CN111524197A - 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置 - Google Patents

一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111524197A
CN111524197A CN202010251964.9A CN202010251964A CN111524197A CN 111524197 A CN111524197 A CN 111524197A CN 202010251964 A CN202010251964 A CN 202010251964A CN 111524197 A CN111524197 A CN 111524197A
Authority
CN
China
Prior art keywords
single pixel
pixel point
abnormal
miniled
image data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010251964.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111524197B (zh
Inventor
洪志坤
张胜森
欧昌东
郑增强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd, Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd filed Critical Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Priority to CN202010251964.9A priority Critical patent/CN111524197B/zh
Publication of CN111524197A publication Critical patent/CN111524197A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111524197B publication Critical patent/CN111524197B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/90—Determination of colour characteristics
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
    • G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
    • G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
    • G09F9/33—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements being semiconductor devices, e.g. diodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10016—Video; Image sequence

Abstract

本发明公开了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常，从而实现单个像素点的亮度异常和驱动电路连接异常的实时检测。

Description

一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及 装置
技术领域
本发明属于于图像检测领域，具体涉及一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置。
背景技术
随着技术的发展，现有显示面板的种类越来越多，出现了如Microled和Miniled等新一代的显示技术，其中，Microled是将LED微缩化和矩阵化，让LED单元小于100um，能够实现和OLED一样的自发光模式，Miniled，即次毫米发光二极管(Mini Light-EmittingDiode)，是晶粒尺寸约在100微米以上的LED，是传统LED背光基础上的改良版本。
在LED颗粒制备和转移过程的不良，是Microled或Miniled良率的关键，是能否快速形成规模经济效益的主要影响因素之一。主要不良包括：TFT阵列排线开、短路缺陷，LED颗粒发光亮度、色度等光学不一致缺陷，以及LED颗粒外观缺省等。
由于Microled和Miniled的像素点异常可能是由于其基本阵列排线缺陷导致的，然而Microled和Miniled的像素点数目繁多，针对Microled和Miniled基板存在的阵列排线开、短路缺陷，目前也没有较好的快速检测方法。目前，Microled和Miniled的像素点亮度检测和修复，可以使用CA310这亮度色度测量仪器，或者使用摄影机型显微成像系统；然而采用CA310这亮度色度测量仪器进行实时修复时，所用的相机分辨率并不高，所以只能以单点的形式进行修复，修复时间长，修复效率低，因而CA310这亮度色度测量仪器无法进行实时测量和修复；采用摄影机型显微成像系统，其成像系统复杂，成像时长过长，同时其传输的图像数据量过大容易造成处理延时，采用单点的形式进行修复，修复时间长，修复效率低，另外，对于高分辨率的显示面板如Microled和Miniled，由于其单个像素点存在亮度闪烁现象，采集某一时刻的图像来反映单个像素点的亮度值并不准确，且采集的静态图像数据也无法反应单个像素点的闪烁现象；仅采集某一时刻的图像来反映单个像素点的亮度值并不准确。因此，现有技术中没有简单有效的办法获得显示面板像素级别的亮度值。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，旨在解决目前Microled或Miniled的异常像素的检测方式单一、修复方式单一且修复时长过长而不能实现实时检测修复的技术问题。
为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，该方法包括如下步骤：
利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；
利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；
当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
作为本发明的进一步改进，驱动电路连接异常类型包括驱动电路短路异常和驱动电路断路异常。
作为本发明的进一步改进，单个像素点存在驱动电路短路异常时，获取单个像素点的短路电路两端点的位置信息，利用激光切割的方式对短路电路进行实时修复。
作为本发明的进一步改进，单个像素点存在驱动电路断路异常时，获取单个像素点的断路电路的位置信息，利用3D打印的方式对断路电路进行实时修复。
作为本发明的进一步改进，图像数据为视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：
根据视频数据中预设数量的多张视频帧数据获取Microled或Miniled任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定单个像素点的准确亮度值，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常。
作为本发明的进一步改进，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常具体为：
将单个像素点随时间变化的亮度值序列中所有值的平均值作为单个像素点的准确亮度值。
作为本发明的进一步改进，当判断亮度异常像素点不存在驱动电路连接异常时，则调节亮度异常像素点的驱动电压或驱动电流对亮度异常像素进行亮度补偿修复。
作为本发明的进一步改进，高分辨率相机获取的图像数据为Microled或Miniled的全部区域的视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：
将Microled或Miniled划分为多个待处理区域，高分辨率相机实时获取整个显示面板的图像数据并将一个待处理区域的视频数据实时发送给处理单元，处理单元根据一个待处理区域的预设数量的多张视频帧数据获取一个待处理区域中任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定一个待处理区域内任意单个像素点的准确亮度值，利用一个待处理区域中任意单个像素点的准确亮度值判断一个待处理区域中任意单个像素点是否存在亮度异常；
当一个待处理区域的像素点异常检测或者修复完成，高分辨率相机开始发送另一个待处理区域图像数据并进行像素点的异常检测或者修复，直至所有待处理区域的像素点异常检测或者修复完成。
为实现上述目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复装置，该装置包括相机和数据处理模块，该装置包括高分辨率相机和数据处理模块，其中，
高分辨率相机用于实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；
数据处理模块用于利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
为实现上述目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当程序被处理单元执行时，使得处理单元执行上述方法的步骤。
总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
本发明的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其通过高分辨率相机实时获取非封装的Microled或Miniled的单像素级别的亮度值，进而获取单个像素点的亮度值数据，通过亮度值数据判断是否存在亮度异常，存在亮度异常时获取与单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据，以排查外围驱动电路异常干扰，从而实现单个像素点的亮度异常和驱动电路连接异常的实时检测。
本发明的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其针对单个像素点的各类异常类型，采用相应的修复方式对其进行修复，从而可以及时修复单个像素点的各类异常情况。
本发明的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其可以实现全画面的单像素级别的亮度值的获取，简单有效，并且利用分辨率高于显示面板分辨率的相机对显示面板成像，即利用相机的多个像素点对显示面板的一个像素点进行成像后获得显示面板一个像素点的亮度值，真实反映单个像素点级别亮度。
本发明的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其显示面板的显示区域划分为多个待处理区域，相机实时发送一个待处理区域的图像数据，减少相机与数据处理模块之间的传输带宽，减少图像采集和数据处理的延迟，从而解决如Microled或Miniled类对测量精度要求高的显示面板的亮度测试。
本发明的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其通过相机获取显示面板的视频数据，通过利用所述视频数据中多张视频帧数据(动态图像数据)获取显示面板单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列进行单个像素点异常判断和修复，从而提高显示面板的单个像素点异常检测的精确度，由于其采集的是显示面板的多张连续视频帧，因而不重复执行相机触发步骤，同时，图像数据会持续拍摄且持续分析亮度差异，从而实现显示面板的实时异常检测与修复。
附图说明
图1为本发明实施例的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面结合具体实施方式对本发明进一步详细说明。
图1为本发明实施例的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法的示意图。如图1所示，一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，该方法包括如下步骤：
利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；
利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；
当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据具体为，使用高分辨率相机的多个像素点显示显示面板的单个像素点的子像素。具体地，利用高分辨率相机拍摄整个显示面板显示屏图像，将显示屏图像的分辨率表示为m*n，单个像素点的尺寸为a，作为一个示例，高分辨率相机的分辨率设置为3m*3n，假设高分辨率相机的单颗像素尺寸为A，则高分辨率相机的放大倍率为：PMAG＝3m*A/(m*a)＝3A/a，获取扩展后的显示面板图像中与原始显示面板图像的单个像素点对应的多个像素点的个数为9个，取9个像素点的亮度平均值即为原始显示面板图像的单个像素点的亮度值。当然，以上亮度值的求取仅为一个示例，可依据高分辨率相机的获取方式不同进行相应的调整。利用高分辨率相机镜头的焦距与高分辨率相机的分辨率确定高分辨率相机镜头的工作距离。作为一个示例，对于常用的相机镜头工作距离来说，其相机的镜头工作距离为WD＝f*(1+1/PAMG)，其中，f为相机镜头的焦距，PAMG为相机的放大倍数，当然，以上相机镜头的工作距离的计算公式仅为一个示例，相机镜头的工作距离可依据其参数设置需求及工作需求进行相应的调整。
作为一个优选的方案，驱动电路连接异常类型包括驱动电路短路异常和驱动电路断路异常，依据获取与单个像素点对应的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路短路异常或驱动电路断路异常。
单个像素点存在驱动电路短路异常时，获取单个像素点的短路电路两端点的位置信息，利用激光切割的方式对短路电路进行实时修复，作为一个示例，对于短路导致的外围驱动电路异常的缺陷，计算机利用图像中的位置信息，控制驱动机械臂移动激光器到该电路位置，进行激光切割，利用激光聚焦产生的高温，使其熔断短路区域的线路，从而消除短路问题。
单个像素点存在驱动电路断路异常时，获取单个像素点的断路电路的位置信息，利用3D打印的方式对断路电路进行实时修复，作为一个示例，对于断路导致的外围驱动电路异常，计算机利用图像中的位置信息，控制驱动机械臂移动激光器到该电路位置，进行3D打印，利用线路的相同材料，喷涂打印在该短路区域，使其连接到两端线路，从而消除断路问题。
作为一个优选的方案，图像数据为视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：
据视频数据中预设数量的多张视频帧数据获取Microled或Miniled任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定单个像素点的准确亮度值，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常。
作为一个优选的方案，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常具体为：
将单个像素点随时间变化的亮度值序列中所有值的平均值作为单个像素点的准确亮度值。当然以上确定单个像素点的准确亮度值仅为一个示例，可以依据测试需要调整单个像素点的准确亮度值的计算方式，如确定单个像素点准确亮度值的计算模型，再依据计算模型确定单个像素点的准确亮度值。根据单个像素点的准确亮度值与周围像素点的准确亮度值的差异判断单个像素点是否亮度异常，并对单个像素点进行亮度异常修复。这里，准确亮度值为依据单个像素点随时间变化的亮度值序列获取的，其获取方式依据需要进行设置。作为一个示例，像素点异常的判断方式为，若其中某一像素点的亮度值与周围像素点亮度均值相差x％及以上，则认为像素点亮度异常。当然，上述像素点异常的判定方式仅为一个示例，由于相机的获取图像的方式存在不同，可依据不同的设置及测试需求对像素点异常的判定方式进行相应的调整。可以依据预设的调制要求对单个像素点的进行实时补偿，作为一个示例，获取单个像素点在若干个预设灰阶下对应的亮度值，以获取单个像素点的发光特性曲线；将单个像素点的发光特性曲线与预设标准曲线(依据预设的调制要求获取)比较，获得单个像素点在任一灰阶下的补偿量。
作为一个优选的方案，当判断亮度异常像素点不存在驱动电路连接异常时，则调节亮度异常像素点的驱动电压或驱动电流对亮度异常像素进行亮度补偿修复。
作为一个优选的方案，高分辨率相机获取的图像数据为Microled或Miniled的全部区域的视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：
将Microled或Miniled划分为多个待处理区域，高分辨率相机每次拍摄的为整个显示面板区域的视频帧数据，高分辨率相机实时获取整个显示面板的图像数据并将一个待处理区域的视频数据实时发送给处理单元，处理单元根据一个待处理区域的预设数量的多张视频帧数据获取一个待处理区域中任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定一个待处理区域内任意单个像素点的准确亮度值，利用一个待处理区域中任意单个像素点的准确亮度值判断一个待处理区域中任意单个像素点是否存在亮度异常；
当一个待处理区域的像素点异常检测或者修复完成，高分辨率相机开始发送另一个待处理区域图像数据并进行像素点的异常检测或者修复，直至所有待处理区域的像素点异常检测或者修复完成。
具体地，相机每次拍摄的为整个显示面板区域的视频帧数据，如若显示面板的数据量不高，并且传输带宽较大，则相机发送的为整个显示面板的视频帧数据，处理单元可以具有存储单元，用于实时接收相机发送的视频数据，处理单元每次从存储单元获取最新的预设数量的整个显示面板的视频帧数据，然后利用视频帧数据对整个显示面板中的任意单个像素点进行异常检测和修复，每一次修复完成则处理单元再次从存储单元获取最新的预设数量的整个显示面板的视频帧数据，重复执行异常检测和修复，直至整个显示面板不存在像素异常则结束。
另外，作为一个可选方案，相机每次拍摄的为整个显示面板区域的视频帧数据，通常miniled或者Microled的像素数据量比较大，而传输带宽有限，这时可以将显示面板划分为多个待处理区域，虽然相机每次获取的为整个显示面板的视频帧数据，但是每次实时发送的为某一个待处理区域的视频帧数据，处理单元可以具有存储单元，用于实时接收相机发送的某一个待处理区域的视频帧数据，存储单元可以仅存储预设数量的视频帧数据，利用新接收的视频帧数据不断去覆盖旧的视频帧数据，处理单元每次从存储单元获取最新的预设数量的某一个待处理区域的视频帧数据，然后利用某一个待处理区域的视频帧数据对该待处理区域中的任意单个像素点进行异常检测和修复，每一次修复完成则处理单元再次从存储单元获取该待处理区域的最新的预设数量的视频帧数据，重复执行该代理处区域的异常检测和修复，直至该待处理区域不存在像素异常，则对该待处理区域的处理结束，然后通知相机发送下一个待处理区域的视频帧数据，并进行同样的检测和修复，直到整个显示面板的所有待处理区域修复完成则结束。
由于拍摄的是视频数据，并实时将全部区域或者部分区域的视频数据实时发送给处理单元，处理单元不断实时接收新的视频帧数据，因此，每当一次检测或者修复完成，不需要重新触发相机去拍摄，也不需要等待接收，可以直接从存储单元获取新的预设数量的视频帧数据，因此，做到实时检测和修复，极大地节约了检测和修复时间。
作为一个优选的方案，依据亮度值序列判断单个像素点是否异常包括：获取亮度值序列中单个像素点的亮度值的最大值和最小值，利用最大值和最小值计算单个像素点的闪烁值，利用闪烁值判断该像素点是否闪烁异常，存在闪烁异常时通过调整单个像素点的驱动电信号频率实现实时修复。作为一个示例，取最亮的亮度为I1，最暗的亮度为I0，依据计算闪烁表征值的常用公式，flicker＝100％*(I1-I0)/((I1+I0)/2)，可计算flicker表征值，若flicker值大于一个百分比，则认为该像素点存在异常的闪烁现象。当然，上述闪烁表征值的计算仅为一个示例，可依据不同的测试需要调整闪烁表征值的计算方式。
一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复装置，该装置包括相机和数据处理模块，该装置包括高分辨率相机和数据处理模块，其中，
高分辨率相机用于实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；
数据处理模块用于利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
该装置的实现原理、技术效果与上述方法类似，此处不再赘述。
一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当程序被处理单元执行时，使得处理单元执行上述方法的步骤。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，所述图像数据包括所述Microled或Miniled阵列的图像数据和所述阵列的外围驱动电路图像数据，所述高分辨率相机的分辨率高于所述Microled或Miniled的分辨率；
利用所述图像数据获取所述Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据所述亮度值数据判断所述单个像素点是否存在亮度异常；
当所述单个像素点存在亮度异常时，依据与所述单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断所述单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
2.根据权利要求1所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述驱动电路连接异常类型包括驱动电路短路异常和驱动电路断路异常。
3.根据权利要求2所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测方法，其特征在于，所述单个像素点存在驱动电路短路异常时，获取所述单个像素点的短路电路两端点的位置信息，利用激光切割的方式对短路电路进行实时修复。
4.根据权利要求2所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述单个像素点存在驱动电路断路异常时，获取所述单个像素点的断路电路的位置信息，利用3D打印的方式对断路电路进行实时修复。
5.根据权利要求1所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述图像数据为视频数据，利用所述图像数据获取所述单个像素点的亮度值数据具体为：
根据所述视频数据中预设数量的多张视频帧数据获取所述Microled或Miniled任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据所述亮度值序列确定所述单个像素点的准确亮度值，利用所述单个像素点的准确亮度值判断所述单个像素点是否存在亮度异常。
6.根据权利要求5所述的一种Micro/Mini LED的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，利用所述单个像素点的准确亮度值判断所述单个像素点是否存在亮度异常具体为：
将所述单个像素点随时间变化的亮度值序列中所有值的平均值作为所述单个像素点的准确亮度值。
7.根据权利要求5所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，当判断亮度异常像素点不存在驱动电路连接异常时，则调节所述亮度异常像素点的驱动电压或驱动电流对所述亮度异常像素进行亮度补偿修复。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，高分辨率相机获取的图像数据为所述Microled或Miniled的全部区域的视频数据，利用所述图像数据获取所述单个像素点的亮度值数据具体为：
将所述Microled或Miniled划分为多个待处理区域，所述高分辨率相机实时获取整个显示面板的图像数据并将一个待处理区域的视频数据实时发送给处理单元，所述处理单元根据所述一个待处理区域的预设数量的多张视频帧数据获取所述一个待处理区域中任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据所述亮度值序列确定所述一个待处理区域内任意单个像素点的准确亮度值，利用所述一个待处理区域中任意单个像素点的准确亮度值判断所述一个待处理区域中任意单个像素点是否存在亮度异常；
当所述一个待处理区域的像素点异常检测或者修复完成，所述高分辨率相机开始发送另一个待处理区域图像数据并进行像素点的异常检测或者修复，直至所有待处理区域的像素点异常检测或者修复完成。
9.一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复装置，该装置包括相机和数据处理模块，其特征在于，该装置包括高分辨率相机和数据处理模块其中，
所述高分辨率相机用于实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，所述图像数据包括所述Microled或Miniled阵列的图像数据和所述阵列的外围驱动电路图像数据，所述高分辨率相机的分辨率高于所述Microled或Miniled的分辨率；；
所述数据处理模块用于利用所述图像数据获取所述Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据所述亮度值数据判断所述单个像素点是否存在亮度异常；当所述单个像素点存在亮度异常时，依据与所述单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断所述单个像素点是否存在驱动电路连接异常。
10.一种终端设备，其特征在于，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，所述存储单元存储有计算机程序，当所述程序被所述处理单元执行时，使得所述处理单元执行权利要求1～8任一权利要求所述方法的步骤。
CN202010251964.9A 2020-04-01 2020-04-01 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置 Active CN111524197B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010251964.9A CN111524197B (zh) 2020-04-01 2020-04-01 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010251964.9A CN111524197B (zh) 2020-04-01 2020-04-01 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111524197A true CN111524197A (zh) 2020-08-11
CN111524197B CN111524197B (zh) 2023-05-12

Family

ID=71910424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010251964.9A Active CN111524197B (zh) 2020-04-01 2020-04-01 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111524197B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111965866A (zh) * 2020-09-16 2020-11-20 惠科股份有限公司 显示面板、显示装置及显示面板的修补方法
CN112086048A (zh) * 2020-08-31 2020-12-15 苏州迈为科技股份有限公司 一种oled屏幕暴亮点修复方法及装置
CN112103214A (zh) * 2020-09-08 2020-12-18 深圳市联得自动化装备股份有限公司 发光二极管产品的检测修复系统及检测修复方法
CN112965328A (zh) * 2021-02-03 2021-06-15 麦克赛尔数字映像（中国）有限公司 一种投影机的部分光源失效时的画面自动补救方法及装置
CN114187866A (zh) * 2021-11-26 2022-03-15 江门市浩远科技有限公司 一种基于深度学习的mini-led显示控制方法及装置
CN116013189A (zh) * 2022-09-26 2023-04-25 领先光学技术(江苏)有限公司 一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺和装置

Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132819A (en) * 1990-01-17 1992-07-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Liquid-crystal display device of active matrix type having connecting means for repairing defective pixels
JPH06105310A (ja) * 1992-09-18 1994-04-15 Babcock Hitachi Kk 異常検出装置
JPH07121685A (ja) * 1993-10-26 1995-05-12 Oki Electric Ind Co Ltd 照明光量異常検出回路
JPH0821710A (ja) * 1994-07-07 1996-01-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 回路パターン検査装置
KR20050009122A (ko) * 2003-07-16 2005-01-24 현대자동차주식회사 집적회로의 불량검출장치 및 방법
JP2005164565A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 3B System Inc 低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法
US20070252146A1 (en) * 2006-05-01 2007-11-01 Mitsubishi Electric Corporation Liquid crystal display and defect repairing method for same
US20080055211A1 (en) * 2006-09-04 2008-03-06 Sanyo Electric Co., Ltd. Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
JP2009085677A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Seiko Epson Corp 表示異常検出装置、および表示異常検出方法
CN101477066A (zh) * 2009-01-09 2009-07-08 华南理工大学 基于超分辨率图像重建的电路板元件安装/焊接质量检测方法及系统
JP2010101926A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Sony Corp 画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法
CN101706458A (zh) * 2009-11-30 2010-05-12 中北大学 高分辨率印刷电路板自动检测系统及检测方法
CN103149722A (zh) * 2013-03-06 2013-06-12 深圳Tcl新技术有限公司 液晶显示处理方法、装置及液晶显示器
KR20140112221A (ko) * 2013-03-13 2014-09-23 한밭대학교 산학협력단 영상 정보를 이용한 회로의 불량 검출 방법 및 그 제어 시스템
CN104977304A (zh) * 2015-06-26 2015-10-14 清华大学 具有子像素结构的空间光调制器缺陷检测的装置及方法
US20160005383A1 (en) * 2014-07-07 2016-01-07 Lg Display Co., Ltd. Method of driving organic light emitting display apparatus
CN105676495A (zh) * 2016-04-14 2016-06-15 深圳市华星光电技术有限公司 检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法
CN105892184A (zh) * 2016-06-12 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中短路缺陷的修复方法及系统
CN106415807A (zh) * 2014-05-12 2017-02-15 科磊股份有限公司 使用高分辨率全裸片图像数据进行检验
CN109637445A (zh) * 2019-01-25 2019-04-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Oled面板像素驱动电路的补偿方法
CN109767711A (zh) * 2019-03-14 2019-05-17 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的故障检测方法、装置、系统及存储介质
CN110428762A (zh) * 2019-07-10 2019-11-08 武汉精立电子技术有限公司 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法

Patent Citations (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132819A (en) * 1990-01-17 1992-07-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Liquid-crystal display device of active matrix type having connecting means for repairing defective pixels
JPH06105310A (ja) * 1992-09-18 1994-04-15 Babcock Hitachi Kk 異常検出装置
JPH07121685A (ja) * 1993-10-26 1995-05-12 Oki Electric Ind Co Ltd 照明光量異常検出回路
JPH0821710A (ja) * 1994-07-07 1996-01-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 回路パターン検査装置
KR20050009122A (ko) * 2003-07-16 2005-01-24 현대자동차주식회사 집적회로의 불량검출장치 및 방법
JP2005164565A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 3B System Inc 低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法
US20070252146A1 (en) * 2006-05-01 2007-11-01 Mitsubishi Electric Corporation Liquid crystal display and defect repairing method for same
US20080055211A1 (en) * 2006-09-04 2008-03-06 Sanyo Electric Co., Ltd. Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
CN101183079A (zh) * 2006-09-04 2008-05-21 三洋电机株式会社 电致发光显示装置的缺陷检查方法及装置、以及制造方法
JP2009085677A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Seiko Epson Corp 表示異常検出装置、および表示異常検出方法
JP2010101926A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Sony Corp 画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法
CN101477066A (zh) * 2009-01-09 2009-07-08 华南理工大学 基于超分辨率图像重建的电路板元件安装/焊接质量检测方法及系统
CN101706458A (zh) * 2009-11-30 2010-05-12 中北大学 高分辨率印刷电路板自动检测系统及检测方法
CN103149722A (zh) * 2013-03-06 2013-06-12 深圳Tcl新技术有限公司 液晶显示处理方法、装置及液晶显示器
KR20140112221A (ko) * 2013-03-13 2014-09-23 한밭대학교 산학협력단 영상 정보를 이용한 회로의 불량 검출 방법 및 그 제어 시스템
CN106415807A (zh) * 2014-05-12 2017-02-15 科磊股份有限公司 使用高分辨率全裸片图像数据进行检验
US20160005383A1 (en) * 2014-07-07 2016-01-07 Lg Display Co., Ltd. Method of driving organic light emitting display apparatus
CN104977304A (zh) * 2015-06-26 2015-10-14 清华大学 具有子像素结构的空间光调制器缺陷检测的装置及方法
CN105676495A (zh) * 2016-04-14 2016-06-15 深圳市华星光电技术有限公司 检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法
CN105892184A (zh) * 2016-06-12 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中短路缺陷的修复方法及系统
CN109637445A (zh) * 2019-01-25 2019-04-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Oled面板像素驱动电路的补偿方法
CN109767711A (zh) * 2019-03-14 2019-05-17 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的故障检测方法、装置、系统及存储介质
CN110428762A (zh) * 2019-07-10 2019-11-08 武汉精立电子技术有限公司 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112086048A (zh) * 2020-08-31 2020-12-15 苏州迈为科技股份有限公司 一种oled屏幕暴亮点修复方法及装置
CN112103214A (zh) * 2020-09-08 2020-12-18 深圳市联得自动化装备股份有限公司 发光二极管产品的检测修复系统及检测修复方法
CN111965866A (zh) * 2020-09-16 2020-11-20 惠科股份有限公司 显示面板、显示装置及显示面板的修补方法
CN112965328A (zh) * 2021-02-03 2021-06-15 麦克赛尔数字映像（中国）有限公司 一种投影机的部分光源失效时的画面自动补救方法及装置
CN114187866A (zh) * 2021-11-26 2022-03-15 江门市浩远科技有限公司 一种基于深度学习的mini-led显示控制方法及装置
CN114187866B (zh) * 2021-11-26 2023-11-14 江门市浩远科技有限公司 一种基于深度学习的mini-led显示控制方法及装置
CN116013189A (zh) * 2022-09-26 2023-04-25 领先光学技术(江苏)有限公司 一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺和装置
CN116013189B (zh) * 2022-09-26 2023-10-17 领先光学技术(江苏)有限公司 一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正方法和装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN111524197B (zh) 2023-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111524197B (zh) 一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置
CN108682365B (zh) 一种oled色斑检测与修复一体化系统、方法
CN111487257A (zh) 一种显示面板异常像素实时检测修复方法及装置
CN203232220U (zh) 一种液晶面板检测设备
CN108594484B (zh) 面板检测与修复一体化系统
CN109979389A (zh) 伽马校正方法及装置、显示装置、计算机存储介质
CN110428762B (zh) 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法
KR20200001658A (ko) 표시 패널 검사 장치 및 그 구동 방법
US20100214418A1 (en) Universal test system for controlling a plurality of parameters concerning the operation of a device for presenting optoelectronic information of various types
CN108646445B (zh) 一种自适应背光的缺陷检测装置
KR102123488B1 (ko) 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 방법
CN104217684A (zh) Led坏点处理方法及检测方法、及led显示控制方法
CN104200775A (zh) Led坏点处理方法
CN112216243A (zh) 用于显示装置的亮度补偿方法、驱动方法及装置
KR20170047449A (ko) 표시 장치 및 이의 휘도 보정방법
CN112885289B (zh) 一种显示屏的校准方法及设备
CN108986721B (zh) 一种用于显示面板检测的检测图形生成方法
CN110018171A (zh) 基板检测装置
CN110942748A (zh) 一种基于面阵相机的面板电压压降补偿方法及装置
CN110113591A (zh) 白平衡调整系统
CN111385447A (zh) 摄像装置及其驱动方法
CN111613157A (zh) 显示面板的Mura修补测试方法、显示面板、显示装置
JP2010098364A (ja) ラインセンサを用いた動画応答特性の測定方法及び装置
CN113744704B (zh) 显示面板的亮度调节方法及装置
CN113432839B (zh) 一种微光像增强器图像质量综合测试系统及测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant