CN113035099A - 液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与de-mura设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查(CT1)后直接对面板的色斑缺陷进行判断与获取修补值，包括如下步骤；在一次点灯检查(CT1)增加图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做色斑缺陷修复(De‑mura)，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理，并获得修补值；之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检(CT2)。该方法将De‑mura移至一次点灯检查站点进行处理，改善电路PCBA板利用测试点扎针做De‑mura良率低的问题。同时，通过确定面板是否要做De‑mura，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理；可区分出正常面板用量产物料与低规面板用低成本物料，大大降低了物料成本，可节省的有偏光片、驱动芯片和电路板。

Description

液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA 设备

技术领域

本发明涉及液晶显示器技术领域，更具体的涉及一种液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA设备。

背景技术

近年来，随着国内液晶面板线体升级，液晶面板的出货尺寸越来越大，解析度越来越高，但因面板制程复杂，生产速度不断提高，面板均一性也越来越差，良率也不断降低。De-mura自动调试系统通过工业相机进行灰阶画面采样，演算法计算，得出补偿数据，用于De-mura IP，改善面板的均一性。

目前，现有的De-mura制程都在PCBA贴合后进行De-mura(即进行COF和XB贴合后)，其具体工艺流程参见图1所示。

现有的De-mura制程中，没有先对面板做是否色斑消除的判断，造成自身品质好的无需做色斑消除，占用色斑消除产能，无形中增加了面板工艺成本。若产线是使用自动扎针对PCBA测试点进行供电和驱动信号，由于PCBA板宽度窄，不容易固定，且PCBA板上铜会氧化，接触不良，扎针block经常跑偏，导致画面显示不良，影像截取有误，导致demura失败，PCBA板测试点扎针良率低，影响产能。

除此之外，现有的色斑消除自动化流程，没有对面板提前进行分类，低规品(色斑较多)的面板使用量产的物料或高等级物料(例如偏光片、驱动芯片等)，使得低规品的成本较高，公司去化低规品时，会有较大的利润损失。而品质好无需做色斑消除的高规品，依然进行色斑消除判断/处理，占用了色斑消除产能，增加面板工艺成本。

发明内容

本发明实施例提供一种液晶面板的色斑修复方法及应用于该方法中的系统测试架构和De-mura设备，用以解决上述背景技术中提出的问题。

本发明的第一个目的是提供一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查CT1后直接对面板的色斑缺陷进行判断与修复，包括如下步骤；

在一次点灯检查CT1利用图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，并针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；

所述图像采集单元包含影像截取器件CCD，用于采集点亮后面板的图像；

之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检CT2。

优选地，该液晶面板的色斑修复方法，还包括偏光片贴附、COF贴合工艺和PCBA贴合工艺；

所述偏光片贴附工艺将偏光片贴附于通过一次点灯检查CT1的面板玻璃上；

所述COF贴合工艺将COF贴合于通过二次点灯复检CT2的面板玻璃上；

所述PCBA贴合工艺位于通过COF贴合工艺后，将COF与PCBA进行贴合；

在上述过程中通过一次点灯检查CT1后De-mura的判断结果，对面板进行区分，De-mura正常面板使用量产物料，包含偏光片、COF、PCBA，低规面板则使用低成本物料；

之后，在出货前的工站，将De-mura数据进行烧录，并做快速判定De-mura效果。

本发明的第二个目的是提供一种应用于上述方法中的系统测试架构，包括面板主体架构、以及作用于所述面板主体架构的CT1 De-mura驱动系统；

所述CT1 De-mura驱动系统包含扎针单元，所述扎针单元由TestPadA单元、X1组TestPadB单元与若干资料信号线组成，其中，X1为整数，大于等于1；

所述TestPadA单元由时钟移位暂存器电路驱动提供并连接，所述Test Pad A单元与面板的扫瞄线电路连接，用于传送面板显示所需的扫瞄线信号；

所述TestPadB单元由数据驱动芯片电路DriverIC提供并连接，所述Test PadB单元与面板的资料线电路连接，用于传送面板显示所需的资料线信号；

若干所述资料信号线用于传递所述扫瞄线信号和所述资料线信号，以进行面板显示。

优选地，所述时钟移位暂存器电路和数据驱动芯片电路由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号予时钟移位暂存器电路，由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号和影像信号予数据驱动芯片电路Driver IC，所述数据驱动芯片电路送出资料线信号，所述时钟移位暂存器电路送出扫瞄线信号。

优选地，所述面板主体架构上的设计，对应每组TestPadB单元，包含X2个独立的资料Pad,其中X2为整数,大于等于4；

每个独立的资料Pad都由B个数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器来连接驱动，其中B＝A*(1±20％)，B与A皆为整数，A代表每个资料Pad对应的资料线数目，B代表运算放大器驱动的数量。

更优选地，每个独立的资料Pad对应的资料线数目为A，需小于单一资料Pad的耐流值Ipad除以电压变化的Ipeak值；

所述耐流值Ipad为资料Pad、扎针单元或两者之间的接触点所能承受的最大电流值，也就是产生的温度不会让这三个部位发生形变或变质；

所述电压变化的Ipeak值为所设计的面板驱动单一资料线电压瞬态变化最大时产生的最高峰电流，例如单一资料线的阻抗为需要从电压0伏特在3毫秒内要升到15伏特，此时最高峰电流为1.8mA左右。

优选地，该系统测试架构还包括CT2点灯检测电路，所述CT2点灯检测电路与所述CT1 De-mura驱动电路独立设置；

所述CT2点灯检测电路由面板主体架构上设置的开关控制单元，以及所述TestPadA单元和所述若干资料信号线组成；

CT2图形产生器的中央控制单元送出的点灯控制信号通过所述TestPadA单元传送至扫描线电路，产生扫描线信号，以进行面板显示；

所述开关控制单元(业界习惯用语为QUICK设计)通过开关控制线与所述TestPadA单元连接，所述CT2图形产生器的中央控制单元送出的开关信号通过所述TestPadA单元驱动所述开关控制单元打开或关闭。

更优选地，所述CT2图形产生器的中央控制单元送出的点灯控制信号通过所述TestPadA单元将扫瞄线触发信号传送至面板的GOA电路区，GOA电路产生扫描线信号，以进行面板显示。

本发明的第三个目的是提供一种基于上述系统测试架构的定位图形，所述定位图形利用TestPAD B单元产生，所述定位图形以低灰阶为背景图形，搭配Ym×Yn个面积为M×N画素的高灰阶方块图形所构成，方块图形均匀的显示在面板可视区，其中Ym、Yn数量皆大于等于10，且M、N尺寸皆小于等于50画素；所述低灰阶和所述高灰阶相差在32灰阶以上；所述画素为面板显示的最小单元，由R、G、B三个子画素组成。

优选地，所述低灰阶背景图形与所述高灰阶方块图形皆由TestPadB单元驱动，且低灰阶与高灰阶区域由各自独立的资料Pad组所驱动，一个TestPadB单元针对低灰阶区有至少1个资料Pad组，一个TestPadB单元针对高灰阶区有至少1个资料Pad组；

无论低灰阶或高灰阶区域，其资料线与相邻的资料线皆由不同的资料Pad驱动；

所述资料PAD组包含至少1个以上的资料PAD。

优选地，所述TestPadB单元包含的资料pad组，分为低灰阶区奇数与偶数资料Pad组，以及高灰阶区奇数与偶数资料Pad组，共有4种资料Pad类型，其中每个资料Pad对应的资料线数目皆为A。

或者，所述TestPadB单元所包含的资料pad组，分为低灰阶区R、G、B三种画素的奇数与偶数资料Pad，以及高灰阶区R、G、B三种画素的奇数与偶数资料Pad，共有12种资料Pad类型，其中每个资料Pad对应的资料线数目皆为A。

本发明的第四个目的是提供一种基于上述液晶系统测试驱动架构的DE-MURA设备，其包括中央控制单元、图形产生器、图像采集单元、探针单元和面板载台；

所述面板载台用于承载待测面板；所述图形产生器用于产生包括资料线信号、扫瞄线信号、点灯控制信号和开关信号在内的触发信号；所述探针单元用于与所述面板上的Test PadA单元和/或TestPadB进行对位并扎针连接；所述图像采集单元用于采集点亮后面板的图像，并将采集到的图像上传给中央控制单元进行De-mura判断与处理；所述中央控制单元用于控制载台的机械操作；还用于发送指令给图形产生器以进行面板CT1 De-mura画面显示或CT2点灯检测；还用于发送指令给图像采集单元以采集点亮后面板的图像。

优选地，该DE-MURA设备还包括设置于所述面板载台上或下第一偏光片和面板载台下的背光单元；所述背光单元与所述中央控制单元信号连接，所述背光单元用于提供并控制载台背光；所述第一偏光片设置于所述背光单元与面板载台之间；

所述图像采集单元位于远离所述面板载台的另一侧，且所述图像采集单元包括CCD，所述CCD上设置有第二偏光片。

更优选地，所述图像采集单元包含机构自动或非自动调整系统，所述系统能够使CCD前的第二偏光片调整至与面板载台上或下的第一偏光片保持三维结构上的平行，以及CCD侧的第二偏光吸收轴方向与面板载台上或下下的第一偏光片吸收轴正交。

与现有技术相比，本发明的有益效果如下：

本发明提供的液晶面板的色斑修复方法中，将De-mura移至一次点灯检查站点(CT1)进行处理，改善电路PCBA板利用测试点扎针做De-mura良率低的问题。同时，通过确定面板是否要做De-mura，针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；可区分出正常面板用量产物料与低规面板用物料，其中，正常面板用量产物料无需做De-mura，极大提高De-mura产能，而低规面板使用低成本优势的物料，降低公司的物料成本。

基于以上构思，本发明提供的系统测试架构，包括面板主体架构、以及设置于面板主体架构上的CT1 De-mura驱动系统；CT1 De-mura驱动系统中的扎针单元Test Pad B单元与面板的资料线电路连接，用于传送面板显示所需的资料线信号；测试架构上共有X1组Test Pad B单元,每个Test Pad B包含X2个独立的资料Pad，其中X1大于等于1,X2大于等于4,且皆为整数；每个资料Pad对应面板的资料线数目为A，每个独立的资料Pad都由B个数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器驱动连接，其中B＝A*(1±20％)，B与A皆为整数，使得CT1 De-mura处理效果与现有技术中PCBA点灯De-mura效果一致。由于在CT1 De-mura测试驱动电路的基础上，还独立设置有CT2点灯检测电路，做完CT1 De-mura后的面板，在面板上仍保留点灯线路，可做CT2复检。

附图说明

图1为液晶面板现有的De-mura制程；

图2为本发明实施例提供的一种液晶面板的色斑修复工艺方法；

图3为本发明实施例提供的一种液晶面板的色斑修复的完整工艺流程；

图4为本发明实施例提供的设置于面板上的CT1-De-mura驱动电路示意图；

图5为本发明实施例提供的资料Pad与数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器和面板的数据线的对应关系；

图6为本发明实施例提供的CT1-De-mura驱动电路的使用过程示意图；

图7为本发明实施例提供的设置于面板上的CT2点灯检测电路示意图；

图8为本发明实施例提供的设置有CT1-De-mura驱动电路和CT2点灯检测电路的系统测试架构示意图；

图9为本发明实施例提供De-Mura定位图形设计，包含奇数偶数PAD示意。

图10为本发明实施例提供De-Mura定位图形设计，包含RGB乘以奇数偶数PAD示意；

图11为图10的局部示意图；

图12为本发明实施例提供的De-Mura设备示意图；

图13为本发明实施例提供的面板进行De-mura判断以及处理流程图；

图14为本发明实施例提供的De-mura设备结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为克服现有De-mura流程的缺点，本发明提出一种新液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查CT1后直接对面板的色斑缺陷进行判断与修复，该方法包括如下步骤；

在一次点灯检查CT1利用图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，并针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；

所述图像采集单元包含影像截取器件CCD，用于采集点亮后面板的图像；

之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检CT2。

该方法中所使用的CCD是电荷耦合器件(charge coupled device)的简称，它能够将光线变为电荷并将电荷存储及转移，以判断面板的亮度均匀状况。

将该方法嵌入到完整的De-mura流程中，具体如图2和图3所示，主要包括前段工艺、一次点灯检查及色斑消除工艺CT1-De-mura、偏光片贴附工艺、二次点灯复检CT2和后续工艺。

具体如图3所示，前段工艺主要包括面板光配向、切割、磨边、清洗等工艺，具体与现有技术中的具体工艺相同，在这就不具体详述。前段工艺完成后进行CT1-De-mura，通过点亮面板，通过采集面板图像判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，如果存在色斑，需要做De-mura的面板则进行De-mura处理以消除色斑。通过该步骤不仅改善PCBA板测试点扎针良率低的问题，还能够区分出正常面板用量产物料与低规面板用物料，正常面板用量产物料无需做De-mura，极大提高De-mura产能，而低规面板使用低成本优势的物料，降低公司的物料成本。之后对面板进行边缘检查、清洗等处理步骤，进行偏光片贴附工艺，完成偏光片贴附之后再进行二次点灯检查工艺，对面板进行复检。后续工艺包括还包括COF贴合工艺、PCBA贴合工艺和数据烧录工艺等；COF贴合工艺将COF贴合于通过二次点灯复检CT2的面板玻璃上；PCBA贴合工艺，位于通过COF贴合后，将COF与PCBA进行贴合，在此过程中，通过一次点灯检查CT1后De-mura的判断结果，对面板进行区分，De-mura正常面板使用量产物料，包含偏光片、COF、PCBA，低规面板则使用低成本物料。之后，在出货前的工站，将De-mura数据进行烧录，并做快速判定De-mura效果。

为使得上述方法中CT1 De-mura点灯效果与现有技术中PCBA点灯效果一致，本发明同时也提出一种新的系统测试架构，具体如图4和图6所示，其包括面板主体架构、以及设置于面板主体架构外的CT1 De-mura驱动系统；

其中，面板主体架构含盖多种常见的架构，如Normal Gate，Dual Gate，Tri-Gate等已经成熟的面板架构，在此不多加赘述。

所述CT1 De-mura驱动系统包含扎针单元，所述扎针单元由TestPadA单元、X1组TestPadB单元与若干资料信号线组成，其中，X1为整数，大于等于1；所述TestPadA单元由时钟移位暂存器电路驱动提供并连接，所述Test Pad A单元与面板的扫瞄线电路连接，用于传送面板显示所需的扫瞄线信号；所述TestPad B单元由数据驱动芯片电路Driver IC提供并连接，所述Test Pad B单元与面板的资料线电路连接，用于传送面板显示所需的资料线信号；若干所述资料信号线用于传递所述扫瞄线信号和所述资料线信号，以进行面板显示。

在这里需要具体说明的是，时钟移位暂存器电路和数据驱动芯片电路由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号予时钟移位暂存器电路，由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号和影像信号予数据驱动芯片电路DriverIC，所述数据驱动芯片电路送出资料线信号，时钟移位暂存器电路送出扫瞄线信号。

需要进一步说明的是，所述面板主体架构上的设计，对应每组TestPad B单元，包含X2个独立的资料Pad,其中X2为整数,大于等于4；

每个独立的资料Pad都由B个数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器来连接驱动，如图5所示，其中B＝A*(1±20％)，B与A皆为整数，A代表每个资料Pad对应的资料线数目，B代表运算放大器驱动的数量。B值计算依照无条件进位方式取成整数，通过OP数量和资料线数目的匹配，使得CT1De-mura点灯效果可与PCBA点灯效果一致。

需要进一步说明的是，每个独立的资料Pad对应的资料线数目A<Ipad/Ipeak；所述耐流值Ipad为资料Pad、扎针单元或两者之间的接触点所能承受的最大电流值，也就是产生的温度不会让这三个部位发生形变或变质；所述电压变化Ipeak为所设计的面板驱动单一资料线电压瞬态变化最大时产生的最高峰电流。

以50寸4K 60Hz的面板为例，需满足电压从10％到90％变化时间，一般为一条数据线RC的3倍，此时产生的Ipeak约在1～2mA，资料Pad和扎针的最大耐流一般为0.8～1.2A，以此推算A为400～1200最佳。

以图4和图5为例，一共有4组Test PadB，每组Test Pad B包含了16个独立的资料Pad，若以分辨率为1280x720的面板为例，1280为面板资料线数目，720为扫瞄线数目，资料Pad共有64个，则A为1280/64＝20个，而B的范围则在16-24间。

当然，每个资料Pad也可由一个Driver IC上的独立OP(OperationAmplifier)推动，亦即B＝1。同样能够保证CT1 De-mura点灯效果可与PCBA点灯效果一致。

当进行CT1 De-mura时，由色斑消除图形产生器PG的TCON单元送出触发信号给Driver IC以及Level Shift电路，而后Driver IC送出资料线信号，透过探针单元B与面板的TestPadB接触，将资料线信号送至面板内进行画面的显示；Level Shift送出扫瞄线触发信号，透过探针单元A与面板的Test PadA接触，将扫瞄线触发信号传送至面板的GOA电路区，而后GOA电路产生扫描线信号，以进行面板显示和De-mura处理。当完成色斑消除处理后，使用信号切断单元(Laser Head)将上述位置资料线信号切断(此动作可CT2后再做，亦可行)。

在此举个不用CT1点灯的方式进行CT2点灯检查(图7中所示)，在上述CT1 De-mura驱动系统的基础上，还设计有CT2点灯检测电路，如图7下方的设计，习知技术名称为Quick设计，做完CT1 De-mura后的面板，在面板上仍保留点灯线路，可做二次点灯复检CT2。具体如图7所示，CT2点灯检测电路与所述CT1 De-mura驱动电路独立设置；CT2点灯检测电路由面板主体架构上设置的开关控制单元，以及Test PadA单元和所述若干资料信号线组成；CT2图形产生器PG的中央控制单元送出的点灯控制信号通过Test PadA单元传送至扫描线电路，产生扫描线信号，以进行面板显示；开关控制单元通过开关控制线与所述TestPadA单元连接，所述CT2图形产生器的中央控制单元送出的开关信号通过所述TestPadA单元驱动开关控制单元打开或关闭。

当进行CT2点灯时，De-mura确定线路是已经被切断的(图7中所示)，CT2图形产生器(CT2 PG)的中央控制单元送出点灯控制信号，透过探针单元A与面板的Test PadA接触，扫瞄线触发信号传送至面板的GOA电路区，而后GOA电路产生扫描线信号，以进行面板显示；开关控制线提供开关信号将控制单元打开，而后资料线信号透过开关控制单元将资料线信号传送至面板内进行显示，从而进行二次点灯复检CT2。

基于上述液晶系统测试架构，本发明还提供一种DE-MURA设备使用的定位图形设计，如图9所示，图形以低灰阶为背景图形，搭配Ym×Yn个面积为M×N画素的高灰阶方块图形所构成，而方块图均匀的显示在面板可视区，其中Ym、Yn数目皆大于等于10；而M、N尺寸皆小于等于50画素。所述低灰阶和高灰阶，此处要求相差在32灰阶以上；所述画素为面板显示的最小单元，由R、G、B三个子画素组成。通过该定位图形设计可将CCD截取下来的图片，精准定位到每个面板画素的坐标，从而确认修补后的补偿值。

需要说明的是，低灰阶背景图形与高灰阶方块图形皆由TestPadB单元驱动，且低灰阶与高灰阶区域各自具有独立的资料Pad，且低灰阶与高灰阶区域由各自独立的资料Pad所驱动，而无论是低灰阶或高灰阶区域，其资料线与相邻的资料线皆由不同的资料Pad驱动。

如图9所示，对于各种面板主体架构，Test Pad B单元所包含的资料pad可以依照灰阶的高低以及奇偶资料线共分为4种类型，分别为低灰阶奇数(LDo)、低灰阶偶数(LDe)、高灰阶奇数(HDo)、高灰阶偶数(HDe)等4种类型的资料Pad，其中每个资料Pad对应的资料线数目皆为A。

如图9-11所示，对于各种面板主体架构，TestPadB单元所包含的资料pad也可以依照灰阶的高低，三种基本RGB子画素，以及奇偶资料线共分为12种类型，分别为低灰阶奇数R(LRo)、低灰阶偶数R(LRe)、低灰阶奇数G(LGo)、低灰阶偶数G(LGe)、低灰阶奇数B(LBo)、低灰阶偶数B(LBe)、高灰阶奇数R(HRo)、高灰阶偶数R(HRe)、高灰阶奇数G(HGo)、高灰阶偶数G(HGe)、高灰阶奇数B(HBo)、高灰阶偶数B(HBe)等12种类型的资料Pad，其中每个资料Pad对应的资料线数目皆为A。

通过上述两种方案中对资料线进行区分保证点亮定位图形，从而判断照片的画素点对应到真实面板的画素点坐标，确认修补后的补偿值。

基于上述系统测试架构，本发明还提供了一种DE-MURA设备，如图12所示，包括中央控制单元(图示中为PC主机)、图形产生器PG、图像采集单元、信号切断单元(图示中为LaserHead)、探针单元和面板载台；

面板载台用于承载待测面板；图形产生器PG用于产生包括资料线信号、扫瞄线信号、点灯控制信号和开关信号在内的触发信号，图形产生器PG具体包括独立设置的De-muraPG(图6中所示)和CT2 PG(图7中所示)，分别对应于CT1 De-mura和CT2，当然也可以仅是De-mura PG，也可以实现CT2所需信号的产生；探针单元用于与所述面板上的TestPadA单元和/或Test Pad B进行对位并扎针连接；中央控制单元用于控制载台搭载面板；还用于发送指令给图形产生器PG以进行面板CT1 De-mura画面显示或CT2点灯检测；还用于发送指令给图像采集单元以采集点亮后面板的图像；还用于控制信号切断单元进行资料线的切断；图像采集单元用于采集点亮后面板的图像，并将采集到的图像上传给中央控制单元进行De-mura判断与处理；图像采集单元可以是工业相机，液晶面板与工业相机镜头之间的距离保证镜头的成像视场完全覆盖液晶面板显示区域。当CT1 De-mura完成后，信号切断单元用于切断对应的De-mura资料线。

需要进一步说明的是，具体如图14所示，该装置还包括设置于面板载台下的背光单元和第一偏光片；背光单元与中央控制单元信号连接，背光单元用于提供并控制载台背光；第一偏光片设置于背光单元与面板载台之间；图像采集单元位于远离面板载台的另一侧，且所述图像采集单元包括CCD，所述CCD上设置有第二偏光片，其中包含机构自动或非自动调整系统，可使CCD前的第二偏光片调整至与CT1面板载台下的第一偏光片保持三维结构上的平行，以及CCD侧的第二偏光吸收轴方向与面板载台下的第一偏光片吸收轴正交。其中，第一和第二偏光片达到三维度平行和吸收轴正交，是为了和未来CT1测试以后，和直接贴上偏光片的状态一致(CT1以后的面板两侧贴上偏光片，这两片不仅三维平行，且各自吸收轴是正交的，此时影像亮度对比最佳，这样可以让面板在贴上偏光片之前和之后，所有的光学特性和影像视觉达到高度一致，所计算出来的补偿值才会精确一致。

具体如图13所示，其工作原理如下：当待测面板上片至载台后，探针单元自动进行对位并与扎针至系统测试点(TestPadA/B)，而后中央控制单元(图示中PC端)送出触发信号给图形产生器PG通过形成于面板上的CT1 De-mura驱动电路以进行CT1点灯和De-mura判断与处理，面板在背光和面板载台和两侧偏光片的作用下成像，使用图像采集单元(图示中Camera)进行图像采集，并将采集到的图像资料传输至中央控制单元，中央控制单元对其进行De-mura判断与处理，当判断待测面板没有色斑问题，中央控制单元控制面板载台卸载待测面板，进行后续操作；中央控制单元当判断待测面板存在色斑问题时，则通过设定程序对该面板进行De-mura处理，当补偿值获取完毕后，进行后续操作。

上述DE-MURA设备还可以用来对上述面板进行二次点灯复检，具体当资料信号切断后，通过中央控制单元送出触发信号给图形产生器PG通过形成于面板上的CT2点灯检测电路对面板进行复检(需在面板预留其它点灯方法，例如QUICK设计)。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施例，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围，但是，本发明实施例并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围内。

Claims (16)

1.一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查CT1后直接对面板的色斑缺陷进行判断与修复，其特征在于，包括如下步骤；

在一次点灯检查CT1利用图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，并针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；

所述图像采集单元包含影像截取器件CCD，用于采集点亮后面板的图像；

之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检CT2。

2.根据权利要求1所述的液晶面板的色斑修复方法，其特征在于，还包括偏光片贴附、COF贴合工艺和PCBA贴合工艺；

所述偏光片贴附工艺将偏光片贴附于通过一次点灯检查CT1的面板玻璃上；

所述COF贴合工艺将COF贴合于通过二次点灯复检CT2的面板玻璃上；

所述PCBA贴合工艺位于通过COF贴合工艺后，将COF与PCBA进行贴合；

在上述过程中通过一次点灯检查CT1后De-mura的判断结果，对面板进行区分，De-mura正常面板使用量产物料，包含偏光片、COF、PCBA，低规面板则使用低成本物料；

之后，在出货前的工站，将De-mura数据进行烧录，并做快速判定De-mura效果。

3.一种应用于权利要求1所述方法中的系统测试架构，其特征在于，包括面板主体架构、以及作用于所述面板主体架构的CT1 De-mura驱动系统；

所述CT1 De-mura驱动系统包含扎针单元，所述扎针单元由TestPadA单元、X1组TestPadB单元与若干资料信号线组成，其中，X1为整数，大于等于1；

所述TestPadA单元由时钟移位暂存器电路驱动提供并连接，所述Test Pad A单元与面板的扫瞄线电路连接，用于传送面板显示所需的扫瞄线信号；

所述TestPad B单元由数据驱动芯片电路DriverIC提供并连接，所述Test PadB单元与面板的资料线电路连接，用于传送面板显示所需的资料线信号；

若干所述资料信号线用于传递所述扫瞄线信号和所述资料线信号，以进行面板显示。

4.根据权利要求3所述的系统测试架构，其特征在于，

所述时钟移位暂存器电路和数据驱动芯片电路由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号予时钟移位暂存器电路，由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号和影像信号予数据驱动芯片电路DriverIC，所述数据驱动芯片电路送出资料线信号，所述时钟移位暂存器电路送出扫瞄线信号。

5.根据权利要求3所述的系统测试架构，其特征在于，所述面板主体架构上的设计，对应每组Test Pad B单元，包含X2个独立的资料Pad,其中X2为整数,大于等于4；

每个独立的资料Pad都由B个数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器来连接驱动，其中B＝A*(1±20％)，B与A皆为整数，A代表每个资料Pad对应的资料线数目，B代表运算放大器驱动的数量。

6.根据权利要求5所述的系统测试架构,其特征在于，每个独立的资料Pad对应的资料线数目为A，A值为小于单一资料Pad的耐流值Ipad除以电压变化的Ipeak值；

所述耐流值Ipad为资料Pad、扎针单元或两者之间的接触点所能承受的最大电流值；

所述电压变化的Ipeak值为所设计的面板驱动单一资料线电压瞬态变化最大时产生的最高峰电流。

7.根据权利要求3所述的系统测试驱动架构，其特征在于，还包括CT2点灯检测电路，所述CT2点灯检测电路与所述CT1 De-mura驱动电路独立设置；

所述CT2点灯检测电路由面板主体架构上设置的开关控制单元，以及所述TestPadA单元和所述若干资料信号线组成；

CT2图形产生器的中央控制单元送出的点灯控制信号通过所述Test PadA单元传送至扫描线电路，产生扫描线信号，以进行面板显示；

所述开关控制单元通过开关控制线与所述TestPadA单元连接，所述CT2图形产生器的中央控制单元送出的开关信号通过所述TestPadA单元驱动所述开关控制单元打开或关闭。

8.根据权利要求7所述的系统测试架构，其特征在于，所述CT2图形产生器的中央控制单元送出的点灯控制信号通过所述Test PadA单元将扫瞄线触发信号传送至面板的GOA电路区，GOA电路产生扫描线信号，以进行面板显示。

9.一种应用于权利要求3-8任一所述系统测试架构的定位图形，其特征在于，所述定位图形利用Test PAD B单元产生，所述定位图形以低灰阶为背景图形，搭配Ym×Yn个面积为M×N画素的高灰阶方块图形所构成，方块图形均匀的显示在面板可视区，其中Ym、Yn数量皆大于等于10，且M、N尺寸皆小于等于50画素；

所述低灰阶和所述高灰阶相差在32灰阶以上；

所述画素为面板显示的最小单元，由R、G、B三个子画素组成。

10.根据权利要求9所述的定位图形，其特征在于，所述低灰阶背景图形与所述高灰阶方块图形皆由TestPadB单元驱动，且低灰阶与高灰阶区域由各自独立的资料Pad组所驱动，一个TestPadB单元针对低灰阶区有至少1个资料Pad组，一个TestPadB单元针对高灰阶区有至少1个资料Pad组；

所述资料PAD组包含至少1个以上的资料PAD。

11.根据权利要求9所述的定位图形，其特征在于，无论低灰阶或高灰阶区域，其资料线与相邻的资料线皆由不同的资料Pad驱动。

12.根据权利要求10所述的定位图形，其特征在于，所述Test Pad B单元包含的资料pad组，分为低灰阶区奇数与偶数资料Pad组，以及高灰阶区奇数与偶数资料Pad组，共有4种资料Pad类型。

13.根据权利要求10所述的定位图形，其特征在于，所述Test Pad B单元所包含的资料pad组，分为低灰阶区R、G、B三种画素的奇数与偶数资料Pad，以及高灰阶区R、G、B三种画素的奇数与偶数资料Pad，共有12种资料Pad类型。

14.一种基于权利要求3-8任一项所述系统测试架构的DE-MURA设备，其特征在于，包括中央控制单元、图形产生器、图像采集单元、探针单元和面板载台；

所述面板载台用于承载待测面板；

所述图形产生器用于产生包括资料线信号、扫瞄线信号、点灯控制信号和开关信号在内的触发信号；

所述探针单元用于与所述面板上的TestPadA单元和/或Test Pad B进行对位并扎针连接；

所述图像采集单元用于采集点亮后面板的图像，并将采集到的图像上传给中央控制单元进行De-mura判断与处理；

所述中央控制单元用于控制载台的机械操作；还用于发送指令给图形产生器以进行面板CT1 De-mura画面显示或CT2点灯检测；还用于发送指令给图像采集单元以采集点亮后面板的图像。

15.根据权利要求14所述的DE-MURA设备，其特征在于，还包括设置于所述面板载台上或下的第一偏光片和面板载台下的背光单元；

所述背光单元与所述中央控制单元信号连接，所述背光单元用于提供并控制载台背光；

所述第一偏光片设置于所述背光单元与面板载台之间；

所述图像采集单元位于远离所述面板载台另一侧，且所述图像采集单元包括CCD，所述CCD上设置有第二偏光片。

16.根据权利要求15所述的DE-MURA设备，其特征在于，所述图像采集单元包含机构自动或非自动调整系统，所述系统能够使CCD前的第二偏光片调整至与面板载台侧的第一偏光片保持三维结构上的平行，以及CCD侧的第二偏光吸收轴方向与面板载台侧的第一偏光片吸收轴正交。

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