CN103149722A - 液晶显示处理方法、装置及液晶显示器 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器，其方法包括：获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压；当需要通电显示时，控制异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使像素点正常显示。本发明通过获取液晶显示区域中背光显示的异常区域，再通过控制程序分析、叠加、修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压，调整输入LCD玻璃基板局部像素点的数据线电压，从而控制像素点液晶偏转角度，配合彩色滤光片，达到调节局部显示区域的亮暗，解决液晶显示中诸如灯影、画面亮暗不均等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位，并可降低成本。

Description

液晶显示处理方法、装置及液晶显示器

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器。

背景技术

液晶模组一般包含玻璃基板、光源、导光板/扩散板、膜片组（反射片、扩散片、增亮片等），以及前框、中框、背板等结构件。液晶模组的背光技术，目前按光源的位置可划分为侧入式和直下式两种，其中，侧入式背光模组的光源排布在导光板的入光面侧，沿着整条入光面均匀排布。导光板的作用在于引导和改变光线的传输方向，经过网点破坏全反射，配合反射片，把点或线光源转化为面光源，再经过扩散片和其他膜片的作用，进一步提高面光源的亮度与均匀度，使光均匀分布于液晶显示区域内。直下式背光模组则利用通电后的灯源，经过底面反射罩反射，使灯源所发出的光向上直射，经过扩散板的扩散作用将光线散射雾化，使光线均匀分布于背光模组的表面。

目前，伴随着液晶显示器的窄边框及超薄化设计趋势，液晶电视的画质品位较难保持高水准，灯影（hot spot）、亮暗不均（mura）等显示缺陷逐渐增多。

例如，在侧入式LED背光显示中，A/P比是个重要设计指标（A指视区（Active area）到LED出光面距离；P（pitch）指灯条上相邻LED的间距），边框越窄，A值减小，当A/P<0.8时，LCD入光侧出现灯影的概率极高。

而在直下式背光显示中，随着大、中功率LED的广泛应用，即便采用二次透镜，在混光距离极小（如15mm）时，整个画质品位将会变差，出现灯影概率升高。

为了解决上述问题，现有的解决方案有：对于侧入式背光，采用特殊形式灯条，在导光板入光侧做微结构或膜片丝印等；对于直下式背光，采用扩散板网点印刷技术或增加灯数来解决画质品位问题。这些方法实际应用推广较难，而且增加了成本。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器，旨在提升液晶显示器的整体画质品位，降低成本。

为了达到上述目的，本发明提出一种液晶显示处理方法，包括：

获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

优选地，所述获取液晶显示区域中背光显示的异常区域的步骤包括：

运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

优选地，所述修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压的步骤包括：

获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

优选地，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

本发明还提出一种液晶显示处理装置，包括：

获取模块，用于获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正模块，用于修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

控制模块，用于当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

优选地，所述获取模块包括：

测量单元，用于运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析单元，用于对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

优选地，所述修正模块包括：

获取单元，用于获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

比较单元，用于将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

调整单元，用于根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

优选地，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

优选地，所述控制模块集成在液晶显示器的T-con或机芯上。

本发明还提出一种液晶显示器，包括如上所述的装置。

本发明提出的一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器，通过获取液晶显示区域中背光显示的异常区域，再通过控制程序分析、叠加、修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压，调整输入LCD OpenCell（玻璃基板）局部像素点的source line（数据线）电压，从而控制像素点液晶偏转角度，配合彩色滤光片，达到调节局部显示区域的亮暗，解决液晶显示中诸如灯影、画面亮暗不均等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位，同时可优化背光设计，比如省略直下式背光中的二次透镜，使液晶显示器设计的更薄更窄，从而降低成本。

附图说明

图1是本发明液晶显示处理方法较佳实施例的流程示意图；

图2是本发明实施例中控制异常区域内像素点的数据线输入电压的示意图；

图3是本发明液晶显示处理装置较佳实施例的结构示意图；

图4是本发明液晶显示处理装置较佳实施例中获取模块的结构示意图；

图5是本发明液晶显示处理装置较佳实施例中修正模块的结构示意图。

为了使本发明的技术方案更加清楚、明了，下面将结合附图作进一步详述。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，本发明较佳实施例提出一种液晶显示处理方法，包括：

步骤S101，获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

本实施例为解决液晶显示中诸如灯影（Hot spot）、画面亮暗不均（mura）等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位，首先获取液晶显示区域中背光显示的异常区域。

具体地，运用光学测试仪器（如CA2000）量测得出液晶显示区域的原背光光场分布即理想的背光光场分布，作为后续判断液晶显示区域是否正常的参考标准；同时应用光线追踪模拟软件（如lightools），耦合得出液晶显示区域准确的光场分布，即实际的背光光场分布。

然后对比分析所述原背光光场分布和实际的背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常（亮暗不均）区域。通常，在正常情况下，整个画面显示区域的亮暗区域是均匀分布且连续的，但是，通过对比分析，如果相比原背光光场分布，实际测得的背光光场分布中存在亮暗区域分布不均匀，比如中心亮，两边暗，则可以判断该显示区域异常，需要将异常显示区域中亮的部位降低亮度，而对暗的部位需要提高亮度。

步骤S102，修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

针对显示异常区域，修正所述异常区域内每一像素点的数据线（source line）输入电压，具体可以采用以下方式：

首先获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；然后根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

比如异常区域内某像素点比相邻正常显示像素点亮度高15%，则可以将此异常显示像素点的source line输入电压下调15%或者采用线性收敛方式下调。

之后可以将修正的电压数据或者比例关系或者收敛方式转化为控制程序，由额外的控制单元/模块控制或集成在液晶显示器的T-con（Timing Controller，时序控制器）、机芯上，用以控制液晶显示器通电显示时异常区域内对应像素点的source line输入电压，使该异常显示像素点正常显示。

步骤S103，当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

在液晶显示器某瞬间显示时，以上述控制单元/模块控制异常区域内像素点的source line输入电压，如图2所示，在TFT基板中，S1、S2、S3等分别代表数据线（source line）；G1、G2、G3等分别代表扫描线（gate line），相互平行的各数据线和相互平行的扫描线交叉形成若干像素点P11、P12、P13等。通过调整异常区域中每一数据线（S1、S2、S3等）上的输入电压，进而控制像素点液晶偏转角度，再配合彩色滤光片，从而控制此像素点亮度，使其正常显示。需要说明的是，由于数据线和扫描线控制的是像素区域中的每个像素点，则对显示区域中背光显示的异常区域的调整必然精确到每一像素点。

此外，对于动态画面的显示缺陷，也可以采用上述同样的方法对source line输入电压进行修正，达到正常显示的目的。

本实施例通过上述方案，利用光学量测设备和应用模拟软件分别得出液晶显示区域的原背光光场分布和准确的光场分布，再通过控制程序分析、叠加、修正原数据，调整输入液晶显示器玻璃基板（Open Cell）局部像素点的source line输入电压，从而控制像素点液晶偏转角度，配合彩色滤光片，达到调节局部显示区域的亮暗，解决液晶显示中诸如灯影、画面亮暗不均等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位。

此外，本实施例通过调节程序精确控制每个sub-pix的亮度，可以解决传统侧入式背光中的灯影问题；可以解决直下式背光中的灯影、LED与Lens高度匹配性问题，方便导入大功率灯源资源；同时可优化背光设计，甚至可取消某些元件（如直下式背光中的二次透镜），更利于液晶显示器的窄边框及超薄化设计。

如图3所示，本发明较佳实施例提出一种液晶显示处理装置，包括：获取模块201、修正模块202以及控制模块203，其中：

获取模块201，用于获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正模块202，用于修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

控制模块203，用于当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

本实施例为解决液晶显示中诸如灯影（Hot spot）、画面亮暗不均（mura）等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位，首先通过获取模块201获取液晶显示区域中背光显示的异常区域。

具体地，运用光学测试仪器（如CA2000）量测得出液晶显示区域的原背光光场分布；即理想的背光光场分布，作为后续判断液晶显示区域是否正常的参考标准；同时应用光线追踪模拟软件（如lightools），耦合得出液晶显示区域准确的光场分布，即实际的背光光场分布。

然后对比分析所述原背光光场分布和实际的背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常（亮暗不均）区域。通常，在正常情况下，整个画面显示区域的亮暗区域是均匀分布且连续的，但是，通过对比分析，如果相比原背光光场分布，实际测得的背光光场分布中存在亮暗区域分布不均匀，比如中心亮，两边暗，则可以判断该显示区域异常，需要将异常显示区域中亮的部位降低亮度，而对暗的部位需要提高亮度。

之后修正模块202针对显示异常区域，修正所述异常区域内每一像素点的数据线（source line）输入电压，具体可以采用以下方式：

首先获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；然后根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

比如异常区域内某像素点比相邻正常显示像素点亮度高15%，则可以将此异常显示像素点的source line输入电压下调15%或者采用线性收敛方式下调。

然后可以将修正的电压数据或者比例关系或者收敛方式转化为控制程序，由控制模块203控制液晶显示器通电显示时异常区域内对应像素点的source line输入电压，使该异常显示像素点正常显示。该控制模块203可以集成在液晶显示器的T-con或机芯上。

在液晶显示器某瞬间显示时，由控制模块203控制异常区域内像素点的source line输入电压，如图2所示，在TFT基板中，S1、S2、S3等分别代表数据线（source line）；G1、G2、G3等分别代表扫描线（gate line），相互平行的各数据线和相互平行的扫描线交叉形成若干像素点P11、P12、P13等。通过调整异常区域中每一数据线（S1、S2、S3等）上的输入电压，进而控制像素点液晶偏转角度，再配合彩色滤光片，从而控制此像素点亮度，使其正常显示。需要说明的是，由于数据线和扫描线控制的是像素区域中的每个像素点，则对显示区域中背光显示的异常区域的调整必然精确到每一像素点。

此外，对于动态画面的显示缺陷，也可以采用上述同样的方法对source line输入电压进行修正，达到正常显示的目的。

更为具体地，如图4所示，上述获取模块201可以包括：测量单元2011及对比分析单元2012，其中：

测量单元2011，用于运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析单元2012，用于对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

如图5所示，上述修正模块202可以包括：获取单元2021、比较单元2022以及调整单元2023，其中：

获取单元2021，用于获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

比较单元2022，用于将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

调整单元2023，用于根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

本实施例通过上述方案，利用光学量测设备和应用模拟软件分别得出液晶显示区域的原背光光场分布和准确的光场分布，再通过控制程序分析、叠加、修正原数据，调整输入液晶显示器玻璃基板（Open Cell）局部像素点的source line输入电压，从而控制像素点液晶偏转角度，配合彩色滤光片，达到调节局部显示区域的亮暗，解决液晶显示中诸如灯影、画面亮暗不均等显示异常问题，提升液晶显示器整体画质品位。

而且本实施例通过调节程序精确控制每个sub-pix的亮度，可以解决传统侧入式背光中的灯影问题；可以解决直下式背光中的灯影、LED与Lens高度匹配性问题，方便导入大功率灯源资源；同时可优化背光设计，甚至可取消某些元件（如直下式背光中的二次透镜），更利于液晶显示器的窄边框及超薄化设计。

此外，本发明还提出一种液晶显示器，该液晶显示器包括上述实施例中所述的液晶显示处理装置，其内部结构及功能原理请参照上述实施例，在此不再赘述。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种液晶显示处理方法，其特征在于，包括：

获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取液晶显示区域中背光显示的异常区域的步骤包括：

运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压的步骤包括：

获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

5.一种液晶显示处理装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正模块，用于修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

控制模块，用于当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述获取模块包括：

测量单元，用于运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析单元，用于对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

7.根据权利要求5或6所述的装置，其特征在于，所述修正模块包括：

获取单元，用于获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

比较单元，用于将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

调整单元，用于根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述控制模块集成在液晶显示器的T-con或机芯上。

10.一种液晶显示器，其特征在于，包括权利要求5-9中任一项所述的装置。

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