CN1119709C - 被充电元件的使用寿命通告装置,其通告方法,处理暗盒和成像设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种被充电体的寿命通告装置。它包括被充电体，对被充电体充电的充电元件，充电元件接收振荡电压并在充电操作时和被充电体接触，而通告装置基于振荡电压的施加累积时间和被充电体旋转的累积时间可视地或可听地通告被充电体是否达到其寿命。

Description

被充电元件的使用寿命通告装置，其通告 方法，处理暗盒和成像设备

本发明涉及一种被充电元件例如电照相感光元件的寿命通告装置，用于这种被充电元件的寿命通告方法，处理暗盒和成像设备。

在通常的电照相成像设备中，为检测用作被充电元件的感光鼓的使用寿命，公知的为，例如累积复印件数的已充电元件寿命检测装置。这种已充电元件寿命检测装置，尽管非常简单，但由于即使在感光鼓的磨擦表面积不同，例如分别以A3和A4尺寸成像时它也只计算复印件的件数，因此寿命检测的准确性不令人满意。由于感光鼓对每个复印件的旋转时间随每次工作的复印件件数而变化，检测的准确性进一步降低。

日本专利申请公开号4-51259也公开了一种通过表面电位传感器检测电荷量的被充电元件寿命检测装置。这种检测装置和上述第一种依赖于复印件件数的寿命检测装置相比，直接用表面电位传感器测量感光鼓的被充电的电位的实际降低或潜像的对比度的实际降低，能检测反映输出图像状态的准确寿命。

但是，这种寿命检测装置需要表面电位传感器和处理其输出的电路，较昂贵。另外由于寿命检测依赖于感光鼓上和表面电位传感器的位置(即感光鼓纵向的局部位置)相应的信息它不能总是有把握地检测到感光鼓上的局部缺陷。此外，考虑到表面传感器的波动和其随时间变动，不能恒定准确检测寿命。

此外公知的如日本专利申请号5-188674所公开的被充电元件寿命检测装置，它计算感光鼓的转数或其旋转时间而不是计算复印件的数目。这种寿命检测装置由于随纸张尺寸变大或变小转数分别变大或变小，和计算复印件件数的装置相比，由纸张尺寸的差别带来的寿命检测误差较小。直接计算鼓的转数(旋转时间)而与每次工作的复印件数无关，寿命检测的准确性也提高了。

此外日本专利申请公开4-98265公开了一种只在实像形成操作时计算感光鼓转数的能更精确检测寿命的被充电元件寿命检测装置。此外日本专利申请公开号6-180518公开了一种在进行充电操作时和清洁元件处于接触状态时分别计算鼓的转数的装置，它基于各予设值(寿命)来判断使用寿命。

另一方面，日本专利申请公开号5-333626公开了一种提前通报由清洁元件和被充电元件组成的处理暗盒的更换时间的被充电元件寿命检测装置。该处理暗盒带计算复印件数的存储元件在达到被充电元件的有效寿命时成像设备停止不能用，并给出一个基于充电元件寿命的请求更换显示。此外，在达到这种有效寿命前，给出一个指示更换时间接近了的显示，从而请求作更换准备，若继续使用，给出一个指示成像设备停止时间将至的指示。

此外已知的一种装置能提供基于调色剂容器容量的处理暗盒的请求更换显示。更具体地说，这种装置累积调色剂补充马达的启动时间并在相应于考虑到各种波动的最差条件下可能的最短更换时间的累积时间中断设备。此外，此时，在设备实际中断之前的某个累积时间，给出一条请求更换显示，稍后，再给出一条指示设备中断时间将至的显示。基于已充电元件的寿命的显示和基于调色剂容器容量的处理暗盒更换显示常选择按复印件数而给出的。但是，若处理盒的更换是由于不规则高图象质量要求经常补充调色剂而由调色剂容器的容量造成的，不是由已充电元件的有效复印件数造成的，则显示处理盒更换请求。

另一种公知的装置在处理暗盒更换时，经CPU将成像设备的主电晕充电器的累积开启时间贮存在存储装置(EEPROM)中并也贮存主电晕充电器的后续累积开启时间。这样通过恢复和分析所用处理暗盒的贮存装置(EEPROM)可以准确了解已充电元件(感光鼓)的转数的当前累积值和采用该处理暗盒的成像设备的线式电晕器的放电时间，从而可以收集处理暗盒更换时的成像设备的信息。更具体地说，可以收集处理暗盒更换时成像设备的被充电元件的循环数，臭氧过滤器的更换周期，充电数据中的予期磨损数据等信息。

但是，上述以复印件数为基础进行寿命检测的被充电元件的寿命检测装置不能适应由于使用的其他条件下带来的变化。

另一方面，近来的主充电器采用接触充电装置代替传统的电晕充电器。和传统的电晕充电器相比，接触充电装置具有如所加偏压较低，产生的臭氧非常少和构成部件的数目较少等优点。接触充电装置按用于对被充电元件充电的元件可分为刷式充电装置和辊式充电装置。

此外就接触充电元件中采用的电压来说，公知的直流充电不用交流偏压只用直流偏压，而交流充电采用通过将交流偏压和直流偏压重叠得到的振荡电压。一般说来，交流充电和直流充电相比能均匀充电。在交流充电中，公知的一种用辊作充电元件且将直流电压和至少为充电起始电压两倍的交流电压相叠加的方法(日本专利申请公开号63-149669和1-26767)，和一种用导电刷作充电元件且将直流电压和不超过充电起始电压的两倍的交流电压相叠加的方法(日本专利申请公开号6-130732)。

但是传统的接触充电装置和电晕充电器相比，特别是在有机感光鼓上易于造成充电元件的损坏。

感光鼓的损坏在加到接触充电装置的电压增加时变得更严重，在加交流电压时的毁坏(特别是有机感光鼓的磨损量)和由等于交流电压的峰到峰值的直流电压造成的相比大几倍。这种现象在所加的交流电压的峰到峰值大于充电起始电压的两倍时更加明显，但是和只加直流电压的情形相比，既使交流电压低于充电起始电压的两倍，其损坏仍然为几倍的数量级。

为此，在采用加交流电压的接触式充电元件的成像设备中，利用感光鼓转数的寿命检测装置不能准确予测被充电元件的寿命，从而有待改进。

本发明的目的是提供一种通告装置，一种通告方法，处理暗盒和成像设备以得到被充电元件的寿命的准确信息。

本发明的另一目的是提供一种能准确评价由于加到接触式充电元件上的振荡电压带来的被充电元件的损坏的被充电元件寿命通知装置，通知方法，处理暗盒和成像设备。

附图说明

图1是本发明的成像设备的第一实施例的剖面示意图；

图2是上述成像设备的成像过程流程图；

图3是本发明的成像设备的第二实施例的寿命检测过程流程图；

图4是本发明的成像设备的第三实施例的剖面示意图；

图5是成像设备的第四实施例的示意图；

图6是安装在图5所示的成像设备上的处理暗盒示意图；

图7是第四实施例中成像的时序图；

图8是第四实施例中寿命检测程序流程图；

图9是第五实施例的成像设备中寿命检测程序的流程图；

图10是成像设备的第六实施例的示意图；

图11是第六实施例的成像设备中寿命检测程序的流程图；

图12是成像设备的第七实施例的示意图；

图13是第七实施例的成像设备中寿命检测程序的流程图；

图14是成像设备的第八实施例的示意图；

图15是安装在第八实施例的成像设备上的处理暗盒的外观图；

图16和17为本发明的成像设备的第九实施例的寿命检测程序的流程图；

图18是本发明的成像设备的第十实施例中寿命检测程序的流程图；

图19是本发明的成像设备的第十实施例中寿命系数信息的表；

图20是本发明成像设备的第十一实施例中寿命检测程序的流程图；和

图21是显示本发明的成像设备的第十一实施例的寿命系数信息的表。

下面结合附图通过其优选实施例详细说明本发明。第一实施例

图1是构成本发明第一实施例的成像设备的剖面示意图。

见图1，成像设备由包括构成被充电元件的鼓形静电感光体1(后文简单称为“感光体”)，作为接触充电元件的充电辊2，显影装置7，清洁装置14等的处理暗盒17；位于处理暗盒17周围的转印辊13；定影装置15；和包括激光扫描器4和反应镜6的光学系统构成。

下面说明由上述成像设备进行的成像过程。

感光体1包括外径为30mm，包括承载具有光导性的表面感光层1a的接地导电铝衬底16的感光鼓。它沿方向A(箭头所示)以100mm/sec的周边速度(处理速度)旋转。感光层1a包括可充负电的有机光导层。感光体1由充电辊2负电性地均匀充电，然后由激光扫描器4发出的激光5以600dpi的分辨率相应于从视频控制器(未画出)发出的并经位于成像设备主体的反光镜6传递的成像时间顺序数字电图像信号扫描曝光，从而在表面形成静电潜像。

感光体1上的静电潜像由显影装置7中的显影套筒11上的调色剂反转显影形成可视(调色剂)影像。转印辊13将调色剂影像转印到承印纸P上，之后后者从感光体1上分离并被送入定影装置15将调色剂影像定影。承载了已定影的调色剂影像的转印纸P从成像设备的主体排出。承载残存调色剂的感光体在转印步骤之后在清洁装置14中清洁，随后清洁后的表面再次进入充电步骤重复成像。

显影装置7采用非接触显影方法且带装调色剂8的调色剂容器3，构成可旋转调色剂支撑元件在方向B旋转以向感光体1运送调色剂8的显影套筒11，和固定在显影套筒11内的磁场产生装置10。显影套筒11和将交流偏压成分和直流偏压成分叠加的电源16相连。电源16产生了和峰到峰值为1200V的矩形波构成的交流偏压成分叠加的-500V直流偏压成分。

限制涂在显影套筒11上的调色剂8的厚度的刮片9由硬度为JIS-A67°和厚度为1.1mm的聚氨酯橡胶做成。在加叠加电压时，调色剂8的薄层涂在显影套筒11上，而在显影套筒11和感光体1互相面对的部分，调色剂8沉积在其上以将静电潜像显影。在本实施例中，调色剂8由装在调色剂容器3中的磁性单组分调色剂构成。

充电辊2具有双层结构，即叠在金属芯轴2a上的海绵层2b和表面层2c。其外径为12mm而金属芯轴2a直径为6mm，长为约220mm。在500gf的压力下金属芯轴2a的两端均压向感光体1，在方向C旋转并以约1.5mm的压宽和感光体1保持接触。充电辊2不被驱动而是随感光体1的旋转而旋转。

充电辊2通过其金属芯轴2a和第一偏压源12相连，后者能通过施加用峰到峰值为1600V，频率为1200Hz的正弦交流偏压成分(振荡电压成分)和-700V的直流偏压叠合得到的电压。加到充电辊2的该电压对感光体1的表面均匀充电到约-680V。

下面将说明以本发明为特征的寿命检测装置。

如图1所示，第一偏压源12和第一直流电压输出控制部分(后文简单地称为“DC控制部分”)20与第一交流电压输出控制部分(后文简单地称为“AC控制部分”)21相连，通过第一偏压源12加到充电辊2的DC和AC偏压成分由这种DC和AC控制部分独立控制。AC控制部分21和作为累积装置的AC偏置检测/累积部分22相连，后者检测AC电压是否加到充电辊2上并累积AC电压施加的时间。AC偏压检测/累积部分22和AC偏压施加时间存储部分23相连，每次工作从中读出AC偏压施加时间的累积值，之后加上刚刚进行的工作中加到充电辊2上的AC偏压成分的施加时间并更新贮存在AC偏压时间存储部分23中的值。

每次复印时重复该操作。在复印操作的最后新的累积值贮存在交流偏压时间存储部分23时，比较部分25比较从感光体信息存储部分24读出的予设寿命信息(累积的交流偏压施加时间)和从AC偏压时间存储部分23读出的更新了的累积值。比较结果由识别装置判定，若更新了的累积值比寿命信息大，向警告部分26发出一信号以电显示或声音信号提供一条指示感光体1达到其寿命期限的警告。

下面参见图2说明形成双复印件的成像程序。

响应于复印信号，未讲述过的主马达被驱动并旋转相等于予旋转时间(T2)，成像时间(T1×2)，纸间隔时间(T3)和后旋转时间(T4)之和的一个周期。所谓“予旋转时间”是指从马达旋转开始到影像曝光开始的时间；所谓“成像时间”是指成像区穿过曝光位置所需时间，所谓“纸间隔时间”是指从一张纸的拖尾经过转印位置到下一张纸的导端经过转印位置的时间；所谓“后旋转时间”是指从影像曝光到马达旋转结束的时间。从第一偏压源口发生的AC偏压成分和直流偏压成份在第一次成像之始同时施加，但由DC控制部分20和AC控制部分21以适当方式独立控制。

更具体地说，在第一复印件和第二复印件之间的纸间隔时间T3内，关掉AC偏压成分以降低AC电压施加时间(T3-T6)，从而减少对感光体1的损坏。选择AC偏压成分的施加时间为必须的成像时间下和相应于成像前感光体1的一个转动的时间T6的和。另一方面，选择转印偏压的施加时间为比必须的成像时间T1稍长的时间T11。此外第一偏压源12发出的DC偏压成分的施加时间T5比其AC偏压成份的施加时间(T6+T1)长。这是为了维持感光体1的表面电位处于负电位，从而避免不期望地被转印辊13的正电荷充电。

如图2所示，马达旋转时间，DC偏压成分的施加时间T5，施加时间(T6+T1)，转印偏压施加时间T11互不相同。

通过对感光体1的毁坏的研究，特别是对在程序的不同阶段的感光层1a的磨损(后文称为“鼓磨损”)的研究，发现这样一个事实，即和未加任何偏压时的鼓磨损相比，在加DC偏压时鼓磨损是2到3倍而在加AC偏压成分时鼓磨损为6到8倍。这些结论是对带用聚碳酸酯为主粘合剂的感光层1a的有机光导体(OPC)感光体而言的。

若认为感光体1的寿命决定于鼓磨损，则从前面结果中可见通过测定从AC偏压成分的累积施加时间(T6+T1)带来的鼓磨损量可以精确检测感光体1的寿命。传统的感光体寿命检测装置在采用电晕充电器其鼓磨损的和鼓旋转时间成正比的成像设备中通过累积鼓旋转的次数或时间来进行检测，而在采用接触充电元件为第一充电装置并也施加AC偏压成分的接触充电装置中用于鼓磨损的量不再和鼓旋转时间成正比而不能检测感光体1的准确寿命。

此外通过累积转印偏压的施加时间(T11)测定AC偏压成分的施加时间(T6+T1)有一定限度，AC偏压的施加时间包括成像时间(T1)和相当于成像前感光体1的一个旋转的时间T6，和转印偏压的施加时间(T1≌T1)差约相当于成像前感光体1的一次旋转，这种差别破坏了寿命检测的准确性。

在本实施例中，AC偏压检测累积部分22检测AC偏压施加时间并更新在AC偏压时间存储部分23中的累积值以测定感光体1的鼓磨损的量，而得到准确的寿命检测。更具体地说，在每次工作时从AC偏压时间存储部分23读出的AC偏压施加时间累积值，刚刚进行的工作中加到充电辊2的AC偏压成分的施加时间加到该累积值上，从而更新存储在AC偏压时间存储部分23中的累积值。以这种方式可以准确检测感光体1的寿命。

本实施例采用充电海绵辊为接触充电元件，但充电辊也可用硬质橡胶做成。此外接触充电元件也不限于充电辊，也可用刮片，刷或刷辊。

已说明的前述实施例为AC偏压的峰到峰电压至少为充电初始电压的两倍的情形，此外若AC电压不超过充电起始电压的两倍，由于鼓磨损的量和在DC偏压时相比仍然为1.5到2倍，通过累积AC偏压来检测寿命依然可以改进准确性。

所谓的充电起始电压是指加在充电元件上的能开始对感光体充电的DC电压。它随感光体具体的介电常数和厚度而变化，在本实施例中为-550V。第二实施例

结合图3说明本发明的第二实施例。

本实施例的构造和图1所示的第一实施例相同，下面结合图1和3说明本实施例。

图3为AC偏压施加时间累积值更新后寿命显示程序的流程图。

本实施例和第一实施例的差别在于感光体寿命信息存储部分24具有双级信息以判断感光体1的寿命，即寿命予告时间(寿命预期信息)在感光体1寿命将到时请求作更换准备和寿命(寿命信息)T8，其中T7＜T8。

充电辊2收到第一偏压源12发出的由AC控制部分21和1C控制部分20独立控制的AC偏压成分和DC偏压成分。AC控制部分21和检测与累积AC偏压成分施加时间的AC偏压检测累积部分22相连。和AC偏压时间存储部分23相连的AC偏压检测累积部分22从中读出累积的AC偏压施加时间并将在刚刚进行的工作中加到充电辊2上的AC偏压成分的施加时间加到该累积值上从而将存储在AC偏压时间存储部分23中的累积值更新(ST1)。

在复印操作的每次工作中重复该操作，每次工作后存储在AC偏压时间存储部分23中的累积值更新后，比较部分25从AC偏压时间存储部分23上读出该更新后的累积值T0(ST2)，也从感光体寿命信息存储部分24中读出予定的寿命予告T7和寿命T8(ST3)。

判断装置判断累积值T0和寿命予告时间T7的比较(ST4)结果。若前者较小，程序返回正常复印程序而感光体1的寿命信息不显示(ST5)，而若T0≥T7，则程序进入下一个步骤将累积值T0和寿命T8比较(ST6)。若在步骤ST6中T0＜T8，感光体接近其寿命，则指示请求做更换准备(ST7)。另一方面若T0≥T8，警告部分26接到感光体1达到寿命期限的信息，从而请求更换感光体1而禁止下一个成像操作(ST8)。在确定感光体1已换成新的后，再可进行成像操作。

在本实施例中，判断感光体寿命的时间设为两级，也可以设成更多个级以更详细的方式显示感光体1的寿命信息。第三实施例

下面结合图4说明第三实施例。

图4是构成本发明第三实施例的成像设备剖面示意图。

在本实施例中，鼓单元(处理暗盒)127包括感光体101，充电辊102和清洁装置114集成为一个单元，显影装置成为另一个分立的单元。鼓单元127内装有存储元件(EEPROM：电删除和编程的只读式存储器)128。鼓单元127的盒体装有一连接终端以和成像设备主体的控制单元连系。

充电辊102收到第一偏压源112发出的由AC控制部分121和DC控制部分122独立控制的AC偏压成分和DC偏压成分，见图4所示，AC控制部分121和检测并累积AC偏压成分施加时间的AC偏压检测累积部分122相连。和鼓单元127中的EEPROM 128相连的AC偏压检测累积部分122从中读出累积的时间并将在刚刚进行工作中加在充电辊102上的AC偏压成分的施加时间加到该累积值上以更新存在EEPROM中的累积值。在每次复印操作中重复该操作。

每次工作中存在EEPROM 128中的累积值更新后，比较部分125从感光体寿命信息存储部分124中读出当前寿命信息(累积的AC施加时间)而从EEPROM 128中读出更新后的累积值并对它们进行比较。若更新后的累积值比寿命信息大，则向警告部分126发出信号以提供一个警告或显示感光体101已到达寿命期限。

鼓单元127中EEPROM 128的存在使得可基于各EEPROM128中存储的累积AC偏压施加时间的差方便地识别各鼓单元。更具体地说，更换新鼓单元127时，万一用已用过的鼓单元127来错误地替换就很容易发现，因为不用特别地识别装置就能判别出感光体101的新旧。

在前述实施例中，感光体的寿命按累积的AC偏压施加时间来通告。下面将说明基于AC电压的累积施加时间，无AC电压施加的DC电压累积施加时间，无电压加到充电辊的感光体旋转时间来通知感光体寿命的实施例。第四实施例

下面将参见图5到9说明本发明的第四实施例。图5为用激光曝光并构成本实施例的激光打印机(LBP)。

本实施例的打印机带有包括感光鼓(电照相感光体)201，充电辊202，显影装置207和清洁装置214的处理暗盒217；转印辊213；定影装置215；构成光学系统的激光扫描器204和反光镜206。处理暗盒217由安装导向装置280以可更换的方式安在设备主体上。

下面说明本打印机的成像过程。外径为30mm的感光体201包括其上承载光导性感光层201a的导电铝衬底1b并沿方向A以100mm/sec圆周速度旋转。

感光体201为充电辊202均匀充以负电之后以600dpi的分辨度为从激光扫描器204发出响应于视频控制器(未画出)传递的成像的时间顺序数字电图象信号的激光经位于成像设备主体中的反光镜206扫描曝光，从而在其表面形成静电潜像。感光体201上的静电潜像为显影装置207内的显影套筒211上的调色剂反转显影而形成可视(调色剂)图像。

调色剂图像为转印辊转印到承印纸P上，之后后者和感光体201分离并经运送装置270导入定影装置215中而将调色剂图像定影。承载定影后调色剂图象的承印纸P从成像设备主体中排出。转印步骤后承载残存调色剂的感光体201在清洁装置214中清洁，随后清洁了的表面再次进行充电步骤重复成像。

显影装置207采用不接触显影方法并带构成可旋转支撑调色剂以向感光体201运送调色剂208的元件的显影套筒211，固定在显影套筒211内的磁场形成装置和调色剂盒203。显影套筒211和供应AC和DC偏压的电源216相连。在加-500V DC成分和峰峰值为1200V的矩形波时，涂在显影套筒211上的一薄层调色剂208在感光体1和显影套筒211相对的部分沉积在感光体上。调色剂208由装在调色剂盒203中的磁性单组分调色剂组成。

充电辊202具有双层结构即叠在金属芯轴202a上的海绵层202b和表面层202c。它的外径为12mm而金属芯轴302a的直径为6mm，它的长约为220mm。在500gf的压力下金属芯轴202a两端压下和感光体201以约1.5mm的压宽保持接触。不驱动充电辊202，它随感光体201旋转而旋转。

充电辊200经金属芯轴202a和第一偏压源212相连。感光体旋转过程中在偏压施加条件1时，在包括成像区的部分加一由叠加了-700VDC偏压的AC偏压(正弦，峰到峰电压为1600V，频率1000Hz)从而对感光体1表面均匀充电到约-680V。在感光体1旋转过程的其他部分，采用只对感光体1表面充电到约-680V的加-1250V的偏压施加条件2和不加偏压的偏压施加条件3。

在本实施例中，按需要，在偏加施加条件1(采用AC偏压以在成像区获得满意的均一图像并在打印操作后消除表面电位)，偏压施加条件2(只用DC偏压，不用AC偏压，以减少对感光鼓的损坏，而提供特定表面电位以避免调色剂不必要地从显影装置上沉积并为清洁转印元件，尽管并不要求均一的表面电位)，和偏压施加条件3(由于不需均匀的表面电位不加偏压)间转换。为实现偏压条件2的目的，也可采用降低AC偏压的电压，电流或频率的任一种方法。

下面说明本发明特色的为检测电照相感光体的寿命的方法。图7是打印过程时序图，图8是感光体寿命检测流程图。

见图5，感光体201的旋转由感光体旋转控制部分222控制，而构成接触充电元件的充电辊202从第一偏压源212接收到由第一AC偏压输出控制部分221和第一DC偏压输出控制部分220独立控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分221，第一DC偏压输出控制部分220和感光体旋转控制部分222连到打印操作的每次工作中检测和累积偏压施加条件的时间t1，t2，t3的偏压施加时间检测部分223上。

如图7中打印程序所示，时间t是从第一AC偏压输出控制部分221的施加时间信息Tac得到的(t1＝Tac＝Tac1+Tac2)，而时间t2是从第一DC偏压输出控制部分220输出的施加偏压时间信息Tdc中减去第一AC偏压叠加的时间Tacdc而得到的(t2＝Tdc-Tacdc-)，而时间t3是从感光体旋转控制部分222输出的感光体旋转时间信息Tdr中减去t1和t2而得到的(t3＝Tdr＝(t1+t2))。

如上述，偏压施加时间检测单元223在各偏压施加条件下检测施加时间t1，t2，t3。(S11)。

在打印操作一次工作完成后，各偏压施加条件下的施加时间t1，t2和t3被转移到感光体损坏计算部分224，按下式(i)计算感光体毁坏系数D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3             (i)其中k1＞k2＞k3且，更具体地，k1＝1，k2＝0.3而k3＝0.1。

感光体损坏累积存储部分225将每次工作的感光体损坏系数D加到其内储存的累积感光体损坏值S上，从而更新累积值S(Snew＝Sold+D，S3)。打印操作中每次工作中重复该步骤，工作后贮存在感光体损坏累积存储部分225中的累积值S更新后，比较部分22b从感光体寿命信息存储部分227中读出寿命信息R并将其和更新了的感光体损坏累积值S相比较(S14，S16)。

若更新的累积值S比寿命信息R大，向警告部分(显示部分)228传递一信号以警示或显示寿命期限到了(S15)，若在步骤614中累积值S小于寿命信息，则不发生警示而恢复正常操作(S17)。

如图7所示，感光体旋转时间，第一DC偏压施加，第一AC偏压施加时间和转印偏压施加时间互不相同。

本发明人对感光体201的损坏研究，特别是对程序中不同阶段中鼓磨损的研究表明，和无任何偏压时鼓磨损相比，在DC偏压下鼓磨损为其2和3倍而在AC偏压下鼓磨损为其8到10倍。这些结论是从使用带用聚碳酸酯为主粘合剂的感光层的有机光导(OPC)感光体体系得到的。

若认为感光体201的寿命由鼓磨损决定，上述结论可导出通过以累积不同偏压施加条件下的施加时间分别乘以系数的总和来测定鼓磨损的量而可以精确检测寿命。传统的方法在电晕充电情况中鼓磨损的量大致和鼓旋转时间成正比时能够通过累积鼓旋转次数或时间来准确检测寿命。但是如前述，这种方法在采用接触充电器为充电装置的接触充电也加AC偏压时，由于鼓磨损的量不再和鼓旋转时间成正比，而不能准确检测寿命。

此外AC偏压施加时间通过累积转印偏压的施加时间可以在某种程度上测出，但是在这种方法中，AC偏压施加长于图像形成区域如图7所示的在打印操作后仍施加，从而比基本上只在图像区域施加的转印偏压施加时间Ttr长，这种差别破坏了寿命检测的准确性。

在本实施例中，偏压施加时间检测部分223在打印操作的每次工作中检测各偏压施加条件下的施加时间t1，t2和t3，感光体损坏计算部分224以前述方程式(i)和相关系数计算感光体损坏系数D并用最新的值更新累积的感光体损坏值S，从而测定感光体201的鼓磨损量，因此能准确测量寿命。接触充电元件不限于充电海绵辊，也可以是硬质橡胶辊。此外它不限于辊也可以是刮板，刷或刷辊。

此外前述计算感光体损坏的系数选为k1＝1，k2＝0.3，k3＝0.1，但是它们决定于感光体的材料，偏压施加条件的组合和清浩方法，从而在各系统中应适当选择。此外在前述程序中，对感光体磨损影响不明显的偏压施加条件项(如若计算系数kn明显小于k1或若施加时间tn明显小于t1)可以省略，只要不影响所要求的准确性。

本实施例是通过一个采用包括感光体，充电辊，显影装置和清洁装置的处理暗盒的结构来说明的，但显然本发明对感光体作为消耗品可单独更换的成像设备有类似的效果。

下面将参见图9和5说明本发明的第五实施例。

在本实施例中，见图5所示，感光体寿命信息存储部分227具有双级信息以判断感光体201的寿命，即在感光体201的寿命接近终结时请求作替换准备的警示信息Y和指示感光体的真实寿命的寿命信息R，其中Y＜R。

见图5，感光体201的旋转由感光体旋转控制部分222控制，构成接触充电元件充电辊202从第一偏压源212接收到由第一AC偏压输出控制部分221和第一DC偏压输出控制部分220独立控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分221，第一DC偏压输出控制部分220和感光体旋转控制部分222与在打印操作的每次工作中检测偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3(S11)的偏压施加时间检测部分223相连。

在打印操作的一次工作完成后，各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3转移到感光体损坏计算部分224，它按下式(i)计算感光体损坏系统D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3             (i)其中k1＝1.0，k2＝0.3而k3＝0.1。

感光体毁坏累积存储部分225将每欠工作的感光体毁坏系数D加到存储在其中的累积感光体损坏值S，从而更新该累积值S(Snew＝Sold+D，S13)在打印操作的每次工作中重复该步骤。工作后贮存在感光体损坏累积存储部分225中的累积值S更新后，比较部分226从感光体寿命信息存储部分227中读出予设寿命信息Y和寿命信息R(S26)并从感光体损坏累积存储部分225读出更新了的累积值S。

首先更新了的累积值S和警告信息相比较(S24)，而，若前者较小，程序返回正常程序而不显示感光体201的寿命信息(S27)。

若上述比较表明S≥Y，则累积值S和寿命信息R相比较(S25)。若S＜R，向警示部分(显示部分)发出指示以在继续正常操作同时，由于感光体接近寿命期限而请求准备替换感光体(S28)。

若S≥R，则向警示部分(显示部分)228发出指示由于感光体寿命期限已到请求替换感光体，并禁止打印操作(S29)。在以新的感光体201更换后的结构中又可进行打印操作。

在上述构造中，用户能识别感光体接近需更换的寿命期限而提前准备新的感光体，在到达寿命期限时立即更换，此外在感光体寿命已到时禁止设备操作，使得避免超过该寿命期限而造成设备主体损坏。

在本实施例中，判断感光体寿命的信息设为双级，即警示信息和寿命信息，当然自然也可以设定更多级以为用户提供更详细的感光体寿命信息。第六实施例

结合图10和11下面说明本发明的第六实施例，由于成像设备的构造和第四实施例类似，只说明其不同点。

在第四实施例中，处理暗盒包括电照相感光体201，充电辊202，显影装置203和清洁装置214，而在本实施例中，鼓单元(处理暗盒)329含有电照相感光体201，充电辊302，显影装置203和清洁装置314，可替换地由安装导向装置280安在设备主体上，显影装置307作为一分立的单元，在鼓单元229上有构成存储机构的存储装置230，而鼓单元229盒上有连接终端(未画出)以在当装到成像设备上时和主体的控制单元连通。

成像方法和第四实施例相同不再说明。

见图10，感光体301的旋转由感光体旋转控制部分322控制，而构成接触充电元件的充电辊302从第一偏压源312接收到由第一AC偏压输出控制部分321和第一DC偏压输出控制部分320分别地控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分321，第一DC偏压输出控制部分320和感光体旋转控制部分322连到检测打印操作每次工作中偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3(S31)的偏压施加时间检测部分323上。在打印操作每次工作完成后，各偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3转移到感光体损坏计算部分324，按下式(i)计算感光体损坏系数D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3              (i)其中k1＝1.0，k2＝0.3而k3＝0.1。

感光体损坏计算部件324连到鼓单元329中的存储装置330上，每次工作时从该存储装置330中读出累积的感光体损坏值S，从而更新累积的感光体损坏值S(S32)。

在工作后存在鼓单元329中的存储装置中的累积值S更新后，比较部分326从鼓单元329的存储装置330中读出更新了的累积值S和予设寿命信息R并将两者比较(S34)，若S≥R，则向警示部分(显示部分)328发出一信号以提供一条警示或显示感光体已到达寿命期限，并禁止主体中的打印操作(S34)。若S＜R，程序不发出警示或显示而返回正常程序(S36)。

鼓单元329中存储装置330的存在使得可基于贮存在各存储装置中的感光体损坏系数的不同容易地识别各鼓单元。更具体地说，在用新鼓单元替换时，万一用已用过的鼓单元错误地替换不用特别的识别装置就能容易地发现。从而可以避免用户错误替换以及由于错误地使用超过寿命期限的鼓单元而造成的输出不满意的图像等缺陷。此外，提前在鼓单元329的存储装置330中存贮感光鼓寿命信息R，既使使用寿命不同的鼓单元也能按各鼓单元的寿命来检测其寿命并发出合适的警示。第七实施例

下面参见图12和13说明本发明的第七实施例。由于成像设备的构造和第四实施例中的相似，只说明不同之处。

如第六实施例中，处理暗盒329总的含有电照相感光体301，充电辊302，显影装置303和清洁装置314，而显影装置307作为一个分立的单元，且在鼓单元329中有存储装置330。此外鼓单元329的盒上有连接终端(未画出)在安在成像设备上后和主体的控制单元相连。

在第四到第六实施例中，感光体的寿命检测是通过检测打印操作的每次工作中各偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3，由感光体损坏计算部分计算出感光体损坏系数并在主体的感光体损坏累积存储部分或鼓单元的存储装置中存入累积的感光体损坏值来完成的。相反，本实施例的特征在于通过累积各偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3为累积值S1，S2，S3，之后在适宜的时间读出这些累积值S1，S2，S3并按下式(ii)在感光体计算部分用系数k1，k2，k3来计算感光体的损坏系数D：

D＝k1×S1+k2×S2+k3×S3                 (ii)此外，系数k1，k2，k3是随各偏压施加条件的施加时间的累积值S1，S2，S3的化而变化的。

现在结合图12和13说明为本发明特征的感光体寿命检测方法。

见图12，感光体401的旋转由感光体旋转控制部分422控制，构成接触充电元件的充电辊402从第一偏压源412接收到分别为第一AC偏压输出控制部分421和第一DC偏压输出控制部分420控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分421，第一DC偏压输出控制部分420和感光体旋转控制部分422连着检测打印操作每次工作的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3(S41)的偏压施加时间检测部分423中。

在打印操作每次工作完成后，各偏压施加条件的施加时间t1，t2和t3转移到感光体损坏计算部分424，它从相连的鼓单元429的存储装置430中读出感光体各偏压施加条件的施加时间的累积值S1，S2，S3，并在每次工作中分别加上各施加条件的施加时间t1，t2，t3，从而更新存储在存储装置430中的累积值S1，S2和S3(S42，S43)。

之后更新了的累积值S1，S2，S3用于以下式(ii)计算感光体的损坏系数D(S44)。

D＝k1×S1+k2×S2+k3×S3             (ii)

在此计算中，系数k1，k2，k3的值按各偏压施各条件的施加时间的累积值S1，S2，S3的比适当调整。在本实施例中，重点在于对感光体的鼓磨损影响最大的偏压施加条件1(由-700V的DC偏压叠加峰-峰值为1600V的AC偏压组成的频率为1000Hz的正弦偏压)的施加时间的累积值S1，存在偏压施加条件1的累积施加时间S1对感光体旋转时间(S1+S2+S3)的计算出的比ρ，参数选为：

k1＝1，k2＝0.5×ρ，k3＝0.2×ρ

计算感光体的损坏系数之后，比较部分330从鼓单元329的存储装置330中读出予设寿命信息R并将它和计算出的感光体损坏系数D相比(S45)。若D≥R，向警示部分(显示部分)328发出一信号以提供一条警示或显示感光体已达其寿命期限(S46)。若D＜R，不警示或显示，程序返回正常程序(S47)。

在本实施例中，偏压施加条件2，3的累积施加时间S2，S3的系数k2，k3基于下述实验结果随偏压施加条件1的累积时间S1相对于感光鼓旋转时间(S1+S2+S3)的比例而变化。正如在第四实施例中已说明的，感光鼓中损坏(主要是磨损量)随偏压的施加条件、如AC偏压施加，只加DC偏压或不加偏压而变化。实验表明感光鼓的磨损量在加AC偏压时和其他情况相比特别大。

本发明人予计在其他偏压施加条件下感光鼓旋转时间内AC偏压施加比例影响感光鼓磨损量，从而进行实验将感光鼓旋转期间AC偏压施加的比例在从50到70％的范围内改变，测量单位时间内感光鼓磨损量。结果发现在以其他偏压施加条件下磨损量为1时，感光鼓的磨损量在只加DC偏压时随AC偏压施加时间的比例增加从0.20增到0.40而在不加偏压时从0.1增加到0.15。正如实施例四中一样，该实验是对采用带用聚碳酸酯为主粘合剂的表面层的有机光导(OPC)感光体的体系进行的。

在本实施例中，基于这些结果，感光体损坏系数的计算系数以简化的方式选为：

k1＝1，k2＝0.5×ρ，k3＝0.2×ρ采用偏压施加条件1的累积施加时间相对于感光鼓的旋转时间(S1+S2+S3)的比例ρ。

若感光鼓具有短寿命(如约10000件考贝)，既使用如实施例四到六中的感光鼓损坏系数的常数计算系数k1，k2，k3也能在寿命检测的准确性上得到足够的改进，但对长寿命(如约50000件考贝)感光鼓，由于和感光鼓寿命的增加成比例误差变得更大，用如本实施例中的可变计算系数才能得到高准确度。

本实施例的方法通过为鼓单元329配存储装置330，将各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3的累积值S1，S2和S3存在该存储装置330中，之后在适宜的时间读出累积值S1，S2，S3，在感光体损坏计算部分324用由累积值S1，S2，S3的比例确定的系数k1，k2，k3计算总的感光体损坏系数D来准确测定感光体的寿命。此外，当前的实际使用状态的信息可以从使用后恢复的鼓单元329得到，并能用于为进一步提高精度对计算系数的更细的调节上。

但是，就精确检测感光体寿命而论，各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3的累积值S1，S2和S3也应存在于成像设备主体中。在第四到六实施例的检测每次工作的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3的检测，由感光体损坏计算部分计算感光体损坏系数并将累积的感光体损坏值存在主体的感光体损坏累积存储部分或存在鼓单元的存储部分的方法中，在计算感光体损坏系数时通过按每次工作的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3的比例来改变系数k1，k2，k3以测定每次工作的感光体损坏系数可能也有效。

此外本实施例中，感光体损坏系数的计算因子以简化的方式选择如下：

k1＝1，k2＝0.5×ρ，k3＝0.2×ρ但是这些系数随感光体的材质，偏压施加条件的组合，清洁方法等而变化，而最优值和系数变化方法可在每个体系中适当选择。

此外若AC偏压的电压和电流例如随导致环境条件变化或时间相关损坏的充电元件阻值的变化而变化或随导致感光鼓磨损的感光鼓电容变化而变化，从而感光鼓的损坏量也变化时，配设检测AC偏压的电压或电流的装置和按检测结果改变AC偏压施加的计算系数也有效。第八实施例

前述第四到第六实施例分别如图5，10，12所示，是将本发明用于单色激光打印机。本第八实施例是将本发明用于使用黄、品红、青和黑色的全色激光打印机，见图14和15所示。

见图14，感光鼓71由驱动装置(未画出)按箭头所示方向施转，为充电辊72均匀充到予定电位。之后收到相应于黄图像图形的信号的曝光装置73发生激光照射感光鼓71从而在其上形成潜像。

随感光鼓71在箭头方向前进，支撑元件75也旋转使得为支撑元件75支撑的74a，74b，74c，74d的显影装置74a和感光鼓71相对，上述潜像由显影装置74a转化为可视图像。之后，显影了的调色剂图像转印到构成中间转印元件的中间转印带66上。

中间转印带66为三个支撑辊61，62，63所支撑并随和驱动源相连的支撑辊72的旋转在箭头所示方向运动。在和中间转印带66内与感光鼓相对的位置有第一转印辊64以从高压源接收予定偏压帮助调色剂从感光鼓71转印到中间转印带66上。

进一步对品红，青，黑色对显影装置74b，74c，74d重复上述过程，从而在中间转印带66上形成四色调色剂影像。该四色调色剂影像为和中间转印带66同步运转的第二转印辊65共同转印到从供纸装置66经输送装置77送入的承印纸上。之后该承印纸在热/压定影装置78中进行熔融图像定影而得彩色图像。

残存在感光鼓71上的调色剂为带刮板的清洁装置79除去。

在本实施例中，充电辊72，感光鼓71，和清洁装置79构成外观如图15所示的，由安装导向装置80可拆卸地安装在设备主体的处理暗盒90。此外配有功能和前述实施例中盒存储器4类似的存储装置84。

此外，四色的显影装置74a到74d和处理盒类似可以从设备主体上卸下。这种构造使得用户能容易地更换和维修这些部件，而不需如传统那样的服务人员的工作。

前述第四到第六实施例的原理可用于上述构造的全色成像设备以得到前述的效果和优点。

下面说明其中第六实施例的存储装置330存储系数k1，k2，k3的一个实施例。第九实施例

设备的基本构造和图5所示的第六实施例相同因此不再解释。

下面结合表示本实施例寿命检测程序的流程图16说明感光体的寿命检测方法。

见图5，感光体的旋转由感光体旋转控制部分222控制，构成接触充电元件的充电辊202从第一偏压源212接收由第一AC偏压输出控制部分221和第一DC偏压输出控制部分220分别控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分221，第一DC偏压输出控制部分220和感光体旋转控制部分222连到检测打印操作的每次工作的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3(S51)的偏压施加时间检测部分223上。打印操作的每次工作完成后，存在存储装置230中的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3和感光体计算系数k1，k2，k3转移到和鼓单元229的存储装置230相连的感光体损坏计算部分224(S52)。从而按下式(iv)计算感光体的损坏系数D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3               (iv)其中k1＝0，k2＝0.3而k3＝0.1(S53)。

每次工作，累积的感光体损坏值从存储装置230中读出，加入一次工作的感光体损坏系数D以更新存在存储装置230中的累积值S(S54)。打印操作的每次均重复该操作。

感光体损坏计算部分224连到鼓单元229的存储装置230上，并对每次工作从存储装置读出累积的感光体损坏值，从而更新累积的感光体损坏值S(S52)。

在工作后存在鼓单元217的存储装置230的累积值S更新后，比较部分226从鼓单元217的存储装置230读出更新了的累积值S和予定寿命信息R并将两者比较(S55)。若更新的累积值比寿命信息大，则向警示部分(显示部分)228发出一信号以提供一条警告或显示感光体已达到寿命期(S58)。

鼓单元217中存在存储装置230使得基于各单元的存储的感光体损坏系数的差别容易地识别各鼓单元。更具体地说，在用新鼓单元替换时，一用已用过的鼓单元错误替换时不需特别的识别装置就能容易地发现。从而避免用户的更换错误以及由此带来的如因用已超过寿命期限的鼓单元的错误使用造成的不满意的图像的输出等缺陷。

此外，通过提前在鼓单元217的存储装置230中存入感光鼓的寿命信息R，既使采用寿命不同的鼓单元，也可按各鼓单元的寿命，检测寿命并发出合适的警告。

而且，感光体的计算因子k1，k2，k3可随各感光体或各批感光体而变化，从而能以更适合的方式如与构成感光体的材料特性的变动相匹配的方式进行寿命检测。

在本实施例中，存在存储装置230中的计算因子k1，k2和k3在每次工作中转移到感光体损坏计算部分224，但是，在设备主体电源接通时这种转移可能只有一次。

此外在第五实施例中，判断感光体寿命的信息可以在存储部分227中设为两级，见图17所示。更具体地说采用在感光体接近其寿命期限时请求作替换准备的警告信息Y和与感光体真实寿命一致的寿命信息R。第十实施例

下面说明本发明第十实施例。由于本实施例基本构造和第六实施例相同，只说明不同点。

图18是本实施例感光体寿命检测程序流程图。由于成像设备结构和图5所示相同，下面参考图5和18进行说明。

在本实施例中，存储装置230存储感光体系数选择信息I，而不是感光体系数k1，k2，k3。感光体损坏计算部分224从存储的感光体系数表(图19所示)中按感光体寿命系数选择信息I选择一套k1，k2和k3，而计算和通报寿命。

见图5，感光体的旋转由感光体旋转控制部分222控制，构成接触充电元件的充电辊202从第一偏压源212收到分别由第一AC偏压输出控制部分221和第一DC偏压输出控制部分220控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分221，第一DC偏压输出控制部分220和感光体旋转控制部分222连到检测打印操作的每次工作中的各施加偏压条件的施加时间t1，t2，t3(S61)的偏压施加时间检测部分223上。在打印操作每次工作之后，存在存储装置230中的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3和感光体系数选择信息I转移到和鼓单元217相连的感光体损坏计算部分224，从而按感光体系数选择信息I选择一套计算系数k1，k2，k3(S63)。之后按下式计算感光体损坏系数D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3其中k1＝1，k2＝0.3且k3＝0.1(S64)。之后每次工作的感光体损坏系数D加到存在感光体损坏累积存储部分225中的累积感光体损坏值S上，从而更新该累积值S。打印操作中每次工作重复该操作。

在本实施例中，存储装置230含感光体系数选择信息I而不是感光体寿命系数k1，k2，k3从而减少了存在存储装置230中的信息量。因此可以减少容量和成本。在本实施例中，存在存储装置230中的感光体系数选择信息I在每次工作时转移到感光体损坏计算部分224中，但是在设备主体电源接通时这种转移可能只发生一次。第十一实施例

下面说明本发明的第十一实施例。由于本实施例的基本构造和第六实施例中的相同，只说明不同之处。

图20是累积感光体损坏值S更新后寿命显示程序流程图。由于成像设备的构造和图5所示相同，下面的说明结合图5和20进行。

在本实施例中，图5所示的感光体寿命信息存储部分227将判断感光体寿命的信息存在两级中，即在感光体接近其寿命期限时请求做更换准备的警示信息Y和与感光体真实寿命一致的寿命信息R，其中Y＜R。

见图5，感光体201的旋转由感光体旋转控制部分222控制，而构成接触充电元件的充电辊202从第一偏压源212接收到由第一AC偏压输出控制部分221和第一DC偏压输出控制部分220分别控制的AC偏压和DC偏压。第一AC偏压输出控制部分221，第一DC偏压输出控制部分220和感光体旋转控制部分222连到检测打印操作的每次工作中各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3(S71)的偏压施加时间检测部分223上。

打印操作每次工作完成后，存在存储装置230中的各偏压施加条件的施加时间t1，t2，t3和感光体的计算系数k1，k2，k3转移到和鼓单元229的存储装置相连的感光体损坏计算部分224(S72)。之后以下式计算感光体损坏系数D：

D＝k1×t1+k2×t2+k3×t3其中k1＝1，k2＝0.3和k3＝0.1。之后将每次工作的感光体损坏系数D加到存在感光体损坏累积存储部分225(S73)中的累积感光体损坏值S(S73)，从而更新累积值S(S74)。

打印操作的每次工作中重复该操作。在工作后存在感光体损坏累积存贮部分225中的累积值S更新后，比较部分226从感光体寿命存储部分227中读出感光体寿命选择信息J以按选择信息J从表中(图21)选择警示信息Y和寿命信息R并从感光体损坏累积存储部分225中读出更新了的累积值S(S75a)。首先比较S和Y，若更新了的累积值S大于警示信息Y，程序返回正常打印程序而不显示感光体201的寿命信息。

若S≥Y，比较S和R。若S＜R，向警示部分(显示部分)发出指示由于感光体接近其寿命期限请求作替换准备。若S≥R，向警示部分(显示部分)发出指令由于感光体已达寿命期限请求更换并禁止打印操作。用新的感光体201替换后的构造又可进行打印操作。

在本实施例中，存储装置230含感光体寿命，选择信息J而不是警示信息Y和寿命信息R，从而减少了存在储装置230中的信息量。因此可以降低其容量和成本。

在本实施例中，存在存储装置230中的感光体寿命选择信息J每次工作转移到比较部分226，但在设备主体接通电源时这种转移只可能进行一次。

前述实施例采用三级偏压施加条件，但损坏系数D的通式如下，为可能包括不加电压的情况的几种偏压施加条件：

D＝k1×t1+k2×t2+…+kn×tn其中k1＞0，k2≥0，k3≥0，…，kn≥0。

这n种偏压施加条件可包括AC偏压的电压，电流和/或频率不同的各种情形。

前述AC电压也可以由周期性开关DC电源形成的矩形电压代替。更具体地说AC和DC叠加电压或无前述DC成分的AC电压可以只由DC电源形成。

此外处理暗盒可包括影像承载元件和由充电元件，显影装置和清洁装置组成的处理装置中至少一种。

Claims (51)

1.一种电子照相感光体寿命通告装置，包括：

将所述感光体充电的充电元件，所述充电元件适于接收振荡电压并在充电操作时和所述感光体接触；和

用于可视地或声响地基于与所述振荡电压施加的累积时间t1有关的信息和与所述感光体旋转的累积时间有关的信息通告所述感光体是否到达其寿命的通告装置。

2.一种权利要求1所述寿命通告装置，其中所述的充电元件适于接收无AC电压成分的DC电压，而所述的通告装置适于基于所述无AC成分的DC电压的施加累积时间t2通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

3.一种权利要求1所述的寿命通告装置，其中所述的通告装置适于基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

4.一种权利要求2的寿命通告装置，其中所述的通告装置适于基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

5.一种权利要求4的寿命通告装置，其中所述的通知装置适于基于k1×t1+k2×t2+k3×t3的值来通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中k1，k2和k3为满足k1＞k2＞k3关系的系数。

6.一种权利要求5的寿命通告装置，其中所述的系数k1，k2和k3随所述累积时间t1，t2和t3的比而变化。

7.一种权利要求1的寿命通告装置，其中所述的通告装置适于基于k1×t1+k2×t2+…+kn×tn的值通告所述电子照相感光体是否达到寿命，其中t1，t2…，tn分别为n种对所述充电元件施加电压条件下的各累积时间，而k1，k2，…kn为系数。

8.一种权利要求7的寿命通告装置，其中所述的系数k1，k2，…kn随所述累积时间t1，t2…tn的比而变化。

9.一种权利要求1的寿命通告装置，其中所述的通告装置适于在所述电子照相感光体达到其寿命的信息前通告所述电子照相感光体将达其寿命。

10.一种权利要求1的寿命通告装置，其中所述的振荡电压包括AC电压。

11.一种电子照相感光体的寿命通告方法，包括：

用适合于接收振荡电压的充电元件进行对所述感光体充电的充电步骤，所述的充电元件适于在充电操作时和所述感光体接触；和

基于与所述振荡电压施加的累积时间t1有关的信息和与所述感光体旋转的累积时间有关的信息可视地或可听地通告所述感光体是否达到其寿命的通告步骤。

12.一种权利要求11的寿命通告方法，其中所述的充电元件适于在所述的充电步骤接收无AC偏压成分的DC电压，而所述的通知步骤适于基于无所述AC成分的DC电压施加累积时间t2通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

13.一种权利要求11的寿命通告方法，其中所述的通告步骤基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

14.一种权利要求12的寿命通告方法，其中所述的通告步骤适于基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

15.一种权利要求14的寿命通告方法，其中所述通告步骤适于基于k1×t1+k2×t2+k3×t3的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中k1，k2和k3为满足k1＞k2＞k3关系的系数.

16.一种权利要求15的寿命通告方法，其中所述系数k1，k2和k3随所述累积时间t1，t2和t3的比例而变化。

17.一种权利要求11的寿命通告方法，其中所述通告步骤适于基于k1×t1+k2×t2+…+kn×tn的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中t1，t2…，tn是对所述充电元件的n种电压施加条件的各自累积时间，k1，k2，…kn是系数。

18.一种权利要求17的寿命通告方法，其中所述系数k1，k2，…，kn随所述累积时间t1，t2，…tn的比例变化。

19.一种权利要求11的寿命通告方法，还包括在所述电子照相感光体达到其寿命的信息前通告所述电子照相感光体接近其寿命的第二通告步骤。

20.一种权利要求11的寿命通告方法，其中所述振荡电压包括AC电压。

21.一种成像设备包括：

电子照相感光体；

对所述感光体充电的充电元件，所述充电元件适于在充电操作时接收振荡电压并与所述感光体接触；和

基于与所述振荡电压施加的累积时间t1有关的信息和与所述感光体旋转的累积时间有关的信息可视地或可听地通告所述感光体是否达到其寿命的通告装置。

22.一种权利要求21的成像设备，其中所述充电元件适于接收无AC成分的DC电压，而所述通告装置适于基于所述无AD成分的DC电压施加累积时间t2通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

23.一种权利要求21的成像设备，其中所述成像装置适于基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

24.一种权利要求22的成像设备，其中所述通告装置适于基于从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

25.一种权利要求24的成像设备，其中所述的通告装置基于k1×t1+k2×t2+k3×t3的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中k1，k2，和k3为满足k1＞k2＞k3关系的系数。

26.一种权利要求25的成像设备，其中所述的系数k1，k2和k3随所述累积时间t1，t2和t3的比而变化。

27.一种权利要求21的成像设备，其中所述的通告装置基于k1×t1+k2×t2+…+kn×tn的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中t1，t2，…tn为对所述充电元件的n种电压施加条件的各累积时间，而k1，k2，…kn为系数。

28.一种权利要求27的成像设备，其中所述系数k1，k2，…，kn随所述累积时间t1，t2，…tn的比变化。

29.一种权利要求21的成像设备，其中所述通告装置在所述电子照相感光体达到其寿命的信息前通告所述电子照相感光体接近其寿命。

30.一种权利要求21的成像设备，其中所述振荡电压包括AC电压。

31.一种权利要求21的成像设备，在所述通告装置通告所述电子照相感光体达到其寿命时禁止成像操作。

32.一种权利要求22的成像设备，包括带所述电子照相感光体和作用于所述电子照相感光体的处理装置的可拆卸安装的处理暗盒，其中所述处理暗盒包括存储所述累积时间t1的信息的存储装置。

33.一种权利要求23的成像设备，包括带所述电子照相感光体和作用于所述电子照相感光体的处理装置的可拆卸安装的处理暗盒，其中所述处理暗盒包括存储所述累积时间t1和t3信息的存储装置。

34.一种权利要求24的成像设备，包括带所述电子照相感光体和作用于所述电子照相感光体的处理装置的可拆卸安装的处理暗盒，其中所述处于暗盒包括存储所述累积时间t1，t2和t3信息的存储装置。

35.一种权利要求34的成像设备，其中所述存储装置存储用于确定所述系数k1，k2和k3的信息。

36.一种权利要求27的成像设备，包括带所述电子照相感光体和作用于所述电子照相感光体的处理装置的可拆卸安装的处理暗盒，其中所述处理暗盒包括存储所述累积时间t1，t2，…tn的信息的存储装置。

37.一种权利要求36的成像设备，其中所述存储装置存储用于确定所述系数k1，k2，…kn的信息。

38.一种权利要求32到37之一的成像设备，其中所述的存储装置提前存储确定所述电子照相感光体的寿命的信息。

39.一种权利要求32到37之一的成像设备，其中所述的处理装置是所述的充电元件。

40.一种权利要求32到37之一的成像设备，其中所述的存储装置是ROM。

41.一种可拆卸地安装于成像设备上的处理暗盒，包括：

电子照相感光体；

对所述感光体充电的充电元件，所述的充电元件接收振荡电压并在充电操作时和感光体接触；和

存储与所述振荡电压施加的累积时间t1有关的信息和与所述感光体旋转的累积时间有关的信息的存储装置。

42.一种权利要求41的处理暗盒，其中所述的充电元件接收无AC成份的DC电压，且所述存储装置存储无AC成分的所述DC电压的累积施加时间t2。

43.一种权利要求41的处理暗盒，其中所述的存储装置存储从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3的信息。

44.一种权利要求42的处理暗盒，其中所述的存储装置存储从所述电子照相感光体旋转累积时间减去对所述充电元件施加电压的累积时间后得到的时间t3的信息。

45.一种权利要求41到44之一的处理暗盒，其中，所述设备主体中配备有通告装置，以基于所述存储了的信息通告所述电子照相感光体是否达到其寿命。

46.一种权利要求44的处理暗盒，其中在所述设备主体，基于k1×t1+k2×t2+k3×t3的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中系数k1，k2和k3满足k1＞k2＞k3的关系，而所述存储装置存储用于确定k1，k2和k3的信息。

47.一种权利要求46的处理暗盒，其中所述的系数k1，k2和k3随所述累积时间t1，t2和t3的比而变化。

48.一种权利要求41的处理暗盒，其中在所述的设备主体，基于k1×t1+k2×t2+…+kn×tn的值通告所述电子照相感光体是否达到其寿命，其中t1，t2，…，tn为对所述充电元件的n种电压施加条件的各自累积时间，而所述存储装置存储用于确定k1，k2，…，kn的信息。

49.一种权利要求48的处理暗盒，其中所述的系数k1，k2，…kn随所述累积时间t1，t2，…tn的比而变化。

50.一种权利要求41到44和46到49之一的处理暗盒，其中所述的存储装置提前存储确定所述电子照相感光体的寿命的信息。

51.一种权利要求41到44和46到49之一的处理暗盒，其中所述的存储装置是ROM。

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