CN111589739B - 下料设备及纳米晶材料检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种下料设备及纳米晶材料检测系统，其中，下料设备包括：收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料；机械手，所述机械手用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述机械手包括：吸附装置，所述吸附装置用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置的底端间隔开地设置有多个吸盘，以同时吸附多片纳米晶材料；运转装置，所述运转装置连接所述吸附装置，用于带动所述吸附装置运动。根据本发明的下料设备，能够自动化地同时进行多片下料，效率高、节省人力且避免产品污染。

Description

下料设备及纳米晶材料检测系统

技术领域

本发明涉及纳米晶材料检测领域，具体涉及一种下料设备及纳米晶材料检测系统。

背景技术

目前纳米晶材料经过检测后，通过人工将纳米材料进行装盘，浪费人力，效率低且容易污染纳米晶材料。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种下料设备及纳米晶材料检测系统，能够自动化地同时进行多片下料，效率高、节省人力且避免产品污染。

为解决上述技术问题，一方面，本发明提供一种下料设备，用于将经检测后的纳米晶材料进行下料，包括：

收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料；

机械手，所述机械手用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述机械手包括：

吸附装置，所述吸附装置用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置的底端间隔开地设置有多个吸盘，以同时吸附多片纳米晶材料；

运转装置，所述运转装置连接所述吸附装置，用于带动所述吸附装置运动。

进一步地，所述吸附装置设置有两个吸盘；

所述下料设备还包括：

缓存平台，所述缓存平台与所述机械手取料位置相邻，用于存放连续的两片产品中只有一片是检测合格的纳米晶材料。

进一步地，所述运转装置包括：

底座，所述底座的顶端设置有第一旋转轴；

第一旋转臂，所述第一旋转臂的一端与所述第一旋转轴旋转连接，所述第一旋转臂的另一端设置有第二旋转轴；

第二旋转臂，所述第二旋转臂的一端与所述第二旋转轴旋转连接，所述第二旋转臂的另一端设置有第三旋转轴，以及连接所述第三旋转轴的升降轴，所述升降轴连接所述吸附装置。

进一步地，所述收料机构包括两个，其中一个用于收集检测合格的纳米晶材料另一个用于收集检测不合格的纳米晶材料。

进一步地，所述收料机构包括：

第一承载支架，用于承载空料盘；

第二承载支架，所述第二承载支架与所述第一承载支架相邻设置，所述第二承载支架承载用于接收纳米晶材料的料盘；

料盘传输装置，所述料盘传输装置用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。

进一步地，所述收料机构还包括：

第一电机，所述第一电机与所述第一承载支架相连，以驱动所述第一承载支架进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

进一步地，其中，用于收集检测合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括：

底部传输装置，所述底部传输装置设置在所述第二传输支架的下部，包括输送带，以及驱动传输带进行运动的第二电机；

升降装置，所述升降装置设置在所述底部传输装置的上方，用于从所述第二承载支架的底部取出料盘并放置在所述底部传输装置上。

进一步地，其中，用于收集检测不合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括：

第三电机，所述第三电机与所述第二承载支架相连，以驱动所述第二承载支架进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

进一步地，所述第一承载支架和所述第二承载支架为可抽拉结构。

另一方面，本发明提供一种纳米晶材料检测系统，包括上述任一所述的下料设备。

本发明的上述技术方案至少具有如下有益效果之一：

根据本发明的下料设备，包括收料机构和机械手，所述吸附装置的底端间隔开地设置有多个吸盘，能够自动化地同时进行多片下料，效率高，且过程中避免了手去触摸纳米晶材料，能够避免产品污染。

附图说明

图1为根据本发明一实施例的下料设备的结构示意图；

图2为图1中的运转装置的结构示意图；

图3为图1中的吸附装置的结构示意图；

图4为图1中的A收料机构的结构示意图；

图5为图1中的B收料机构的结构示意图。

附图标记：

100’、A收料机构；110’、A第一承载支架；120’、A第二承载支架；130’、A料盘传输装置；140’、A第一电机；150’、第三电机；100”、B收料机构；110”、B第一承载支架；120”、B第二承载支架；130”、B料盘传输装置；140”、B第一电机；150”、升降装置；160”、底部传输装置；200、机械手；210、运转装置；211、底座；212、第一旋转轴；213、第一旋转臂；214、第二旋转轴；215、第二旋转臂；216、第三旋转轴；217、升降轴；220、吸附装置；221、吸盘。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另作定义，本发明中使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也相应地改变。

下面，首先参考附图说明根据本发明实施例的下料设备。

如图1所示，根据本发明的下料设备包括：收料机构、机械手200。

其中，收料机构用于收集经检测后的纳米晶材料。

也就是说，检测后的纳米晶材料通过收料机构进行收集，以便于后续的作业。

收料机构可以仅设置1个，例如1个收料机构的不同区域的料盘区分良品和不良品。收料机构也可以设置多个，例如，2个收料机构分别对良品和不良品进行收集。良品表示检测合格的纳米晶材，不良品表示检测不合格的纳米晶材料的产品，后续良品和不良品均为此表述。

纳米晶材料收集过程中，可以采用料盘堆叠方式进行收集。例如，在下料设备上放置料盘，一个料盘可以容纳多片纳米晶材料，收集纳米晶材料过程中，当一个料盘满料的时候，可以堆叠另一个空料盘，继续收料，当料盘堆叠到预定数量，一起搬离下料设备，进入下道工序进行作业。

机械手200用于将检测后的纳米晶材料搬运至收料机构。

也就是说，通过机械手200将检测后的纳米晶材料搬运至收料机构。

机械手200包括吸附装置220和运转装置210。

吸附装置220用于吸附纳米晶材料，吸附装置220的底端间隔开地设置有多个吸盘221，以同时吸附多片纳米晶材料。

也就是说，吸附装置220通过间隔开的多个吸盘221一次吸附多片纳米晶材料。由此，相比单个吸盘221的作业方式，效率明显提高。

运转装置210连接吸附装置220，用于带动吸附装置220运动。

也就是说，通过运转装置210带动吸附装置220进行运动，从而能够搬运纳米晶材料至收料机构。

以上的下料设备，通过机械手200的运转装置210带动具有多个吸盘221的吸附装置220，同时吸附并搬运多片纳米晶材料至收料机构。由此，能够自动化地同时进行多片下料，效率高，且过程中避免了手去触摸纳米晶材料，能够避免产品污染。

根据本发明一些实施例，吸附装置220设置有两个吸盘221。

如图3，吸附装置220设置有两个吸盘221，在设备运转过程中，机械手200带动具有两个吸盘221的吸附装置220，一次可以吸附两片纳米晶材料。

下料设备还包括：

缓存平台，缓存平台与机械手200取料位置相邻，用于存放连续的两片产品中只有一片是检测合格的纳米晶材料。

下述以收料结构分为良品收料机构和不良品收料机构为例来进行说明此缓存平台。机械手200带动吸附装置220一次吸附两片纳米晶材料进行搬运过程中，当其中一片为良品，另一片为不良品，通常需要将一片纳米晶材料搬运在良品收料机构后，再将另外一片纳米晶材料搬运至不良品收料机构，存在效率较低的问题，而本发明设置缓存平台，机械手200可以将一次吸附的两片纳米晶材料(一片良品，一片不良品)放置在与机械手200取料位置相邻的缓存平台，待下次机械手200取料位置再出现连续良品纳米晶材料中存在一片良品和一片不良品的时候，机械手200在取料位置取前一片纳米晶材料，并在缓存平台取一片与取料位置取前一片同样为良品或不良品的材料，再进行下料。由此，能够避免单片下料而耽误降低效率的情况，提高设备稳定性且提升效率。

根据本发明一些实施例，运转装置210包括：底座211，底座211的顶端设置有第一旋转轴212；第一旋转臂213，第一旋转臂213的一端与第一旋转轴212旋转连接，第一旋转臂213的另一端设置有第二旋转轴214；第二旋转臂215，第二旋转臂215的一端与第二旋转轴214旋转连接，第二旋转臂215的另一端设置有第三旋转轴216，以及连接第三旋转轴216的升降轴217，升降轴217连接吸附装置220。

也就是所，底座211通过第一旋转轴212带动第一旋转臂213的一端转动，第一旋转臂213的另一端通过第二旋转轴214带动第三旋转臂的一端转动，第三旋转臂的另一端通过第三旋转轴216带动升降轴217转动，升降轴217带动吸附装置220升降运动，以吸附纳米晶材料。由此，运转装置210能够快速且准确地带动吸附装置220运动，从而快速且准确地进行下料。

根据本发明一些实施例，收料机构包括两个，其中一个用于收集检测合格的纳米晶材料另一个用于收集检测不合格的纳米晶材料。

也就是说，通过两个收料机构分别且同步进行收集纳米晶材料的动作。由此，能够避免设备操作人员混料，且能够提高效率。

以下通过实施例说明本发明的收料机构。其中，A收料机构100’为不良品收料机构，B收料机构100”为良品收料机构。

图5示出了本发明实施例的B收料机构100”，用于收集检测合格的纳米晶材料。

如图5所示，B收料机构100”包括B第一承载支架110”、B第二承载支架120”及B料盘传输装置130”。

B第一承载支架110”用于承载空料盘。B第二承载支架120”与B第一承载支架110”相邻设置，B第二承载支架120”承载用于接收纳米晶材料的料盘。B料盘传输装置130”用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。

如图5所示，B第一承载支架110”用于承载空料盘，可以将30个空料盘放置在B第一承载支架110”上。B第二承载支架120”设置在B第一承载支架110”左侧，承载用于接收纳米晶材料的料盘，即机械手200将纳米晶材料放置在B第二承载支架120”的料盘上。B料盘传输装置130”用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。B料盘传输装置130”结构可以多种多样，例如，B第一料盘装置可以包括电机、机械臂及夹取器。电机驱动机械臂带动夹取器运动至B第一承载支架110”位置，夹取器从B第一承载支架110”取出料盘，电机驱动机械臂带动夹持着空料盘的夹取器运动至B第二承载支架120”位置，并将空料盘放置在B第二承载支架120”，承载在B第二承载支架120”的料盘收集机械手200传递过来的纳米晶材料。由此，机械臂的运作区域与空料盘的放置区域没有干涉，避免空料盘放置区域处于机械手200运作区域导致人员放置空料盘耽误机械臂放料的时间且造成人员安全隐患的问题。

进一步地，B收料机构100”还包括B第一电机140”，B第一电机140”与B第一承载支架110”相连，以驱动B第一承载支架110”进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

通常情况下，B第一承载支架110”承载有多个空料盘，当B料盘传输装置130”取出一个空料盘位置后进行升降运动，以便于B料盘传输装置130”取出第二个空料盘。例如，B第一承载支架110”设置有分离器，分离器夹持一个空料盘，B第一电机140”驱动B第一承载支架110”下降预定距离，使得分离器夹持的空料盘与其他空料盘分离，从而便于B料盘传输装置130”将分离器所夹持的空料盘传递至第二料盘承载支架。由此，能够便于B料盘传输装置130”自动化且快速地将承载在第一承载支架上空料盘搬运至第二承载支架上。

进一步地，B收料机构100”还包括底部传输装置160”和升降装置150”。

底部传输装置160”设置在第二传输支架的下部，包括输送带，以及驱动传输带进行运动的第二电机。升降装置150”设置在底部传输装置160”的上方，用于从第二承载支架的底部取出料盘并放置在底部传输装置160”上。

例如，当承载在B第二承载装置的料盘满料后，升降装置150”从B第二承载支架120”的底部将满料的料盘取出并放置在底部传输装置160”上。底部传输装置160”对应B第二承载支架120”的位置处于设备下方，人员需要在设备下方取料不方便，为了解决此问题，底部传输装置160”设置有输送带，料盘放置在底部传输装置160”的输送带上，可以当底部传输装置160”对应B第二承载支架120”的料盘堆叠至预定数量(例如20个料盘)，第二电机驱动输送带运转，从而带动多个料盘传输，从而可以将料盘传递至方便取料位置。由此，能够自动化且方便地将多个满料的料盘取出，便于进行后续作业。

图4示出了本发明实施例的A收料机构100’，用于收集检测不合格的纳米晶材料。

如图4所示，A收料机构100’包括A第一承载支架110’、A第二承载支架120’及A料盘传输装置130’。

A第一承载支架110’用于承载空料盘。A第二承载支架120’与A第一承载支架110’相邻设置，A第二承载支架120’承载用于接收纳米晶材料的料盘。A料盘传输装置130’用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。

如图4所示，A第一承载支架110’用于承载空料盘，可以将35个空料盘放置在A第一承载支架110’上。A第二承载支架120’设置在A第一承载支架110’右侧，承载用于接收纳米晶材料的料盘，即机械手200将纳米晶材料放置在A第二承载支架120’的料盘上。A料盘传输装置130’用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。A料盘传输装置130’结构可以多种多样，例如，A第一料盘装置可以包括电机、机械臂及夹取器。电机驱动机械臂带动夹取器运动至A第一承载支架110’位置，夹取器从A第一承载支架110’取出料盘，电机驱动机械臂带动夹持着空料盘的夹取器运动至A第二承载支架120’位置，并将空料盘放置在A第二承载支架120’，承载在A第二承载支架120’的料盘收集机械手200传递过来的纳米晶材料。由此，机械臂的运作区域与空料盘的放置区域没有干涉，避免空料盘放置区域处于机械手200运作区域导致人员放置空料盘耽误机械臂放料的时间且造成人员安全隐患的问题。

进一步地，A收料机构100’还包括A第一电机140’，A第一电机140’与A第一承载支架110’相连，以驱动A第一承载支架110’进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

通常情况下，A第一承载支架110’承载有多个空料盘，当A料盘传输装置130’取出一个空料盘位置后进行升降运动，以便于A料盘传输装置130’取出第二个空料盘。例如，A料盘传输装置130’从A第一承载支架110’取出一个空料盘后，A第一电机140’上升预定距离，以维持后一片空料盘的高度与前一片取出的空料盘的垂直方向高度一致，以便于A料盘传输装置130’从A第一承载支架110’取出空料盘。由此，能够便于A料盘传输装置130’自动化且快速地将承载在第一承载支架上空料盘搬运至第二承载支架上。

进一步地，收料机构还包括第三电机150’，第三电机150’与第二承载支架相连，以驱动第二承载支架进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

例如，当第二承载支架上一个料盘满料后，A料盘传输装置130’从A第一承载支架110’取出一个空料盘放置在A第二承载支架120’上，第三电机150’驱动第二承载支架下降预定距离，以便于机械手200进行下料，且避免出现料盘堆叠过高无法下料的情况。由此，能够使得A第二承载支架120’上承载多个料盘，且便于机械手200下料，使得下料效率增加。

更进一步地，A第一承载支架110’和A第二承载支架120’为可抽拉结构。

例如，A第一承载支架110’和A第二承载支架120’可以为抽屉结构，从而可以方便地拉出A第一承载支架110’，放置预定数量的空料盘，在将A第一承载支架110’推入机器，也可以方便地将承载多个满料的料盘的第二承载支架拉出，取出料盘，再将空的A第二承载支架120’推入机器。由此，能够方便快速地进行取料和放料，提高效率。

此外，本发明实施例还提供一种纳米晶材料检测系统，包括上述任一下料设备。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种下料设备，用于将经检测后的纳米晶材料进行下料，其特征在于，包括：

收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料；

机械手（200），所述机械手（200）用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述机械手（200）包括：

吸附装置（220），所述吸附装置（220）用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置（220）的底端间隔开地设置有多个吸盘（221），以同时吸附多片纳米晶材料；

运转装置（210），所述运转装置（210）连接所述吸附装置（220），用于带动所述吸附装置（220）运动；其中，

所述吸附装置（220）设置有两个吸盘（221）；

所述下料设备还包括：

缓存平台，所述缓存平台与所述机械手（200）取料位置相邻，用于存放连续的两片产品中只有一片是检测合格的纳米晶材料；

所述机械手（200）将一次吸附的两片纳米晶材料，并将其放置在与所述机械手（200）取料位置相邻的所述缓存平台上，两片纳米晶材料包括一片良品与一片不良品，待下次所述机械手（200）取料位置再出现连续良品纳米晶材料中存在一片良品和一片不良品的时候，所述机械手（200）在取料位置取前一片纳米晶材料，并在所述缓存平台取一片与取料位置取前一片同样为良品或不良品的材料，再进行下料。

2.根据权利要求1所述的下料设备，其特征在于，所述运转装置（210）包括：

底座（211），所述底座（211）的顶端设置有第一旋转轴（212）；

第一旋转臂（213），所述第一旋转臂（213）的一端与所述第一旋转轴（212）旋转连接，所述第一旋转臂（213）的另一端设置有第二旋转轴（214）；

第二旋转臂（215），所述第二旋转臂（215）的一端与所述第二旋转轴（214）旋转连接，所述第二旋转臂（215）的另一端设置有第三旋转轴（216），以及连接所述第三旋转轴（216）的升降轴（217），所述升降轴（217）连接所述吸附装置（220）。

3.根据权利要求1所述的下料设备，其特征在于，所述收料机构包括两个，其中一个用于收集检测合格的纳米晶材料另一个用于收集检测不合格的纳米晶材料。

4.根据权利要求3所述的下料设备，其特征在于，所述收料机构包括：

第一承载支架，用于承载空料盘；

第二承载支架，所述第二承载支架与所述第一承载支架相邻设置，所述第二承载支架承载用于接收纳米晶材料的料盘；

料盘传输装置，所述料盘传输装置用于从第一承载支架取出空料盘放置在第二承载支架上。

5.根据权利要求4所述的下料设备，其特征在于，所述收料机构还包括：

第一电机，所述第一电机与所述第一承载支架相连，以驱动所述第一承载支架进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

6.根据权利要求5所述的下料设备，其特征在于，其中，用于收集检测合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括：

底部传输装置（160”），所述底部传输装置（160”）设置在所述第二承载支架的下部，包括输送带，以及驱动输送带进行运动的第二电机；

升降装置（150”），所述升降装置（150”）设置在所述底部传输装置（160”）的上方，用于从所述第二承载支架的底部取出料盘并放置在所述底部传输装置（160”）上。

7.根据权利要求5所述的下料设备，其特征在于，其中，用于收集检测不合格的纳米晶材料的所述收料机构还包括：

第三电机（150’），所述第三电机（150’）与所述第二承载支架相连，以驱动所述第二承载支架进行升降运动，进而使得料盘进行升降运动。

8.根据权利要求7所述的下料设备，其特征在于，所述第一承载支架和所述第二承载支架为可抽拉结构。

9.一种纳米晶材料检测系统，其特征在于，包括权利要求1至8任一所述的下料设备。

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