CN112213523A - 用于测试产品的插座 - Google Patents

Abstract

本申请涉及用于测试产品的插座。用于测试产品的插座可以包括：基板，其包括座槽和嵌套件，待测试的产品置放在该座槽上，产品的产品连接器置放在该嵌套件上；以及盖，其包括盖体、测试连接器以及测试模块，其中，盖体与基板铰接地联接，测试连接器设置在盖体上并且在盖体移动至基板时与产品的产品连接器电连接，测试模块与测试连接器连接并且向测试连接器发送测试信号。该嵌套件可以设置在基板的设置有座槽的表面上。

Description

用于测试产品的插座

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年7月12日在韩国知识产权局提交的第10-2019-0084312号韩国专利申请的优先权和权益，该韩国专利申请的全部内容通过引用并入本文中。

技术领域

本发明涉及用于测试产品的插座。

背景技术

通常，大多数电子产品与多个电子部件组装以形成单个完整的电子产品，并且当以这种方式制造电子产品时，可以极大地降低制造时间和生产成本。

为了实现该效果，需要测试包括在完整的电子产品中的各个电子部件的可靠性，并且为了对电子部件执行快速且准确的测试，需要用于测试电子部件的测试插座。

通过使用测试插座，可以测试不同的部分，诸如显示设备的显示面板、移动电话的相机部分、数字TV的一部分以及半导体芯片。

在此背景技术部分中公开的以上信息仅用于加强对本发明的背景技术的理解，并且由此其可能包含不构成在该国家中对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明致力于提供一种用于测试产品的插座，其可以更容易地测试待测试的产品。

本发明的实施方式提供了用于测试产品的插座，其包括：基板，其包括座槽和嵌套件，其中，待测试的产品置放在座槽上，产品的产品连接器置放在嵌套件上；以及盖，其包括盖体、测试连接器以及测试模块，其中，盖体与基板铰接地联接，测试连接器设置在盖体上并且在盖体移动至基板时与产品连接器电连接，测试模块与测试连接器连接并向测试连接器发送测试信号。嵌套件可以设置在基板的设置有座槽的表面上。

用于测试产品的插座还可以包括磁性构件，该磁性构件设置在嵌套件的与产品连接器接触的表面上，并使产品连接器对准。

用于测试产品的插座还可以包括弹性构件，该弹性构件设置在嵌套件的与嵌套件的接触产品连接器的表面相对的表面和基板之间。

弹性构件可以包括两个或更多个弹簧。

嵌套件可以包括第一嵌套件和第二嵌套件，产品连接器的一个端部置放在第一嵌套件上，产品连接器的另一端部置放在第二嵌套件上。

测试连接器可以包括第一测试连接器和第二测试连接器，其中，第一测试连接器连接至产品连接器的置放在第一嵌套件上的一个端部，第二测试连接器连接至产品连接器的置放在第二嵌套件上的另一端部。

用于测试产品的插座还可以包括导电构件，该导电构件设置在测试连接器上，并且与产品连接器电接触。

测试模块可以包括连接至第一测试连接器以发送测试信号的第一测试模块和连接至第二测试连接器以发送测试信号的第二测试模块。

用于测试产品的插座还可以包括电路板，该电路板设置在基板的与基板的设置有座槽的表面相对的表面上，并且电连接至测试模块，以将从外部接收的测试信号发送至测试模块。

用于测试产品的插座还可以包括柔性电路板，该柔性电路板将电路板的端子与测试模块的端子电连接。

根据本发明的实施方式，可以通过在基板的相同的表面上形成座槽和嵌套件来减少产品测试时间。

附图说明

图1A和图1B示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的立体图。

图2示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的俯视图。

图3示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的前视图。

图4示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的侧视图。

图5示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的仰视图。

图6A示出从根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座拆卸的基板和嵌套件的分解立体图。

图6B和图6C示出根据本发明的实施方式的嵌套件的下表面的立体图。

图7A和图7B示出通过使用根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座来测试产品的示意图。

具体实施方式

由于本发明可以被不同地修改并且具有不同的形式，因此下面将详细说明和描述示例性实施方式。然而，这并不是将本发明限制于特定实施方式，并且本发明应理解为涵盖包括在本发明的精神和范围内的所有改变、等同和替代。

在描述每个附图时，相同的附图标记用于相同的组成元件。在附图中，结构的尺寸被示出为比实际尺寸大以使本发明清楚。诸如第一、第二等术语将仅用于描述不同的组成元件，并且不应被解释为限制这些组成元件。这些术语仅用于将一个组成元件与其它组成元件区分开。在不背离本发明的范围的情况下，例如，第一组成元件可以被称为第二组成元件，并且类似地，第二组成元件可以被称为第一组成元件。除非上下文另有明确指示，否则单数形式旨在包括复数形式。

在本申请中，应理解的是，术语“包括”、“包含”、“具有”或“配置”表示存在说明书中描述的特征、数字、步骤、操作、组成元件、部分或其组合，但不预先排除存在或添加一个或多个其它特征、数字、步骤、操作、组成元件、部分或组合的可能性。将理解的是，当诸如层、膜、区域或衬底的元件被称为在另一元件“上”时，该元件可以直接在另一元件上，或者也可以存在介于中间的元件。此外，在本说明书中，当层、膜、区域、板等中的一部分被称为形成在另一部分“上”时，所形成的方向不限于上方向，而是包括侧方向或下方向。相反，当层、膜、区域、板等中的一部分被称为在另一部分“下方”时，其可以直接在另一部分下方，或者可以存在介于中间的部分。

在下文中，将参照附图详细描述本发明的示例性实施方式。

图1A和图1B示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的立体图，图2示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的俯视图，图3示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的前视图，图4示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的侧视图，并且图5示出根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座的仰视图。

参照图1A至图5，用于测试产品的插座1可以包括基板10和盖20。

基板10可以具有板状形状，并且可以取决于待测试的产品P(参见图7A)的形状而具有不同形状，诸如矩形和圆形。在这种情况下，产品P可以是各种电子部件，并且例如，产品P可以是显示设备的显示面板。

在基板10的一个表面上可以设置座槽11，待测试的产品P置放在该座槽11上。座槽11的形状可以与产品P的形状基本上相同，并且座槽11的深度可以与产品P的厚度基本上相同。基板10可以设置有多个槽或孔，这些槽或孔允许产品P容易地定位在座槽11中或者从座槽11移除。

在本发明的一些实施方式中，用于测试产品的插座1在基板10的、设置有座槽11的表面上还包括用于固定定位在座槽11中的产品P的产品固定部分14。产品固定部分14可以设置成与座槽11相邻，并且它可以临时固定定位在座槽11中的产品P。在这种情况下，当产品P通过产品固定部分14固定至座槽11时，产品固定部分14的按钮141可以突出，并且在完成产品P的测试之后，可以通过按压按钮141释放产品P的固定。

嵌套件12可以设置在基板10的一个表面上，定位在座槽11中的产品P的产品连接器(例如，图7A中的PT)置放在该嵌套件12上。在这种情况下，座槽11和嵌套件12可以设置在基板10的相同表面上。通过在基板10的相同表面上设置座槽11和嵌套件12，可以将产品P定位在座槽11中，并且然后可以立即将产品连接器PT置放在嵌套件12中。通过这种方式，可以有效地减少测试产品P的时间。嵌套件12设置成与座槽11相邻，并且嵌套件12的形状可以根据产品连接器PT的形状而改变。

在本发明的各种实施方式中，在嵌套件12的、与产品连接器PT接触的表面上可以设置磁性构件13。磁性构件13向产品连接器PT施加吸引力，以将产品连接器PT临时固定至嵌套件12的预定位置。即，磁性构件13可以将产品连接器PT与可以使产品连接器PT精确接触测试连接器22(稍后描述)的位置对准。

磁性构件13可以设置成这样的形式：将磁性构件13插入至嵌套件12中使其不在嵌套件12的、与产品连接器PT接触的表面上方突出。在这种情况下，磁性构件13可以以使磁性构件13的一部分暴露在嵌套件12的表面上的形式、或者以将磁性构件13插入至嵌套件12中的形式，设置成插入至嵌套件12中的形式。此外，可以在嵌套件12上设置多个磁性构件13。

通过防止磁性构件13在嵌套件12的、与产品连接器PT接触的表面上突出，可以防止在置放于嵌套件12上的产品连接器PT与测试连接器22之间的接触中出现公差。

磁性构件13可以包括本领域中使用的磁体，但不限于此，并且例如，磁性构件13可以包括铝镍钴磁体、铁氧体磁体、钕磁体、橡胶磁体等，但本发明不限于此。

产品连接器PT可以具有一个端部和另一端部，并且嵌套件12可以包括在其上置放产品连接器PT的所述一个端部的第一嵌套件12A以及在其上置放产品连接器PT的所述另一端部的第二嵌套件12B。

通过在基板10上设置第一嵌套件12A和第二嵌套件12B，可以有效地对准和固定产品连接器PT的一个端部和另一端部。此外，通过在基板10上设置彼此分开的第一嵌套件12A和第二嵌套件12B，可以在将产品连接器PT的一个端部和另一端部置放在嵌套件12上时最小化对彼此的影响。

在本发明的各种实施方式中，用于测试产品的插座1可以包括用于将基板10固定至传送带或工作台的固定孔15。固定孔15可以设置在基板10的边缘部分处，并且可以设置至少两个固定孔15。

盖20可以通过铰链部30铰接地联接至基板10。铰链部30可以包括铰链轴31、铰链块32和弹性体33。铰链块32可以设置在盖体21的设置有测试连接器22的表面上，并且在基板10的设置有嵌套件12的表面上可以设置台阶。铰链轴31插入其中的铰链孔可以形成在铰链块32和台阶中，并且铰链轴31插入至铰链块32和台阶的铰链孔中，使得盖20可以铰接地联接至基板10。盖20可以通过铰链部30相对于基板10铰接地移动。

弹性体33具有允许盖20与基板10间隔开的回复力，并且当盖固定构件261(稍后描述)从盖固定构件紧固部分16释放时，盖20可以通过弹性体33的回复力返回至其初始位置。

在这种情况下，参照图1A，弹性体33装配至铰链轴31，并且弹性体33可以设置在盖体21与基板10之间。此外，尽管在附图中未示出，但是弹性体33可以设置成连接彼此面对的、盖体21的表面和基板10的表面的形式。弹性体33可以包括两个或更多个螺旋弹簧。

盖20可以通过外力铰接地移动至基板10。例如，操作者可以施加力以使盖20朝向基板10移动，或者可以设置诸如单独的马达的驱动器(未示出)以使盖20朝向基板10移动。

盖20可以包括测试连接器22和测试模块24。测试连接器22可以设置在盖体21的面向基板10的表面上，并且可以设置在盖体21的、与嵌套件12的位置对应的区域中。即，当盖20铰接地移动至基板10一侧时，测试连接器22可以与在其上置放有产品连接器PT的嵌套件12接触。

在本发明的各种实施方式中，测试连接器22可以包括第一测试连接器22A和第二测试连接器22B，其中第一测试连接器22A连接至产品连接器PT的被置放在第一嵌套件12A上的一个端部，第二测试连接器22B连接至产品连接器PT的被置放在第二嵌套件12B上的另一端部。

通过在盖体21上设置第一测试连接器22A和第二测试连接器22B，可以将测试信号更有效地传输至产品连接器PT的被置放在嵌套件12上的一个端部和另一端部。此外，通过将第一测试连接器22A和第二测试连接器22B彼此分开地设置在盖体21上，可以有效地抑制在与产品连接器PT接触时的公差。

在本发明的各种实施方式中，用于测试产品的插座1可以在测试连接器22上包括与产品连接器PT电接触的导电构件23。具体地，导电构件23可以包括第一导电构件23A和第二导电构件23B，其可以设置在第一测试连接器22A和第二测试连接器22B中的每个中。当盖20移动至基板10一侧时，第一测试连接器22A的第一导电构件23A可以接触产品连接器PT的被置放在第一嵌套件12A上的一个端部，而第二测试连接器22B的第二导电构件23B可以接触产品连接器PT的被置放在第二嵌套件12B上的另一端部。

导电构件23可以设置成引脚的形状，并且可以通过使测试连接器22的导电构件23接触产品连接器PT的方法来执行产品P的测试。

测试模块24将测试连接器22与电路板40(稍后描述)电连接。即，测试模块24可以从电路板40接收测试信号并将测试信号传输至测试连接器22。当测试连接器22与置放在嵌套件12上的产品连接器PT连接时，提供给测试连接器22的测试信号可以发送至产品连接器PT。

测试模块24可以设置在盖体21的、与盖体21的设置有测试连接器22的表面(例如，盖体21的下表面)相对的表面(例如，盖体21的上表面)上，并且可以包括电路元件(未示出)、布线(未示出)和端子25。具体地，测试模块24的电路元件和布线可以设置在盖体21的上表面上，并且测试模块24的端子25可以设置在盖体21的下表面上。

测试模块24可以包括连接至第一测试连接器22A以发送测试信号的第一测试模块24A和连接至第二测试连接器22B以发送测试信号的第二测试模块24B。通过分开设置第一测试模块24A和第二测试模块24B，可以将从电路板40提供的测试信号有效地传输至第一测试连接器22A和第二测试连接器22B。

第一测试模块24A的第一端子25A可以电连接至电路板40(稍后描述)的第一端子41A，并且第二测试模块24B的第二端子25B可以电连接至电路板40(稍后描述)的第二端子41B。

在本发明的各种实施方式中，盖20可以包括盖固定部分26。当盖20向基板10一侧移动至测试连接器22的导电构件23与置放在嵌套件12上的产品连接器PT接触的位置时，盖固定部分26可以允许盖20固定在相应的位置处。

盖固定部分26可以包括杠杆262和盖固定构件261。具体地，盖固定构件261可以设置成从盖体21的下表面突出的钩的形状。盖固定构件261可以从盖体21的表面突出并紧固至设置在基板10上的盖固定构件紧固部分16，由此可以固定盖20的位置。杠杆262可以连接至盖固定构件261，并且可以通过拉动杠杆262来释放盖固定构件紧固部分16与盖固定构件261之间的接合。

当盖固定构件紧固部分16与盖固定构件261之间的接合被释放时，通过以上描述的铰链部30的弹性体33的回复力，盖20可以在对盖20施加外力之前返回至盖20的初始位置。

在本发明的各种实施方式中，用于测试产品的插座1可以在基板10的、与基板10的设置有座槽11的表面(例如，基板10的上表面)相对的表面(例如，基板10的下表面)上，包括电连接至测试模块24的电路板40，以将从外部提供的测试信号传输至测试模块24。

为了执行产品P的测试，当将用于测试产品的插座1固定至工作台时，可以将设置在工作台上的测试信号供应端子(未示出)和设置在基板10的下表面上的电路板40连接。此后，可以根据测试目的将不同的测试信号提供给电路板40，并且可以经由测试模块24和测试连接器22将提供给电路板40的测试信号发送至置放在嵌套件12上的产品连接器PT。

电路板40可以设置在基板10的下表面上，并且电路板40的端子41可以设置在基板10的上表面上。电路板40的第一端子41A可以电连接至第一测试模块24A的第一端子25A，并且电路板40的第二端子41B可以电连接至第二测试模块24B的第二端子25B。

在本发明的各种实施方式中，用于测试产品的插座1可以包括柔性电路板(未示出)，该柔性电路板将电路板40的端子41和测试模块24的端子25电连接。即，电路板40的第一端子41A和第一测试模块24A的第一端子25A可以通过第一柔性电路板(未示出)连接，并且电路板40的第二端子41B和第二测试模块24B的第二端子25B可以通过第二柔性电路板(未示出)连接。

通过使用柔性电路板作为用于电连接电路板40的端子41和测试模块24的端子25的构件，即使在盖20铰接地移动时也可以防止柔性电路板损坏，并且可以有效地发送测试信号。

图6A示出从根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座拆卸的基板和嵌套件的分解立体图，并且图6B和图6C示出根据本发明的实施方式的嵌套件的下表面的立体图。

参照图6A、图6B和图6C，在本发明的各种实施方式中，弹性构件121可以设置在嵌套件12的、与嵌套件12的接触产品连接器PT的表面(例如，嵌套件12的上表面)相对的表面(例如，嵌套件12的下表面)和基板10之间。

通过在嵌套件12与基板10之间设置弹性构件121，可以在将产品连接器PT置放在嵌套件12的上表面上时避免对准公差，并且可以在测试连接器22的导电构件23与产品连接器PT接触时，有效地抑制接触公差。此外，当导电构件23和产品连接器PT接触时，弹性构件121减轻冲击，可以防止产品连接器PT和导电构件23被损坏。

弹性构件121可以包括两个或更多个弹簧。具体地，具有螺旋弹簧形式的两个或更多个弹性构件121可以设置在第一嵌套件12A和第二嵌套件12B中的每个中。参照图6A、图6B和图6C，在第一嵌套件12A和第二嵌套件12B中的每个的下表面上可以设置装配部分IP，并且可以在基板10的上表面上设置具有与装配部分IP对应的形状的装配孔IH。可以通过将嵌套件12的装配部分IP插入至基板10的装配孔IH中，而将嵌套件12的位置固定在基板10上。同时，可以在嵌套件12的下表面和基板10的上表面上设置弹簧孔SH，并且弹性构件121可以定位在弹簧孔SH中。在这种情况下，嵌套件12的下表面和基板10的上表面可以通过弹性构件121连接。

图7A和图7B示出通过使用根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座来测试产品的示意图。具体地，图7A示出这样一种状态：在该状态下，产品P定位在用于测试产品的插座1的座槽11中，并且产品连接器PT定位在嵌套件12中。图7B示出这样一种状态：在该状态下，通过将盖20铰接地移动至基板10一侧而使被置放在嵌套件12上的产品连接器PT与测试连接器22的导电构件23接触，来执行产品P的测试。

如上所述，根据本发明的实施方式的用于测试产品的插座1可以允许更容易且更快速地测试产品P。

以上详细描述示出和说明了本发明。此外，以上详细描述仅示出了本发明的示例性实施方式，本发明可以如上所述地被用于多种其它组合、改变和环境中，并且本文中公开的发明构思的范围可以在本领域的等同和/或技术或知识的范围内改变或修改。因此，以上详细描述并非旨在将本发明限制于所公开的实施方式。此外，随附的权利要求应解释为包括其它实施方式。

Claims (10)

1.用于测试产品的插座，包括：

基板，所述基板包括座槽和嵌套件，其中，待测试的所述产品置放在所述座槽上，所述产品的产品连接器置放在所述嵌套件上；以及

盖，所述盖包括盖体、测试连接器以及测试模块，其中，所述盖体与所述基板铰接地联接，所述测试连接器设置在所述盖体上并且在所述盖体移动至所述基板时与所述产品连接器电连接，所述测试模块与所述测试连接器连接并向所述测试连接器发送测试信号，

其中，所述嵌套件设置在所述基板的设置有所述座槽的表面上。

2.根据权利要求1所述的用于测试产品的插座，还包括：

磁性构件，所述磁性构件设置在所述嵌套件的与所述产品连接器接触的表面上，并使所述产品连接器对准。

3.根据权利要求1所述的用于测试产品的插座，还包括：

弹性构件，所述弹性构件设置在所述嵌套件的与所述嵌套件的接触所述产品连接器的表面相对的表面和所述基板之间。

4.根据权利要求3所述的用于测试产品的插座，其中，

所述弹性构件包括两个或更多个弹簧。

5.根据权利要求1所述的用于测试产品的插座，其中，

所述嵌套件包括第一嵌套件和第二嵌套件，所述产品连接器的一个端部置放在所述第一嵌套件上，所述产品连接器的另一端部置放在所述第二嵌套件上。

6.根据权利要求5所述的用于测试产品的插座，其中，

所述测试连接器包括第一测试连接器和第二测试连接器，其中，所述第一测试连接器连接至所述产品连接器的置放在所述第一嵌套件上的所述一个端部，所述第二测试连接器连接至所述产品连接器的置放在所述第二嵌套件上的所述另一端部。

7.根据权利要求1所述的用于测试产品的插座，还包括：

导电构件，所述导电构件设置在所述测试连接器上，并且与所述产品连接器电接触。

8.根据权利要求6所述的用于测试产品的插座，其中，

所述测试模块包括连接至所述第一测试连接器以发送所述测试信号的第一测试模块和连接至所述第二测试连接器以发送所述测试信号的第二测试模块。

9.根据权利要求1所述的用于测试产品的插座，还包括：

电路板，所述电路板设置在所述基板的与所述基板的设置有所述座槽的所述表面相对的表面上，并且电连接至所述测试模块，以将从外部接收的所述测试信号发送至所述测试模块。

10.根据权利要求9所述的用于测试产品的插座，还包括：

柔性电路板，所述柔性电路板将所述电路板的端子与所述测试模块的端子电连接。

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