CN111637825B - 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法 - Google Patents

检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111637825B
CN111637825B CN202010452730.0A CN202010452730A CN111637825B CN 111637825 B CN111637825 B CN 111637825B CN 202010452730 A CN202010452730 A CN 202010452730A CN 111637825 B CN111637825 B CN 111637825B
Authority
CN
China
Prior art keywords
wire loop
installation angle
error
infrared detector
angle error
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010452730.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111637825A (zh
Inventor
方志浩
魏威
张磊
付志凯
王冠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CETC 11 Research Institute
Original Assignee
CETC 11 Research Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CETC 11 Research Institute filed Critical CETC 11 Research Institute
Priority to CN202010452730.0A priority Critical patent/CN111637825B/zh
Publication of CN111637825A publication Critical patent/CN111637825A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111637825B publication Critical patent/CN111637825B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/24Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

本发明公开了一种检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法。引线环与红外探测器的冷指相连。检测红外探测器引线环安装角度误差的工装包括:支撑部,用于固定冷指;测量部,与支撑部连接,测量部设有误差测量槽,误差测量槽用于检测引线环的安装角度误差是否在合理范围内。采用本发明,相对于以往繁复的检测方法检测效率有极大提升,从每个检测需要5min降低到1min以下,并可以降低该工序对设备和人工的占用,降低组件生产成本,从而可以有效地提高引线环安装角度误差控制能力,避免出现不合格品导致最后成品性能受限,减少整机因外部接线扯断造成的使用故障,进一步推动高品质小型化红外探测设备的发展。

Description

检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法
技术领域
本发明涉及红外探测器领域,尤其涉及一种检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法。
背景技术
随着红外技术的发展,红外探测器应用于红外天文学、汽车驾驶、医学成像、森林防火、工艺监控等多个领域。红外探测器主要将接收到目标体辐射的红外波段的光学信号通过半导体器件转换为电信号,之后采用读出电路将芯片中的电信号通过引线环部件引出到杜瓦外部经放大电路后再进行红外成像处理。
随着应用需求的提高,红外探测器整机正在向结构紧凑和小型化方向发展,引线环作为沟通红外探测器杜瓦内部与外界信号传输的桥梁,其安装精度决定了外部引出接线(或柔带)的长度和受力情况。若引线环安装角度误差较大,将极易导致外部引线受拉伸或剪切力在远未达到探测器寿命就出现整机故障,这极大影响了产品质量和用户使用性能。
为了避免制冷型红外探测器这一高科技含量的精密设备由于次要因素造成整机使用故障,我们在工艺过程中应努力控制加强杜瓦引线环安装精度,制定引线环激光点焊后进行引线环缺口角度检测的环节。目前使用工具显微镜进行投影成像找圆心的方法进行引线环安装角度检测,由于该方法存在杜瓦基座的加工误差、人眼在投影仪下确定圆心误差、投影仪自身误差等多种干扰,结果可信度欠佳,测量结果稳定性差,且该方法操作繁琐,占用人工和设备,实际工艺过程中极大降低了生产效率,同时也不能保证检测结果稳定准确。
发明内容
本发明实施例提供一种检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法,用以解决现有技术中红外探测器引线环安装角度误差的方法操作繁琐且可信度低的问题。
根据本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装,所述引线环与所述红外探测器的冷指相连;
所述工装包括:
支撑部,用于固定所述冷指;
测量部,与所述支撑部连接,所述测量部设有误差测量槽,所述误差测量槽用于检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
根据本发明的一些实施例,所述误差测量槽包括相对的第一边和第二边,所述第一边位于第一直线,所述第二边位于第二直线;
当所述引线环的缺口位于所述第一直线与所述第二直线之间,则所述引线环的安装角度误差在合理范围内,否则,所述引线环的安装角度误差不在合理范围内。
在本发明的一些实施例中,所述工装还包括:
显微镜,用于观察所述引线环的缺口是否位于所述第一直线与所述第二直线之间。
在本发明的一些实施例中,所述第一边和所述第二边均为锐边。
根据本发明的一些实施例,所述测量部的一端与所述支撑部的一端连接,所述测量部的另一端的端面与所述引线环设有缺口的表面平齐,所述误差测量槽设于所述测量部的另一端的端面。
在本发明的一些实施例中,所述误差测量槽朝向所述引线环的缺口延伸的一端贯通所述测量部。
根据本发明的一些实施例,所述支撑部设有定位槽,所述定位槽适于与所述冷指的定位缺口配合。
在本发明的一些实施例中,所述定位槽与所述冷指的定位缺口通过定位销连接。
根据本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的方法,包括:
将所述引线环与所述红外探测器的冷指相连后装配至如上所述的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装;
检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
根据本发明的一些实施例,所述检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内,包括:
利用显微镜检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
采用本发明实施例,该检测方法相对于以往繁复的检测方法检测效率有极大提升,从每个检测需要5min降低到1min以下,并可以降低该工序对设备和人工的占用,降低组件生产成本,从而可以有效地提高引线环安装角度误差控制能力,避免出现不合格品导致最后成品性能受限,减少整机因外部接线扯断造成的使用故障,进一步推动高品质小型化红外探测设备的发展。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明实施例的工装检测红外探测器引线环安装角度误差的状态示意图;
图2是红外探测器的局部结构示意图;
图3是本发明实施例的工装检测红外探测器引线环安装角度误差的状态示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明,并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。
本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装,用于检测红外探测器中引线环2的安装角度是否合格。如图2所示,其中引线环2是连接在红外探测器的冷指3上的。例如,引线环2可以焊接在红外探测器的冷指3上。
如图1、图3所示,本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装包括:支撑部10和测量部11。测量部11与支撑部10连接。支撑部10可以用于固定冷指3,使得冷指3固定不动,从而可以使得引线环2固定不动,以保障检测的有效性。测量部11设有误差测量槽110,误差测量槽110用于检测引线环2的安装角度误差是否在合理范围内。
采用本发明实施例,该检测方法相对于以往繁复的检测方法而言,检测效率有了极大提升,经过测验,相关技术中检测引线环安装角度误差的时间平均是每个5min,而采用本发明实施例,检测引线环安装角度误差的时间可以缩短至1min以内,明显的提高了检测效率。而且,还降低了对设备和人工的占用,降低组件生产成本,从而可以有效地提高引线环安装角度误差控制能力,避免出现不合格品导致最后成品性能受限,减少整机因外部接线扯断造成的使用故障,进一步推动高品质小型化红外探测设备的发展。
在上述实施例的基础上,进一步提出各变型实施例,在此需要说明的是,为了使描述简要,在各变型实施例中仅描述与上述实施例的不同之处。
在本发明的一些实施例中,测量部11可以与支撑部10一体成型。
如图1所示,根据本发明的一些实施例,误差测量槽110包括相对的第一边111和第二边112,第一边111位于第一直线,第二边112位于第二直线。可以理解的是,第一边111与第一直线共线,第二边112与第二直线共线。当引线环2的缺口20位于第一直线与第二直线之间,则引线环2的安装角度误差在合理范围内,否则,引线环2的安装角度误差不在合理范围内。
如图3所示,在本发明的一些实施例中,工装还可以包括:显微镜14,显微镜14用于观察引线环2的缺口20是否位于第一直线与第二直线之间。例如,当肉眼无法判断引线环2的缺口20是否完全位于第一直线与第二直线之间的时候,可以借助于显微镜14,从而可以提高检测的精确性。
在本发明的一些实施例中,第一边111和第二边112均为锐边。
如图3所示,根据本发明的一些实施例,测量部11的一端与支撑部10的一端连接。例如,测量部11与支撑部10连接后呈字母“L”形。如图1所示,测量部11的另一端的端面与引线环2设有缺口20的表面平齐,误差测量槽110设于测量部11的另一端的端面。由此,可以便于观察引线环2的缺口20是否位于第一直线与第二直线之间。
如图1所示,在本发明的一些实施例中,误差测量槽110朝向引线环2的缺口20延伸的一端贯通测量部11。由此,可以便于观察引线环2的缺口20是否位于第一直线与第二直线之间。
如图1所示,根据本发明的一些实施例,支撑部10设有定位槽100,定位槽100适于与冷指3的定位缺口30配合。由此,可以固定冷指3。
如图1、图3所示,在本发明的一些实施例中,定位槽100与冷指3的定位缺口30通过定位销13连接。例如,定位销13可以依次穿过定位槽100和定位缺口30。
根据本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的方法,
将引线环与红外探测器的冷指相连后装配至如上所述的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装。具体的,将引线环与红外探测器的冷指相连后固定于支撑部上。
检测引线环的安装角度误差是否在合理范围内。例如,观察引线环的缺口是否位于第一直线与第二直线之间,当引线环的缺口位于第一直线与第二直线之间,则引线环的安装角度误差在合理范围内,否则,引线环的安装角度误差不在合理范围内。
采用本发明实施例,该检测方法相对于以往繁复的检测方法而言,检测效率有了极大提升,经过测验,相关技术中检测引线环安装角度误差的时间平均是每个5min,而采用本发明实施例,检测引线环安装角度误差的时间可以缩短至1min以内,明显的提高了检测效率。而且,还降低了对设备和人工的占用,降低组件生产成本,从而可以有效地提高引线环安装角度误差控制能力,避免出现不合格品导致最后成品性能受限,减少整机因外部接线扯断造成的使用故障,进一步推动高品质小型化红外探测设备的发展。
根据本发明的一些实施例,检测引线环的安装角度误差是否在合理范围内,包括:利用显微镜检测引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
下面参照图1-图3以一个具体的实施例详细描述根据本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装。值得理解的是,下述描述仅是示例性说明,而不是对本发明的具体限制。凡是采用本发明的相似结构及其相似变化,均应列入本发明的保护范围。
本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装,用于检测红外探测器中引线环2安装角度是否合格。如图2所示,引线环2焊接在红外探测器的冷指3上。
如图1、图3所示,本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装包括:支撑部10和测量部11。测量部11的一端与支撑部10的一端连接。测量部11与支撑部10连接后呈字母“L”形。测量部11的另一端的端面与引线环2设有缺口20的表面平齐。
如图1所示,测量部11的另一端的端面设有误差测量槽110,且误差测量槽110朝向引线环2的缺口20延伸的一端贯通测量部11。误差测量槽110用于检测引线环2的安装角度误差是否在合理范围内。具体的,误差测量槽110包括相对的第一边111和第二边112,第一边111和第二边112均为锐边。第一边111位于第一直线,第二边112位于第二直线。可以理解的是,第一边111与第一直线共线,第二边112与第二直线共线。当引线环2的缺口20位于第一直线与第二直线之间,则引线环2的安装角度误差在合理范围内,否则,引线环2的安装角度误差不在合理范围内。
例如,引线环2的缺口20和冷指3的定位缺口30之间的角度需要设置为180°。如果引线环2的缺口20和冷指3的定位缺口30之间的角度在180°±X°以内,则引线环2的安装角度误差在合理范围内,否则,引线环2的安装角度误差不在合理范围内。X可以是设计师根据实际需求进行设置。考虑该工装加工误差,设计误差测量槽110时按照安装角度误差在±(X-0.5)°以内。
如图1所示,支撑部10设有定位槽100,定位槽100与冷指3的定位缺口30通过定位销13连接,以固定冷指3,使得冷指3固定不动,从而可以使得引线环2固定不动,以保障检测的有效性。
在检测红外探测器引线环安装角度误差的过程中,先将引线环2焊接在红外探测器的冷指3上,然后将引线环2与冷指3整体放在支撑部10上,并将定位槽100与冷指3的定位缺口30通过定位销13连接,最后,通过观察引线环2的缺口20是否位于第一直线与第二直线之间。这里,可以通过肉眼直接观察,若肉眼无法分辨,可以借助于显微镜14,如图3所示,采用低倍显微镜14下调焦对引线环2的缺口20的两边和工装上误差测量槽110的第一边111和第二边112进行观测。
采用本发明实施例的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装检测引线环2安装角度误差合格后,就可以进行下一道工序,不合格则卸下引线环2并进行一定的修配(或更换合格零件)后重新焊接检测,直至引线环2安装角度达到设计误差要求。
采用本发明实施例,该检测方法相对于以往繁复的检测方法而言,检测效率有了极大提升,经过测验,相关技术中检测引线环安装角度误差的时间平均是每个5min,而采用本发明实施例,检测引线环安装角度误差的时间可以缩短至1min以内,明显的提高了检测效率。而且,还降低了对设备和人工的占用,降低组件生产成本,从而可以有效地提高引线环安装角度误差控制能力,避免出现不合格品导致最后成品性能受限,减少整机因外部接线扯断造成的使用故障,进一步推动高品质小型化红外探测设备的发展。
需要说明的是,以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。例如,在权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种检测红外探测器引线环安装角度误差的工装,其特征在于,所述引线环与所述红外探测器的冷指相连;
所述工装包括:
支撑部,用于按预设角度固定所述冷指;
测量部,与所述支撑部连接,所述测量部设有误差测量槽,所述误差测量槽用于检测所述引线环相对于所述冷指的安装角度误差是否在合理范围内。
2.如权利要求1所述的工装,其特征在于,所述误差测量槽包括相对的第一边和第二边,所述第一边位于第一直线,所述第二边位于第二直线;
当所述引线环的缺口位于所述第一直线与所述第二直线之间,则所述引线环的安装角度误差在合理范围内,否则,所述引线环的安装角度误差不在合理范围内。
3.如权利要求2所述的工装,其特征在于,所述工装还包括:
显微镜,用于观察所述引线环的缺口是否位于所述第一直线与所述第二直线之间。
4.如权利要求2所述的工装,其特征在于,所述第一边和所述第二边均为锐边。
5.如权利要求1所述的工装,其特征在于,所述测量部的一端与所述支撑部的一端连接,所述测量部的另一端的端面与所述引线环设有缺口的表面平齐,所述误差测量槽设于所述测量部的另一端的端面。
6.如权利要求5所述的工装,其特征在于,所述误差测量槽朝向所述引线环的缺口延伸的一端贯通所述测量部。
7.如权利要求1所述的工装,其特征在于,所述支撑部设有定位槽,所述定位槽适于与所述冷指的定位缺口配合。
8.如权利要求7所述的工装,其特征在于,所述定位槽与所述冷指的定位缺口通过定位销连接。
9.一种检测红外探测器引线环安装角度误差的方法,其特征在于,包括:
将所述引线环与所述红外探测器的冷指相连后装配至如权利要求1-8中任一项所述的检测红外探测器引线环安装角度误差的工装;
检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内,包括:
利用显微镜检测所述引线环的安装角度误差是否在合理范围内。
CN202010452730.0A 2020-05-26 2020-05-26 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法 Active CN111637825B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010452730.0A CN111637825B (zh) 2020-05-26 2020-05-26 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010452730.0A CN111637825B (zh) 2020-05-26 2020-05-26 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111637825A CN111637825A (zh) 2020-09-08
CN111637825B true CN111637825B (zh) 2024-03-19

Family

ID=72329474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010452730.0A Active CN111637825B (zh) 2020-05-26 2020-05-26 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111637825B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112504090A (zh) * 2020-10-30 2021-03-16 中国电子科技集团公司第十一研究所 杜瓦冷指同心度的检测工装及检测方法
CN119147871A (zh) * 2024-11-12 2024-12-17 北京京城清达电子设备有限公司 一种红外传感器引线环pin针自动测量设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2245133Y (zh) * 1996-04-09 1997-01-15 曾绍谦 适用于较大范围管径的束环体
CN103344342A (zh) * 2013-06-21 2013-10-09 中国科学院上海技术物理研究所 一种抗径向振动和冲击的冷平台支撑结构
CN206208218U (zh) * 2016-11-14 2017-05-31 海瑞恩精密技术(太仓)有限公司 一种红外检测角度的工装
CN108205183A (zh) * 2017-12-28 2018-06-26 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种透射式大口径红外透镜、加工工装及加工方法
CN109655165A (zh) * 2019-01-10 2019-04-19 中国科学院上海技术物理研究所 用于抑制制冷工质对红外探测器噪声影响的集成封装结构
CN209148867U (zh) * 2018-11-27 2019-07-23 森思泰克河北科技有限公司 光探测器安装误差检测装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9091596B2 (en) * 2013-08-09 2015-07-28 Davis Instruments Corporation UV irradiance sensor with improved cosine response

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2245133Y (zh) * 1996-04-09 1997-01-15 曾绍谦 适用于较大范围管径的束环体
CN103344342A (zh) * 2013-06-21 2013-10-09 中国科学院上海技术物理研究所 一种抗径向振动和冲击的冷平台支撑结构
CN206208218U (zh) * 2016-11-14 2017-05-31 海瑞恩精密技术(太仓)有限公司 一种红外检测角度的工装
CN108205183A (zh) * 2017-12-28 2018-06-26 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种透射式大口径红外透镜、加工工装及加工方法
CN209148867U (zh) * 2018-11-27 2019-07-23 森思泰克河北科技有限公司 光探测器安装误差检测装置
CN109655165A (zh) * 2019-01-10 2019-04-19 中国科学院上海技术物理研究所 用于抑制制冷工质对红外探测器噪声影响的集成封装结构

Also Published As

Publication number Publication date
CN111637825A (zh) 2020-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111637825B (zh) 检测红外探测器引线环安装角度误差的工装及方法
US7285961B2 (en) Insulation degradation diagnostic device
US7733099B2 (en) Monitoring pattern for detecting a defect in a semiconductor device and method for detecting a defect
CA2275799C (en) Seimiconductor device evaluation apparatus
CN212967612U (zh) 晶圆检测系统及晶圆检测设备
US9804197B2 (en) Evaluation apparatus and probe position inspection method
JPH07181225A (ja) 電子部品ハンドリング装置における移動経路接地接続の完全性を検査する抵抗測定に基づく構成
JPH11330181A (ja) 配線不良検出回路、配線不良検出用半導体ウェハ及びこれらを用いた配線不良検出方法
KR100897982B1 (ko) 프로브카드 니들과 패드간의 미스 얼라인 방지 패턴 및 그방법
KR20210127034A (ko) 이차전지용 용접 검사장치 및 검사방법
CN109752413B (zh) 测试两基板之间多个焊球的结构及其方法
US20210318354A1 (en) Electrical connecting device and inspection method
US20120025863A1 (en) Solder joint inspection
KR101397242B1 (ko) 웨이퍼를 테스트하는 방법 및 장치
CN106019497A (zh) 一种ld激光器组件的装配及检验方法
US7151655B2 (en) Electrostatic discharge (ESD) detector
JPS6142829B2 (zh)
CN111913022A (zh) 系统封装产品的电流失效分析方法
JPH04315068A (ja) プリント回路板の検査装置
JPH10135340A (ja) 半導体集積回路の冗長回路および冗長回路ヒューズの切断検査方法
CN117949813A (zh) 芯片检测电路及方法
JPS6030147A (ja) 半導体ウェ−ハ
JP4738643B2 (ja) 合わせずれ測定方法
KR20210112071A (ko) 전기 슬립링 특성 검사용 장비
Griffiths et al. Automatic inspection of surface mount solder joints using X-ray images.

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant