CN111610389A - 一种信号通路的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于核电站信号测试技术，具体涉及一种信号通路的测试方法。包括：步骤S1，将信号通路拆分为第一信号通路和第二信号通路，A端拆分为第一信号通路的A1端和第二信号通路的A2端，B端拆分为第一信号通路的B1端和第二信号通路的B2端；步骤S2，在A1端通过或逻辑连接信号源和第一测试信号，在A2端通过或逻辑连接信号源和第二测试信号，测试结果信号通过或逻辑连接B1端和B2端；步骤S3，分别启动第一测试信号和第二测试信号，在测试结果信号位置如果能分别检测到两次测试信号，则信号通路检验正常；若在测试结果信号位置检测不到或仅能检测到一次测试信号，则信号通路检验失效。该方法不通过信号源发出信号，即可验证信号通路的可靠性。
Description
技术领域
本发明属于核电站信号测试技术，具体涉及一种信号通路的测试方法。
背景技术
核电站中对于安全重要设备，需通过定期试验的方式检查其可用性，确保该设备在需要动作的时候能执行其相关的安全功能。信号通路作为向设备提供安全重要信号的传输途径，其可靠性也需通过定期试验进行验证。定期试验从启动设备与否角度可分为“闭锁性定期试验”及“非闭锁性试验”。“闭锁性定期试验”指仅测试信号通路，不启动设备；“非闭锁性试验”指测试信号通路，同时启动设备，如图1。
发明内容
针对目前“非闭锁性试验”的弊端，本发明的目的是提供一种“闭锁性定期试验”的方法，该方法除了能确保在不启动设备的情况下，完成信号通路的测试，同时不需增加额外的切换开关，同时还可确保在测试过程中，当产生安全动作信号时，仍能启动设备。
为达到以上目的，本发明采用的技术方案是一种信号通路的测试方法，用于对信号通路进行测试，所述信号通路的A端用于连接信号源，B端用于连接受控信号，包括如下步骤：
步骤S1，将所述信号通路拆分为第一信号通路和第二信号通路，所述A端拆分为所述第一信号通路的A1端和所述第二信号通路的A2端，所述B端拆分为所述第一信号通路的B1端和所述第二信号通路的B2端；
步骤S2，增加一个第一测试信号和一个第二测试信号和一个测试结果信号；在所述A1端通过或逻辑连接所述信号源和所述第一测试信号，在所述A2端通过或逻辑连接所述信号源和所述第二测试信号，所述测试结果信号通过或逻辑连接所述B1端和所述B2端；
步骤S3，分别启动所述第一测试信号和所述第二测试信号，在所述测试结果信号位置如果能分别检测到两次测试信号，则所述信号通路检验正常；若在所述测试结果信号位置检测不到测试信号，或仅能检测到一次测试信号，则所述信号通路检验失效。
进一步，
所述步骤S2中，
在所述A1端设有第一或门逻辑电路，所述A1端通过所述第一或门逻辑电路连接所述信号源和所述第一测试信号；
在所述A2端设有第二或门逻辑电路，所述A2端通过所述第二或门逻辑电路连接所述信号源和所述第二测试信号；
在所述测试结果信号设有第三或门逻辑电路，所述测试结果信号通过所述第三或门逻辑电路连接所述B1端和所述B2端。
进一步，
所述第一或门逻辑电路的两个输入端分别连接所述信号源和所述第一测试信号，所述第一或门逻辑电路的输出端连接所述A1端；
所述第二或门逻辑电路的两个输入端分别连接所述信号源和所述第一测试信号，所述第二或门逻辑电路的输出端连接所述A2端；
所述第三或门逻辑电路的两个输入端分别连接所述B1端和所述B2端，所述第三或门逻辑电路的输出端连接所述测试结果信号。
进一步，在所述步骤S2中还包括，所述受控信号通过与逻辑连接所述B1端和所述B2端。
进一步，在所述受控信号设有与门逻辑电路，所述受控信号通过所述与门逻辑电路连接所述B1端和所述B2端。
进一步，所述与门逻辑电路的两个输入端分别连接所述B1端和所述B2端，所述与门逻辑电路的输出端连接所述受控信号。
进一步，所述信号通路的物理路径的类型包括硬接线和光纤和无线传输和芯片内部逻辑组件，所述信号通路的物理路径的数量是可变化的，所述A端和所述B端的物理形式包括接线端子和逻辑元件。
本发明的有益效果在于：
1.提供了一种不启动设备的情况下，测试信号通路的方法，不通过信号源1发出信号，即可验证信号通路3的可靠性，且测试过程中不会使受控设备2收到命令信号。
2.本发明实现简单，不需增加额外的切换开关。
3.本发明可确保在测试过程中，当产生动作信号时，仍能启动设备，不会降低系统的整体可靠性，即在测试过程中，当信号源1发出命令信号时，受控设备2可收到命令信号，且仅当信号源1发出命令信号时，受控设备2才会收到命令信号。
附图说明
图1是背景技术部分所述的非闭锁性试验的示意图；
图2是本发明具体实施方式中所述的一种信号通路的测试方法的示意图；
图中：1-信号源，2-受控信号，3-信号通路，4-第一信号通路，5-第二信号通路，6-第一测试信号，7-第二测试信号，8-测试结果信号，9-第一或门逻辑电路，10-第二或门逻辑电路，11-第三或门逻辑电路，12-与门逻辑电路。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述。
如图2所示，本发明提供的一种信号通路的测试方法，用于对信号通路3(如图1所示)进行测试，信号通路3的A端用于连接信号源1，B端用于连接受控信号2(信号通路3是指A端至B端之间的信号传输路径，信号源1发出命令信号是经A端、信号通路3、B端至受控设备2收到信号源1的命令信号)，该方法包括如下步骤：
步骤S1，将信号通路3拆分为第一信号通路4和第二信号通路5，A端拆分为第一信号通路4的A1端和第二信号通路5的A2端，B端拆分为第一信号通路4的B1端和第二信号通路5的B2端；
步骤S2，增加一个第一测试信号6和一个第二测试信号7和一个测试结果信号8；在A1端通过或逻辑连接信号源1和第一测试信号6，在A2端通过或逻辑连接信号源1和第二测试信号7，测试结果信号8通过或逻辑连接B1端和B2端，受控信号2通过与逻辑连接B1端和B2端；(拆分并增加第一测试信号6、第二测试信号7、一个测试结果信号8的线路如图2所示)
步骤S3，分别启动第一测试信号6和第二测试信号7，在测试结果信号8位置如果能分别检测到两次测试信号，则信号通路3检验正常；若在测试结果信号8位置检测不到测试信号，或仅能检测到一次测试信号，则信号通路3检验失效。
步骤S2中，
在A1端设有第一或门逻辑电路9，A1端通过第一或门逻辑电路9连接信号源1和第一测试信号6；
在A2端设有第二或门逻辑电路10，A2端通过第二或门逻辑电路10连接信号源1和第二测试信号7；
在测试结果信号8设有第三或门逻辑电路11，测试结果信号8通过第三或门逻辑电路11连接B1端和B2端；
在受控信号2设有与门逻辑电路12，受控信号2通过与门逻辑电路12连接B1端和B2端。
第一或门逻辑电路9的两个输入端分别连接信号源1和第一测试信号6，第一或门逻辑电路9的输出端连接A1端；
第二或门逻辑电路10的两个输入端分别连接信号源1和第一测试信号6，第二或门逻辑电路10的输出端连接A2端；
第三或门逻辑电路11的两个输入端分别连接B1端和B2端，第三或门逻辑电路11的输出端连接测试结果信号8；
与门逻辑电路12的两个输入端分别连接B1端和B2端，与门逻辑电路12的输出端连接受控信号2。
信号通路3的物理路径的类型包括(且不局限为)硬接线和光纤和无线传输和芯片内部逻辑组件，信号通路3的物理路径的数量是可变化的，A端和B端的物理形式包括(且不局限为)接线端子和逻辑元件。
本发明所述的装置并不限于具体实施方式中所述的实施例，本领域技术人员根据本发明的技术方案得出其他的实施方式，同样属于本发明的技术创新范围。
Claims (7)
1.一种信号通路的测试方法，用于对信号通路(3)进行测试，所述信号通路(3)的A端用于连接信号源(1)，B端用于连接受控信号(2)，包括如下步骤：
步骤S1，将所述信号通路(3)拆分为第一信号通路(4)和第二信号通路(5)，所述A端拆分为所述第一信号通路(4)的A1端和所述第二信号通路(5)的A2端，所述B端拆分为所述第一信号通路(4)的B1端和所述第二信号通路(5)的B2端；
步骤S2，增加一个第一测试信号(6)和一个第二测试信号(7)和一个测试结果信号(8)；在所述A1端通过或逻辑连接所述信号源(1)和所述第一测试信号(6)，在所述A2端通过或逻辑连接所述信号源(1)和所述第二测试信号(7)，所述测试结果信号(8)通过或逻辑连接所述B1端和所述B2端；
步骤S3，分别启动所述第一测试信号(6)和所述第二测试信号(7)，在所述测试结果信号(8)位置如果能分别检测到两次测试信号，则所述信号通路(3)检验正常；若在所述测试结果信号(8)位置检测不到测试信号，或仅能检测到一次测试信号，则所述信号通路(3)检验失效。
2.如权利要求1所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：
所述步骤S2中，
在所述A1端设有第一或门逻辑电路(9)，所述A1端通过所述第一或门逻辑电路(9)连接所述信号源(1)和所述第一测试信号(6)；
在所述A2端设有第二或门逻辑电路(10)，所述A2端通过所述第二或门逻辑电路(10)连接所述信号源(1)和所述第二测试信号(7)；
在所述测试结果信号(8)设有第三或门逻辑电路(11)，所述测试结果信号(8)通过所述第三或门逻辑电路(11)连接所述B1端和所述B2端。
3.如权利要求2所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：
所述第一或门逻辑电路(9)的两个输入端分别连接所述信号源(1)和所述第一测试信号(6)，所述第一或门逻辑电路(9)的输出端连接所述A1端；
所述第二或门逻辑电路(10)的两个输入端分别连接所述信号源(1)和所述第一测试信号(6)，所述第二或门逻辑电路(10)的输出端连接所述A2端；
所述第三或门逻辑电路(11)的两个输入端分别连接所述B1端和所述B2端，所述第三或门逻辑电路(11)的输出端连接所述测试结果信号(8)。
4.如权利要求1所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：在所述步骤S2中还包括，所述受控信号(2)通过与逻辑连接所述B1端和所述B2端。
5.如权利要求4所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：在所述受控信号(2)设有与门逻辑电路(12)，所述受控信号(2)通过所述与门逻辑电路(12)连接所述B1端和所述B2端。
6.如权利要求5所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：所述与门逻辑电路(12)的两个输入端分别连接所述B1端和所述B2端，所述与门逻辑电路(12)的输出端连接所述受控信号(2)。
7.如权利要求1所述的一种信号通路的测试方法，其特征是：所述信号通路(3)的物理路径的类型包括硬接线和光纤和无线传输和芯片内部逻辑组件，所述信号通路(3)的物理路径的数量是可变化的，所述A端和所述B端的物理形式包括接线端子和逻辑元件。
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