CN112153357A - 投影系统及其投影方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种投影系统及其投影方法。投影系统中包括投影装置、存储器、影像撷取装置以及处理器，其中存储器记录有多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系。投影装置朝向投影区域投射多个测试模板，处理器会根据存储器中所记录的对应关系，控制影像撷取装置以多组影像撷取参数拍摄投影区域以得到对应多个测试模板的多张第一参考影像，并且根据多个测试模板以及对应的多张第一参考影像，控制投影装置投射出投影影像。本发明提供的投影系统及其投影方法可以使摄影机在投影机连续投射多个测试模板时都能够拍摄出清晰的测试模板影像，提高投影机自动校正的准确度。

Description

投影系统及其投影方法
技术领域
本发明是有关于一种投影技术，且特别是有关于一种能够准确进行自动校正的投影系统及其投影方法。
背景技术
在投影机的自动校正领域中常会使用摄影机来辅助进行投影机的校正。详细来说，投影机会投射测试模板(test pattern)，摄影机针对投影出来的画面进行取像后，透过影像处理与演算法的计算，便能够对投影机进行诸如预变形(pre-warp)等校正。在良好的摄影机拍摄状态下，摄影机能够拍摄到清晰的测试模板，因此后续的影像处理与演算法都能够顺利的进行。换句话说，摄影机是否能够拍摄到清晰的测试模板，对于投影机自动校正的准确性有相当大的影响。
然而，并非在所有情况下摄影机都能够拍摄到清晰的测试模板。举例来说，当投影机连续投射多个测试模板时，由于测试模板的切换速度过快导致摄影机来不及进行自动对焦、自动白平衡或自动曝光等操作，进而使得摄影机取得的影像模糊。举另一例来说，当投影机亮度过高时会造成摄影机过曝，也会造成摄影机无法拍摄到清晰的测试模板。
“背景技术”段落只是用来帮助了解本发明内容，因此在“背景技术”段落所揭露的内容可能包含一些没有构成所属技术领域中的技术人员所知道的已知技术。在“背景技术”段落所揭露的内容，不代表该内容或者本发明一个或多个实施例所要解决的问题，在本发明申请前已被所属技术领域中的技术人员所知晓或认知。
发明内容
本发明提供一种投影系统及其投影方法，可以使摄影机在投影机连续投射多个测试模板时都能够拍摄出清晰的测试模板影像，提高投影机自动校正的准确度。
本发明的其他目的和优点可以从本发明所揭露的技术特征中得到进一步的了解。
为达到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本发明的一实施例提出一种投影系统，包括投影装置、存储器、影像撷取装置及处理器。投影装置用于朝向投影区域投射多个测试模板。存储器用于记录多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系。影像撷取装置用于拍摄投影区域以得到对应多个测试模板的多张第一参考影像。处理器耦接于存储器、投影装置以及影像撷取装置，用于根据对应关系，控制影像撷取装置以多组影像撷取参数进行拍摄以得到多张第一参考影像，以及处理器根据多个测试模板以及对应的多张第一参考影像，控制投影装置投射投影影像。
为达到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本发明的一实施例提出一种投影方法，用于投影系统，其中投影系统包括投影装置、影像撷取装置、存储器以及处理器。投影方法包括以下步骤：投影装置朝向投影区域投射多个测试模板；处理器取得存储器中记录的多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系；影像撷取装置根据对应关系，以多组影像撷取参数拍摄投影区域以得到对应多个测试模板的多张第一参考影像；以及投影装置根据多个测试模板以及对应的多张第一参考影像投射投影影像。
基于上述，本发明实施例的投影系统与投影方法在使用影像撷取装置来辅助校正投影装置之前，预先取得校正投影装置时会用到的多个测试模板所对应的多个影像撷取参数，并且将多个测试模板的多组影像撷取参数的对应关系记录到存储器中。据此，在实际校正投影装置时能够根据存储器中的对应关系来拍摄测试模板，如此能够得到更清楚的测试模板的影像，获得良好的校正结果，进而提升投影系统的投影品质。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1绘示本发明一实施例中投影系统的示意图。
图2A至图2D绘示本发明一实施例中测试模板的示意图。
图3绘示本发明一实施例中投影方法的流程图。
图4绘示本发明一实施例中影像撷取参数取得阶段的流程图。
图5绘示本发明一实施例中取得测试模板对应的影像撷取参数的示意图。
具体实施方式
有关本发明之前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图之一较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的方向用语，例如：上、下、左、右、前或后等，仅是参考附图的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本发明。此外，本发明使用的连接、耦接等用语，是说明两装置之间的信号的传递，并非仅限于装置之间直接接触的关系。
图1绘示本发明一实施例中投影系统的示意图。请参照图1，投影系统包括投影装置110、影像撷取装置120、处理器130以及存储器140，其中处理器130耦接于投影装置110、影像撷取装置120以及存储器140，可用于控制投影系统的整体运作。当使用者有投射投影影像的需求时，可以利用投影系统来透过投影装置110朝向投影区域PA投射投影影像。在本文中，投影影像一词是指使用者实际使用投影系统投射出的影像(例如影片、照片等多媒体档案)，而非是在对投影系统本身的元件(例如，投影装置110、影像撷取装置120)进行校正时所需要投影的影像或测试模板(test pattern)。即，投影系统在投放投影影像前，投影装置可先经过校正以调整投影参数，以确保投影装置投射出的投影影像的品质，而取得校正的投影参数的此过程，在本文中称为投影装置校正阶段，完成投影装置校正阶段后，表示投影装置的投影参数已被调整，投影系统可进行投射投影影像，在本文中称为播映阶段。
在本实施例中，投影装置110能够用于接收来自处理器130的影像信号，然后根据此影像信号来将对应的影像朝向投影区域PA投射投影影像。投影装置110例如包括光源、光阀及投影镜头等多种元件。发光源可包括多个可见光发光元件、多个非可见光发光元件或上述两种发光元件的组合。发光元件可以是发光二极管(Light-emitting Diode,LED)或激光二极管(Laser diode,LD)，但不限于此。光阀可为一至多个光调变器，光调变器例如是数字微镜装置(Digital Micro-mirror Device,DMD)、硅基液晶(Liquid Crystal onSilicon,LCOS)或液晶显示面板(Liquid Crystal Display Panel,LCD panel)，或者为穿透式液晶面板或其他空间光调变器，但不限于此。投影镜头可为包括具有屈光度的一个或多个光学镜片的组合，光学镜片例如包括双凹透镜、双凸透镜、凹凸透镜、凸凹透镜、平凸透镜、平凹透镜等非平面镜片或其各种组合。本发明对投影镜头220的型态及其种类并不加以限制。
在本实施例中，影像撷取装置120例如是相机、摄影机等电子装置，影像撷取装置120能够依据一组影像撷取参数来进行拍摄投影区域PA的影像，且影像撷取装置120在进行拍摄时所使用的影像撷取参数是可调整的。在本实施例中，一组影像撷取参数包括焦距参数、白平衡参数与曝光参数等，但本发明并不在此设限。
在本实施例中，处理器130用于负责投影系统的整体运作，包括进行各种运算、产生投影装置110与影像撷取装置120的控制信号以及发送影像信号至投影装置110等等。处理器130例如是由中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，或是其他可编程之一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital SignalProcessor，DSP)、特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、可编程逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)、系统晶片(System on Chip,SoC)、现场可编程逻辑闸阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或其他类似装置或这些装置的组合来实作，本发明并不在此设限。
在本实施例中，存储器140用于储存资料，特别是用于储存多个测试模板与多个影像撷取参数之间的对应关系。存储器140例如是可移动随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、快闪存储器(flash memory)或类似元件或上述元件的组合，本发明并不在此设限。
值得一提的是，本发明并不在此限制投影系统中的各个元件的具体封装方式。在一些实施例中，投影装置110、影像撷取装置120、处理器130以及存储器140可以全部整合在一起，以一台投影机的形式来实作。在一些实施例中，投影装置110与影像撷取装置120可以分开成两个独立的个体来实作。
为了使投影装置110所投影的投影影像能够在投影区域PA中显示地更精确且不变形、失真，在播映阶段前，投影系统在投影装置校正阶段中，会透过影像撷取装置120来对投影装置110进行校正。因此，在本实施例中的投影系统，可透过处理器130控制投影装置110朝向投影区域PA投射多个测试模板。再透过处理器130取得存储器中140纪录的多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系，以控制影像撷取装置120根据对应关系以多组影像撷取参数拍摄投影区域PA，以得到对应多个测试模板的多张参考影像。最后，透过处理器130根据多个测试模板以及对应的多张参考影像投射投影影像。
如此一来，处理器130便能够根据已知的多个测试模板以及对应的多张参考影像来计算出应该如何校正投影装置110，包括调整投影装置110投射投影影像时所使用的投影参数(例如，调整焦距或转正等)或调整投影影像的影像内容(例如，调整亮度或对投影影像进行预变形等)，才能使投影装置110在投影区域PA中投影出更精确且不变形、失真的投影影像。所属领域的技术人员当可理解根据已知的测试模板以及上述的参考影像来校正投影装置110的方式，并且可以根据需求来以不同方式进行实作，故在此不详细说明。
图2A至图2D绘示本发明一实施例中测试模板的示意图。请参照图2A至图2D，在本实施例中，在投影装置校正阶段中所需的多个测试模板储存在存储器140中，例如包括具有多个角点的第一模板PTN1、具有网格的第二模板PTN2、具有棋盘格的第三模板PTN3以及具有多个颜色方块的第四模板PTN4等。然而，本发明并不在此限制多个测试模板的具体数量与内容，所属领域的技术人员当可依其需求来实作。
特别是，在投影装置校正阶段时，影像撷取装置120所拍摄的影像的清晰度会影响校正阶段的校正结果。因此，为了使投影系统在校正阶段中影像撷取装置120能够拍摄到清晰的测试模板，影像撷取装置120拍摄投影区域PA以得到对应多个测试模板的多张参考影像之前，处理器130控制投影装置110以及影像撷取装置120取得对应关系，并且将对应关系储存于存储器140中。因此，本实施例的投影系统在投影装置校正阶段之前，取得多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系的过程，本文中称作影像撷取参数取得阶段。例如，存储器140会记录第一模板PTN1是对应于第一组影像撷取参数、第二模板PTN2是对应于第二组影像撷取参数、第三模板PTN3是对应于第三组影像撷取参数以及第四模板PTN4是对应于第四组影像撷取参数。据此，影像撷取装置120便能够在投影装置校正阶段中，使用第一组影像撷取参数拍摄第一模板PTN1，使用第二组影像撷取参数拍摄第二模板PTN2，使用第三组影像撷取参数拍摄第三模板PTN3，以及使用第四组影像撷取参数拍摄第四模板PTN4，如此一来，影像撷取装置120所拍摄的影像的清晰度可有效的改善。
图3绘示本发明一实施例中投影方法的流程图。请参照图3，投影系统会预先取得了多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系，并将其储存到存储器140中。因此，在投影装置校正阶段中，投影装置110朝向投影区域PA投射多个测试模板(步骤S310)。处理器130取得存储器140中所记录的多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系(步骤S320)，然后影像撷取装置120根据对应关系来以多组影像撷取参数拍摄投影区域PA，以得到对应多个测试模板的多张参考影像(步骤S330)。最后，处理器130根据多个测试模板以及对应的多张参考影像来控制投影装置110以投射投影影像(步骤S340)。在本实施例中，在投影装置校正阶段中，处理器130会根据多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系，以控制影像撷取装置120取得对应于多个测试模板的多张参考影像，并根据多个测试模板以及对应的多张参考影像以控制投影装置110投射投影影像。投影装置110例如会先向投影区域PA投射第一模板PTN1，处理器130会从存储器140取得第一模板PTN1所对应的第一组影像撷取参数，然后控制影像撷取装置120利用第一组影像撷取参数，在投影装置110投影第一模板PTN1的时间段内拍摄投影区域PA以得到对应第一模板PTN1的参考影像。投影装置110例如会接着向投影区域PA投射第二模板PTN2，处理器130会从存储器140取得第二模板PTN2所对应的第二组影像撷取参数，然后控制影像撷取装置120利用第二组影像撷取参数，在投影装置110投影第二模板PTN2的时间段内拍摄投影区域PA以得到对应第二模板PTN2的参考影像。以此类推，处理器130便能够得到分别对应第一模板PTN1、第二模板PTN2、第三模板PTN3以及第四模板PTN4的参考影像。
据此，在播映阶段中，处理器130便能够根据多个测试模板及其所对应的参考影像，来投影装置110投射投影影像，例如，调整投影装置110的投影参数再控制投影装置110以调整后的投影参数投射投影影像，即，处理器130会调整投影装置110投射投影影像时所使用的投影参数；或调整投影影像的影像内容再控制投影装置110投影调整后的投影影像等，对投影影像的影像内容的调整可包含亮度、色调、梯形校正等，本发明并不在此设限。
借由图3实施例所介绍的投影方法，投影装置110能够更准确的被校正，进而能够在播映阶段中投影出更精准且无变形、失真的投影影像。
在本发明的投影系统中，为了让投影装置110能够更准确的被校正，会先在影像撷取参数取得阶段中计算出多个测试模板与多组影像撷取参数之间对应关系，并依据对应关系对影像撷取装置120进行校正。在影像撷取参数取得阶段中，影像撷取装置120拍摄投影区域PA以得到对应各测试模板的一个或多个第一撷取参考影像，处理器130根据各测试模板及其所对应的一个或多个第一撷取参考影像，计算出对应关系，其中对应关是指出每一个测试模板分别对应的一组影像撷取参数。进一步来说，多个第一撷取参考影像还可以包含对应于不同测试模板的多个第二撷取参考影像。
以下将举实施例来详细说明多个测试模板与多组影像撷取参数之间对应关系的取得方式。必须说明的是，以下实施例仅为示范性说明，而非用于限制上述对应关系的具体取得方式。
图4绘示本发明一实施例中影像撷取参数取得阶段的流程图。影像撷取参数取得阶段在投影装置校正阶段之前发生，影像撷取参数取得阶段例如是发生在步骤S310与S320之间。首先，投影装置110会朝向投影区域PA投射多个测试模板中的一个测试模板(步骤S410)，举例而言，投影装置110朝向投影区域PA投射多个测试模板中的第一模板PTN1。接着，影像撷取装置120会使用至少一组影像撷取参数拍摄投影区域PA以得到对应此测试模板的至少一张撷取参考影像(步骤S420)，举例而言，影像撷取装置120根据多组第一影像撷取参数拍摄投影区域PA以得到对应于第一模板PTN1的多张第二撷取参考影像，其中多张第二撷取参考影像为对应第一模板的多张第一撷取参考影像。然后，处理器130会根据所得到的至少一张撷取参考影像以及所使用的至少一组影像撷取参数，计算出此测试模板所对应的一组影像撷取参数(步骤S430)，举例而言，处理器130根据各个第二撷取参考影像中的面积资讯以及多组第一影像撷取参数，计算出第一模板PTN1所对应的一组影像撷取参数。接着，处理器130将此测试模板所对应的一组影像撷取参数纪录到存储器中，换言之，处理器130将计算出来的一组影像撷取参数记录到存储器140中(步骤S440)。随后，处理器130会判断是否还有其他尚未记录对应的影像撷取参数的测试模板(步骤S450)。若有，则回到步骤S410，反之则结束影像撷取参数取得阶段(步骤S460)。
具体而言，在本实施例中，处理器130会控制投影装置110先朝向投影区域PA投射第一模板PTN1。接着，处理器130会控制影像撷取装置120拍摄投影区域PA至少一次，每次使用一组影像撷取参数取得第一模板PTN1对应的一张撷取参考影像。然后，根据所取得的撷取参考影像以及所使用的影像撷取参数来计算出适合影像撷取装置120用来拍摄第一模板PTN1的一组影像撷取参数，以作为第一模板PTN1所对应的一组影像撷取参数。适合影像撷取装置120用来拍摄第一模板PTN1的一组影像撷取参数例如是指，若影像撷取装置120使用此组影像撷取参数来拍摄第一模板PTN1，可以得到符合预设标准(例如，足够清晰或分辨率够高等)的影像。随后，处理器130会将计算出来的第一模板PTN1所对应的一组影像撷取参数记录到存储器140中。重复以上的步骤，处理器130便能够依序将第一模板PTN1、第二模板PTN2、第三模板PTN3以及第四模板PTN4所分别对应的一组影像撷取参数都记录到存储器140中，以供后续的投影装置校正阶段使用。
在一实施例中，影像撷取参数取得阶段与投影装置校正阶段可先后进行，投影装置110例如会先进行影像撷取参数取得阶段，向投影区域PA依序地投射多个测试模板以取得分别对应的一组影像撷取参数，并由处理器130记录到存储器140中，以供后续的投影装置校正阶段使用。在此一实施例中，投影装置110例如会在影像撷取参数取得阶段中，向投影区域PA依序第投射第一模板PTN1、第二模板PTN2、第三模板PTN3以及第四模板PTN4以取得第一撷取参考影像，并在投影装置校正阶段中，也向投影区域PA依序地投射第一模板PTN1、第二模板PTN2、第三模板PTN3以及第四模板PTN4以取得参考影像。
在另一实施例中，影像撷取参数取得阶段与投影装置校正阶段可交互进行，投影装置110例如会先进行影像撷取参数取得阶段，向投影区域PA投射第一模板PTN1以取得对应于第一模板PTN1的一组影像撷取参数，并由处理器130记录到存储器140后，即进行对应于第一模板PTN1投影装置校正阶段。然后，重复此过程直到对其余的测试模板也完成影像撷取参数取得阶段与投影装置校正阶段。在此一实施例中，投影装置110例如会先向投影区域PA投射第一模板PTN以进行影像撷取参数取得阶段以及投影装置校正阶段，然后再向投影区域PA依序地投射第二模板PTN2、第三模板PTN3以及第四模板PTN4，即投影装置110不需要在不同的阶段投射出分别相同测试模板。
在一些实施例中，处理器130可以根据撷取参考影像中测试模板的面积资讯例如是特征面积(characteristic area)来判断被用来拍摄此撷取参考影像的一组影像撷取参数是否适合，其中影像撷取参数可至少包含焦距值，且特征面积是指测试模板的多个特征点所形成的面积。以图2B中的第二模板PTN2为例，处理器130可以对包括第二模板PTN2的撷取参考影像进行分析，以得到面积资讯中第二模板PTN2的多个特征点p1、p2、p3、p4，然后计算撷取参考影像中这些特征点p1、p2、p3、p4所围成的面积，即为特征面积。当影像撷取装置120使用不同的影像撷取参数来拍摄相同的测试模板时，会造成所得到的撷取参考影像中此测试模板的特征面积大小不同，而特征面积越小通常表示影像越清晰。因此，在一些实施例中，处理器130会找出使特征面积最小的一组影像撷取参数，来作为对应此测试模板的该组影像撷取参数。
图5绘示本发明一实施例中取得测试模板对应的影像撷取参数的示意图。请参照图5，纵轴为特征面积的大小，横轴为每一组影像撷取参数所包含的焦距参数的大小。当影像撷取装置120使用不同组影像撷取参数所包含的不同大小的焦距参数来拍摄被投射在投影区域PA的测试模板时，所得到的撷取参考影像中的特征面积大小例如会呈现如曲线C的趋势，而处理器130会找出曲线C的最低点min所对应的焦距值，作为此测试模板所对应的焦距参数。
在一实施例中，处理器130会控制影像撷取装置120先使用焦距值Fi取得测试模板对应的一张撷取参考影像Ri，然后再使用下一个焦距值Fi+1取得测试模板对应的另一张撷取参考影像Ri+1。接着，处理器130会计算上述两张撷取参考影像Ri、Ri+1中测试模板的特征面积的差值。若此差值小于预设阈值，表示这两个焦距值Fi、Fi+1已经相当接近曲线C的最低点min所对应的焦距值，因此处理器130可以从这两个焦距值Fi、Fi+1中选择其中之一来作为测试模板所对应的焦距参数。反之，若此差值大于预设阈值，则处理器130会决定下一个焦距值Fi+2以取得对应的撷取参考影像Ri+2，并且重复上述的步骤，直到连续的两张撷取参考影像中测试模板的特征面积的差值小于预设阈值。如此，处理器130所计算的测试模板所对应的一组影像撷取参数即为多组影像撷取参数的其中之一。
举例来说，若焦距值Fi+1大于焦距值F时，撷取参考影像Ri+1中的测试模板的特征面积小于撷取参考影像Ri中的测试模板的特征面积，表示使用焦距值Fi+1所取得的撷取参考影像Ri+1比使用焦距值F所取得的撷取参考影像Ri更加清楚。此时，若两张撷取参考影像Ri、Ri+1中测试模板的特征面积的差值小于预设阈值，则处理器130可例如是选择焦距值Fi+1作为此测试模板对应的焦距参数。反之，若两张撷取参考影像Ri、Ri+1中测试模板的特征面积的差值大于预设阈值，表示焦距值的调整方向是正确的但是尚未符合预设标准，因此处理器130可以决定一个大于焦距值Fi+1的焦距值Fi+2，并且继续比较焦距值Fi+2所对应的撷取参考影像Ri+2中测试模板的特征面积与焦距值Fi+2所对应的撷取参考影像Ri+2中测试模板的特征面积，以此类推，直到找出测试模板所对应的焦距参数。
在一些实施例中，处理器130可以预设曲线C符合特定的趋势，并且在使用多个焦距值取得对应的多张撷取参考影像以及多张撷取参考影像中测试模板的多个特征面积之后，可以直接将多个焦距值与多个特征面积进行拟合以得到曲线C的函数。如此一来，处理器130便能够根据曲线C的函数计算得到最低点min所对应的焦距值。
举例来说，处理器130预设曲线C为拋物线。因此，处理器130可以控制影像撷取装置120使用至少三个焦距值来取得对应的至少三张撷取参考影像以及所述至少三张撷取参考影像中测试模板的至少三个特征面积。据此，处理器130可以直接将上述的至少三个焦距值以及至少三个特征面积进行拟合，以得到曲线C的拋物线函数，进而得到最低点min所对应的焦距值。
值得一提的是，虽然上述是以一组影像撷取参数中的焦距参数作为例子，可进一步使用其他的影像特征来进行分析，以取得影像撷取参数中的其他参数，例如是曝光参数、对比参数以及白平衡参数等参数值，但上述实施例所介绍的方法可以用于一组影像撷取参数中的所有参数。
根据图4与图5实施例所介绍的方式，投影系统可以透过投影装置110与影像撷取装置120来在投影装置校正阶段前的影像撷取参数校正阶段中先取得对应于多个测试模板的多组影像撷取参数，并且将多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系预先记录到存储器140中以供投影装置校正阶段使用。
综上所述，本发明实施例的投影系统与投影方法在使用影像撷取装置来辅助校正投影装置之前，预先取得校正投影装置时会用到的多个测试模板所对应的多个影像撷取参数，并且将多个测试模板的多组影像撷取参数的对应关系记录到存储器中。据此，在实际校正投影装置时能够根据存储器中的对应关系来拍摄测试模板，如此能够得到更清楚的测试模板的影像，获得良好的校正结果，进而提升投影系统的投影品质。
惟以上所述者，仅为本发明之较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施之范围，即凡是依本发明权利要求书及发明内容所作之简单的等效变化与修改，皆仍属本发明专利涵盖之范围内。另外本发明的任一实施例或权利要求不须达成本发明所揭露之全部目的或优点或特点。此外，摘要和发明名称仅是用来辅助专利文件检索之用，并非用来限制本发明之权利范围。此外，本说明书或权利要求书中提及的“第一”、“第二”等用语仅用于命名元件(element)的名称，而并非用来限制元件数量上的上限或下限。
附图标记说明：
110：投影装置
120：影像撷取装置
130：处理器
140：存储器
C：曲线
min：最低点
p1、p2、p3、p4：特征点
Ri、Ri+1：撷取参考影像
Fi、Fi+1：焦距值
PA：投影区域
PTN1：第一模板
PTN2：第二模板
PTN3：第三模板
PTN4：第四模板
S310、S320、S330、S340：投影方法的步骤
S410、S420、S430、S440、S450、S460：取得多个测试模板与多组影像撷取参数之间对应关系的步骤。

Claims (20)

1.一种投影系统，其特征在于，所述投影系统包括投影装置、存储器、影像撷取装置及处理器，其中：
所述投影装置用于朝向投影区域投射多个测试模板；
所述存储器用于记录所述多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系；
所述影像撷取装置用于拍摄所述投影区域以得到对应所述多个测试模板的多张参考影像；以及
所述处理器耦接于所述存储器、所述投影装置以及所述影像撷取装置，所述处理器用于根据所述对应关系控制所述影像撷取装置以所述多组影像撷取参数进行拍摄以得到所述多张参考影像，以及所述处理器根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，控制所述投影装置投射投影影像。
2.根据权利要求1所述的投影系统，其特征在于，在所述影像撷取装置拍摄所述投影区域以得到对应所述多个测试模板的所述多张参考影像之前，所述处理器利用所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系，并且将所述对应关系储存于所述存储器中。
3.根据权利要求2所述的投影系统，其特征在于，所述处理器利用所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系时：
所述影像撷取装置拍摄所述投影区域以得到对应各所述测试模板的至少一第一撷取参考影像；以及
所述处理器根据各所述测试模板及其所对应的所述至少一第一撷取参考影像，计算出所述对应关系，其中所述对应关系指出每一个所述测试模板分别对应的一组影像撷取参数。
4.根据权利要求3所述的投影系统，其特征在于，所述处理器利用所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系时：
所述投影装置朝向所述投影区域投射所述多个测试模板中的一第一模板；
所述影像撷取装置根据多组第一影像撷取参数拍摄所述投影区域，以得到多张第二撷取参考影像，其中所述多张第二撷取参考影像为对应所述第一模板的至少一个所述第一撷取参考影像；以及
所述处理器根据各所述第二撷取参考影像中的面积资讯以及所述多组第一影像撷取参数，计算所述第一模板所对应的一组影像撷取参数。
5.根据权利要求4所述的投影系统，其特征在于，所述面积资讯包括所述第一模板的多个特征点所形成的特征面积。
6.根据权利要求5所述的投影系统，其特征在于，所述处理器所计算的所述第一模板所对应的一组影像撷取参数为所述多组第一影像撷取参数的其中之一。
7.根据权利要求6所述的投影系统，其特征在于，所述处理器根据所述第一模板所对应的一组影像撷取参数拍摄所得到的所述第二撷取参考影像中的特征面积为所述多张第二撷取参考影像的多个特征面积中的最小者。
8.根据权利要求1所述的投影系统，其特征在于，一组影像撷取参数包括焦距参数、白平衡参数与曝光参数的至少其中之一。
9.根据权利要求1所述的投影系统，其特征在于，所述处理器根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，调整所述投影装置投射所述投影影像时所使用的投影参数。
10.根据权利要求1所述的投影系统，其特征在于，所述处理器根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，控制所述投影装置投射所述投影影像时：
根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，调整所述投影影像的影像内容；以及
控制所述投影装置投射调整后的所述投影影像。
11.一种投影方法，其特征在于，所述投影方法用于投影系统，其中所述投影系统包括投影装置、影像撷取装置、存储器以及处理器，所述投影方法包括：
所述投影装置朝向投影区域投射多个测试模板；
所述处理器取得所述存储器中记录的所述多个测试模板与多组影像撷取参数之间的对应关系；
所述影像撷取装置根据所述对应关系，以所述多组影像撷取参数拍摄所述投影区域以得到对应所述多个测试模板的多张参考影像；以及
所述投影装置根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像投射投影影像。
12.根据权利要求11所述的投影方法，其特征在于，所述影像撷取装置根据所述对应关系，以所述多组影像撷取参数拍摄所述投影区域以得到对应所述多个测试模板的所述多张参考影像的步骤之前，所述投影方法还包括：
所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系；以及
所述处理器将所述对应关系储存于所述存储器中。
13.根据权利要求12所述的投影方法，其特征在于，所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系的步骤包括：
所述影像撷取装置拍摄所述投影区域以得到对应各所述测试模板的至少一第一撷取参考影像；以及
所述处理器根据各所述测试模板及其所对应的所述至少一第一撷取参考影像，计算出所述对应关系，其中所述对应关系指出所述多个测试模板分别对应的一组影像撷取参数。
14.根据权利要求13所述的投影方法，其特征在于，所述投影装置以及所述影像撷取装置取得所述对应关系的步骤包括：
所述投影装置朝向所述投影区域投射所述多个测试模板中的第一模板；
所述影像撷取装置根据多组第一影像撷取参数拍摄所述投影区域，以得到多张第二撷取参考影像，其中所述多个第二撷取参考影像为对应所述第一模板的至少一个所述第一撷取参考影像；以及
所述处理器根据各所述第二撷取参考影像中的面积资讯以及所述多组第一影像撷取参数，计算所述第一模板所对应的一组影像撷取参数。
15.根据权利要求14所述的投影方法，其特征在于，所述面积资讯包括所述第一模板的多个特征点所形成的特征面积。
16.根据权利要求15所述的投影方法，其特征在于，所述处理器所计算的所述第一模板所对应的一组影像撷取参数为所述多组第一影像撷取参数的其中之一。
17.根据权利要求16所述的投影方法，其特征在于，所述处理器根据所述第一模板所对应的一组影像撷取参数所得到的所述第二撷取参考影像中的特征面积为所述多张第二撷取参考影像的多个特征面积中的最小者。
18.根据权利要求11所述的投影方法，其特征在于，一组影像撷取参数包括焦距参数、白平衡参数与曝光参数的至少其中之一。
19.根据权利要求11所述的投影方法，其特征在于，所述投影装置根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像投射所述投影影像的步骤包括：
所述处理器根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，调整所述投影装置投射所述投影影像时所使用的投影参数。
20.根据权利要求11所述的投影方法，其特征在于，所述投影装置根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像投射所述投影影像的步骤包括：
所述处理器根据所述多个测试模板以及对应的所述多张参考影像，调整所述投影影像的影像内容；以及
所述投影装置投射调整后的所述投影影像。
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