CN108594484B - 面板检测与修复一体化系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种面板检测与修复一体化系统,包括线体、移载机构、分布式设置在线体上的多个检修一体工站,以及第一工控机、第二工控机和第三工控机;该第一工控机根据移载控制指令对移载机构、该多个检修一体工站内部机构的工作任务进行调整;该第二工控机根据任务调度指令对该多个检修一体工站的工作任务进行调整;该第三工控机用于根据检测/修复指令控制该多个检修一体工站进行检测或修复动作。本发明通过在线体上分布式设置多个检修一体工站,并实时优化、调整各检修一体工站的工作参数、工作流程,及调整线体、上下料移载机构的动作,能有效保证各环节动作的配合力度,提升产线全测试流程的稳定性和时效性,以及产线的生产效率和产品良率。
Description
技术领域
本发明涉及显示面板检测技术领域,具体地指一种面板检测与修复一体化系统。
背景技术
OLED、LCD等新型显示面板具有高分辨率、高灰度以及无几何变形等优点,其制造工艺复杂,主要包括ARRAY(阵列)、CELL(面板成型)和MODULE(模组构装)三大工序,且每一个大工序中又包含十几至几十个小工序,而且随着平面显示器的尺寸越做越大,其灰度的均匀性也越来越难控制,因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷,严重影响了显示面板的良率和品质。
目前已有专门针对显示面板缺陷的检测技术,如中国专利《一种用于显示面板缺陷分类的学习方法》(公告号CN107154041A)、中国专利《基于AOI的宏观缺陷检测装置及方法》(公告号CN106770362A);也有专门针对面板显示缺陷的Mura缺陷修复技术,如中国专利《一种修复平面显示模组Mura缺陷的方法及系统》(公告号CN106097954A)、中国专利《一种消除液晶显示器Mura的方法和装置》(公告号CN103680449B)。但这些显示缺陷检测或者显示缺陷修复方案只能对单个的显示面板进行缺陷检测或者缺陷修复,没有给出适用于显产线大规模生产的缺陷检测与缺陷修复一体化的解决方案。
发明内容
针对上述现有技术的不足,本发明公开一种面板检测与修复一体化系统,通过在线体上分布式设置多个集成有色彩分析测量、Gamma调校、光学缺陷检测、Mura缺陷修复和微观缺陷判等功能模块的检修一体工站,并根据一体化系统的工作状态数据及时优化、调整各检修一体工站的工作流程或工作参数。
为实现上述技术问题,本发明提供一种面板检测与修复一体化系统,该一体化系统包括线体、对线体实施上下料动作的移载机构、分布式设置在线体上的多个检测与修复装置(即检修一体工站),以及第一工控机、第二工控机和第三工控机;该第一工控机用于根据移载控制指令对该移载机构或者该多个检测与修复装置内部机构的工作任务进行控制;该第二工控机用于根据任务调度指令对该多个检测与修复装置的工作任务进行调整;该第三工控机用于根据检测/修复指令控制该多个检测与修复装置进行检测或修复动作。
优选地,上述技术方案中该一体化系统还包括系统管理服务器,该系统管理服务器中设置有工厂通信接口;该系统管理服务器通过工厂通信接口接收工厂服务器下发的该移载控制指令、和/或任务调度指令、和/或检测/修复指令。
优选地,上述技术方案中该系统管理服务器中还设置有系统通信接口;该系统管理服务器通过系统通信接口将该移载控制指令、和/或任务调度指令、和/或检测/修复指令分别下发到第一工控机、第二工控机和第三工控机中,以及接收第一工控机、第二工控机和第三工控机的工作数据;该系统管理服务器通过工厂通信接口向工厂服务器上传该工作数据。
优选地,上述技术方案中该一体化系统还包括移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器,该移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器中均设置有系统通信接口;该移载控制服务器通过系统通信接口将该移载控制指令下发到第一工控机中,以及接收第一工控机的工作数据;该任务调度服务器通过系统通信接口将该任务调度指令下发到第二工控机中,以及接收第二工控机的工作数据;该检测/修复服务器通过系统通信接口将该检测/修复指令下发到第三工控机中,以及接收第三工控机的工作数据;该系统管理服务器通过工厂通信接口向工厂服务器上传第一工控机、第二工控机和第三工控机的工作数据。
优选地,上述技术方案中每个所述检测与修复装置均包括色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块;该第三工控机根据该检测/修复指令对该色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块的工作流程进行控制。
优选地,上述技术方案中该第三工控机根据该检测/修复指令依次启动色彩分析测量模块、Gamma调校模块、光学缺陷检测模块、Mura缺陷修复模块、微观缺陷判等模块的工作流程。
优选地,上述技术方案中第二工控机还用于根据第三工控机的工作数据生成新的任务调度指令,并根据该新的任务调度指令对该色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块的工作流程进行控制。
优选地,上述技术方案中该移载机构包括入料机构和分等包装机构;该入料机构用于将面板送入到线体上的每个检测与修复装置中;该分等包装机构用于将面板从每个检测与修复装置中移载到面板分等存放区进行分等包装。
优选地,上述技术方案中该检测与修复装置内部机构包括光学镜头自动聚焦机构和压接对位机构;该光学镜头自动聚焦机构用于调整光学镜头与面板的位置和角度;该压接对位机构端部设有用于与面板PIN针对位压接的FPC的压头。
优选地,上述技术方案中该线体中设置有多条传送线,在每两条传送线之间设置有传送切换机构,用于实现对线体上的面板运行方向的导向进行切换;每条传送线上至少设置有一个该检测与修复装置;该第一工控机还用于根据移载控制指令对该传送线、传送切换机构的工作任务进行调整。
本发明通过在线体上分布式设置多个集成有色彩分析测量、Gamma调校、光学缺陷检测、Mura缺陷修复和微观缺陷判等功能模块的检修一体工站,并根据各检修一体工站的状态数据信息及时优化、调整各检修一体工站的工作参数、工作流程,以及调整线体、上下料移载机构的动作,能有效保证各环节动作的配合力度,提升产线全测试流程的稳定性和时效性,以及产线的生产效率和产品良率。
附图说明
图1本发明实施例-面板检测与修复一体化系统结构图;
图2 本发明实施例-智能检测与修复一体化系统云架构流程图;
图3 本发明实施例-Mura缺陷修复流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
本实施例中,工厂管理员可以通过远程操作中心或者设备控制中心与工厂服务器进行信令交互,工厂服务器可以实时将收集到的本发明面板检测与修复一体化系统的运行状态信息转发给工厂管理员。工厂服务器包含了ERP、SRM、PLM、MES、CIM、Smart Date等软件, 这些软件通过工厂通信接口与本发明面板检测与修复一体化系统进行交互。一方面,工厂服务器将工厂管理员下发的生产控制指令下发给面板检测与修复一体化系统,同时面板检测与修复一体化系统会将最优化制造参数通过动态交互的界面转发给工厂服务器。
如图1所示,本实施例公开的面板检测与修复一体化系统包括用于传送待测显示面板的线体、对线体实施上下料动作的移载机构、分布式设置在线体上的多个检修一体工站,以及系统管理服务器、移载控制服务器、任务调度服务器、检测/修复服务器、第一工控机、第二工控机和第三工控机。其中,系统管理服务器、移载控制服务器、任务调度服务器、检测/修复服务器相当于是一个分布式方式部署的互联云,该互联云管理着移载控制子云(移载控制服务器)、任务调度子云(任务调度服务器)、检测/修复子云(检测/修复服务器),一方面转发三个子云的状态数据信息,同时也会对三个子云产生的状态数据信息进行大数据分析,得到最优化调度策略以及最优化生产测试参数。
如图2所示,系统管理服务器主要承担承上启下的作用:①作为指令转发服务器,通过预留的工厂通信接口(采用HTTP协议、socket网络通信接口)实时获取远程终端(如远程操作中心、工厂设备控制中心)的控制指令,实时下发给移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器,并对移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器进行资源管理和任务调度;②作为数据、指令转发服务器,实时获取并共享移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器的数据、指令,作为移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器之间的数据、指令通讯桥梁;③作为数据转发服务器,实时获取移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器的状态数据信息,并通过工厂通信接口转发给工厂服务器。
该移载控制服务器、任务调度服务器、检测/修复服务器中均设置有系统物理层通信接口(如用于传输系统交互数据和控制指令的网口,用于传输图像数据的光纤接口)。其中,移载控制服务器通过系统通信接口将移载控制指令下发到第一工控机中,以及接收第一工控机的状态数据信息等工作数据;任务调度服务器通过系统通信接口将任务调度指令下发到第二工控机中,以及接收第二工控机的状态数据信息等工作数据;检测/修复服务器通过系统通信接口将检测/修复指令下发到第三工控机中,以及接收第三工控机的状态数据信息等工作数据。
上述实施例中,该线体包括有若干上料部及与各上料部对应的若干传送线,在上料部与传送线之间还包括有传送切换机构,在每两条传送线之间也设置有传送切换机构,当传送线上的显示面板的数量达到系统设置的数量时,自动控制将其传送至下一条传送线,或者通知第一工控机停止传送显示面板。该移载机构包括入料机构和分等包装机构;入料机构用于将面板送入到线体上的上料部;该分等包装机构用于将面板从每个检修一体工站中移载到面板分等存放区进行分等包装。
上述实施例中,该检修一体工站内部机构包括光学镜头自动聚焦机构和压接对位机构;该光学镜头自动聚焦机构用于调整光学镜头与面板的位置和角度;该压接对位机构端部设有用于与面板PIN针对位压接的FPC的压头。
上述实施例中,第一工控机用于根据移载控制指令对线体、移载机构以及每一个检修一体工站内部机构的工作任务进行控制;同时将线体、移载机构以及每一个检修一体工站内部机构的工作状态进行监控,并上传到移载控制服务器;当线体、移载机构、检修一体工站的某一个机构节点处于繁忙或者故障状态时,移载控制服务器会及时做出调整,调用其它机构节点顶替,保证各机构环节以最优状态正常运行。
上述实施例中,在每一条传送线上至少设置有一个检修一体工站。其中,每个检修一体工站内部均设有色彩分析测量模块、Gamma调校模块、光学缺陷检测模块、Mura缺陷修复模块和微观缺陷判等模块,在第三工控机中设置有色彩分析测量软体、Gamma调校软体、光学缺陷检测软体、Mura缺陷修复软体和微观缺陷判等软体。第三工控机接收到检测/修复指令后,对每一块待检测的显示面板依次启动色彩分析测量流程、Gamma调校流程、光学缺陷检测流程、Mura缺陷修复流程和微观缺陷判等流程。其中,该色彩分析测量模块、Gamma调校模块、光学缺陷检测模块、Mura缺陷修复模块和微观缺陷判等模块,以及色彩分析测量软体、Gamma调校软体、光学缺陷检测软体、Mura缺陷修复软体和微观缺陷判等软体均可以采用现有技术方案实现。
上述实施例中,任务调度服务器会实时对每一个检修一体工站的的状态数据信息进行大数据分析,得到最优化调度策略以及最优化生产测试参数,并下发到第二工控机,第二工控机会根据最优化的调度策略及生产测试参数调整相应检修一体工站的工作流程。例如,当某一显示面板完成光学缺陷检测流程后,任务调度服务器就能够获得该显示面板的所有点、线、Mura缺陷,如图3所示,若该显示面板在光学缺陷检测流程中确认没有异常,则不进入Mura缺陷修复流程。另外,任务调度服务器也可以根据检修一体工站反馈的待检测显示面板的面板信息,获取历史数据中与该面板信息最接近的Gamma寄存器值数据或者Mura修复数据,并将该Gamma寄存器值数据或者Mura修复数据写入到面板中,作为该显示面板的Gamma寄存器初值或者Mura修复数据初值,使得该显示面板可以快速的完成Gamma调校流程或者Mura缺陷修复流程,从而就可以缩短显示面板的整体检测时间,提高面板的整体生产效率。
上述实施例中,各检修一体工站中的光学缺陷检测模块和Mura缺陷修复模块可以由色斑检修模块替换,该色斑检修模块包括计算单元、光学测量单元和驱动单元;
其中,光学测量单元与计算单元连接,驱动单元作用于待测显示面板,用于驱动待测面板点亮预处理画面,并用于驱动待测显示面板点亮不同灰阶的白色画面;白色画面的数量以及灰阶是根据待测显示面板的DeMura电路功能模块的要求预先设定好的;
光学测量单元用于在驱动单元的触发下拍摄获取待测显示面板在上述预处理画面下、白色画面下的像素亮度测量图片,以及区块级别的色度测量图片;计算单元用于根据上述的图片获取各像素的亮度和色度并用于根据像素的亮度和色度确定色斑种类和等级;并用于根据各个灰阶的亮度和色度数据计算出R/G/B各通道的补偿数据,并转换为待测面板的驱动芯片可接收的格式发送到待测面板的存储器譬如Flash或者Ram中;
当待测面板通电以后,由DeMura使能状态寄存器中的值决定是否开启DeMura效果使能,如果使能,Ram从Flash响应的DeMura数据存储区域下载补偿数据,并将校验和与flash数据中的校验和进行比较,如果二者完全相同,则DeMura电路功能模块开始工作,补偿效果显示出来;如果二者不一致,则DeMura电路功能模块不工作。
本实施例中的驱动单元包括图像信号发生器 (pattern generator,PG)、响应的线材和转接板;光学测量单元包括并列的亮度测量单元和色度测量单元;亮度测量单元和色度测量单元同时对待测面板所显示的图像进行拍摄;亮度测量单元拍摄获取待测面板像素的亮度测量图片,色度测量单元拍摄获取待测面板区块级别的色度测量图片。本实施例中,亮度测量单元包括高分辨率低噪声黑白CCD/CMOS相机、Y-Filter以及镜头;色度测量单元具有多种实现方式,譬如彩色相机结合镜头,或者黑白相机结合颜色滤镜轮以及镜头的组合。
本实施例的色斑检修模块进行色斑检测与修复的方法的流程如下:
(1)预处理步骤;
(1.1)驱动待测显示面板点亮初始评估画面,由亮度测量单元和色度测量单元同时对待测显示面板进行拍摄获得亮度测量图片和色度测量图片,由计算单元将亮度测量图片和色度测量图片分别转换为像素级别的亮度和色度信息;初始评估画面为1个或者多个不同灰阶的白色画面;
(1.2)根据上述的亮度和色度信息进行Mura初始判级;对于判定为良品的面板则将其送入正常处理流程的其他工序;对判定为需要进行色斑修复的待测显示面板则进入步骤(1.3)的处理;
(1.3)将坏点、坏线超过设定值的待测显示面板判定为异常品,将其流入返工工站或者人工复判工站;将坏点、坏线在设定值内的待测显示面板转入步骤(2)进行色斑补偿处理。
在本实施例的预处理步骤中,还包括采用几何定位画面、校正画面譬如DotMirror作为预处理画面进行的定位和校准处理;亮度测量单元和色度测量单元同时对待测显示面板显示的预处理画面进行拍摄,根据拍摄的画面对面板的R/G/B 子像素进行精确定位,定位需要计算单位对亮度测量单元和色度测量单元这两个单元所拍摄的画面同时进行,对亮度测量单元和色度测量单元可采用相同或不同的方法进行定位;定位方法是通用技术不做赘述。
(2)色斑补偿步骤;
驱动待测显示面板点亮不同灰阶的白色画面;待测显示面板每点亮一个白色画面,由亮度测量单元和色度测量单元同时对待测显示面板的显示画面进行拍摄,获得的亮度测量图片和色度测量图片由计算单元分别转换为每一个像素的亮度和色度数据;
其中,白色画面数量、灰阶预先依据待测显示面板的DeMura电路功能模块的要求设定;可设置为6~7个灰阶,实施例中灰阶依次设置为16、32、64、96、128、192、255。
计算单元将亮度测量图片和色度测量图片转换为每一个像素的亮度和色度的转换方式如下:这里只做举例不做限定。
当亮度测量单元采用黑白相机+Y Filter滤镜的方案时:在光圈、曝光时间、相机增益固定的条件下,相机响应与待测物体的实际亮度具有确定的一一对应关系f1。相机的多个像素对应待测显示面板的一个像素,计算单元在预处理中获取相机像素与待测显示面板像素的位置对应关系,将每一个面板像素所对应的相机像素响应值累加求平均值,将该平均值作为该面板像素的相对测量亮度Brt2,将Brt2进行f1关系映射,获得实际亮度Brt1。各个灰阶的像素亮度都可以由上述方式获得。
当亮度测量单元采用彩色相机时:在光圈、曝光时间、相机增益固定的条件下,相机响应(RGB)与待测物体的实际亮度具有确定对应关系f2。相机的多个像素对应待测显示面板的一个像素,计算单元在预处理中获取相机像素到待测显示面板像素的位置对应关系,将每一个面板像素所对应的相机像素响应值累加求平均值,获得测量值(RGB)measure。
根据已知的相机本身的(RGB )与亮度Brt的关系,获得Brtmeasure。
Brt = d*R+e*G+f*B;其中,d 、e 、f为相机的转换系数;该相机的Brtmeasure与实际亮度Brt具有确定的一一对应关系f2。将Brtmeasure进行f2关系映射,获得实际亮度Brt。
当色度测量单元采用黑白相机+颜色滤镜轮的方案时:每一张不同灰阶的白色画面,都需要用R颜色的滤镜和B颜色的滤镜分别拍摄一次,最终转化为相机各个点的CIE1931色度值(X,Y,Z)。
当色度测量单元采用彩色相机的方案时:每一张不同灰阶的白色牌面,都拍摄一次,获取到的是RGB的彩色图像,最终转化为相机各个点的CIE1931色度值(X,Y,Z)。
(3)计算单元根据各个灰阶的亮度和色度数据计算出补偿数据,并转换为待测显示面板的驱动芯片所需的格式;
根据白色画面获得的亮度和色度数据获得补偿数据的方法如下:这里只做举例不做限定。
色斑检修模块获取到不同灰阶下的白色画面的亮度与色度;以CIE1931标准为例,亮度测量子模块获取到了不同灰阶下各像素的亮度数据组成的亮度矩阵LvMatrix,色度测量子模块获取到了不同灰阶下各Block色坐标组成的色坐标矩阵(xMatix,yMatix)。
面板上每一个点的输入[R,G,B]决定了人眼的视觉效果[Lv,x,y],Lv与x与y三者是相关不独立的。首先将(Lv,x,y)坐标转换为(X,Y,Z);Y=Lv
X=(Y/y)*x
Z=(Y/y)*(1-x-y)
(R,G,B)与(X,Y,Z)近似为线性转换关系,即
已知各个(≥3个)白色灰阶画面的输入值[R,G,B]n,并且已经测量获取得到了这几个灰阶下的[X,Y,Z]n,由此可以获得系数矩阵[a,b,c;d,e,f;g,h,i]的具体值。在进行补偿时,目标亮度和色度[X,Y,Z]dest根据面板的实际规格参数或者具体获得,则
由目标输入值减去原始输入值,即获得补偿值[ΔR, ΔG, ΔG]
实际使用时, [R,G,B]与[X,Y,Z]在整个灰阶区间段可能不满足线性关系,但是分段近似为线性关系,因此可采用分段线性近似可获得更好的补偿效果,譬如以0~16、16~64、64~128、128~255进行分段。
(4)将格式转换后的数据发送到待测显示面板的存储器譬如Flash或者Ram中;写入方式包括MIPI通道写入和外置SPI通道写入,目前为通用技术本处不做赘述。
(5)待测显示面板通电以后使能色斑修复功能调用上述存储的数据进行色斑修复;并拍摄评估画面,评估Mura等级;
评估画面可采用1个或者多个不同灰阶的白色画面,由亮度测量单元和色度测量单元同时对面板进行拍摄,由计算单元将拍摄得到的画面转换为像素级别的亮度和色度信息;然后根据该亮度和色度信息进行Mura评估判级,评估达标则判级为良品,将其送入正常处理流程的其他工序;对于评估不达标的面板,若其坏点、坏线超过设定值则判定为异常品,将其流入返工工站或者人工复判工站;若坏点、坏线在设定值内则将其转入步骤(2)再次进行色斑补偿处理。
上述实施例提供的色斑检修模块由于不需要对R\G\B三个颜色不同的灰阶单独拍摄提取亮度进行补偿,而仅仅需要对白色画面进行处理,因此可极大缩短测试周期,提高测试效率;并由于测量亮度就是在白色画面进行的,测量时已经有了白色画面的电流限制,因而补偿数据可以消除电流限制的影响,使白色画面相对于其他补偿方法亮度更均匀,可补偿色偏Mura。
本领域的技术人员容易理解,本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术,以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该一体化系统包括线体、对线体实施上下料动作的移载机构、分布式设置在线体上的多个检测与修复装置,以及第一工控机、第二工控机和第三工控机;
该第一工控机用于根据移载控制指令对该移载机构或者该多个检测与修复装置内部机构的工作任务进行控制;
该第二工控机用于根据任务调度指令对该多个检测与修复装置的工作任务进行调整;
该第三工控机用于根据检测/修复指令控制该多个检测与修复装置进行检测或修复动作;
还包括系统管理服务器,该系统管理服务器中设置有工厂通信接口;
该系统管理服务器通过工厂通信接口接收工厂服务器下发的该移载控制指令、和/或任务调度指令、和/或检测/修复指令;
该一体化系统还包括移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器,该移载控制服务器、任务调度服务器和检测/修复服务器中均设置有系统通信接口;
该移载控制服务器通过系统通信接口将该移载控制指令下发到第一工控机中,以及接收第一工控机的工作数据;
该任务调度服务器通过系统通信接口将该任务调度指令下发到第二工控机中,以及接收第二工控机的工作数据;
该检测/修复服务器通过系统通信接口将该检测/修复指令下发到第三工控机中,以及接收第三工控机的工作数据;
该系统管理服务器通过工厂通信接口将第一工控机、第二工控机和第三工控机的工作数据转发到工厂服务器中。
2.根据权利要求1所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该系统管理服务器中还设置有系统通信接口;
该系统管理服务器通过系统通信接口将该移载控制指令、和/或任务调度指令、和/或检测/修复指令分别下发到第一工控机、第二工控机和第三工控机中,以及接收第一工控机、第二工控机和第三工控机的工作数据;
该系统管理服务器通过工厂通信接口向工厂服务器上传该工作数据。
3.根据权利要求1所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,每个所述检测与修复装置均包括色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块;
该第三工控机根据该检测/修复指令对该色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块的动作进行控制。
4.根据权利要求3所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该第三工控机根据该检测/修复指令依次启动色彩分析测量模块、Gamma调校模块、光学缺陷检测模块、Mura缺陷修复模块、微观缺陷判等模块的工作流程。
5.根据权利要求3所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,第二工控机还用于根据第三工控机的工作数据生成新的任务调度指令,并根据该新的任务调度指令对该色彩分析测量模块、和/或Gamma调校模块、和/或光学缺陷检测模块、和/或Mura缺陷修复模块、和/或微观缺陷判等模块的动作进行控制。
6.根据权利要求1所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该移载机构包括入料机构和分等包装机构;该入料机构用于将面板送入到线体上的每个检测与修复装置中;该分等包装机构用于将面板从每个检测与修复装置中移载到面板分等存放区进行分等包装。
7.根据权利要求1所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该检测与修复装置内部机构包括光学镜头自动聚焦机构和压接对位机构;该光学镜头自动聚焦机构用于调整光学镜头与面板的位置和角度;该压接对位机构端部设有用于与面板PIN针对位压接的FPC的压头。
8.根据权利要求1所述的面板检测与修复一体化系统,其特征在于,该线体中设置有多条传送线,在每两条传送线之间设置有传送切换机构,用于实现对线体上的面板运行方向的导向进行切换;每条传送线上至少设置有一个该检测与修复装置;
该第一工控机还用于根据移载控制指令对该传送线、传送切换机构的工作任务进行调整。
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CN111105760A (zh) * | 2018-10-26 | 2020-05-05 | 陕西坤同半导体科技有限公司 | 显示设备的Mura补偿方法、系统以及显示设备 |
CN109493767A (zh) * | 2018-10-30 | 2019-03-19 | 合肥市商巨智能装备有限公司 | Mura缺陷补偿设备及方法 |
CN109445334A (zh) * | 2018-10-30 | 2019-03-08 | 合肥市商巨智能装备有限公司 | DeMura设备控制系统 |
CN109686157B (zh) * | 2018-12-10 | 2021-04-30 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种兼具复判与考试功能的面板复检系统 |
CN110534045B (zh) * | 2019-08-20 | 2022-11-29 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种高效的Demura流程运行方法及系统 |
CN111750929A (zh) * | 2020-06-17 | 2020-10-09 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种面板自动化检测产线及方法 |
CN111707925B (zh) * | 2020-06-22 | 2022-03-08 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种显示面板的检测方法和demura集成方法 |
CN111707926B (zh) * | 2020-06-22 | 2022-03-08 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种待集成产品的检测方法和集成方法 |
CN113035099A (zh) * | 2021-03-18 | 2021-06-25 | 深圳市联测光电科技有限公司 | 液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与de-mura设备 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104570411A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-04-29 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 多工位点灯aoi系统 |
CN106444105A (zh) * | 2016-10-18 | 2017-02-22 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种液晶屏缺陷检测的方法、装置及系统 |
CN106531040A (zh) * | 2016-12-27 | 2017-03-22 | 上海小乖智能科技有限公司 | 一种显示器智能检测系统 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5235272A (en) * | 1991-06-17 | 1993-08-10 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for automatically inspecting and repairing an active matrix LCD panel |
CN1937871A (zh) * | 2005-09-22 | 2007-03-28 | 铼宝科技股份有限公司 | 检测修复系统及检测修复方法 |
CN104698620A (zh) * | 2013-12-06 | 2015-06-10 | 大连龙宁科技有限公司 | 基于计算机远程控制的lcd透过率测试系统 |
CN105242423B (zh) * | 2015-11-11 | 2018-10-19 | 武汉华星光电技术有限公司 | Tft-lcd彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统 |
CN107144992B (zh) * | 2017-06-23 | 2020-07-10 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 基于aoi技术的全自动化lcd检测控制系统及方法 |
CN107389689B (zh) * | 2017-07-26 | 2020-05-22 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种用于缺陷检测的aoi管理系统及管理方法 |
-
2018
- 2018-04-19 CN CN201810351311.0A patent/CN108594484B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104570411A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-04-29 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 多工位点灯aoi系统 |
CN106444105A (zh) * | 2016-10-18 | 2017-02-22 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种液晶屏缺陷检测的方法、装置及系统 |
CN106531040A (zh) * | 2016-12-27 | 2017-03-22 | 上海小乖智能科技有限公司 | 一种显示器智能检测系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108594484A (zh) | 2018-09-28 |
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