CN112914344A - 烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具，所述方法包括：在接收到第一磁控信号，且该第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断该底座上放置的锅具为该第一锅具；其中，第一磁控开关获取该第一磁控信号，该第一磁控开关设置在该底座的第一位置上，该第一位置与该第一锅具内的第一触发件的安装位置相对应；在未接收到该第一磁控信号，且接收到的温度检测信号在预设范围内的情况下，判断该底座上放置的锅具为该第二锅具；其中，温度传感器获取该温度检测信号，该温度传感器设置在该第二锅具内，且该底座通过该耦合器与该温度传感器连接，从而解决了在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题。

Description

烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具
技术领域
本申请涉及家用电器技术领域，特别是涉及一种烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具。
背景技术
在电热锅等烹饪器具的加热过程中，通过检锅功能才能够对烹饪器具的电源底座上是否放置有锅具进行检测。而检锅方法的好坏直接影响到检测锅具过程中的噪音、检测时间及准确度等，进而会影响到用户对产品的使用体检；检锅技术的关键是检测有锅和无锅情况下谐振电路中电信号的差异，通过一定技术手段将差异变为量化的数据，从而进行判断。在相关技术中，为了使得锅具检测安全可靠，一般使用磁控开关来检测电源底座上是否放置锅具，例如，通过使用磁体配合干簧管进行检测；然而在一个电源底座适配多个不同类型锅具的情况下，通过磁控开关组合编码进行锅具检测的方式，需要在检测系统中设置过多的磁体等触发件，导致炊具成本过高，造成资源浪费。
针对相关技术中，在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
针对相关技术中，在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题，本发明提供了一种烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具，以至少解决上述问题。
根据本发明的一个方面，提供了一种烹饪器具的检测方法，所述烹饪器具包括底座、耦合器、第一锅具和第二锅具，其中，所述底座上设置耦合器，所述底座通过所述耦合器与所述第一锅具电连接，或者通过所述耦合器与所述第二锅具电连接；所述方法包括：
在接收到第一磁控信号，且所述第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第一锅具；
其中，第一磁控开关获取所述第一磁控信号，所述第一磁控开关设置在所述底座的第一位置上，所述第一位置与所述第一锅具内的第一触发件的安装位置相对应；
在未接收到所述第一磁控信号，且接收到的温度检测信号在预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具；
其中，温度传感器获取所述温度检测信号，所述温度传感器设置在所述第二锅具内，且所述底座通过所述耦合器与所述温度传感器连接。
在其中一个实施例中，所述烹饪器具还包括第三锅具，所述底座通过所述耦合器与所述第三锅具电连接；所述方法还包括：
在接收到第二磁控信号，且所述第二磁控信号为第二预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第三锅具；
其中，第二磁控开关获取所述第二磁控信号；所述第二磁控开关设置在所述底座的第二位置上，所述第二位置与所述第三锅具内的第二触发件的安装位置相对应，且所述第二位置与所述第一位置不同侧
在未接收到所述第一磁控信号和所述第二磁控信号，且所述温度检测信号在预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在接收到所述第一磁控信号，且所述第一磁控信号不为所述第一预设值的情况下，控制报警装置发送报警信号提示出错；
在接收到所述第二磁控信号，且所述第二磁控信号不为所述第二预设值的情况下，控制所述报警装置发送所述报警信号。
在其中一个实施例中，所述第二磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在所述判断结果为所述第一锅具的情况下，控制加热元件启动与所述第一锅具相匹配的第一烹饪模式；
在所述判断结果为所述第二锅具的情况下，控制所述加热元件启动与所述第二锅具相匹配的第二烹饪模式；
其中，所述第一锅具和第二锅具内均设置有所述加热元件，所述加热元件与所述耦合器连接。
在其中一个实施例中，在未接收到所述第一磁控信号的情况下，所述方法还包括：
在所述温度检测信号不在所述预设范围内的情况下，确定所述底座上未放置锅具，并控制所述底座处于休眠状态。
在其中一个实施例中，所述温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
在其中一个实施例中，所述第一磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第一触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
在其中一个实施例中，所述检测所述底座上放置的锅具为所述第二锅具之后，所述方法还包括：
向终端发送锅具类型的检测结果；其中，所述终端显示所述检测结果。
根据本发明的另一个方面，提供了一种烹饪器具，所述烹饪器具包括：底座、第一锅具和第二锅具；其中，所述底座包括耦合器和控制电路板；
所述底座通过所述耦合器与所述第一锅具电连接，或者通过所述耦合器与所述第二锅具电连接；
所述底座的第一位置上安装第一磁控开关，其中，所述第一位置与所述第一锅具内的第一触发件的安装位置相匹配；所述第一磁控开关与所述控制电路板连接，所述第一磁控开关用于获取第一磁控信号；
所述第二锅具内设置温度传感器，所述温度传感器与所述耦合器连接；所述温度传感器用于获取温度检测信号；
所述控制电路板与所述耦合器连接；所述控制电路板用于在接收到所述第一磁控信号，且所述第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第一锅具；
所述控制电路板还用于在未接收到所述第一磁控信号，且所述温度检测信号在预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
在其中一个实施例中，所述烹饪器具还包括第三锅具；
所述底座通过所述耦合器与所述第三锅具电连接；
所述底座的第二位置上安装第二磁控开关；其中，所述第二位置与所述第三锅具内的第二触发件的安装位置相对应，且所述第二位置与所述第一位置不同侧；
所述第二磁控开关与所述控制电路板连接；所述第二磁控开关用于获取第二磁控检测信号；
所述控制电路板还用于在接收的所述第二磁控信号为第二预设值的情况下，判断所述底座上的放置锅具为所述第三锅具；
所述控制电路板还用于在在未接收到所述第一磁控信号和所述第二磁控信号，且所述温度检测信号在所述预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
在其中一个实施例中，所述第二磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
在其中一个实施例中，所述底座还包括信号处理单元；
所述耦合器与所述信号处理单元连接，所述信号处理单元与所述控制电路板连接；
所述信号处理单元用于对所述耦合器接收到的所述温度检测信号进行采样处理，并将所述采样处理后的所述温度检测信号发送给所述控制电路板进行检测。
在其中一个实施例中，所述温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
在其中一个实施例中，所述第一磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第一触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
通过本发明，采用一种烹饪器具的检测方法、系统及烹饪器具，所述方法包括：在接收到第一磁控信号，且该第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断该底座上放置的锅具为该第一锅具；其中，第一磁控开关获取该第一磁控信号，该第一磁控开关设置在该底座的第一位置上，该第一位置与该第一锅具内的第一触发件的安装位置相对应；在未接收到该第一磁控信号，且接收到的温度检测信号在预设范围内的情况下，判断该底座上放置的锅具为该第二锅具；其中，温度传感器获取该温度检测信号，该温度传感器设置在该第二锅具内，且该底座通过该耦合器与该温度传感器连接，从而解决了在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题。
附图说明
图1为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图一；
图2为根据本发明实施例的一种应用的烹饪器具的示意图一；
图3为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图二；
图4为根据本发明实施例的一种应用的烹饪器具的示意图二；
图5为根据本发明实施例的一种触发件安装位置的示意图；
图6为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图三；
图7为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图四；
图8是根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图五；
图9为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图一；
图10为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图二；
图11为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图三；
图12A为根据本发明实施例的一种锅具内部检测电路的示意图；
图12B为根据本发明实施例的一种底座内部检测电路的示意图；
图13为根据本发明实施例的一种烹饪器具的结构框图一；
图14为根据本发明实施例的一种烹饪器具的结构框图二。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。
在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。
在本实施例中，提供了一种烹饪器具的检测方法，图1为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图一，如图1所示，该方法包括如下步骤：
步骤S102，在接收到第一磁控信号，且该第一磁控信号为第一预设值的情况下，检测该底座上放置的锅具为该第一锅具；其中，图2为根据本发明实施例的一种应用的烹饪器具的示意图一，如图2所示，该烹饪器具包括底座202、、第一锅具206和第二锅具208，其中，该底座202上设置耦合器204，该底座202通过该耦合器204与该第一锅具206电连接，或者通过该耦合器204与该第二锅具208电连接；具体地，该耦合器可以为内部可拆卸链接的器件；例如，在该耦合器204包括上耦合器和下耦合器的情况下，该下耦合器设置在底座202内，且该下耦合器与该底座202内的控制电路板连接；在第一锅具206和第二锅具208内，均设置有与该下耦合器适配的上耦合器，则该第一锅具206和第二锅具208均可以通过该耦合器204与该底座202适配；该第一锅具206和第二锅具208可以为蒸饭锅、煎锅、煮锅、蒸煮锅或其他类型的锅具。
其中，第一磁控开关210获取该第一磁控信号，该第一磁控开关210设置在该底座202的第一位置上，该第一位置与该第一锅具206内的第一触发件的安装位置相对应；该第一磁控开关210可以为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；该第一触发件可以为磁铁、磁石或者磁钢。
具体地，该第一预设值可以由用户进行设置，例如，该第一预设值可以为高电平，则在该控制电路板接收到该第一磁控开关210发送的高电平信号的情况下，说明该第一磁控开关210和该第一触发件导通，则此时检测结果为内置第一触发件的第一锅具206放置在底座202上。
步骤S104，在该控制电路板未检测到磁控信号，且该控制电路板接收到的由耦合器204发送过来的温度检测信号在预设范围内的情况下，检测该底座202上放置的锅具为未设置触发件的第二锅具208；该预设范围可以预先由用户根据锅具类型进行设置。
其中，温度传感器获取该温度检测信号，该温度传感器设置在该第二锅具208内，且该温度传感器与该耦合器204连接；该温度传感器可以为热敏电阻、热电偶、PN结型温度传感器或其他温度传感器；需要解释的是，该温度传感器为任一类型锅具中的原有装置，然而在相关技术中，锅具内的温度传感器仅用于探测锅具的锅底温度。
在相关技术中，为了检测锅具需要放置多个磁铁；而本发明实施例通过上述步骤S102至步骤S104，在一个底座202适配多个锅具的情况下，通过锅具内原有的温度传感器，辅助第一磁控开关210对烹饪锅具进行检测，根据接收到的磁控信号和温度检测信号，自动确定该底座202上放置的锅具的类型，而不需要再设置其他多余的磁铁等触发件，从而降低了炊具成本，解决了在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测方法，图3为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图二，如图3所示，该方法包括如下步骤：
步骤S302，在接收到第二磁控信号，且该第二磁控信号为第二预设值的情况下，说明该第二磁控信号与该第三锅具内设置的第二触发件导通，则此时检测结果为该第三锅具放置在该底座202上；其中，该第二预设值可以由用户进行设置。此外，在未接收到该第一磁控信号和该第二磁控信号，且该温度检测信号在预设范围内的情况下，检测该底座202上放置的锅具为该第二锅具208。
其中，图4为根据本发明实施例的一种应用的烹饪器具的示意图二，如图4所示，该烹饪器具还包括第三锅具，该底座202通过该耦合器204与该第三锅具402电连接。其中，第二磁控开关404获取该第二磁控信号；该第二磁控开关404设置在该底座202的第二位置上，该第二位置与该第三锅具402内的第二触发件的安装位置相对应，且该第二位置与该第一位置不同侧；该第二磁控开关404可以为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；该第二触发件可以为磁铁、磁石或者磁钢。
图5为根据本发明实施例的一种触发件安装位置的示意图，如图5所示，第一锅具206内的左侧设置有第一触发件，第二锅具208内无触发件，第三锅具402内的右侧设置有第二触发件，则底座202在左右两侧分别设置有与这两个触发件对应的磁控开关。
在相关技术中，在烹饪器具包括三种类型的锅具的情况下，一般通过在底座202上设置两个磁控开关，并分别在一类锅具底部的左侧设置一个磁铁，另一类锅具底部的右侧设置一个磁铁，又一类锅具底部两侧设置两侧磁铁，根据这三类状态进行判锅。而本发明实施例通过上述步骤S302，在第三锅具402内部设置第二触发件，并在底座202上设置与该第二触发件对应的第二磁控开关404，并根据磁控信号和温度检测信号对三类锅具进行检测，与相关技术相比节省了触发件的设置，从而在烹饪器具的检测中节省了成本。
在一个实施例中，在接收到第一磁控信号或第二磁控信号之后，该方法还包括如下步骤：
步骤S402，在接收到该第一磁控信号，且该第一磁控信号不为该第一预设值的情况下，或者，在接收到该第二磁控信号，且该第二磁控信号不为该第二预设值的情况下，控制报警装置发送报警信号提示用户系统出现错误；其中，该报警装置与该底座202内部的控制电路板连接，该报警装置可以为显示器、扬声器、警报灯或其他声光装置。
通过上述步骤S402，在接收到的磁控信号不为预设值的情况下，说明在烹饪器具的检测中设备出现了问题，则通过报警装置及时提醒用户进行处理或更换，避免了由于设备出错而影响使用效率或造成事故，有效提高了在烹饪器具的检测方法中的安全性及效率。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测方法，图6为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图三，如图6所示，该方法包括如下步骤：
步骤S602，根据锅具类型的检测结果，通过控制电路板启动相应的加热程序，控制加热元件以与该锅具类型相匹配的烹饪模式进行加热；例如，在判断底座上放置的锅具为第一锅具206的情况下，控制该加热元件启动与该第一锅具206相匹配的第一烹饪模式；在判断底座上放置的锅具为第二锅具208的情况下，控制该加热元件启动与该第二锅具208相匹配的第二烹饪模式；其中，该加热元件设置在该第一锅具206和第二锅具208内，该加热元件与上耦合器204连接。可以理解的是，在该烹饪器具还包括第三锅具402的情况下，该第三锅具402内也设置有该加热元件用于加热，且该第三锅具402内设置的加热元件可以启动第三烹饪模式；烹饪模式可以设置为煮、煎、蒸或其他烹饪方式。通过上述步骤S602，自动控制锅具内的加热元件，以检测到的锅具类型相应的烹饪模式进行加热，进一步增加了烹饪器具的智能检测的功能，提高了用户体验。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测方法，图7为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图四，如图7所示，该方法包括如下步骤：
步骤S702，在未接收到第一磁控信号和第二磁控信号，且该温度检测信号不在该预设范围内的情况下，确定该底座202上未放置锅具，并控制该底座202处于休眠状态，该底座202内的控制电路板停止加热程序；其中，由于各锅具内设置有加热元件，在未接收到磁控信号的情况下，由于底座202此时提供的电能，则锅具内的加热元件进行加热，并在锅具温度上升到一定程度的情况下，判定该底座202上放置了第二锅具208，并启动相应的加热程序；相反，若该第二锅具208未放置在底座202上，则底座202不能控制锅具内加热元件加热，底座202内控制电路板接收到的温度检测信号无法达到预设范围内，因此底座202上无锅。
通过上述步骤S702，对底座202上未放置锅具的状态进行检测，并控制底座202休眠，从而节省了烹饪器具检测的功耗，同时由于加热元件设置在锅具内，因此也提高了烹饪器具检测的安全性。
在一个实施例中，在对该底座202上放置的锅具类型检测完成之后，该方法还包括如下步骤：通过控制电路板向终端发送锅具类型的检测结果；其中，该终端显示该检测结果；该终端可以为显示面板，该显示面板可以显示包括锅具类型或烹饪模式等相关的检测结果；该终端也可以为个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备，该控制电路板可以通过网络或无线模块，与该终端进行连接并发送给该终端检测结果。通过步骤S802，通过与该控制电路板连接的终端来实时显示锅具类型的检测结果，从而便于用户实时掌握对烹饪器具的检测，有利于提高用户体验。
下面结合实际应用场景对本发明的实施例进行详细说明，图8是根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测方法的流程图五，该烹饪器具检测方法的具体实施步骤如图8所示。
步骤S802，检测底座202内的磁控开关的磁控信号，以及锅具内的温度传感器的温度检测信号。
步骤S804，在磁控开关有信号的情况下，判断底座202上放置了锅具；否则，判断温度检测信号是否在预设范围内，若是，则判定底座202上放置了第二锅具208，否则，判定底座202上未放置锅具。
步骤S806，若磁控信号未在预设值范围内，则判定系统出错，并向用户进行提示。
步骤S808，若磁控信号在预设值范围内，则对磁控信号进行判断，若磁控信号值为01，则判定底座202上放置了第一锅具206，若磁控信号值为10，则判定底座202上放置了第三锅具402。
应该理解的是，虽然图1、图3、图6至图8的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1、图3、图6至图8中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测系统，图9为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图一，如图9所示，该系统包括底座202，该底座202包括耦合器204、第一磁控开关210和控制电路板92；
该底座202通过该耦合器204与外接第一锅具206电连接，或者通过该耦合器204与外接第二锅具208电连接；
该第一磁控开关210安装在该底座202的第一位置上，且该第一磁控开关210与该控制电路板92连接；该第一磁控开关210用于获取第一磁控检测信号；其中，该第一位置与该第一锅具206内的第一触发件的安装位置相匹配；
该第二锅具208内设置温度传感器，该温度传感器与该耦合器204连接；该温度传感器用于获取温度检测信号；
该控制电路板92设置在该底座202内，且该控制电路板92与该耦合器204连接；该控制电路板92用于在接收到该第一磁控信号，且该第一磁控信号为第一预设值的情况下，检测该底座202上放置的锅具为该第一锅具206；
该控制电路板92还用于在未接收到该第一磁控信号，且该温度检测信号在预设范围内的情况下，检测该底座202上放置的锅具为该第二锅具208。
通过上述实施例，在一个底座202适配多个锅具的情况下，通过锅具内原有的温度传感器，辅助第一磁控开关210对烹饪锅具进行检测，其中控制电路板92根据接收到的磁控信号和温度检测信号，自动确定该底座202上放置的锅具的类型，而不需要再设置其他多余的磁铁等触发件，从而降低了炊具成本，解决了在烹饪器具检测方法中存在的浪费资源的问题。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测系统，图10为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图二，如图10所示，该底座202还包括第二磁控开关404；
该底座202通过该耦合器204与外接第三锅具402电连接；
该第二磁控开关404设置在该底座202的第二位置上；其中，该第二位置与该第三锅具402内的第二触发件的安装位置相对应，且该第二位置与该第一位置不同侧；
该第二磁控开关404与该控制电路板92连接；该第二磁控开关404用于获取第二磁控检测信号；
该控制电路板92还用于在接收的该第二磁控信号为第二预设值的情况下，检测该底座202上的放置锅具为该第三锅具402。
在一个实施例中，该第二磁控开关404设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；该第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
在一个实施例中，该温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具的检测系统，图11为根据本发明实施例的一种烹饪器具的检测系统的结构框图三，如图11所示，该底座202还包括信号处理单元112；
该耦合器204与该信号处理单元112连接，该信号处理单元112与该控制电路板92连接；该信号处理单元112用于对该耦合器204接收到的该温度检测信号进行采样处理，并将该采样处理后的该温度检测信号发送给该控制电路板92进行检测。
其中，在该温度传感器为热敏电阻的情况下，该热敏电阻可以为负温度系数(Negative Temperature Coefficient，简称为NTC)热敏电阻，也可以为正温度系数(Positive Temperature Coefficient，简称为PTC)热敏电阻。例如，在温度传感器为NTC热敏电阻的情况下，图12A为根据本发明实施例的一种锅具内部检测电路的示意图，图12B为根据本发明实施例的一种底座内部检测电路的示意图；在图12A的锅具内部检测电路中，NTC热敏电阻122与上耦合器124连接，NTC热敏电阻122的阻值随着锅具温度升高而减小；其中，该上耦合器124和该下耦合器126通过信号连接，且该上耦合器124和该下耦合器126可以反接；在图12B的底座202内部检测电路中，底座202电源给下耦合器126提供5V电压，该下耦合器126分别和10kΩ的第一电阻R1、1kΩ的第二电阻R2连接，R1的另一侧接地；R2的另一侧分别和电容C1、控制电路板92连接，C1的另一侧接地；NTC热敏电阻122和R1用于对5V电压进行分压，R2用于限流，C1用于滤波，最后由控制电路板92接收到处理后的温度检测信号。
通过上述实施例，在检测系统中加入用于处理温度检测信号的信号处理单元112，从而对温度检测信号进行限流和滤波，使得控制电路板92可以采集到精确的信号，提高了烹饪器具的检测系统的准确性。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具，图13为根据本发明实施例的一种烹饪器具的结构框图一，如图13所示，该烹饪器具包括：底座202、第一锅具206和第二锅具208，其中，该底座202包括耦合器204和控制电路板92；
该底座202通过该耦合器204与该第一锅具206电连接，或者通过该耦合器204与该第二锅具208电连接；
该底座202的第一位置上安装第一磁控开关210，其中，该第一位置与该第一锅具206内的第一触发件的安装位置相匹配；该第一磁控开关210与控制电路板92连接，该第一磁控开关210用于获取第一磁控信号；
该第二锅具208内设置温度传感器，该温度传感器与该耦合器204连接；该温度传感器用于获取温度检测信号；
该底座202内设置控制电路板92，该控制电路板92与该耦合器204连接；该控制电路板92用于在接收到该第一磁控信号，且该第一磁控信号为第一预设值的情况下，检测该底座202上放置的锅具为该第一锅具206；
该控制电路板92还用于在未接收到该第一磁控信号，且该温度检测信号在预设范围内的情况下，检测该底座202上放置的锅具为该第二锅具208。
在一个实施例中，提供了一种烹饪器具，图14为根据本发明实施例的一种烹饪器具的结构框图二，如图14所示，该烹饪器具还包括第三锅具402；
该底座202通过该耦合器204与该第三锅具402电连接；
该底座202的第二位置上安装第二磁控开关404；其中，该第二位置与该第三锅具402内的第二触发件的安装位置相对应，且该第二位置与该第一位置不同侧；
该第二磁控开关404与该控制电路板92连接；该第二磁控开关404用于获取第二磁控检测信号；
该控制电路板还用于在接收的该第二磁控信号为第二预设值的情况下，检测该底座202上的放置锅具为该第三锅具402。
在一个实施例中，该第二磁控开关404设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；该第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
在一个实施例中，该温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
在一个实施例中，该第一磁控开关210设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；该第一触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (15)

1.一种烹饪器具的检测方法，其特征在于，所述烹饪器具包括底座、第一锅具和第二锅具，其中，所述底座上设置耦合器，所述底座通过所述耦合器与所述第一锅具电连接，或者通过所述耦合器与所述第二锅具电连接；所述方法包括：
在接收到第一磁控信号，且所述第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第一锅具；
其中，第一磁控开关获取所述第一磁控信号，所述第一磁控开关设置在所述底座的第一位置，所述第一位置与所述第一锅具内的第一触发件的安装位置相对应；
在未接收到所述第一磁控信号，且接收到的温度检测信号在预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具；
其中，温度传感器获取所述温度检测信号，所述温度传感器设置在所述第二锅具内，且所述底座通过所述耦合器与所述温度传感器连接。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述烹饪器具还包括第三锅具，所述底座通过所述耦合器与所述第三锅具电连接；所述方法还包括：
在接收到第二磁控信号，且所述第二磁控信号为第二预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第三锅具；
其中，第二磁控开关获取所述第二磁控信号；所述第二磁控开关设置在所述底座的第二位置上，所述第二位置与所述第三锅具内的第二触发件的安装位置相对应，且所述第二位置与所述第一位置不同侧；
在未接收到所述第一磁控信号和所述第二磁控信号，且所述温度检测信号在所述预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
在接收到所述第一磁控信号，且所述第一磁控信号不为所述第一预设值的情况下，控制报警装置发送报警信号提示出错；
在接收到所述第二磁控信号，且所述第二磁控信号不为所述第二预设值的情况下，控制所述报警装置发送所述报警信号。
4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第二磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述判断结果为所述第一锅具的情况下，控制加热元件启动与所述第一锅具相匹配的第一烹饪模式；
在所述判断结果为所述第二锅具的情况下，控制所述加热元件启动与所述第二锅具相匹配的第二烹饪模式；
其中，所述第一锅具和第二锅具内均设置有所述加热元件，所述加热元件与所述耦合器连接。
6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，在未接收到所述第一磁控信号的情况下，所述方法还包括：
在所述温度检测信号不在所述预设范围内的情况下，确定所述底座上未放置锅具，并控制所述底座处于休眠状态。
7.根据权利要求1至6任一项所述的检测方法，其特征在于，所述温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
8.根据权利要求1至6任一项所述的检测方法，其特征在于，所述第一磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第一触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
9.根据权利要求1至6任一项所述的检测方法，其特征在于，所述检测所述底座上放置的锅具为所述第二锅具之后，所述方法还包括：
向终端发送锅具的检测结果；其中，所述终端显示所述检测结果。
10.一种烹饪器具，其特征在于，所述烹饪器具包括：底座、第一锅具和第二锅具；其中，所述底座包括耦合器和控制电路板；
所述底座通过所述耦合器与所述第一锅具电连接，或者通过所述耦合器与所述第二锅具电连接；
所述底座的第一位置上安装第一磁控开关，其中，所述第一位置与所述第一锅具内的第一触发件的安装位置相匹配；所述第一磁控开关与所述控制电路板连接，所述第一磁控开关用于获取第一磁控信号；
所述第二锅具内设置温度传感器，所述温度传感器与所述耦合器连接；所述温度传感器用于获取温度检测信号；
所述控制电路板与所述耦合器连接；所述控制电路板用于在接收到所述第一磁控信号，且所述第一磁控信号为第一预设值的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第一锅具；
所述控制电路板还用于在未接收到所述第一磁控信号，且所述温度检测信号在预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
11.根据权利要求10所述的烹饪器具，其特征在于，所述烹饪器具还包括第三锅具；
所述底座通过所述耦合器与所述第三锅具电连接；
所述底座的第二位置上安装第二磁控开关；其中，所述第二位置与所述第三锅具内的第二触发件的安装位置相对应，且所述第二位置与所述第一位置不同侧；
所述第二磁控开关与所述控制电路板连接；所述第二磁控开关用于获取第二磁控检测信号；
所述控制电路板还用于在接收的所述第二磁控信号为第二预设值的情况下，判断所述底座上的放置锅具为所述第三锅具；
所述控制电路板还用于在在未接收到所述第一磁控信号和所述第二磁控信号，且所述温度检测信号在所述预设范围内的情况下，判断所述底座上放置的锅具为所述第二锅具。
12.根据权利要求11所述的烹饪器具，其特征在于，所述第二磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第二触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
13.根据权利要求10所述的烹饪器具，其特征在于，所述底座还包括信号处理单元；
所述耦合器与所述信号处理单元连接，所述信号处理单元与所述控制电路板连接；
所述信号处理单元用于对所述耦合器接收到的所述温度检测信号进行采样处理，并将所述采样处理后的所述温度检测信号发送给所述控制电路板进行检测。
14.根据权利要求10至13任一项所述的烹饪器具，其特征在于，所述温度传感器设置为热敏电阻、热电偶或PN结型温度传感器。
15.根据权利要求10至13任一项所述的烹饪器具，其特征在于，所述第一磁控开关设置为干簧管、霍尔元件、半导体磁电阻或者磁敏二极管；所述第一触发件设置为磁铁、磁石或者磁钢。
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