CN111596154B - 一种测试小试样变温电性能的辅助夹具 - Google Patents
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Abstract
一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，特别涉及一种材料电学性能测试用夹具。本发明的目的是要解决使用现有电学性能测试仪器配套夹具对厚度200μm以下的功能陶瓷试样进行测试时容易导致试样断裂的问题。一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成。本发明的优点在于特别适合功能陶瓷小试样的电学性能测试，本发明可用于辅助测量功能陶瓷的电学性能，尤其是基于平行板电容器方式进行测量的导电、介电、铁电、压电和耐压性能；本发明的优点在于使用摇杆式上电极，其活动灵活，整体轻质，对试样施加压力小。本发明可获得一种测试小试样变温电性能的辅助夹具。
Description
技术领域
本发明涉及一种材料电学性能测试用夹具。
背景技术
特种陶瓷，尤其是功能陶瓷，因其特殊的电学、热学与光学性质而被应用于众多高精尖技术领域中，典型产品包括多层陶瓷电容器、热电发电器件和飞行器透波天线罩等。检测功能陶瓷在使役温度如-190℃～200℃下的电学性能，如导电、介电、铁电、压电和耐压性能，是了解材料性能，确定材料选用的重要依据。
功能陶瓷的耐压等电学性能与其尺寸息息相关，高致密性、薄尺寸陶瓷的宏观缺陷更少，耐压能力较强；同时，随着对电子器件高性能、小型化、集成化的需求不断加大。开发超薄厚度<0.2mm、超小尺寸<1mm电学功能陶瓷及配套检测工具成为当下科研攻关中的重要任务。
对基于平行板电容器方式测量电学性能的夹具而言，上、下电极的设计相当重要。上、下电极既要具有良好的导电性，又要固定试样并与其紧密接触。目前，国内外电学测试仪器电极的典型设计方案有三类：1、夹持式，如鳄鱼夹、弹簧针或自重夹；2、探针式，如微动台配合钨钢探针；3、焊接式，即直接在样品电极上焊接导线。对于薄陶瓷试样而言，由于其厚度小，强度低且陶瓷本征脆性大，无法使用探针式或焊接式电极，因此一般使用夹持式方案。目前，采取夹持式方案的几种商用电学性能测试仪器中，上、下电极对试样施加的压力处于1-100N范围内。当功能陶瓷试样的厚度降低至200μm以下时，其强度大幅下降，采用上述方案测试该类小试样时，容易破坏试样。
发明内容
本发明的目的是要解决使用现有电学性能测试仪器配套夹具对厚度200μm以下的功能陶瓷试样进行测试时容易导致试样断裂的问题，而提供一种测试小试样变温电性能的辅助夹具。
一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成；
所述的基座包括上盖和底座，上盖与底座为等径的圆柱体，且材质均为绝缘体；
所述的底座上端设有圆环状凸台，上盖的下端面开有与该圆环状凸台相配合的周向凹槽，圆环状凸台与周向凹槽构成密封结构；
所述的上电极模块包括连杆固定座、探针连杆、探针固定环和探针，连杆固定座、探针连杆、探针固定环和探针的材质均为导体；所述的探针连杆的一端与连杆固定座连接，另一端上表面设有与探针固定环同轴的通孔，探针穿过探针连杆和探针固定环；
所述的下电极模块包括底电极和底电极延长柱，底电极和底电极延长柱的材质均为导体；所述的底电极由上圆盘和下圆柱组成，截面为T型，下圆柱的侧面开设有凹槽，底电极延长柱的一端设置在凹槽中，且与底电极螺纹连接；
所述的接线模块为接线座，接线座为圆柱体，接线座上开设有轴向凹槽，接线座的材质为导体；
所述的加热模块为陶瓷加热体，陶瓷加热体为环状陶瓷加热体；
所述的上盖下端面的周向凹槽侧壁上开设有外侧第一出线孔和外侧第二出线孔，上盖下端面的周向凹槽上方开设有扇形槽，用于容纳固定座、探针连杆、探针固定环和探针；
所述的底座上端的圆环状凸台的侧壁上开设有内侧第一出线孔和内侧第二出线孔；上盖和底座装配时，外侧第一出线孔可与内侧第一出线孔对齐连通，外侧第二出线孔可与内侧第二出线孔对齐连通；底座的外侧壁及圆环状凸台内圆槽底部的下方开设有槽，底电极设置在圆环状凸台内圆槽底部的下方槽中，底电极延长柱设置在底座外侧壁的槽中，且底电极延长柱延伸至底座外部；底座上端的圆环状凸台上端面开设有两个槽，连杆固定座和接线座的下端均设置在槽中；
所述的陶瓷加热体设置在底座上端圆环状凸台内的圆槽中，陶瓷加热体的内径大于底电极中上圆盘的直径，且底电极中上圆盘与陶瓷加热体的圆环同心。
本发明的使用方法：
将测试小试样变温电性能的辅助夹具置于平整台面上，取下上盖，将陶瓷加热体的引线从内往外依次穿过内侧第二出线孔和外侧第二出线孔，并将陶瓷加热体的引线与外电路连接；取一根导线，将导线的一端放入探针固定环与探针连杆的间隙中，并使用紧定螺栓锁紧探针连杆，导线的另一端穿过接线座的轴向凹槽，再经过内侧第二出线孔与外侧第二出线孔对齐形成的通道后与测试仪器输出端进行电气连接，使用紧定螺栓锁紧接线座；将香蕉插头插入底电极延长柱的尾端使下电极模块与测试仪器输入端进行电气连接，旋转探针连杆，将待测小试样放置于底电极上，将绝缘硅油倒入底座上端圆环状凸台内的圆槽中，使待测小试样、底电极和陶瓷加热体浸入到绝缘硅油中，陶瓷加热体的引线与外电路连接，陶瓷加热体可对绝缘硅油进行加热，进而待测小试样的温度升高，再将热电偶引线从外侧第一出线孔与内侧第一出线孔对齐连通后形成热电偶引线的通道进入并插入到绝缘硅油中，热电偶可对绝缘硅油的温度进行测试，调整待测小试样的位置，再旋转探针连杆，使探针的触点与待测小试样相接触，最后盖上上盖，即可开始测试。
本发明的优点：
本发明的优点在于特别适合功能陶瓷小试样的电学性能测试，本发明可用于辅助测量功能陶瓷的电学性能，尤其是基于平行板电容器方式进行测量的导电、介电、铁电、压电和耐压性能；本发明的优点在于使用摇杆式上电极，其活动灵活，整体轻质，对试样施加压力小；且可根据待测小试样的电极面积与强度设计探针的材料、直径、长度、质量与触点形状并进行更换，解决了使用现有电学性能测试仪器对厚度小于200μm以下的功能陶瓷试样进行测试时容易导致功能陶瓷试样破坏的问题。
本发明可获得一种测试小试样变温电性能的辅助夹具。
附图说明
图1为实施例一所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具的结构示意图；
图2为图1沿A-A的剖面图；
图3为实施例一所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具不含上盖时的三维视图。
具体实施方式
为了更加清晰地阐明本发明的技术方案与优点，下面结合附图及实施例对本发明进行说明。此处所述实施例仅作说明用途，并不代表本发明的所有实施例。凡是基于本发明或在本发明原理的基础上所作的替换、修改与非实质性的改进都应属于本发明保护的范围。
具体实施方式一：本实施方式是一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成；
所述的基座包括上盖1和底座2，上盖1与底座2为等径的圆柱体，且材质均为绝缘体；
所述的底座2上端设有圆环状凸台，上盖1的下端面开有与该圆环状凸台相配合的周向凹槽，圆环状凸台与周向凹槽构成密封结构；
所述的上电极模块包括连杆固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8，连杆固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8的材质均为导体；所述的探针连杆6的一端与连杆固定座5连接，另一端上表面设有与探针固定环7同轴的通孔，探针8穿过探针连杆6和探针固定环7；
所述的下电极模块包括底电极3和底电极延长柱4，底电极3和底电极延长柱4的材质均为导体；所述的底电极3由上圆盘和下圆柱组成，截面为T型，下圆柱的侧面开设有凹槽，底电极延长柱4的一端设置在凹槽中，且与底电极3螺纹连接；
所述的接线模块为接线座10，接线座10为圆柱体，接线座10上开设有轴向凹槽，接线座10的材质为导体；
所述的加热模块为陶瓷加热体9，陶瓷加热体9为环状陶瓷加热体；
所述的上盖1下端面的周向凹槽侧壁上开设有外侧第一出线孔100和外侧第二出线孔102，上盖1下端面的周向凹槽上方开设有扇形槽，用于容纳固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8；
所述的底座2上端的圆环状凸台的侧壁上开设有内侧第一出线孔101和内侧第二出线孔103；上盖1和底座2装配时，外侧第一出线孔100可与内侧第一出线孔101对齐连通，外侧第二出线孔102可与内侧第二出线孔103对齐连通；底座2的外侧壁及圆环状凸台内圆槽底部的下方开设有槽，底电极3设置在圆环状凸台内圆槽底部的下方槽中，底电极延长柱4设置在底座2外侧壁的槽中，且底电极延长柱4延伸至底座2外部；底座2上端的圆环状凸台上端面开设有两个槽，连杆固定座5和接线座10的下端均设置在槽中；
所述的陶瓷加热体9设置在底座2上端圆环状凸台内的圆槽中，陶瓷加热体9的内径大于底电极3中上圆盘的直径，且底电极3中上圆盘盘与陶瓷加热体9的圆环同心。
本实施方式的使用方法：
将测试小试样变温电性能的辅助夹具置于平整台面上，取下上盖1，将陶瓷加热体9的引线从内往外依次穿过内侧第二出线孔103和外侧第二出线孔102，并将陶瓷加热体9的引线与外电路连接；取一根导线，将导线的一端放入探针固定环7与探针连杆6的间隙中，并使用紧定螺栓锁紧探针连杆6，导线的另一端穿过接线座10的轴向凹槽，再经过内侧第二出线孔103与外侧第二出线孔102对齐形成的通道后与测试仪器输出端进行电气连接，使用紧定螺栓锁紧接线座10；将香蕉插头插入底电极延长柱4的尾端使下电极模块与测试仪器输入端进行电气连接，旋转探针连杆6，将待测小试样放置于底电极3上，将绝缘硅油倒入底座2上端圆环状凸台内的圆槽中，使待测小试样、底电极3和陶瓷加热体9浸入到绝缘硅油中，陶瓷加热体9的引线与外电路连接，陶瓷加热体9可对绝缘硅油进行加热，进而待测小试样的温度升高，再将热电偶引线从外侧第一出线孔100与内侧第一出线孔101对齐连通后形成热电偶引线的通道进入并插入到绝缘硅油中，热电偶可对绝缘硅油的温度进行测试，调整待测小试样的位置，再旋转探针连杆6，使探针8的触点与待测小试样相接触，最后盖上上盖1，即可开始测试。
本实施方式的优点：
本实施方式的优点在于特别适合功能陶瓷小试样的电学性能测试，本实施方式可用于辅助测量功能陶瓷的电学性能，尤其是基于平行板电容器方式进行测量的导电、介电、铁电、压电和耐压性能；本实施方式的优点在于使用摇杆式上电极，其活动灵活，整体轻质，对试样施加压力小；且可根据待测小试样的电极面积与强度设计探针8的材料、直径、长度、质量与触点形状并进行更换，解决了使用现有电学性能测试仪器对厚度小于200μm以下的功能陶瓷试样进行测试时容易导致功能陶瓷试样破坏的问题。
本实施方式可获得一种测试小试样变温电性能的辅助夹具。
本实施方式接线座10作为上电极模块与外界电路测试仪器输入端及连接线的中继连接体，避免上电极模块与外界电路的直接物理接触，减轻外界电路导线移动等扰动对探针8几何位置的影响。
具体实施方式二：本实施方式与具体实施方式一不同点是：所述的探针连杆6与探针固定环7通过紧定螺钉固定连接。其它步骤与具体实施方式一相同。
具体实施方式三：本实施方式与具体实施方式一或二之一不同点是：所述的探针固定环7与探针8之间为过盈配合或螺纹配合。其它步骤与具体实施方式一或二相同。
具体实施方式四：本实施方式与具体实施方式一至三之一不同点是：所述的陶瓷加热体9的工作电压为5V或12V，在工作电压下陶瓷加热体9的表面温度最高不超过250℃。其它步骤与具体实施方式一至三相同。
具体实施方式五：本实施方式与具体实施方式一至四之一不同点是：所述的外侧第一出线孔100与内侧第一出线孔101对齐连通后形成热电偶引线的通道，外侧第二出线孔102与内侧第二出线孔103对齐连通后形成导线与加热模块引线的通道。其它步骤与具体实施方式一至四相同。
具体实施方式六：本实施方式与具体实施方式一至五之一不同点是：所述的探针连杆6的一端与连杆固定座5连接形成摇杆结构，探针连杆6以连杆固定座5的固定处为圆心，绕其与固定座5形成的竖直平面内做有限的圆周运动。其它步骤与具体实施方式一至五相同。
具体实施方式七：本实施方式与具体实施方式一至六之一不同点是：所述的探针8为棒状导体，直径为0.5mm～2mm；长度为19mm～24mm；质量为7mg～680mg。其它步骤与具体实施方式一至六相同。
具体实施方式八：本实施方式与具体实施方式一至七之一不同点是：所述的探针8的材质为铜、铝或碳纤维；触点为平面或半球面。其它步骤与具体实施方式一至七相同。
具体实施方式九：本实施方式与具体实施方式一至八之一不同点是：所述的探针8和底电极3对待测小试样施加压力为0N～10N。其它步骤与具体实施方式一至八相同。
具体实施方式十：本实施方式与具体实施方式一至九之一不同点是：所述的待测小试样的材质为玻璃、陶瓷或单晶。其它步骤与具体实施方式一至九相同。
采用以下实施例验证本发明的有益效果：
实施例一：一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成；
所述的基座包括上盖1和底座2，上盖1与底座2为等径的圆柱体，且材质均为绝缘体；
所述的底座2上端设有圆环状凸台，上盖1的下端面开有与该圆环状凸台相配合的周向凹槽，圆环状凸台与周向凹槽构成密封结构；
所述的上电极模块包括连杆固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8，连杆固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8的材质均为导体；所述的探针连杆6的一端与连杆固定座5连接，另一端上表面设有与探针固定环7同轴的通孔，探针8穿过探针连杆6和探针固定环7；
所述的下电极模块包括底电极3和底电极延长柱4，底电极3和底电极延长柱4的材质均为导体；所述的底电极3由上圆盘和下圆柱组成，截面为T型，下圆柱的侧面开设有凹槽，底电极延长柱4的一端设置在凹槽中，且与底电极3螺纹连接；
所述的接线模块为接线座10，接线座10为圆柱体，接线座10上开设有轴向凹槽，接线座10的材质为导体；
所述的加热模块为陶瓷加热体9，陶瓷加热体9为环状陶瓷加热体；
所述的上盖1下端面的周向凹槽侧壁上开设有外侧第一出线孔100和外侧第二出线孔102，上盖1下端面的周向凹槽上方开设有扇形槽，用于容纳固定座5、探针连杆6、探针固定环7和探针8；
所述的底座2上端的圆环状凸台的侧壁上开设有内侧第一出线孔101和内侧第二出线孔103；上盖1和底座2装配时，外侧第一出线孔100可与内侧第一出线孔101对齐连通，外侧第二出线孔102可与内侧第二出线孔103对齐连通；底座2的外侧壁及圆环状凸台内圆槽底部的下方开设有槽，底电极3设置在圆环状凸台内圆槽底部的下方槽中，底电极延长柱4设置在底座2外侧壁的槽中，且底电极延长柱4延伸至底座2外部；底座2上端的圆环状凸台上端面开设有两个槽，连杆固定座5和接线座10的下端均设置在槽中；
所述的陶瓷加热体9设置在底座2上端圆环状凸台内的圆槽中，陶瓷加热体9的内径大于底电极3中上圆盘的直径，且底电极3中上圆盘与陶瓷加热体9的圆环同心；
所述的探针连杆6与探针固定环7通过紧定螺钉固定连接；探针固定环7与探针8之间为螺纹配合；
所述的陶瓷加热体9的工作电压为12V，在工作电压下陶瓷加热体9的表面温度最高不超过250℃；
所述的外侧第一出线孔100与内侧第一出线孔101对齐连通后形成热电偶引线的通道，外侧第二出线孔102与内侧第二出线孔103对齐连通后形成导线与加热模块引线的通道；
所述的探针连杆6的一端与连杆固定座5连接形成摇杆结构，探针连杆6以连杆固定座5的固定处为圆心，绕其与固定座5形成的竖直平面内做有限的圆周运动，进而带动探针固定环7和探针8转动；
所述的探针8为棒状导体，探针8的材质为铜；直径为0.6mm；长度为23mm；质量为58mg；触点形状为半球面。
图1为实施例一所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具的结构示意图；
图2为图1沿A-A的剖面图；
图3为实施例一所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具不含上盖时的三维视图。
实施例二：利用实施例一中测试小试样变温电性能的辅助夹具测试待测小试样铁电性能的方法是按以下步骤完成的：
使用铁电测试仪厂家是Radiant Technologies.INC.，测试仪器型号是PrecisionPremier II与实施例一所述的测试小试样变温电性能的辅助夹具测试待测小试样在室温-150℃的铁电性能。作为对比，使用铁电测试仪与原装夹具测试了厚试样的室温铁电性能；使用铁电测试仪与实施例一所述的测试小试样变温电性能的辅助夹具测试了厚试样的室温铁电性能。将测试小试样变温电性能的辅助夹具置于平整台面上，取下上盖1，将陶瓷加热体9的引线从内往外依次穿过内侧第二出线孔103和外侧第二出线孔102，并将陶瓷加热体9的引线与外电路连接；取一根导线，将导线的一端放入探针固定环7与探针连杆6的间隙中，并使用紧定螺栓锁紧探针连杆6，导线的另一端穿过接线座10的轴向凹槽，再经过内侧第二出线孔103与外侧第二出线孔102对齐形成的通道后与铁电测试仪输出端连接，使用紧定螺栓锁紧接线座10；将香蕉插头插入底电极延长柱4的尾端使下电极模块与铁电测试仪输入端连接，旋转探针连杆6，将待测小试样放置于底电极3上，将绝缘硅油倒入底座2上端圆环状凸台内的圆槽中，使待测小试样、底电极3和陶瓷加热体9浸入到绝缘硅油中，陶瓷加热体9的引线与外电路连接，陶瓷加热体9可对绝缘硅油进行加热，进而待测小试样的温度升高，再将热电偶引线从外侧第一出线孔100与内侧第一出线孔101对齐连通后形成热电偶引线的通道进入并插入到绝缘硅油中，热电偶可对绝缘硅油的温度进行测试，调整待测小试样的位置，再旋转探针连杆6，使探针8的触点与待测小试样相接触，最后盖上上盖1，即可开始测试；所述的探针8和底电极3对待测小试样施加压力为0.57N；所述的待测小试样为薄片状钛酸钡陶瓷，长、宽均为2mm，厚度为0.1mm；所述的厚试样为圆片状钛酸钡陶瓷，直径8mm，厚度0.8mm。
实施例二的测试结果表明：室温下，使用本发明所述的测试小试样变温电性能的辅助夹具测试厚试样得到的电滞回线数据与使用原装夹具测试厚试样所得数据相比误差在1％以内。使用实施例一所述的测试小试样变温电性能的辅助夹具测试待测小试样，经历室温-150℃升降温测试后未发生断裂，仍能测得完整电滞回线。使用原装夹具测试待测小试样，试样装好后即断裂，无法进行测试。
Claims (8)
1.一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成；
所述的基座包括上盖(1)和底座(2)，上盖(1)与底座(2)为等径的圆柱体，且材质均为绝缘体；
所述的底座(2)上端设有圆环状凸台，上盖(1)的下端面开有与该圆环状凸台相配合的周向凹槽，圆环状凸台与周向凹槽构成密封结构；
所述的上电极模块包括连杆固定座(5)、探针连杆(6)、探针固定环(7)和探针(8)，连杆固定座(5)、探针连杆(6)、探针固定环(7)和探针(8)的材质均为导体；所述的探针连杆(6)的一端与连杆固定座(5)连接，另一端上表面设有与探针固定环(7)同轴的通孔，探针(8)穿过探针连杆(6)和探针固定环(7)；
所述的探针连杆(6)与探针固定环(7)通过紧定螺钉固定连接；
所述的探针连杆(6)的一端与连杆固定座(5)连接形成摇杆结构，探针连杆(6)以连杆固定座(5)的固定处为圆心，绕其与连杆固定座(5)形成的竖直平面内做有限的圆周运动；
所述的下电极模块包括底电极(3)和底电极延长柱(4)，底电极(3)和底电极延长柱(4)的材质均为导体；所述的底电极(3)由上圆盘和下圆柱组成，截面为T型，下圆柱的侧面开设有凹槽，底电极延长柱(4)的一端设置在凹槽中，且与底电极(3)螺纹连接；
所述的接线模块为接线座(10)，接线座(10)为圆柱体，接线座(10)上开设有轴向凹槽，接线座(10)的材质为导体；
所述的加热模块为陶瓷加热体(9)，陶瓷加热体(9)为环状陶瓷加热体；
所述的上盖(1)下端面的周向凹槽侧壁上开设有外侧第一出线孔(100)和外侧第二出线孔(102)，上盖(1)下端面的周向凹槽上方开设有扇形槽，用于容纳连杆固定座(5)、探针连杆(6)、探针固定环(7)和探针(8)；
所述的底座(2)上端的圆环状凸台的侧壁上开设有内侧第一出线孔(101)和内侧第二出线孔(103)；上盖(1)和底座(2)装配时，外侧第一出线孔(100)可与内侧第一出线孔(101)对齐连通，外侧第二出线孔(102)可与内侧第二出线孔(103)对齐连通；底座(2)的外侧壁及圆环状凸台内圆槽底部的下方开设有槽，底电极(3)设置在圆环状凸台内圆槽底部的下方槽中，底电极延长柱(4)设置在底座(2)外侧壁的槽中，且底电极延长柱(4)延伸至底座(2)外部；底座(2)上端的圆环状凸台上端面开设有两个槽，连杆固定座(5)和接线座(10)的下端均设置在槽中；
所述的陶瓷加热体(9)设置在底座(2)上端圆环状凸台内的圆槽中，陶瓷加热体(9)的内径大于底电极(3)中上圆盘的直径，且底电极(3)中上圆盘与陶瓷加热体(9)的圆环同心。
2.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的探针固定环(7)与探针(8)之间为过盈配合或螺纹配合。
3.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的陶瓷加热体(9)的工作电压为5V或12V，在工作电压下陶瓷加热体(9)的表面温度最高不超过250℃。
4.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的外侧第一出线孔(100)与内侧第一出线孔(101)对齐连通后形成热电偶引线的通道，外侧第二出线孔(102)与内侧第二出线孔(103)对齐连通后形成导线与加热模块引线的通道。
5.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的探针(8)为棒状导体，直径为0.5mm～2mm；长度为19mm～24mm；质量为7mg～680mg。
6.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的探针(8)的材质为铜、铝或碳纤维；触点为平面或半球面。
7.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的探针(8)和底电极(3)对测试小试样施加压力为0N～10N。
8.根据权利要求1所述的一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，其特征在于所述的测试小试样的材质为玻璃、陶瓷或单晶。
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