CN112731116A - 一种控制针卡在线复用增减针的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种控制针卡在线复用增减针的方法，包括基准水平固定结构及可调整的活动结构；基准水平固定结构，为所有针的底面，为基准水平面，固定在针卡电路板上，保证所有针接触pad时在一致的水平面，避免针因水平不一引起的pad扎针深浅的问题，该基准水平固定结构带螺纹；可调整活动结构，需要增减的问题针，放置在这个结构上，该结构带螺纹；本发明提供的一种控制针卡在线复用增减针的方法，可应用于上述提及的集成电路测试。该方法可大大避免因特定的集成电路设计，导致的针卡扎熔丝结构pad导致基准电压测试异常，从而需要分两张针卡进行测试的成本问题。

Description

一种控制针卡在线复用增减针的方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域，具体是一种控制针卡在线复用增减针的方法。
背景技术
在集成电路晶圆测试中，需要通过针卡将待测晶圆连接到ATE上进行自动测试。在一些电源类的集成电路晶圆测试中，需要对基准电压进行熔丝修调。而有些设计上的不可避免的会导致晶圆熔丝修调的那部分结构在进行针卡扎针时，存在干扰测试基准电压的情况，此时，需要将晶圆上的熔丝修调结构断开，也就是针卡上的针不能扎上那些熔丝修调结构的pad上。针对这方面的问题，通常分两张测试针卡进行测试，此类型技术，由于针卡安装针的结构是一体溶胶固定成型，主要通过两张针卡，一张针卡上为测试pad的针，另一张针卡上为熔丝修调结构pad的针，从而达到测试过程中，断开了熔丝修调结构pad对测试的影响。分两张针卡的前提是，需要提前按照理论上的可能影响pad，独立做针卡，实际情况中，委托测试单位与测试工程师对接的并非是设计部门，从而导致信息传递存在误差，使得最终制作好的两张针卡方案在实际测试中，可能依然存在测试异常问题，需要重做投板制作，严重影响了测试进度及委托单位的交期，还增加了测试成本。
发明内容
本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种控制针卡在线复用增减针的方法，可应用于上述提及的集成电路测试，该方法可大大避免因特定的集成电路设计，导致的针卡扎熔丝结构pad导致基准电压测试异常，从而需要分两张针卡进行测试的成本问题，其中，具体技术方案为：
包括基准水平固定结构及可调整的活动结构；基准水平固定结构，为所有针，包括不限于扎pad针、连PCB焊点的底面，为基准水平面，固定在针卡电路板上，保证所有针接触pad时在一致的水平面，避免针因水平不一引起的pad扎针深浅的问题，该基准水平固定结构带螺纹；可调整活动结构，需要增减的问题针，放置在这个结构上，该结构带螺纹。
可调整活动结构通过螺纹与基准水平固定结构相连，可调整活动结构的初始位置底部贴紧在基准水平固定结构的支撑面上，从而保证，初始状态下，可调整活动结构上的针和基准水平固定结构上的针在同一平面；测试开发过程中，发现可调整的活动结构上的针扎pad，对测试参数有影响时，抬高该针的可调整活动结构，保证断开该针扎pad；恢复原始针位置，调整该可调整活动结构。
本发明相对于现有技术具有如下有益效果：
本发明提供了一种控制针卡在线复用增减针的方法，可应用于上述提及的集成电路测试。该方法可大大避免因特定的集成电路设计，导致的针卡扎熔丝结构pad导致基准电压测试异常，从而需要分两张针卡进行测试的成本问题；同时，也方便了测试工程师的调试，避免了来回切换针卡验证所浪费的ATE机时问题及不同次setup中引入其他问题的排查。
附图说明
图1为现有技术的结构。
图2为本发明技术方案的结构。
图中：
1卡针电路板2挖空部分3注胶一体成型结构4扎pad针5连PCB焊点6基准水平固定结构7可调整活动结构8螺纹
具体实施方式
ATE：集成电路测试时使用的自动测试设备。
Probe：集成电路测试时用于承载待测晶圆的设备。
针卡：集成电路测试时用于连接待测晶圆与ATE的设备。
pad：待测晶圆上，对应到电路管脚的开窗结构名词。
测试工程师：实现集成电路自动测试的主体人群。
基准电压：电源类集成电路的输出电压，高精度。
熔丝修调：针对高精度基准电压，通过烧熔丝改变内部的分压电阻，从而调整输出基准电压的方法。
集成电路晶圆测试中，可能存在的熔丝修调结构扎针，会影响测试参数的测试中。本方案可控制针卡在线复用增减针，对测试有影响的针，可抬高后，不接触pad，从而达到断开结构的作用，从而不用设计两块针卡，也就无需来回切换针卡，大大方便了测试工程师的调试及保证进度和缩减成本。
实施例一：
技术方案参见图2。本实施例中，需要针对一款电源类的集成电路晶圆进行测试开发，最重要的测试参数为基准电压，需要对基准电压进行熔丝修调，其中，熔丝修调结构扎针会影响基准电压的测试。
应用本技术方案，将测试使用的针，安装在基准水平固定结构6中，将熔丝修调结构的针，安装在同一个可调整活动结构7中，方便整体调整。测试基准电压时，调整可调整活动结构7，将熔丝修调结构的针抬起，然后进行测试；基准电压测试完成后，再将熔丝修调结构的针复原，即可进行熔丝修调；之后再将熔丝修调结构针抬起，再次测试基准电压，验证熔丝修调后的基准电压是否符合规范要求，最终完成测试开发及量产测试；
实施例二：
技术方案参见图2。本实施例中，需要针对一款电源类的集成电路晶圆进行测试开发，但是委托测试的设计部门，从理论上并不确定哪些针会影响参数测试。
应用本技术方案，将确定不影响测试的针，像一些gnd管脚，电源管脚等，安装在基准水平结构中，将不确定是否会影响测试的针，安装在不同的可调整活动结构7中，可独立一根针安装一个可调整活动结构7。测试开发时，使用默认的全针扎pad进行参数测试，发现测试异常，通过调整可调整活动结构7，将特定的针抬起，进行调试验证，最终定位到哪些针会影响参数测试，反馈设计部门，并继续完成测试开发和最终量产测试。
综上，目前国内的集成电路设计正进行国产化，设计行业正在迅猛发展，涉及到的集成电路类型也在迅速扩大，面对未知的设计验证时，设计部门并不能确定一些参数的设计是否会被其他结构影响，使用现有的针卡技术方案，可能会出现多张针卡、重新投板等长周期及大成本的问题；本发明提供了一种控制针卡在线复用增减针的方法，具有快速响应、简单方便的特点，可应用于电源类集成电路晶圆测试中，能够降低测试成本及保障测试进度等。

Claims (3)

1.一种控制针卡在线复用增减针的方法，其特征在于：包括基准水平固定结构及可调整的活动结构；基准水平固定结构，为所有针的底面，为基准水平面，固定在针卡电路板上，保证所有针接触pad时在一致的水平面，避免针因水平不一引起的pad扎针深浅的问题，该基准水平固定结构带螺纹；可调整活动结构，需要增减的问题针，放置在这个结构上，该结构带螺纹。
2.如权利要求1所述的一种控制针卡在线复用增减针的方法，其特征在于：可调整活动结构通过螺纹与基准水平固定结构相连，可调整活动结构的初始位置底部贴紧在基准水平固定结构的支撑面上，从而保证，初始状态下，可调整活动结构上的针和基准水平固定结构上的针在同一平面；测试开发过程中，发现可调整的活动结构上的针扎pad，对测试参数有影响时，抬高该针的可调整活动结构，保证断开该针扎pad；恢复原始针位置，调整该可调整活动结构。
3.如权利要求2所述的一种控制针卡在线复用增减针的方法，其特征在于：基准水平固定结构设置的针包括扎pad针、连PCB焊点。
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