构体检查方法，优选地，所述结构体是高压罐用构件。
另外，本发明的结构体制造方法的特征在于，包括：利用结构体检查方法的检查工序；和分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别。
另外，本发明的高压罐制造方法的特征在于，包括：利用结构体检查方法的检查工序；分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；以及外层形成工序，对被判定为合格品的结构体形成加强用外层。
另外，本发明的燃料电池车制造方法的特征在于，包括：利用结构体检查方法的检查工序；分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；外层形成工序，对被判定为合格品的结构体形成加强用外层而得到高压罐；以及设置工序，将得到的高压罐设置于底盘。
发明效果
根据本发明，能够提供能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品且能够事先检测将来可能发生变形等的结构体的结构体检查方法及制造方法、结构体检查装置及制造装置、高压罐制造方法及制造装置、结构体以及高压罐及燃料电池车。
附图说明
图1是用于说明本发明的一个实施方式的示意图。
图2是表示在本发明的一个实施方式中，多个位置距离测定单元的构成的示意图。
图3是用于说明在本发明的一个实施方式中，多个位置距离测定单元的设置位置的其它构成的示意图。
图4是用于说明图像处理单元的处理的流程的流程图。
图5是用于说明以两个以上的路径照射X射线的情况下的缺陷和非缺陷部分的X射线检测单元中的检测位置的不同的示意图。
图6是由X射线检测单元取得的取得图像的一例。
图7是缺陷候选检测单元的处理结果图像的一例。
图8是立体匹配处理结果的一例。
图9是高度位置算出结果图像的一例。
图10是表示结构体在X射线透射拍摄的光轴方向上偏移地设置的情况下的例子的俯视示意图。
图11是表示结构体在X射线透射拍摄的光轴方向上偏移地设置的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图。
图12是表示结构体在与X射线透射拍摄的光轴正交的方向上偏移地设置的情况下的例子的俯视示意图。
图13是表示结构体在与X射线透射拍摄的光轴正交的方向上偏移地设置的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图。
图14是表示设置了内外径不同的结构体的情况下的例子的俯视示意图。
图15是表示设置了内外径不同的结构体的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图。
图16是通过多个位置距离测定单元取得的多个位置距离测定数据的一例。
图17是外侧及内侧的检查范围边界图像和该图像列方向的高度轮廓的一例。
图18是基于缺陷判断单元的分选结果的一例。
图19是用于说明在本发明的一个实施方式中设置了使X射线辐射单元移动的单元的构成的示意图。
图20是用于说明在本发明的一个实施方式中设置了使高压罐构件移动的单元的构成的示意图。
图21是用于说明本发明的一个实施方式中的其它结构例1的示意图。
图22是用于说明本发明的一个实施方式中的其它结构例2的示意图。
图23是用于说明基于通常的X射线透射拍摄的检查构成的示意图。
图24是用于说明在基于通常的X射线透射拍摄的检查构成中无法判别的缺陷和非缺陷部分的一例的示意图。
具体实施方式
＜结构体检查装置＞
以下，参照附图对应用于本发明的结构体检查装置的实施方式进行说明。此外，以下的实施方式例示本发明的一个实施方式，本发明并不限定于以下的说明。只要不脱离本发明的主旨，以下的实施例能够改变。另外，本发明的结构体检查装置能够适用于各种结构体的检查。例如，可例举大致圆筒状的高压罐用构件、树脂配管、树脂结构构件等。在此，作为结构体检查的一个例子，以高压罐用内衬构件的检查为例详细地进行说明。
首先，对作为本发明中的检查对象的结构体以及高压罐的概要进行说明。
高压罐是用于填充压缩气体、液化气体等高压气体的容器，例如，在高压气体为氢的情况下，有燃料电池汽车搭载用容器、高压氢输送用容器、以及氢站蓄压器等。高压罐的结构没有特别限定。例举一例，高压罐由作为高压罐用构件的内衬构件、覆盖内衬构件的一个或多个加强层、用于向燃料电池供给高压气体的供给系统(阀构件、各种配管系统等)构成。
高压罐的形状没有特别限定。例举一例，高压罐为大致圆筒状。高压罐形成有用于向罐内填充高压气体、或者从罐内取出高压气体的开口部。开口部被供给系统关闭。在本发明中，结构体例如是构成高压罐的构件，可例举内衬构件、在内衬构件形成加强层后的构件等。
(内衬构件)
内衬构件是构成高压罐的壳体的罐容器的构件。内衬构件的形状没有特别限定。例举一例，内衬构件为大致圆筒状，在内部形成有容纳空间。在容纳空间填充高压气体。在内衬构件形成有上述的开口部。内衬构件可以由一个构件构成，但从制作的容易度出发，通常由分割成多个的构件构成。在该情况下，分割成多个的构件能够通过接合等一体化。另外，制作内衬构件的方法，可例举吹塑成型、注塑成型等。另一方面，本发明的检查方法优选用于将内衬构件通过注塑成型分割成多个的构件进行接合的接合面的检查。
内衬构件的材质没有特别限定。例举一例，内衬构件为树脂制、铝、铁等金属制等。其中，树脂制的内衬构件在接合部形成有空隙、杂质的情况下，在成型为高压罐后容易引起变形、破坏等。然而，本发明的检查方法能够恰当地检测空隙、杂质。因此，本发明的检查方法在内衬构件为树脂制的情况下特别优选。树脂的X射线吸收率更高，从利用后述的X射线检测器更高精度地检测内衬构件中的杂质等这一点出发，内衬构件优选包含聚烯烃树脂、乙烯-乙烯醇共聚物、以及聚酰胺树脂中的至少任一种。
另外，内衬构件更优选包含聚酰胺树脂。聚酰胺树脂的X射线吸收率高，所以容易检测聚酰胺树脂中的空隙、树脂杂质等。另外，特别在高压气体为氢气的情况下，氢气为低分子量，所以容易溶入内衬构件。其结果，即使在内衬构件的接合部存在极少的空隙、杂质的情况下，氢气用高压罐也容易发生接合部处的变形、破坏等。根据本发明的检查方法，能够容易地检测这样的空隙、树脂杂质等。因此，本发明的检查方法在内衬构件为聚酰胺树脂制的情况下，特别能够高精度地检测并恰当地判别杂质等。
(加强层)
对于内衬构件，为了加强内衬构件，优选由一个或多个加强层覆盖外表面。加强层的材料没有特别限定。例举一例，加强层为纤维强化树脂层。作为构成纤维强化树脂层的纤维强化树脂，可例示碳纤维强化塑料(CFRP)、玻璃纤维强化塑料等。这些纤维强化树脂可以并用。另外，由各个纤维强化树脂形成的加强层也可以双重地覆盖内衬构件。纤维强化树脂层在纤维强化树脂例如为碳纤维强化塑料的情况下，主要由卷绕于内衬构件的外表面的碳纤维强化塑料等强化纤维和将强化纤维彼此粘结的热固性树脂构成。
本发明的检查方法优选对上述高压罐中的、设置加强层之前的内衬构件的接合面实施。具体的检查方法是从X射线辐射装置向内衬构件辐射X射线，使用X射线检测器检测透射了内衬构件的X射线，由此检查内衬构件是合格品还是不合格品。
(结构体检查装置)
图1是用于说明本发明的检查装置的示意图。
(X射线辐射单元)
X射线辐射单元1是用于向结构体2辐射X射线的设备。X射线辐射单元1的形状和尺寸没有特别限定。另外，X射线辐射单元1也可以附带用于驱动X射线辐射单元的未图示的电源线缆等。在该情况下，电源线缆等优选为不与结构体2发生干涉的形状、尺寸。另外，被辐射出的X射线需要以两个以上的路径向结构体照射X射线。在本发明中，利用X射线辐射单元1a和X射线辐射单元1b这两个X射线辐射单元辐射X射线。辐射的X射线透射X射线辐射单元侧的结构体和后述的X射线检测单元侧的结构体，被X射线检测单元3检测。此外，X射线辐射单元1的配置没有特别规定，但优选两个以上的X射线辐射单元中的至少一个配置为，X射线辐射单元侧的接合面和X射线检测单元侧的接合面双方不成为透射路径。在此，X射线辐射单元1a和X射线辐射单元1b以将结构体的接合面夹入的形式并行配置，均配置为X射线辐射单元侧的接合面和X射线检测单元侧的接合面双方不成为照射路径。
(结构体)
结构体2例示为将分割成两部分的成型构件接合为圆筒状的高压罐用构件。
(X射线检测单元)
X射线检测单元3是用于检测透射了结构体2的X射线的设备。X射线检测单元由至少一个以上的X射线检测器构成即可。在由一个X射线检测单元检测从两个以上的X射线辐射单元1辐射的X射线的情况下，可以在不同的定时从两个以上的X射线辐射单元辐射X射线并检测X射线。也可以与两个以上的X射线辐射单元1的个数相匹配地配置两个以上的X射线检测单元，同时地检测X射线。也可以利用一个X射线检测单元，使该X射线检测单元移动到能够检测从两个以上的X射线辐射单元1辐射的X射线的位置。通常而言，如果是空隙，则X射线容易透射，所以比周围更强地被检测，如果是杂质，则与杂质的比重和构成结构体的树脂材料的比重的大小相应地更强或更弱地被检测。另外，毛刺部分与结构体的通常部分相比，壁厚增加，所以整体上较弱地被检测。
此外，“以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元”中的“两个以上”对应于后面说明的“X射线检测单元所取得的两个以上的图像”的“两个以上”。为了明确该情况，与“多个”这一词语相区别，在对应的部位使用“两个以上”这一用语进行了说明。
X射线检测单元3也可以是通用的X射线检测器。例举一例，X射线检测单元3可以是直接转换型的X射线检测器，也可以是间接转换型的X射线检测器。更具体而言，X射线检测单元3是X射线胶片、影像增强器、计算机X射线摄影(CR)、平板探测器(FPD)等。
X射线检测单元3的X射线检测元件的排列，既可以是以二维方式排列检测元件的区域传感器方式，也可以是以一维方式排列检测元件的线性传感器方式的X射线检测器。依次变更检查范围的方法，根据使用哪种检测方式进行最佳化即可。在采用区域传感器方式的情况下，只要准备根据区域传感器的检查视野逐次地切换视野的机构即可，在采用线性传感器方式的情况下，只要准备使检查视野连续地移动的机构即可。
此外，X射线检测单元3为间接转换型的FPD的情况与例如使用X射线胶片的情况相比，不需要显影工序等，能够缩短检查需要的时间，从这一点出发是优选的。
间接转换型的FPD与直接转换型的检测器相比，没有可使用温度等的限制。因此，间接转换型的X射线检测器的操作性优异。并且，间接转换型的FPD优选具备单元(cell)型闪烁体。在间接转换型的FPD中，为了将辐射线转换成可见光，使用闪烁体面板。闪烁体面板包括碘化铯(CsI)等X射线荧光体，与辐射出的X射线相应地，X射线荧光体发出可见光，利用TFT(thin film transistor：薄膜晶体管)、CCD(charge-coupled device：电荷耦合器件)转换成电信号，由此将X射线的信息转换成数字图像信息。然而，间接转换型的FPD在X射线荧光体发光时，可见光会因荧光体自身而散射等，从而图像的清晰性易变低。另一方面，采用单元型闪烁体的FPD，在由隔壁分隔出的单元内填充荧光体，能够抑制光的散射的影响。其结果，具备单元型闪烁体的FPD的清晰度高，能够在结构体2中存在杂质、空隙的情况下高灵敏度地对其进行检测。
对于X射线检测单元3，从能够容易地形成大面积且高清晰的单元型闪烁体这一点出发，更优选为使用含有玻璃粉末的感光性糊料，通过光刻来加工以玻璃为主要成分的隔壁而制作的单元型闪烁体。X射线检测单元3的传感器的像素尺寸没有特别限定。例举一例，传感器的像素尺寸优选为20～300μm。在像素尺寸小于20μm的情况下，有甚至检测到对结构体2的变形、破坏没有贡献的微小杂质而将合格品误判断为不合格品的倾向。另外，在这样的像素尺寸下，有图像数据变得庞大，信号读出、图像处理需要的时间变长的倾向。另一方面，在像素尺寸超过300μm的情况下，有可能无法充分地检测杂质等。
(多个位置距离测定单元)
多个位置距离测定单元4用于高精度地求出结构体2的表面位置。多个位置距离测定单元4可以是使测定单元或者结构体向想要增加测定点的方向移动一定距离来逐次进行测定的构成，也可以是能够一次进行多点计测的构成。多个位置距离测定单元4使用激光三角测量型位移计、激光干涉仪、超声波测距仪、涡电流型位移传感器、触针式位移计等，但从非接触、不易受测定对象的材质影响、以及响应速度、多点计测的实现容易度等方面出发，优选使用激光三角测量型位移计。具体而言，优选使用被称为光截法的方法，该方法为将由激光光源等生成的线状的光向测定对象照射，取得其反射散射光的轨迹作为高度轮廓。
使用图2进一步详细说明多个位置距离测定单元4的具体的构成的一例。图2是表示多个位置距离测定单元4的构成的示意图。为了便于说明，仅显示了多个位置距离测定单元4和结构体2。多个位置距离测定单元4对作为圆筒形的结构体2在圆弧方向上照射由激光光源等生成的线状的光。照射出的线状的光在结构体2的表面反射散射，描绘与结构体2的表面形状相应的光的轨迹。所述光的轨迹成为多个位置距离测定单元4中的距离测定位置4a。多个位置距离测定单元4利用图像传感器等受光单元对基于所述光的轨迹的距离测定位置4a进行位置读取，并将其数值化为结构体2的表面的表面形状。
此外，只要多个位置距离测定单元4与X射线辐射单元1的相对距离关系已知，则可以设置于任何位置，因此，可以是如图1所示那样使作为大致圆筒的结构体2向圆筒的轴向为了测定多个位置距离而移动，进行基于多个位置距离测定单元4的测定的构成，也可以如图3所示的用于说明多个位置距离测定单元4的设置位置的其它构成的示意图那样，将X射线辐射单元1和多个位置距离测定单元4固定设置于X射线透射拍摄的光轴位置。优选地，在能够测定结构体2中的应检查的接合部的表面形状的位置配置多个位置距离测定单元4和结构体2。另外，虽然未图示，但也可以使结构体2和多个位置距离测定单元4中的任一个在X射线透射拍摄的光轴方向上向前或向后，将多个位置距离测定单元4的测定值修正任意的移动距离的长度的量。
另外，对于多个位置距离测定单元4，如图1和图3所示的结构体2的示意图那样，是在应检查的接合面的外侧产生毛刺而产生不定形的凹凸的面形状，无法实施准确的距离测定，因此，距离测定也可以将没有产生毛刺的大致附近面作为对象进行测定。在该情况下，更优选在产生毛刺的应检查的接合面的左右等多个部位进行测定，取得平均值、内插值等来推定与接合面的正上方的面的距离。另外，也可以对产生毛刺的外侧的接合面实施研磨处理，除去毛刺而形成平坦面，之后在应该检查的接合面的正上方的面实施距离测定。
(图像处理单元)
如图1所示，图像处理单元5与X射线检测单元3连接，包括：缺陷候选检测单元，其根据由X射线检测单元3取得的X射线检测图像，算出缺陷候选的位置；高度测定单元，其通过所述多个图像算出缺陷候选的高度位置；图像运算单元，其对记录了通过高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算；检查范围设定单元，其根据由多个位置距离测定单元4测定的多个位置距离测定数据20设定检查范围；以及缺陷判断单元，其根据高度测定结果和检查范围设定结果，判断缺陷候选是否良好。使用图4说明图像处理单元5中的处理的流程。图4是用于说明图像处理单元的处理的流程的流程图。X射线检测图像10a是通过X射线检测单元3检测从X射线照射单元1a辐射的X射线而得的检测图像，X射线检测图像10b是通过X射线检测单元3检测从X射线辐射单元1b辐射的X射线而得到的检测图像。对于检测图像，用辉度值输出X射线检测的强弱，较强地检测到X射线的部位，辉度值大(亮)，较弱地检测到X射线的部位，辉度值小(暗)。
(缺陷候选检测单元)
在步骤S101中，通过缺陷候选检测单元，从X射线检测图像检测成为缺陷候选的区域。缺陷候选检测单元将满足能够对作为二维图像数据被输入的X射线检测图像划分缺陷候选和非缺陷候选的部位的亮方向的辉度阈值和暗方向的辉度阈值的面积区域作为缺陷候选进行检测。检测对多个X射线检测图像中的至少一个X射线检测图像实施即可，在本发明的实施例中，对检测出由X射线辐射单元1a辐射的X射线的X射线检测图像10a进行实施。此外，缺陷候选的检测可以以检测面积的大小来筛选满足阈值的区域，也可以以检测形状的特征量来进行筛选。例如，成为缺陷的空隙和杂质通常成为沿着接合面朝向一样的方向的细长的形状，因此，可以将检测形状的朝向(角度)及其粗细(纵横比)等作为特征量进行筛选。另外，在缺陷部位的上下因接合时产生的毛刺的影响而变厚，缺陷的周围被检测为暗，因此，也可以在根据辉度阈值的检测之前，使用空间滤波器等。例如，为了抑制因毛刺造成的暗部的影响，将X射线检测图像中的低频成分去除的高通滤波器是有效的，但在该情况下，如图7所示的缺陷候选图像那样，在X射线检测图像的辉度骤变的毛刺部分与通常的高压罐构件部分的边界线，也会将误检测区域11检测为缺陷候选。
(高度测定单元)
在步骤S102中，通过高度测定单元，测定在多个X射线检测图像中检测到的同一点的高度。为了加深对该高度测定的原理的理解，使用图5和图6进行详细说明。图5是用于说明以多个路径照射了X射线的情况下的缺陷和非缺陷部分的X射线检测单元中的检测位置的差异的示意图。另外，图6是由X射线检测单元取得的取得图像的一例。在图5中，为了便于说明，结构体2仅显示X射线辐射单元1侧的接合截面部。在结构体2的接合部存在接合部的空隙缺陷7、在毛刺部分存在毛刺内的空隙9的情况下，在X射线检测器3，通过从X射线辐射单元1a辐射出的X射线，接合部的空隙缺陷7被拍摄在X射线检测器3上的Xa1的坐标位置，毛刺内的空隙9被拍摄在Xa2的坐标位置，被检测为图6所示的X射线检测图像10a那样的图像。通过从X射线辐射单元1b辐射出的X射线，接合部的空隙缺陷7被拍摄在X射线检测器3上的Xb1的坐标位置，毛刺内的空隙9被拍摄在Xb2的坐标位置，被检测为图6所示的X射线检测图像10b那样的图像。此时，若将从X射线辐射单元1a及X射线辐射单元1b到X射线检测器3为止的距离设为f、将X射线辐射单元1a与X射线辐射单元1b的间隔设为w，则接合部的空隙缺陷7的高度位置Hd0作为式1被算出。
(式1)Hd0＝f×w/(|Xa1－Xb1|)
另外，毛刺内的空隙9的高度位置Hf0作为式2被算出。
(式2)Hf0＝f×w/(|Xa2－Xb2|)
为了依次执行该高度测定处理，在本发明的实施方式中，作为能够比较容易地实现在X射线检测图像10a与X射线检测图像10b之间应测定高度的对应点的关联的方法，优选通过被称为立体匹配法的方法来执行高度测定处理。以下，设为通过立体匹配法执行高度测定处理来进行说明。立体匹配法也被称为块匹配法，是使用以多个不同的视点拍摄到的图像，根据拍摄到的图像间的同一点的拍摄位置的偏差(视差)来算出高度位置信息时通常采用的方法。并且，是如下方法：在一方的图像中首先设定以关注像素为中心的预先确定的纵横为一定尺寸的图像块，在另一方的图像中通过归一化相关法等图像的相似度算出方法求出一方的图像与另一方的图像的相似度最高的位置，根据关联该位置的两个图像的坐标位置信息，逐次算出图8所示的包括高度信息的立体匹配处理结果图像13。
此外，在进行基于立体匹配法的高度测定时，也可以对X射线检测图像10a以及X射线检测图像10b进行预处理，以使得更容易检测成为缺陷候选的区域。例如，可以以检测面积的大小来筛选满足预先确定的亮方向或暗方向的阈值的区域，也可以以检测形状的特征量来进行筛选。例如，成为缺陷的空隙和杂质通常成为沿着接合面朝向一样的方向的细长的形状，因此，可以将检测形状的朝向(角度)及其粗细(纵横比)等作为特征量进行筛选。另外，在缺陷部位的上下因接合时产生的毛刺的影响而变厚，缺陷的周围被检测为暗，因此，也可以在根据辉度阈值的检测之前，使用空间滤波器等。例如，为了抑制因毛刺造成的暗部的影响，将X射线检测图像中的低频成分去除的高通滤波器是有效的。
(图像运算单元)
在步骤S103中，通过图像运算单元进行图像运算。算出通过缺陷候选检测(S101)生成的缺陷候选图像12和通过高度测定(S102)生成的立体匹配图像13的逻辑积，由此得到图9所示的缺陷候选的高度算出图像14。
(检查范围设定单元)
在步骤S104中，通过检查范围设定单元设定检查范围。通过由多个位置距离测定单元4测定的表示结构体2表面的多个位置处的距离测定值的多个位置距离测定数据20，设定检查范围。在设定检查范围时，优选地，根据所述多个位置处的距离测定值求出所述结构体2的表面形状，根据结构体2的应检查的接合部处的厚度设计值，设定圆周方向上的每个检查位置的检查范围的上限值和下限值。进而，优选地，所述检查范围是根据在所述多个位置的距离测定值算出结构体2的表面的圆弧形状中心位置和圆弧半径而推定出的结构体的表面形状。
使用图10至图15说明该理由的详细情况。
图10是表示结构体在X射线透射拍摄的光轴方向上偏移地设置的情况下的例子的从上面(作为大致圆筒的结构体2的圆筒轴向)观察时的示意图。对于结构体2的设置位置，若结构体2的直径按照设计那样，则从由多个位置距离测定单元4得到的多个位置距离测定数据中提取最短值，将所述最短值与设置位置的设计值的差作为偏移量算出。若将与结构体2的中心位置在光轴方向上偏移了所述偏移量的量的结构体2的应检查的接合部的外径对应的圆弧作为设定的外侧的检查范围边界阈值15、将与圆弧的半径缩短了结构体2的应检查的接合部的厚度T的量而得的内径对应的圆弧作为设定的内侧的检查范围边界阈值16，则实际的外侧的检查范围边界17与设定的外侧的检查范围边界阈值15一致，并且实际的内侧的检查范围边界18与设定的内侧的检查范围边界阈值16一致。检查范围为被设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16夹着的范围，如图11所示的表示结构体在X射线透射拍摄的光轴方向上偏移地设置的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图那样，接合部的空隙缺陷7在设定的外侧的检查范围边界阈值15和设定的内侧的检查范围边界阈值16所表示的范围内被检测。
图12是表示结构体在与X射线透射拍摄的光轴正交的方向上偏移地设置的情况下的例子的从上面(作为大致圆筒的结构体2的圆筒轴向)观察时的示意图。对于结构体2的设置位置，若结构体2的直径按照设计的那样，则从由多个位置距离测定单元4得到的多个位置距离测定数据中提取最短值，将所述最短值与设置位置的设计值的差作为偏移量算出。若将与中心位置在光轴方向上偏移了所述偏移量的结构体2的应检查的接合部的外径对应的圆弧作为设定的外侧的检查范围边界阈值15、将与半径缩短了结构体2的应检查的接合部的厚度T的量而得的内径对应的圆弧作为设定的内侧的检查范围边界阈值16，则实际的外侧的检查范围边界17与设定的外侧的检查范围边界阈值15不一致，并且实际的内侧的检查范围边界18与设定的内侧的检查范围边界阈值16不一致。检查范围为被设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16夹着的范围，如图13所示的表示结构体在与X射线透射拍摄的光轴正交的方向上偏移地设置的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图那样，接合部的空隙缺陷的一部分在设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16所表示的检查范围外被检测。成为漏看了的接合部的空隙缺陷8，一部分的毛刺内的空隙在设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16的范围内被检测，因此成为误检测出的毛刺内的空隙19。
图14是表示设置了内外径不同的结构体的情况下的例子的俯视示意图。对于结构体2的设置位置，从由多个位置距离测定单元4得到的多个位置距离测定数据中提取最短值，将所述最短值与设置位置的设计值的差作为偏移量来算出。若将与中心位置在光轴方向上偏移了所述偏移量的量的结构体2的应检查的接合部的外径对应的圆弧作为设定的外侧的检查范围边界阈值15、将与半径缩短了结构体2的应检查的接合部的厚度T的量而得的内径对应的圆弧作为设定的内侧的检查范围边界阈值16，则实际的外侧的检查范围边界17与设定的外侧的检查范围边界阈值15不一致，并且实际的内侧的检查范围边界18与设定的内侧的检查范围边界阈值16不一致。检查范围成为被设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16夹着的范围，如图15所示的表示设置了内外径不同的结构体的情况下的检查范围的例子的缺陷分布图那样，接合部的空隙缺陷中的一部分在设定的外侧的检查范围边界阈值15与设定的内侧的检查范围边界阈值16所表示的范围外被检测，成为漏看了的接合部的空隙缺陷8。
这样，结构体2的设置位置的偏移量仅在X射线透射拍摄的光轴方向上进行修正，无法实现准确的检查范围设定，因此，对于与X射线透射拍摄的光轴正交的方向、结构体2的直径，也需要同时修正偏移量。因此，对由多个位置距离测定单元4测定的表示结构体2表面的多个距离值的多个位置距离测定数据20，设定结构体2的表面形状模型函数，进行使用了最小二乘法等的模型拟合处理，优选使用推定圆弧的旋转中心位置以及圆弧的半径的圆函数模型。另外，在结构体2的材质为树脂的情况下，有时也因在结构体2的制作时、设置时产生的结构的歪斜等而与作为大致圆筒的结构体2的圆筒轴正交的截面形状发生椭圆化，因此，也可以使用椭圆函数模型。此外，对于由多个位置距离测定单元4测定的表示结构体2表面的多个距离值的多个位置距离测定数据20，如图16所示，有时因应检查的接合部的表面状态、多个位置距离测定单元4的测定精度而叠加了表示凹凸的测定值的上下移动、噪声，因此也可以在所述模型拟合处理时，限定模型拟合处理的计算范围、使用低通滤波器等空间滤波器、实施用于通过中值滤波器等模型拟合处理去除噪声成分的预处理。
此外，在模型拟合处理的圆函数模型由下式3定义的情况下，应导出的目标变量为X0、Y0、R这3点。
在设为如下时，
X：由多个位置距离测定单元4测定的测定点的X轴坐标值
Y：由多个位置距离测定单元4测定的测定点的Y轴坐标值
X0：结构体2的圆筒中心的X轴坐标值
Y0：结构体2的圆筒中心的Y轴坐标值
R：结构体2的圆筒半径
(式3)R2＝(X-X0)2+(Y-Y0)2
在未知的目标变量为3点的情况下，模型拟合处理所需的由多个位置距离测定单元4测定的结构体2表面的多个距离值的测定点数，在模型拟合处理的解法中使用最小二乘法时，最低也需要4点以上的测定点。实际上，可期待测定点数越多则模型拟合处理的导出精度越提高，因此测定点数的上限没有特别限制，根据实际的计算处理时间和能够得到的精度进行设定即可，测定点数优选处于4点至500点的范围、或者100点至10000点的范围。
另外，检查范围设定单元根据应检查的接合部的厚度设计值，求出检查范围的上限值和下限值并进行设定。具体而言，基于即使产生缺陷也能够容许的距结构体2的表面方向的深度容许值设定下限值，根据结构体2的壁厚设计值和即使产生缺陷也能够容许的深度值设定上限值。此外，为了防止缺陷的漏看，也可以以使得检查范围相对于壁厚设计值取值更广的方式调整上限值和下限值。优选进行对上限值缩小阈值、但对下限值扩大阈值。
根据通过上述已说明的方法算出的结构体2的表面形状，生成外侧的检查范围边界图像21和内侧的检查范围边界图像22。被外侧的检查范围边界图像21和内侧的检查范围边界图像22夹着的范围成为检查范围，在各个像素位置具有检查空间的各图像像素位置处的检查范围的边界阈值。
(缺陷判断单元)
在步骤S105中，通过缺陷判断单元来判断缺陷。缺陷判断单元(执行S105)对由图像运算单元(执行S103)运算得到的缺陷候选的高度位置算出图像20和将根据结构体2的应检查的接合部的表面形状设定的外侧的检查范围边界图像21作为高度下限值、将内侧的检查范围边界图像22作为高度上限值进行比较。在图像的各像素中，判定缺陷候选中的任一个是否包含于高度下限值与高度上限值的范围内，在包含的情况下判断为是空隙缺陷，在不包含的情况下，判断为是存在于位于应检查的接合部的上下的毛刺内的空隙、杂质、或者是误检测。
对于缺陷判断单元(执行S105)，由于缺陷候选的高度位置不固定，根据形状而具有某个高度范围，因此，若缺陷候选的一部分包含于所述检查范围上限值与下限值的范围内则判断为是缺陷，但在缺陷的面积小的情况下、缺陷的高度的梯度陡的情况下，由于存在缺陷的高度信息中不包含上限值及下限值的范围的值的情况，因此，为了在该情况下也能够判定为缺陷，也可以在缺陷的高度的最大值在上限值以下且最小值比缺陷下限值低的情况下，判断为缺陷。
在本发明的实施方式中，由于误检测区域11和毛刺内的空隙9超过预先确定的高度上限值，所以不判定为缺陷，仅接合部的空隙缺陷7处于高度上限值与下限值的范围内，因此被分选为缺陷，并作为缺陷的分选结果图像23而被输出。
以上，对于本发明的一个实施方式，以为了得到两个以上的X射线辐射路径而具备两个以上的X射线辐射单元1的构成为例，参照附图进行了说明。本发明能够采用例如以下那样的变形实施方式。
(1)为了得到两个以上的X射线辐射路径，每当X射线检测单元3中的X射线检测时，使X射线辐射单元1移动的构成。图19示出示意图。图19是用于说明在本发明的一个实施方式中设置了使X射线辐射单元移动的单元的构成的示意图。为了便于说明，没有记载多个位置距离测定单元4。使X射线辐射单元移动的单元优选为移动方向为与X射线检测单元3平行的方向且为与接合面垂直的朝向的构成。
(2)为了得到两个以上的X射线辐射路径，每当X射线检测单元3中检测时使结构体2移动的构成。图20示出示意图。图20是用于说明在本发明的一个实施方式中设置了使结构体2移动的单元的构成的示意图。为了便于说明，没有记载多个位置距离测定单元4。使结构体2移动的单元优选为移动方向为与X射线检测单元3平行的方向且为与到达面垂直的朝向的构成。
另外，本发明的所有实施方式例如也能够将以下的任意的进一步的变形实施方式组合。
(1)将X射线辐射单元插入结构体的内部的构成。图21示出示意图。为了便于说明，没有记载多个位置距离测定单元4。在X射线辐射单元相对于检查对象的结构体的开口部小的情况下，能够实现本构成。在本构成中，辐射出的X射线仅通过结构体的1层，因此，与将X射线辐射单元1设置在结构体2的外侧的情况相比，噪声少，能够实现高精度的检查。
(2)将X射线检测单元插入结构体的内部的构成。图22示出示意图。为了便于说明，没有记载多个位置距离测定单元4。在X射线检测单元相对于检查对象的结构体的开口部小的情况下，能够实现本构成。在本构成中，辐射出的X射线仅通过结构体的1层，因此与将X射线检测单元3设置在结构体2的外侧的情况相比，噪声少，能够实现高精度的检查。
＜结构体制造装置＞
对本发明的一个实施方式的结构体制造装置进行说明。本实施方式的结构体的制造装置包括：利用上述的结构体检查装置的检查单元、和对在检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别的分选单元。以下，详细进行说明。此外，本实施方式的结构体的制造装置包括这些检查单元和分选单元即可，其它单元没有特别限定。因此，以下所示的其它单元为例示，可以适当地进行设计变更。
(结构体制作单元)
本单元是结构体制作单元。例如，在结构体是上述的内衬构件的情况下，在结构体检查装置的实施方式中，如上所述，能够通过吹塑成型、注塑成型等进行制作。
(检查单元)
本单元具备以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元、对透射了结构体的X射线进行检测的至少一个以上的X射线检测单元、以及图像处理单元。在检查单元中检测到杂质、空隙等的结构体被判定为不合格品，通过后续的分选单元进行分选并被除去。
(分选单元)
本单元对在检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别。本单元可以由分选者人为地实施，也可以通过与保持合格品或不合格品的信息的计算机程序联动的输送单元以机械方式执行。在分选单元中没有被分选的合格品的结构体，可以作为高压罐的材料而被采用。
以上，根据本实施方式的结构体的制造方法，在检查单元中，能够恰当地检测存在于结构体的杂质、空隙。另外，被检测到杂质等的结构体能够在分选工序中被分选、排除。因此，结构体能够仅分选合格品。分选出的结构体经过后续的工序，可以制造高压罐。其结果，根据本实施方式的结构体的制造方法，能够对作为不合格品的结构体省略后续的工序。另外，所制造的高压罐的成品率提高。
＜高压罐制造装置＞
对本发明的一个实施方式的高压罐制造装置进行说明。本发明的高压罐制造装置包括：利用上述的结构体检查装置的检查单元、对在检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别的分选单元、以及对被判定为合格品的结构体形成加强用外层的外层形成单元。以下，详细进行说明。此外，本发明的高压罐制造装置包括这些检查单元、分选单元以及外层形成单元即可，其它单元没有特别限定。因此，以下所示的其它单元为例示，可以适当地进行设计变更。
(结构体制作单元)
本单元是结构体制作单元。例如，在结构体是上述的内衬构件的情况下，在结构体检查装置的实施方式中，如上所述，能够通过吹塑成型、注塑成型等进行制作。
(检查单元)
本单元具备：多个以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元、对透射了结构体的X射线进行检测的至少一个以上的X射线检测单元、以及图像处理单元，与在结构体制造装置的实施方式中的上述的检查单元同样。
(分选单元)
本单元对在检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别，与在结构体制造装置的实施方式中的上述的分选单元同样。
(外层形成单元)
本单元对被判定为合格品的结构体，形成加强用外层(加强层)。对于加强层，在检查装置的实施方式中，如上所述，优选为纤维强化树脂层，在结构体的外表面设置一个或多个加强层。设置了加强层的结构体进一步适当地安装用于向燃料电池供给高压气体的供给系统(阀构件、各种配管系统等)，作为高压罐使用。
以上，根据本发明的高压罐制造装置，在检查装置中，能够恰当地检测存在于结构体的杂质、空隙。另外，被检测出杂质等的结构体能够在分选单元中被分选、排除。进而，仅对被判定为合格品的结构体形成加强层。因此，根据本发明的高压罐制造装置，不会对作为不合格品的结构体形成加强层，因此，例如不会浪费地使用纤维强化树脂。另外，所制造的高压罐的成品率提高。
＜结构体＞
对本发明的结构体进行说明。本发明的结构体是使用上述的结构体制造装置而制造的。以下，详细地进行说明。此外，本发明的结构体只要使用这些制造装置即可，其它单元没有特别限定。因此，以下所示的其它单元是例示，可以适当地进行设计变更。
(结构体制造装置)
本装置是结构体制造装置。与上述的结构体制造装置同样。
以上，根据本发明的结构体，在制造装置中，能够恰当地检测存在于结构体的杂质、空隙。另外，被检测出杂质等的结构体能够在分选单元中被分选、排除。因此，根据本发明的结构体，不会对作为不合格品的结构体形成加强层，因此，例如不会浪费地使用纤维强化树脂。另外，所制造的高压罐的成品率提高。
以上，根据本发明的结构体，结构体能够仅分选合格品。被分选出的结构体能够经过后续的工序而制造高压罐。其结果，根据本发明的结构体，能够对作为不合格品的结构体省略后续的工序。
＜高压罐＞
对本发明的一个实施方式的高压罐进行说明。本发明的高压罐使用上述的高压罐制造装置而制造。以下，详细地进行说明。此外，本发明的高压罐只要使用这些制造装置即可，其它单元没有特别限定。因此，以下所示的其它单元为例示，可以适当地进行设计变更。
(高压罐制造装置)
本装置是高压罐制造装置。与上述的高压罐制造装置同样。
以上，根据本发明的高压罐，仅对被判定为合格品的结构体形成加强层。因此，根据本发明的高压罐，不会对作为不合格品的结构体形成加强层，因此，例如不会浪费地使用纤维强化树脂。
＜燃料电池车＞
对本发明的一个实施方式的燃料电池车进行说明。本发明的燃料电池车使用上述的高压罐。以下，详细地进行说明。此外，本发明的燃料电池车只要使用这些高压罐即可，其它单元没有特别限定。因此，以下所示的其它单元为例示，可以适当地进行设计变更。
(高压罐)
本罐是高压罐。与上述的高压罐同样。
以上，根据本发明的燃料电池车，使用仅对被判定为合格品的结构体形成了加强层的高压罐。因此，根据本发明的燃料电池车，由于不使用作为不合格品的高压罐，因此例如不会浪费地使用燃料电池车的其它构成构件。
附图标记说明
1 X射线辐射单元
1a X射线辐射单元
1b X射线辐射单元
2 结构体
3 X射线检测单元
4 多个位置距离测定单元
4a 距离测定位置
5 图像处理单元
7 接合部的空隙缺陷
8 漏看的接合部的空隙缺陷
9 毛刺内的空隙
10a 基于X射线辐射单元1a的X射线检测图像a
10b 基于X射线辐射单元1b的X射线检测图像b
11 误检测区域
12 缺陷候选图像
13 立体匹配图像
14 高度位置算出图像
15 设定的外侧的检查范围边界阈值
16 设定的内侧的检查范围边界阈值
17 实际的外侧的检查范围边界
18 实际的内侧的检查范围边界
19 误检测的毛刺内的空隙
20 多个位置距离测定数据
21 外侧的检查范围边界图像
22 内侧的检查范围边界图像
23 缺陷的分选结果图像

Claims (20)

1.一种结构体检查装置，具备：X射线辐射单元，其以两个以上的路径辐射X射线；一个以上的X射线检测单元，其对透射了结构体的X射线进行检测；多个位置距离测定单元，其在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离而取得多个距离值；以及图像处理单元，
所述图像处理单元包括：缺陷候选检测单元，其对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选；高度测定单元；图像运算单元，其对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算；检查范围设定单元，其根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围；以及缺陷判断单元，其在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷。
2.根据权利要求1所述的结构体检查装置，
所述多个位置距离测定单元是通过光截法来测定线状的高度轮廓的高度轮廓测定单元。
3.根据权利要求1或2所述的结构体检查装置，
高度测定单元是基于立体匹配法的测定单元。
4.根据权利要求1或2所述的结构体检查装置，
所述检查范围设定单元根据所述多个距离值求出所述结构体的表面形状，根据所述结构体的厚度设定每个检查位置的检查范围。
5.根据权利要求1或2所述的结构体检查装置，
所述结构体为大致圆筒状，其表面形状是根据所述多个距离值算出所述结构体的圆弧中心位置和圆弧半径而推定出的结构体的表面。
6.根据权利要求1或2所述的结构体检查装置，
所述结构体为高压罐用构件。
7.一种结构体制造装置，使用权利要求1～6中任一项所述的结构体检查装置，该制造装置包括：
利用结构体检查装置的检查单元；和分选单元，其对在所述检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别。
8.一种高压罐制造装置，使用权利要求1～6中任一项所述的结构体检查装置，该制造装置包括：
利用结构体检查装置的检查单元；分选单元，其对在所述检查单元中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；以及外层形成单元，其对被判定为合格品的结构体形成加强用外层。
9.一种结构体，
使用权利要求7所述的结构体制造装置而制造。
10.一种高压罐，
使用权利要求8所述的高压罐制造装置而制造。
11.一种燃料电池车，
使用了权利要求10所述的高压罐。
12.一种结构体检查方法，包括：
以两个以上的路径辐射X射线，在一个以上的位置检测透射了结构体的X射线，在多个位置测定从X射线辐射单元到所述结构体的距离而取得多个距离值，对检测出的X射线图像检测缺陷候选，测定缺陷候选的高度，对得到的高度信息图像和作为所述缺陷候选得到的图像进行逻辑积运算，根据所述距离和结构体的厚度设定检查范围，在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷。
13.根据权利要求12所述的结构体检查方法，
测定所述距离的方法是利用光截法来测定线状的高度轮廓的方法。
14.根据权利要求12或13所述的结构体检查方法，
测定缺陷候选的高度的方法是基于立体匹配法的方法。
15.根据权利要求12或13所述的结构体检查方法，
在设定所述检查范围的方法中，根据所述多个距离值求出所述结构体的表面形状，根据所述结构体的厚度设定每个检查位置的检查范围。
16.根据权利要求12或13所述的结构体检查方法，
所述结构体为大致圆筒状，其表面形状为根据所述多个距离值算出所述结构体的圆弧中心位置和圆弧半径而推定的形状。
17.根据权利要求12或13所述的结构体检查方法，
所述结构体是高压罐用构件。
18.一种结构体制造方法，使用权利要求12～17中任一项所述的结构体检查方法，该制造方法包括：
利用结构体检查方法的检查工序；和分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别。
19.一种高压罐制造方法，使用权利要求12～17中任一项所述的结构体检查方法，该制造方法包括：
利用结构体检查方法的检查工序；分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；以及外层形成工序，对被判定为合格品的结构体形成加强用外层。
20.一种燃料电池车制造方法，使用权利要求12～17中任一项所述的结构体检查方法，该制造方法包括：
利用结构体检查方法的检查工序；分选工序，对在所述检查工序中被判定为不合格品的结构体和被判定为合格品的结构体进行区别；外层形成工序，对被判定为合格品的结构体形成加强用外层而得到高压罐；以及设置工序，将得到的高压罐设置于底盘。
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