CN112351870A - 用于确定光学膜的切割位置的方法 - Google Patents

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Abstract

公开了确定纵长地光学膜的切割位置的方法，所述方法用以通过以长度方向上的一定间隔沿宽度方向切割光学膜来形成多个光学膜片材件。所述方法可以包括以下步骤：(a)基于光学膜的长度方向，预先获取关于光学膜的缺陷位置的信息；(b)基于长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于光学膜的缺陷位置的信息，将光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域；以及(c)从多个大计算区域中的在光学膜的长度方向上切割位置均未确定的区域确定切割位置。

Description

用于确定光学膜的切割位置的方法
技术领域
本公开内容涉及用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置的方法，所述方法用以通过以长度方向上的一定间隔沿宽度方向切割光学膜来形成多个片材件。
背景技术
可以通过将包括偏光膜、延迟膜、增亮膜和/或扩散膜的光学膜附接至面板的表面上来制造显示单元。
该光学膜可以以纵长地延伸的织物的形式制造，并且可以通过卷绕以卷制织物的形式制备。
可以将卷制织物形式的光学膜纵长地展开，并且可以以长度方向上的一定间隔沿宽度方向预先切割以对应于面板的尺寸，从而提供多个可以彼此分开的光学膜片材件。可以将该多个光学膜片材件各自供应至用于制造显示单元的光学膜附接系统并将其附接至面板。
作为另一个实例，光学膜可以不被预先切割成多个片材件，可以以与载体膜层合的织物的形式供应至光学膜附接系统，并且可以纵长地展开并传送。在传送过程期间，可以进行其中光学膜被切割但载体膜未被切割的半切割。然后，可以将连续排列在载体膜上的多个光学膜片材件供应至面板。
可以以长度方向上的预定间隔沿宽度方向切割光学膜，并且一般地可以确定切割间隔以对应于面板的宽度或长度。
同时，在光学膜的制造期间，由于流入异物和气泡，以及诸如划痕和变形的损坏，可能在光学膜中形成缺陷。在这种情况下，需要确定光学膜的切割位置以在排除缺陷的同时使织物的损失最小化。
一般地，可以确定用于排除缺陷的光学膜切割位置以满足正常切割间距条件、最小切割间距条件和最大切割间距条件。
正常切割间距条件可以意指用于形成不包含缺陷的正常光学膜片材件的间距条件。
为了防止光学膜片材件在用于切割或附接光学膜的系统中被夹在传送辊之间或者与传送辊分离，光学膜片材件的长度优选地在最小长度与最大长度之间。最小切割间距条件和最大切割间距条件可以为考虑到这样的最小长度和最大长度而确定的条件。最大切割间距可以设定为与正常切割间距相同的长度。
图1是示出了用于确定光学膜的切割位置的常规方法的一个实例的示意性流程图。光学膜的切割位置可以通过以下描述的过程来确定。
首先，将在长度方向上延伸的光学膜在一个方向上传输，并且此时，将光学膜的预定位置设定为初始切割位置。
然后，通过用于缺陷检测的成像装置检查从设定的切割位置到正常切割间距的n倍的距离(其中n为大于0的整数)的区域中在光学膜上是否存在缺陷。
然后，根据从设定的切割位置到间隔正常切割间距的位置的区域中是否包含缺陷，如下确定新的切割位置并沿宽度方向切割光学膜。
如果从设定的切割位置到间隔正常切割间距的位置的区域中不包含缺陷，则将与设定的切割位置间隔正常切割间距的位置确定为新的切割位置，并且在新的切割位置处沿宽度方向切割光学膜。
另外，如果从设定的切割位置到间隔正常切割间距的位置的区域中包含缺陷，则确定从设定的切割位置到紧接在缺陷之后的位置的间距是否大于最小切割间距。因此，如果从切割位置到紧接在缺陷之后的位置的间距大于最小切割间距，则将紧接在缺陷之后的位置确定为新的切割位置，并且在新的切割位置处切割光学膜。如果从切割位置到紧接在缺陷之后的位置的间距小于最小切割间距，则将与设定的切割位置间隔最小切割间距的位置确定为新的切割位置，并且在新的切割位置处切割光学膜。
此外，如果光学膜的在新的切割位置之后剩余的长度大于正常切割间距，则可以重复检查从设定的切割位置到正常切割间距的n倍的距离的区域中是否存在缺陷的步骤，以及随后的步骤。
图2是示出与通过用于确定光学膜的切割位置的常规方法切割其上形成有多个缺陷的光学膜的情况相比的最佳切割位置的一个实例的图。
图2(a)是示出通过用于确定光学膜的切割位置的常规方法切割光学膜的情况的一个实例的图。如其中所示，沿光学膜的长度方向通过正常切割间距重复切割待切割的光学膜。如果光学膜上形成有缺陷，则在紧接在缺陷之后的位置处切割光学膜，而如果在正常切割间距内存在彼此相邻的缺陷，则在紧接在随后的缺陷之后的位置处切割光学膜。然而，在正常切割间距内存在彼此相邻的缺陷的情况下，如果在前的切割线与紧接在随后的缺陷之后的位置之间的间距大于正常切割间距，但是相邻的缺陷之间的间距在最小切割间距以内，则紧接在在前的切割线之后的切割线首先在间隔正常切割间距的位置处进行切割，并且随后的切割线在与其间隔最小切割间距的位置处进行切割。在这种情况下，在光学膜的区域A中可以形成总计四个正常片材件(基于图2中所示的光学膜)。
同时，图2(b)是示出与图2(a)相比的最佳切割位置的一个实例的图。如其中所示，如果在位于区域A的上游的缺陷B的附近紧接在缺陷B之后的位置处未进行切割的情况下在下游进一步隔开的位置处切割光学膜，使得光学膜的区域A中可以包含的正常切割间距最多化，则可以在区域A中形成比图2(a)中的正常片材件更多的正常片材件(基于图2中所示的光学膜，总计五个正常片材件)。
也就是说，除了正常切割间距和最小切割间距之外，还需要考虑在缺陷与缺陷之间的区域中可以包含多少正常切割间距来确定切割位置。
以上描述的背景技术是由本发明人为了构思本公开内容的实施方案而拥有或者在构思期间获取的已知技术，并且不能被认为是在提交本公开内容的实施方案之前为一般公众所知的已知技术。
发明内容
技术问题
本公开内容的实施方案旨在提供用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置的方法，其可以确定光学膜的最佳切割位置，以通过以长度方向上的一定间隔沿宽度方向切割光学膜来形成多个片材件。
技术方案
根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法为这样的方法：用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置，以通过以光学膜的长度方向上的一定间隔沿光学膜的宽度方向切割光学膜来形成多个光学膜片材件。所述方法可以包括以下步骤：(a)基于光学膜的长度方向，预先获取关于光学膜的缺陷位置的信息；(b)基于光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于光学膜的缺陷位置的信息，将光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域；(c)从多个大计算区域中的在光学膜的长度方向上切割位置均未确定的区域确定切割位置。
有益效果
根据本公开内容的实施方案，存在的优势在于，通过设定大计算区域用以同时确定其中缺陷之间的区域顺序地排列的多个区域的切割位置，可以使大计算区域中得到的无缺陷的正常片材件最多化。
附图说明
图1为示出用于确定光学膜的切割位置的常规方法的一个实例的示意性流程图。
图2为示出与通过用于确定光学膜的切割位置的常规方法切割其上形成有多个缺陷的光学膜的情况相比的最佳切割位置的一个实例的图。
图3为示出根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的流程图。
图4为示意性地示出应用了根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的光学膜的一个实例的图。
图5为示意性地示出应用了根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的光学膜的另一个实例的图。
图6为示出根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的详细流程图。
附图标记
dn：正常切割间距
dmin：最小切割间距
α：最小间隔间距
B：大计算区域
S：小计算区域
Sa：在先的小计算区域
Sm：选择的小计算区域
Sb：随后的小计算区域
具体实施方式
根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法为这样的方法：用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置，以通过以光学膜的长度方向上的一定间隔沿光学膜的宽度方向切割光学膜来形成多个光学膜片材件。所述方法可以包括以下步骤：(a)基于光学膜的长度方向，预先获取关于光学膜的缺陷位置的信息；(b)基于光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于光学膜的缺陷位置的信息，将光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域；以及(c)从多个大计算区域中的在光学膜的长度方向上切割位置均未确定的区域确定切割位置。
在该实施方案中，步骤(b)可以包括以下步骤：(b-1)将第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中的可以包含至少一个正常切割间距的正常区域设定为用于导出切割位置的第一小计算区域，而如果在第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中的不可能包含正常切割间距的缺陷区域彼此连续，则将包括所有连续缺陷区域的正常区域设定为用于导出切割位置的第二小计算区域；(b-2)计算在通过步骤(b-1)设定的小计算区域中可以包含最多的正常切割间距的正常切割的最大量；以及(b-3)对于包括任一小计算区域的随后的小计算区域，将其中通过从小计算区域的长度中减去正常切割间距和正常切割的最大量的乘积而获得的剩余部分(在下文中称为小计算区域剩余部分)小于最小切割间距的包括直至第一小计算区域在内的区域分为大计算区域。
在该实施方案中，确定切割位置以使切割位置与缺陷保持等于或大于预定的最小间隔间距的间距，以及优选地步骤(b-2)中的正常切割的最大量为通过将通过从小计算区域的长度中减去最小间隔间距的两倍而获得的值除以正常切割间距而计算的整数。
在该实施方案中，步骤(c)可以包括：以小计算区域剩余部分较小的顺序，从大计算区域中的多个小计算区域中选择小计算区域，以及确定所选择的小计算区域中的切割位置。
在该实施方案中，步骤(c)可以包括步骤(c-1)，在光学膜的长度方向上，基于选择的小计算区域、在先的小计算区域和随后的小计算区域中每一者的小计算区域剩余部分以及最小切割间距，确定所选择的小计算区域中的切割位置。
在该实施方案中，步骤(c)可以包括步骤(c-2)，如果在光学膜的长度方向上已经确定了选择的小计算区域之前的在先的小计算区域中的切割位置，则用在先的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从在先的小计算区域的小计算区域剩余部分中减去存在于选择的小计算区域和在先的小计算区域之间的缺陷与在先的小计算区域中的最终切割位置之间的间距而获得。步骤(c-1)可以在步骤(c-2)之后进行。
在该实施方案中，步骤(c)可以包括步骤(c-3)，如果在光学膜的长度方向上已经确定了选择的小计算区域之后的小计算区域中的切割位置，则用随后的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从随后的小计算区域的小计算区域剩余部分中减去存在于选择的小计算区域和随后的小计算区域之间的缺陷与随后的小计算区域中的第一切割位置之间的间距而获得。优选地，步骤(c-1)在步骤(c-3)之后进行。
在该实施方案中，在步骤(c)中确定切割位置以使得彼此相邻的切割位置之间的间距不超过预定的最大切割间距，以及优选地，最大切割间距与正常切割间距相同。
发明实施方式
参照结合附图的以下详细描述的实施方案，本公开内容将变得明显。然而，本公开内容不限于以下公开的实施方案，而是可以以各种不同的形式实施。提供这些实施方案仅为了使得本公开内容是全面和完整的，并且将本公开内容的范围充分传达给本领域技术人员。本公开内容的范围将仅通过权利要求来限定。同时，本说明书中所使用的术语是出于解释实施方案的目的并且不旨在限制本公开内容。如本文所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式旨在也包括复数形式。如在本说明书中所使用的，术语“包括”和/或“包含”表示存在所述要素、步骤、操作和/或组件，但是不排除存在或添加一种或更多种其他要素、步骤、操作和/或组件。术语“第一”、“第二”等可以用来描述不同的组件，但是组件不受术语的限制。这些术语仅出于将一个组件与另一个组件区分的目的。
下文中，将参照附图详细描述本公开内容。
图3为示出根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的流程图，以及图4为示意性地示出应用了根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法的光学膜的一个实例的图。
根据本公开内容的一个实施方案的用于确定光学膜的切割位置的方法是这样的方法：用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置，以通过以光学膜的长度方向上的一定间隔沿光学膜的宽度方向切割光学膜来形成多个光学膜片材件。
这种光学膜切割位置确定方法1000可以包括以下步骤：(a)基于光学膜的长度方向，预先获取关于光学膜的缺陷位置的信息(缺陷位置信息获取步骤，s100)；(b)基于光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于光学膜的缺陷位置的信息，将光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域(将光学膜的整个区域划分为多个大计算区域的步骤，s200)；以及(c)从多个大计算区域中的在光学膜的长度方向上切割位置均未确定的区域中确定切割位置(确定切割位置的步骤，s300)。光学膜切割位置确定方法1000可以通过至少一个信息处理单元来进行。
在步骤(a)(s300)中，使用光学膜(F)的长度方向(参见图4；x轴方向)上的特定位置作为起点x0，预先获取关于光学膜(F)上的缺陷(参见图4；缺陷1至缺陷6)的位置的信息作为相对于起点x0的位置(x1至x6)。在此，表述“获取信息”意指将光学膜的缺陷位置计算为相对于起点的位置坐标。这样的坐标信息可以是可以通过数据处理单元识别和处理的数据。可以将这样的坐标信息储存在数据库中或者将其单独地标记为代码，其可以通过墨或激光在光学膜上通过读取器(reader)识别。
在步骤(b)(s200)中，基于光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于光学膜的缺陷位置的信息，可以将光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域。正常切割间隔(dn)条件可以基于用于形成不包含缺陷的正常光学膜片材件的间距来确定。由于正常光学膜片材件与面板附接，因此可以确定正常切割间距(dn)条件以对应于面板的长度或宽度。最小切割间距(dmin)条件可以考虑防止光学膜片材件在用于切割或附接光学膜的系统中被夹在用于传送光学膜片材件的传送辊之间或者与传送辊分离所需的最小长度来确定。
步骤(b)(s200)可以包括以下步骤：(b-1)将光学膜的整个区域划分和设定为多个小计算区域；(b-2)计算小计算区域中的正常切割的最大量；以及(b-3)将某些小计算区域(包括任一个小计算区域)分类并设定为大计算区域。下文中，将详细描述步骤(b-1)、(b-2)和(b-3)。
在步骤(b-1)中，在第一设定位置(x0+dmin)和缺陷n中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷m之间的确定目标区域((x0+dmin)至缺陷m或缺陷n至缺陷m)中，可以将可以包含至少一个正常切割间距(dn)的正常区域设定为用于导出切割位置的第一小计算区域。此外，在步骤(b-1)中，在第一设定位置(x0+dmin)和缺陷n中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，可以将不可能包含正常切割区域(dn)的包括所有连续缺陷区域的区域设定为用于导出切割位置的第二小计算区域。
在此，第一设定位置(x0+dmin)可以是例如，距离起点(x0)(其为光学膜的长度方向上的一端或特定位置)最小切割间距(dmin)的位置。如果第一设定位置(x0+dmin)是出现在起点(x0)之后的第一缺陷(缺陷1)之后的位置，则确定目标区域可以是出现在起点(x0)之后的第一缺陷(缺陷1)和与第一缺陷相邻的缺陷(缺陷2)之间的区域(缺陷2)。同时，如果在确定目标区域中可以包含至少一个正常切割间距(dn)，则可以将该确定目标区域设定为第一小计算区域。此外，在第一设定位置(x0+dmin)和缺陷n中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，可以将不可能包含正常切割间距(dn)的缺陷区域设定为第二小计算区域。如果这些缺陷区域彼此连续，则可以将包括所有连续缺陷区域的区域设定为用于导出切割位置的第二小计算区域。例如，在图4中所示的光学膜中，缺陷5与缺陷6之间的确定区域(x6至x5)、以及缺陷6(x6)与缺陷7(x7)之间的确定区域(x7至x6)均为不可能包含正常切割间距(dn)的缺陷区域。由于这些缺陷区域彼此连续，因此可以将包括所有这些缺陷区域的区域设定为第二小计算区域(S5)。
步骤(b-2)可以计算其中在通过步骤(b-1)设定的第一小计算区域和第二小计算区域(在下文中可以称为‘小计算区域’)中最多可以包含的正常切割间距(dn)的正常切割的最大量。在该实施方案中，优选地确定切割位置以使其与缺陷(缺陷n和缺陷m)保持等于或大于预定的最小间隔间距(α)的间隔间距。在这种情况下，在步骤(b-2)中，正常切割的最大量可以为通过将通过从小计算区域的长度中减去最小间隔间距的两倍而获得的值除以正常切割间距而计算的整数。例如，在图4中所示的光学膜中，其中在与起点(x0)最相邻的小计算区域(S1)中最多可以包含的正常切割间距(dn)的正常切割的最大量可以为通过将通过从小计算区域(S1)的长度(x2-x1)中减去最小间隔间距(α)的两倍(2α)而获得的值(x2-x1-2α)除以正常切割间距(dn)而计算的整数2。基于图4中所示的光学膜，在随后的小计算区域(S2、S3、S4和S5)中正常切割的最大量可以分别为1、3、1和0。
在步骤(b-3)中，对于包括任一小计算区域的随后的小计算区域，其中通过从小计算区域的长度中减去正常切割间距和正常切割的最大量的乘积而获得的剩余部分(在下文中，将剩余部分称为小计算区域剩余部分)小于最小切割间距的包括直至第一小计算区域在内的小计算区域可以分类并设定为大计算区域。例如，对于包括与起点(x0)最相邻的小计算区域(S1)(基于图4中所示的光学膜)的随后的小计算区域(S2、S3、S4、S5、...)，其中通过从小计算区域的长度(x3-x2、x4-x3、x5-x4、x7-x5)中减去正常切割间距(dn)和正常切割的最大量(1、3、1、0)的乘积(1*dn、3*dn、1*dn、0*dn)而获得的小计算区域剩余部分(x3-x2-1*dn、x4-x3-3*dn、x5-x4-1*dn、x7-x5-0*dn)小于最小切割间距(dmin)的包括直至第一小计算区域(S4)在内的小计算区域可以分类并设定为大计算区域(B1)。
在步骤(c)(s300)中，切割位置可以从多个大计算区域中的在光学膜的长度方向上切割位置均未确定的区域来确定。例如，基于图4中所示的光学膜，如果多个大计算区域(B1、B2、…)中的与起点(x0)相邻的大计算区域(B1)中切割位置均未确定，则切割位置可以由光学膜的长度方向(B2、…)上的对应的大计算区域(B1)确定。
在步骤(C)(s300)中，可以以小计算区域剩余部分较小的顺序，从大计算区域中的多个小计算区域中选择小分割计算区域，并且可以确定选择的小计算区域中的切割位置。例如，基于图4中所示的光学膜，可以以小计算区域剩余部分(x2-x1-2*dn、x3-x2-1*dn、x4-x3-3*dn、x5-x4-1*dn)较小的顺序(S4、S1、S3、S2)，从与起点(x0)相邻的大计算区域(B1)中的多个小计算区域(S1、S2、S3、S4)中选择小分割计算区域，并且可以确定选择的小计算区域中的切割位置。
步骤(c)(s300)可以包括步骤(c-1)，在光学膜的长度方向上，基于选择的小计算区域、在先的小计算区域和随后的小计算区域中每一者的小计算区域剩余部分以及最小切割间距，确定选择的小计算区域中的切割位置。同时，如果选择的小计算区域为在光学膜的长度方向上出现的第一小分割计算区域，则在先的小计算区域不可能单独出现。因此，在这种情况下，可以将最小切割间距设定为在先的小计算区域的小计算区域剩余部分。
图5为示意性地示出应用了根据本公开内容的一个实施方案的光学膜切割位置确定方法的光学膜的另一个实例的图。
在步骤(c-1)中，首先提取在先的小计算区域剩余部分(Sa_R)和随后的小计算区域剩余部分(Sb_R)中的较小值(Small)(c-11)。此外，将选择的小计算区域剩余部分(Sm_R)和较小值(Small)之和(Sm_R+Small)与最小切割间距(dmin)进行比较(c-12)。如果通过步骤(c-12)确定‘Sm_R+Small’大于‘dmin’，则将选择的小计算区域剩余部分(Sm_R)和较小值(Small)中的每一者与最小切割间距(dmin)进行比较(c-13)。如果通过步骤(c-13)确定‘Sm_R’和‘Small’均小于‘dmin’，则将选择的小计算区域(Sm)与在先的小计算区域(Sa)之间的缺陷k向下游隔开的第一间隔间距(Cut0s)、以及选择的小计算区域(Sm)与随后的小计算区域(Sb)之间的缺陷l向上游隔开的最终间隔间距(Cut0f)设定为通过从最小切割间距(dmin)中减去较小值(Small)而获得的值(c-14)。也就是说，将选择的小计算区域(Sm)中的第一切割位置设定为相对于缺陷k向下游间隔第一切割间距(Cut0)的位置，并且将最终切割位置设定为相对于缺陷l向上游间隔最终切割间距(Cut0f)的位置。
同时，如果通过步骤(c-13)确定‘Sm_R’和‘Small’中的至少一者等于或大于‘dmin’，则将第一切割间距(Cut0s)和最终切割间距(Cut0f)设定为选择的小计算区域(Sm)的小计算区域剩余部分(Sm_R)的1/2(c-15)。接下来，将较小值(Small)与通过步骤(c-14)或(c-15)设定的第一切割间距和最终切割间距(Cut0s，Cut0f)之和与最小切割间距(dmin)进行比较(c-16)。如果通过步骤(c-16)确定‘Cut0s+Small’和‘Cut0f+Small’小于‘dmin’，则将‘Cut0s+Sa_R’和‘Cut0f+Sb_R’均调节为等于或大于最小切割间距(dmin)，而如果不可能进行调节，则调节‘Cut0s’和‘Cut0f’中的一者以使得‘Cut0s+Sa_R’和‘Cut0f+Sb_R’中的任一者变成最小切割间距(dmin)(c-17)。
同时，如果通过步骤(c-12)确定‘Sm_R+Small’等于或小于‘dmin’，则将在先的小计算区域剩余部分(Sa_R)与随后的小计算区域剩余部分(Sb_R)进行比较(c-18)。如果通过步骤(c-18)确定‘Sa_R’大于‘Sb_R’，则将最终切割间距(Cut0f)设定为通过从选择的小计算区域剩余部分(Sm_R)中减去最小间隔间距(α)而获得的值(Cut0f＝Sm_R-α)(c-19)。同时，如果通过步骤(c-18)确定‘Sa_R’等于或小于‘Sb_R’，则将第一切割间距(Cut0s)设定为最小间隔间距(α)(Cut0s＝α)(c-20)。
同时，如果通过步骤(c-16)确定‘Cut0s+Small’和‘Cut0f+Small’等于或大于‘dmin’，则基于通过‘Cut0s’和‘Cut0f’中的任一者、经由步骤(c-17)最终调节的‘Cut0s’和‘Cut0f’中的任一者、以及经由步骤(c-19)设定的‘Cut0f’和经由步骤(c-20)设定的‘Cut0s’中的任一者所限定的第一切割位置或最终切割位置，将选择的小计算区域(Sm)中的彼此间隔正常切割间距的重复位置确定为切割位置(c-21)。
将通过步骤(c-20)和步骤(c-21)中的任一者所确定的第一切割间距(Cut0s)和在先的小计算区域(Sa)的小计算区域剩余部分(Sa_R)之和(Cut0s+Sa_R)与正常切割间距(dn)进行比较(c-22)。如果通过步骤(c-22)确定‘Cut0s+Sa_R’大于‘dn’，则在第一切割位置与相对于缺陷k向上游间隔‘Sa_R’的位置之间设定另外的切割位置。具体地，将相对于缺陷k向上游间隔‘Sa_R’的位置的向下游间隔最小切割间距(dmin)的位置设定为另外的切割位置(c-22)。
步骤(c)(s300)可以包括步骤(c-2)，如果在光学膜的长度方向上已经确定了选择的小计算区域(Sm)之前的在先的小计算区域(Sa)中的切割位置(在先的小计算区域(Sa)中确定的通过Cut0s和Cut0f限定的切割位置)，则用在先的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从在先的小计算区域的小计算区域剩余部分(Sa_R)中减去存在于选择的小计算区域(Sm)和在先的小计算区域(Sa)之间的缺陷k与在先的小计算区域(Sa)中的最终切割位置之间的间距(Cut0f)而获得。在这种情况下，步骤(c-1)在步骤(c-2)之后进行。
步骤(c)(s300)可以包括步骤(c-3)，如果在光学膜的长度方向上已经确定了选择的小计算区域(Sm)之后的小计算区域(Sb)中的切割位置(随后的小计算区域(Sb)中确定的通过Cut0s和Cut0f限定的切割位置)，则用随后的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从随后的小计算区域的小计算区域剩余部分(Sb_R)中减去存在于选择的小计算区域(Sm)和随后的小计算区域(Sb)之间的缺陷l与随后的小计算区域中的第一切割位置之间的间距(Cut0s)而获得。在这种情况下，步骤(c-1)在步骤(c-3)之后进行。
在步骤(c)(s300)中，确定切割位置以使得彼此相邻的切割位置之间的间距不超过预定的最大切割间距。最大切割间距优选为与正常切割间距相同。
图6为示出根据本公开内容的一个实施方案的光学膜切割位置确定方法的详细流程图。
根据本公开内容的实施方案，存在的优势在于，通过设定大计算区域用以同时确定其中缺陷之间的区域顺序排列的多个区域的切割位置，使可以在大计算区域中得到的无缺陷的正常片材件最多化。
尽管已经结合上述优选的实施方案对本公开内容进行了描述，但是在不脱离本公开内容的要点和范围的情况下，各种修改或变更是可能的。因此，所附权利要求将覆盖落入本公开内容的要点内的这样的修改变型和变更变型。

Claims (8)

1.一种用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置的方法，所述方法用以通过以所述光学膜的长度方向上的一定间隔沿所述光学膜的宽度方向切割所述光学膜来形成多个光学膜片材件，所述方法包括以下步骤：
(a)基于所述光学膜的长度方向，预先获取关于所述光学膜的缺陷位置的信息；
(b)基于所述光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于所述光学膜的缺陷位置的信息，将所述光学膜的整个区域划分为用于导出所述多个切割位置的多个大计算区域；以及
(c)从所述多个大计算区域中的在所述光学膜的长度方向上所述切割位置均未确定的区域确定所述切割位置。
2.根据权利要求1所述的方法，其中步骤(b)包括以下步骤：
(b-1)在第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，将包含至少一个正常切割间距的正常区域设定为用于导出所述切割位置的第一小计算区域，在第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，将不包含正常切割区域的包括所有连续缺陷区域的区域设定为用于导出所述切割位置的第二小计算区域；以及
(b-2)计算在通过步骤(b-1)设定的所述小计算区域中可以包含最多的所述正常切割间距的正常切割的最大量；以及
(b-3)对于包括任一小计算区域的随后的小计算区域，将包括直至所述第一小计算区域在内的区域分为大计算区域，其中通过从所述小计算区域的长度中减去所述正常切割间距和正常切割的最大量的乘积而获得的剩余部分(在下文中称为小计算区域剩余部分)小于所述最小切割间距。
3.根据权利要求2所述的方法，其中
确定所述切割位置使得所述切割位置与所述缺陷保持等于或大于预定的最小间隔间距的间距，以及
步骤(b-2)中的所述正常切割的最大量为通过将通过从所述小计算区域的长度中减去所述最小间隔间距的两倍而获得的值除以所述正常切割间距而计算的整数。
4.根据权利要求2所述的方法，其中步骤(c)包括：以其中所述小计算区域剩余部分较小的顺序，从所述大计算区域中的多个小计算区域中选择所述小计算区域，以及确定选择的小计算区域中的所述切割位置。
5.根据权利要求4所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-1)，在所述光学膜的长度方向上，基于所述选择的小计算区域、在先的小计算区域和所述随后的小计算区域中每一者的小计算区域剩余部分以及所述最小切割间距，确定所述选择的小计算区域中的所述切割位置。
6.根据权利要求5所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-2)，如果在所述光学膜的长度方向上已经确定了所述选择的小计算区域之前的小计算区域中的切割位置，则用在先的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从所述在先的小计算区域的小计算区域剩余部分中减去存在于所述选择的小计算区域和所述在先的小计算区域之间的缺陷与所述在先的小计算区域中的最终切割位置之间的间距而获得，以及
步骤(c-1)在步骤(c-2)之后进行。
7.根据权利要求5所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-3)，如果在所述光学膜的长度方向上已经确定了所述选择的小计算区域之后的小计算区域中的切割位置，则用随后的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从所述随后的小计算区域的所述小计算区域剩余部分中减去存在于所述选择的小计算区域和所述随后的小计算区域之间的缺陷与所述随后的小计算区域中的第一切割位置之间的间距而获得，以及
步骤(c-1)在步骤(c-3)之后进行。
8.根据权利要求1所述的方法，其中在步骤(c)中确定所述切割位置使得彼此相邻的所述切割位置之间的间距不超过预定的最大切割间距，以及
所述最大切割间距与所述正常切割间距相同。
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