CN111458588A - 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法 - Google Patents

一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111458588A
CN111458588A CN202010303851.9A CN202010303851A CN111458588A CN 111458588 A CN111458588 A CN 111458588A CN 202010303851 A CN202010303851 A CN 202010303851A CN 111458588 A CN111458588 A CN 111458588A
Authority
CN
China
Prior art keywords
line
test
impedance
signal
signal line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010303851.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111458588B (zh
Inventor
羊杨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Embedway Technologies Shanghai Corp
Original Assignee
Embedway Technologies Shanghai Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Embedway Technologies Shanghai Corp filed Critical Embedway Technologies Shanghai Corp
Priority to CN202010303851.9A priority Critical patent/CN111458588B/zh
Publication of CN111458588A publication Critical patent/CN111458588A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111458588B publication Critical patent/CN111458588B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本申请公开了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。

Description

一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
技术领域
本申请涉及信号测试技术领域，更具体地说，涉及一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法。
背景技术
差分耦合线，又称差分线，是指传输差分信号的走线。差分耦合线通常包括两根信号线，驱动端分别向这两根信号线发送两个等值、反相的信号，通过差分信号线传输给接收端。接收端通过比较这两个信号的差值来判断逻辑状态是“0”还是“1”。
在传输高速信号时，差分耦合线相较于单端线来说具有抗干扰能力强和能够低电压传输等优点，在计算机总线和通信设备上得到了广泛的应用。
但是在实际应用中发现，随着信号传输速率的不断提高，差分耦合线的损耗也越来越大，越来越不可忽视，因此对于差分耦合线的损耗的测试成为一个亟待解决的问题。
发明内容
为解决上述技术问题，本申请提供了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，以解决现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。
为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：
一种差分耦合线，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，
所述信号线包括第一信号线和第二信号线；
两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；
两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。
可选的，所述第一测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一；
所述第二测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一。
可选的，所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直；
所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。
一种差分耦合线的制备方法，包括：
获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗；
根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；
根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
可选的，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗包括：
将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure BDA0002455025830000031
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
可选的，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗包括：
将所述信号线的阻抗参数代入第二预设公式中，以计算获得所述第一测试线和第二测试线的阻抗；
所述第二预设公式包括：
Figure BDA0002455025830000032
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
可选的，所述将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接包括：
将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，并使所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直。
可选的，所述将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接包括：
将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，并使所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。
一种差分耦合线的损耗测试方法，包括：
提供待测试差分耦合线，所述待测试差分耦合线为上述任一项所述的差分耦合线；
提供参考测试线，所述参考测试线的长度为所述第一测试线和第二测试线的长度的两倍，所述参考测试线的阻抗等于所述第一测试线和第二测试线的阻抗之和；
利用测试连接器，测量所述待测试差分耦合线的总损耗值；
利用所述测试连接器，测量所述参考测试线的参考损耗值；
根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
可选的，所述根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值包括：
将所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值的差值，作为所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
从上述技术方案可以看出，本申请实施例提供了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的结构示意图；
图2为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；
图3为本申请的另一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；
图4为本申请的又一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；
图5为本申请的再一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；
图6为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的损耗测试方法的流程示意图；
图7为本申请的另一个实施例提供的一种差分耦合线的损耗测试方法的流程示意图。
具体实施方式
正如背景技术中所述，随着信号传输速率的不断提高，差分耦合线的损耗也越来越大。下面对信号传输速率和差分耦合线的损耗的关系进行说明。
差分耦合线的损耗分为导体损耗和介质损耗，这两种损耗都与频率由关系，具体参考公式(1)和公式(2)：
Figure BDA0002455025830000051
Figure BDA0002455025830000052
其中，Acond表示构成差分耦合线的导体的单位损耗，w表示线宽，Z0表示阻抗，f表示信号频率；
Adie表示承载差分耦合线的基板的介质单位损耗，tan(δ)表示损耗因子，εr表示介电常数。
由公式(1)和公式(2)可知，随着传输速率(信号频率)的提高，差分耦合线的损耗也会随之增大，这些损耗可能会导致差分耦合线传输信号在接收端进行处理时导致错误的处理结果，因此有必要对差分耦合线的损耗进行测量。
有鉴于此，本申请实施例提供了一种差分耦合线，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，
所述信号线包括第一信号线和第二信号线；
两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；
两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。
所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种差分耦合线，如图1所示，包括：信号线10和两个第一测试线20和两个第二测试线30；其中，
所述信号线10包括第一信号线11和第二信号线12；
两个所述第一测试线20的一端分别与所述第一信号线11的两端连接，两个所述第一测试线20的另一端分别与一个测试连接器40连接，所述第一测试线20的阻抗与所述第一信号线11的阻抗匹配；
两个所述第二测试线30的一端分别与所述第二信号线12的两端连接，两个所述第二测试线30的另一端分别与一个测试连接器40连接，所述第二测试线30的阻抗与所述第二信号线12的阻抗匹配。
在所述差分耦合线的结构中，为了保证可测试性(即方便第一测试线20和第二测试线30接到测试连接器40上)，将两个第一测试线20的一端分别接在所述第一信号线11的两端上，使得两个所述第一测试线20之间具有一定的距离；类似的，两个所述第二测试线30的一端分别接在所述第二信号线12的两端上，使得两个所述第二测试线30之间具有一定短距离。
另外，在损耗测试时，需要保证第一测试线20与所述第一信号线11的阻抗匹配，同样的，第二测试线30的阻抗需要与所述第二信号线12的阻抗匹配。
具体地，仍然参考图1，所述第一测试线20的阻抗为所述信号线10阻抗的二分之一；
所述第二测试线30的阻抗为所述信号线10阻抗的二分之一。
所述第一测试线20的延伸方向与所述第一信号线11的延伸方向垂直；
所述第二测试线30的延伸方向与所述第二信号线12的延伸方向垂直。
所述信号线10的阻抗和第一测试线20以及第二测试线30的阻抗的计算公式参考第一预设公式和第二预设公式：
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure BDA0002455025830000081
Zo表示第一信号线11和第二信号线12的阻抗，Zdiff表示所述信号线10的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
所述第二预设公式包括：
Figure BDA0002455025830000082
Zo表示第一信号线11和第二信号线12的阻抗，Zdiff表示所述信号线10的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
厚度即为所述信号线10的厚度，线距也可称为所述信号线10的长度。所述线宽是指所述信号线10的宽度。
从第一预设公式和第二预设公式可以看出，为了保证第一测试线20与所述第一信号线11没有耦合，所述第二测试线30与所述第二信号线12没有耦合，需要保证线距D这个值尽可能的大，因此将所述第一测试线20的延伸方向设置为与所述第一信号线11的延伸方向垂直，将所述第二测试线30的延伸方向设置为与所述第二信号线12的延伸方向垂直。
相应的，本申请实施例还提供了一种差分耦合线的制备方法，如图2所示，包括：
S101：获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
S102：根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗；
S103：根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；
S104：根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
S105：将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
S106：将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
可选的，参考图3，所述差分耦合线的制备方法包括：
S201：获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
S202：将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure BDA0002455025830000091
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度；
S203：根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；
S204：根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
S205：将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
S206：将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
可选的，参考图4，所述差分耦合线的制备方法包括：
S301：获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
S302：将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure BDA0002455025830000101
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度；
S303：将所述信号线的阻抗参数代入第二预设公式中，以计算获得所述第一测试线和第二测试线的阻抗；
所述第二预设公式包括：
Figure BDA0002455025830000102
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度；
S304：根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
S305：将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
S306：将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
可选的，参考图5，所述差分耦合线的制备方法包括：
S401：获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
S402：将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure BDA0002455025830000111
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度；
S403：将所述信号线的阻抗参数代入第二预设公式中，以计算获得所述第一测试线和第二测试线的阻抗；
所述第二预设公式包括：
Figure BDA0002455025830000112
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度；
S404：根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
S405：将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，并使所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
S406：将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，并使所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
相应的，本申请实施例还提供了一种差分耦合线的损耗测试方法，如图6所示，包括：
S501：提供待测试差分耦合线，所述待测试差分耦合线为上述任一实施例所述的差分耦合线；
S502：提供参考测试线，所述参考测试线的长度为所述第一测试线和第二测试线的长度的两倍，所述参考测试线的阻抗等于所述第一测试线和第二测试线的阻抗之和；
S503：利用测试连接器，测量所述待测试差分耦合线的总损耗值；
S504：利用所述测试连接器，测量所述参考测试线的参考损耗值；
S505：根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
在本实施例中，提供参考测试线的目的是去除测试过程中获取的所述待测试差分耦合线中的第一测试线和第二测试线对于测量结果的干扰，以得到所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
具体地，参考图7，所述根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值包括：
S5051：将所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值的差值，作为所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
综上所述，本申请实施例提供了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。
本说明书中各实施例中记载的特征可以相互替换或者组合，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种差分耦合线，其特征在于，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，
所述信号线包括第一信号线和第二信号线；
两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；
两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。
2.根据权利要求1所述的差分耦合线，其特征在于，所述第一测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一；
所述第二测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一。
3.根据权利要求1所述的差分耦合线，其特征在于，所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直；
所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。
4.一种差分耦合线的制备方法，其特征在于，包括：
获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗；
根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；
根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗包括：
将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，
Figure FDA0002455025820000021
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗包括：
将所述信号线的阻抗参数代入第二预设公式中，以计算获得所述第一测试线和第二测试线的阻抗；
所述第二预设公式包括：
Figure FDA0002455025820000022
Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接包括：
将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，并使所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直。
8.根据权利要去4所述的方法，其特征在于，所述将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接包括：
将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，并使所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。
9.一种差分耦合线的损耗测试方法，其特征在于，包括：
提供待测试差分耦合线，所述待测试差分耦合线为权利要求1-3任一项所述的差分耦合线；
提供参考测试线，所述参考测试线的长度为所述第一测试线和第二测试线的长度的两倍，所述参考测试线的阻抗等于所述第一测试线和第二测试线的阻抗之和；
利用测试连接器，测量所述待测试差分耦合线的总损耗值；
利用所述测试连接器，测量所述参考测试线的参考损耗值；
根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值包括：
将所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值的差值，作为所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。
CN202010303851.9A 2020-04-17 2020-04-17 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法 Active CN111458588B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010303851.9A CN111458588B (zh) 2020-04-17 2020-04-17 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010303851.9A CN111458588B (zh) 2020-04-17 2020-04-17 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111458588A true CN111458588A (zh) 2020-07-28
CN111458588B CN111458588B (zh) 2022-05-31

Family

ID=71685952

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010303851.9A Active CN111458588B (zh) 2020-04-17 2020-04-17 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111458588B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112004313A (zh) * 2020-10-10 2020-11-27 恒为科技（上海）股份有限公司 一种差分走线及其设计方法
CN114264895A (zh) * 2021-11-11 2022-04-01 荣耀终端有限公司 抗扰度测试装置、系统和测试板

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101672874A (zh) * 2009-09-23 2010-03-17 深圳市博敏电子有限公司 微带传输线阻抗参数测试方法
JP2011015370A (ja) * 2009-07-06 2011-01-20 Shinko Electric Ind Co Ltd アダプタ装置および伝送路評価システム
CN103260348A (zh) * 2013-04-01 2013-08-21 广州兴森快捷电路科技有限公司 高速pcb板以及差分过孔阻抗控制方法
CN104133117A (zh) * 2014-08-08 2014-11-05 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种针对高速信号损耗测试的设计
CN106535470A (zh) * 2016-12-26 2017-03-22 郑州云海信息技术有限公司 一种基于sma接口的pcb布线方法、线宽确定装置及pcb
TWM562486U (zh) * 2018-03-28 2018-06-21 Bellwether Electronic Corp 高頻訊號傳輸撓性扁平纜線
CN209643077U (zh) * 2019-01-23 2019-11-15 四川九洲电器集团有限责任公司 一种用于共模抑制的差分信号绕线结构
CN110716128A (zh) * 2019-10-29 2020-01-21 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb损耗测试方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011015370A (ja) * 2009-07-06 2011-01-20 Shinko Electric Ind Co Ltd アダプタ装置および伝送路評価システム
CN101672874A (zh) * 2009-09-23 2010-03-17 深圳市博敏电子有限公司 微带传输线阻抗参数测试方法
CN103260348A (zh) * 2013-04-01 2013-08-21 广州兴森快捷电路科技有限公司 高速pcb板以及差分过孔阻抗控制方法
CN104133117A (zh) * 2014-08-08 2014-11-05 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种针对高速信号损耗测试的设计
CN106535470A (zh) * 2016-12-26 2017-03-22 郑州云海信息技术有限公司 一种基于sma接口的pcb布线方法、线宽确定装置及pcb
TWM562486U (zh) * 2018-03-28 2018-06-21 Bellwether Electronic Corp 高頻訊號傳輸撓性扁平纜線
CN209643077U (zh) * 2019-01-23 2019-11-15 四川九洲电器集团有限责任公司 一种用于共模抑制的差分信号绕线结构
CN110716128A (zh) * 2019-10-29 2020-01-21 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb损耗测试方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MOISES FERBER: "Power Efficiency and EMI Attenuation Optimization in Filter Design", 《IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY》 *
左小英: "新型平面高性能微波滤波器、滤波集成功率分配器和陈列天线的研究", 《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112004313A (zh) * 2020-10-10 2020-11-27 恒为科技（上海）股份有限公司 一种差分走线及其设计方法
CN114264895A (zh) * 2021-11-11 2022-04-01 荣耀终端有限公司 抗扰度测试装置、系统和测试板
CN114264895B (zh) * 2021-11-11 2022-11-01 荣耀终端有限公司 抗扰度测试装置、系统和测试板

Also Published As

Publication number Publication date
CN111458588B (zh) 2022-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111458588B (zh) 一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
US6840816B2 (en) Bi-directional balance low noise communication interface
US5379005A (en) Flat cable to flat parallel wire cable
EP2082458B1 (en) Connecting hardware with multi-stage inductive and capacitive crosstalk compensation
US6997753B2 (en) Apparatus, system and method for improved calibration and measurement of differential devices
US8618892B2 (en) Communication device and communication system
CN101369825B (zh) 四端口微带传输线网络串扰测量装置
CN107315098A (zh) 微波共面测试探针及其制作方法
US7211734B2 (en) Quadrax to twinax conversion apparatus and method
US6315596B1 (en) Wiring apparatus of electrical connector
JP2002056727A (ja) Ｌａｎ試験機器用の安定パッチコード
US6788163B2 (en) Digital network
US2518665A (en) Connector for high-frequency transmission lines and the like
Huynh et al. Mixed-mode S-parameter conversion for networks with coupled differential signals
CN204967812U (zh) 中继器
US6794578B2 (en) Quadrax to twinax conversion apparatus and method
CN208386573U (zh) 双e1业务的测试系统
JPH11167959A (ja) コネクタ
JP2004257830A (ja) 測定用アダプタ
JP3976866B2 (ja) ハイブリッドトランスの校正方法及び校正装置
JP3235255B2 (ja) 伝送線路の減衰定数簡易測定法及び測定治具
CN220085716U (zh) 用于单对以太网的差分传输双同轴组件
CN112004313A (zh) 一种差分走线及其设计方法
TWM646480U (zh) 連接裝置
WO2023169090A1 (zh) 信号链路串扰测试装置和方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant