CN111412906A - 基准校验装置及基准校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基准校验装置及基准校验方法,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,上板和下板均包括至少两根相互垂直的基准线,基准校验装置包括定位组件和线锤,定位组件上设有定位标志,定位标志用于对齐上板的基准线,定位组件用于与上板连接,线锤与定位组件连接,线锤的长度可调节。定位标志在定位组件上的位置始终保持不变,通过移动定位组件来调整定位标志与上板的基准线之间的对齐情况,测量出的结果误差更小、精度更高。技术人员将定位组件和上板的基准线对齐之后,即可离开上板处,到达下板测量。只需一个技术人员即可进行全部操作,节省了人力和总的工时,提高效率,也保证了技术人员的安全。
Description
技术领域
本发明涉及机械结构测量领域,特别涉及一种基准校验装置及基准校验方法。
背景技术
对于双壳的民船和海工产品,平台在进行内外壳定位分段时大多都是反扣分段,此时上板中的基准线在上板的下表面,下板的基准线在下板的上表面。焊前定位阶段时,脚手架都未搭设,现场技术人员每次都需要在没有脚手架的情况下攀爬至上板,然后趴在上板上确定上板的下表面上的基准线的位置后再挂线锤,下方的另一技术人员再通过线锤的位置来比对上下板的基准线的对位精度。具体操作方式如下:两条基准线的交叉点作为样冲点,其中一技术人员位于上板,使线锤中线的一端对齐上板的样冲点,并保证位置始终保持不动。另一技术人员位于下方,拉动线锤的锤体使之降落并正好落在下板上,锤体的中心即为上板的样冲点的中心,测量锤体的中心距下板的样冲点之间对位精度,即测量了上下板的样冲点的对位精度,即测量了上下板的基准线之间的对位精度。整个检查过程需要两个人进行操作,较为繁琐,对于在上板操作的技术人员来说,危险性较高,存在安全隐患,而且手动对准上板的样冲点容易使最后测量的误差较大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中人工对准上板的样冲点而造成测量误差较大的缺陷,提供一种基准校验装置及基准校验方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题:
一种基准校验装置,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,所述上板和所述下板均包括至少两根相互垂直的基准线,其特点在于,所述基准校验装置包括:
定位组件,所述定位组件上设有定位标志,所述定位标志用于对齐所述上板的基准线,所述定位组件用于与所述上板连接;以及
线锤,所述线锤与所述定位组件连接,所述线锤的长度可调节。
在本方案中,定位标志在定位组件上的位置始终保持不变,通过移动定位组件来调整定位标志与上板的基准线之间的对齐情况,两者对齐之后不会再产生移动,从而最后测量出的结果误差更小、精度更高。定位组件和上板连接来取代传统技术中的人工固定,使技术人员无需在测量过程中一直待在上板处,节省人力的同时保证了技术人员的安全。
较佳地,当所述定位标志与所述上板的基准线对齐时,所述线锤在所述上板上的投影的中心与所述上板中两相互垂直的基准线重合。
在本方案中,线锤的中心与下板的基准线之间的偏差即为上板的基准线与下板的基准线之间的偏差。
较佳地,所述定位标志为定位槽,所述定位组件的至少两个相邻侧面上均设有所述定位槽,两个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的顶面上的投影重合。
在本方案中,定位槽加工方便且标记清晰,长期使用也不容易损坏。
较佳地,所述定位组件为长方体。
在本方案中,长方体易于成型,且方便后期定位标志的定位。
较佳地,所述定位标志为定位槽,所述定位组件的四个侧面上均设有所述定位槽,四个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的顶面上的投影重合。
在本方案中,四个侧面均设有基准槽能够使定位组件与上板的基准线更加精准对齐。
较佳地,所述定位组件的顶部设有磁铁,所述磁铁用于使所述定位组件连接在所述上板上。
在本方案中,定位组件通过磁铁的磁性连接在上板上,不用再人工固定,技术人员可以离开上板到下板处操作线锤并测量。
较佳地,所述线锤包括连接线和锤体,所述连接线的上端与所述定位组件连接,所述连接线的下端与所述锤体连接,所述锤体相对于所述定位组件可移动。
在本方案中,通过调整连接线的长度来实现锤体相对于定位组件可移动。
较佳地,所述基准校验装置还包括设于所述定位组件的内部的收纳组件,所述收纳组件用于收纳所述连接线并调整所述连接线的长度。
在本方案中,当不使用基准校验装置时,将连接线收纳于收纳组件中,能够防止连接线的磨损,也使连接线不容易打结以影响之后的使用。通过收纳组件来调整连接线的长度以适应具有不同间隔的上下板,增加基准校验装置的灵活性。
较佳地,所述锤体的底部设有弹性套头。
在本方案中,弹性套头用于防止因多次使用基准校验装置而导致锤体的下端产生磨损的情况。
一种基准校验方法,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,其特点在于,所述基准校验方法利用了上述的基准校验装置,所述基准校验方法包括以下步骤:
步骤S1:将所述定位组件连接在所述上板上;
步骤S2:移动所述定位组件使所述定位标志对齐所述上板的基准线;
步骤S3:拉动所述线锤,使所述线锤刚好触碰到所述下板;
步骤S4:使用测量工具测量所述线锤的中心与所述下板的基准线之间的偏差。
在本方案中,技术人员将定位组件连接在上板上且使定位标志和上板的基准线对齐之后,即可离开上板处,然后到达下板处拉动线锤后进行测量。只需一个技术人员即可进行全部操作,操作更加简便,节省了人力和总的工时,提高效率。
本发明的积极进步效果在于:基准校验装置中的定位标志在定位组件上的位置始终保持不变,通过移动定位组件来调整定位标志与上板的基准线之间的对齐情况,两者对齐之后不会再产生移动,从而最后测量出的结果误差更小、精度更高。定位组件和上板连接来取代传统技术中的人工固定,使技术人员无需在测量过程中一直待在上板处,节省人力的同时保证了技术人员的安全。基准校验方法中技术人员将定位组件连接在上板上且使定位标志和上板的基准线对齐之后,即可离开上板处,然后到达下板处拉动线锤后进行测量。只需一个技术人员即可进行全部操作,操作更加简便,节省了人力和总的工时,提高效率。
附图说明
图1为本发明一实施例的基准校验装置的使用时的主视结构示意图。
图2为本发明一实施例的定位组件的立体结构示意图。
图3为本发明一实施例的基准校验装置的主视结构示意图。
图4为本发明一实施例的基准校验方法的流程示意图。
附图标记说明:
10 定位组件
101 定位槽
20 线锤
201 连接线
202 锤体
30 上板
40 下板
50 磁铁
60 通孔
70 弹性套头
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明,但并不因此将本发明限制在的实施例范围之中。
本实施例提供了一种基准校验装置,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,上板和下板均包括至少两根相互垂直的基准线。如图1-3所示,基准校验装置包括定位组件10和线锤20,定位组件10上设有定位标志,定位标志用于对齐上板30的基准线,定位组件10用于与上板30连接,线锤20与定位组件10连接,线锤20的长度可调节。
定位标志在定位组件10上的位置始终保持不变,技术人员可以通过移动定位组件10来调整定位标志与上板30的基准线之间的对齐情况,定位组件10与上板30连接,使得定位标志和上板30的基准线对齐之后不会再产生移动,从而最后测量出的结果误差更小、精度更高。定位组件10和上板30连接来取代传统技术中的人工固定,使技术人员无需在测量过程中一直待在上板30处,节省人力的同时保证了技术人员的安全。
当定位标志与上板30的基准线对齐时,线锤20在上板30上的投影的中心与上板30中两相互垂直的基准线重合,线锤20的中心与下板40的基准线之间的偏差即为上板30的基准线与下板40的基准线之间的偏差。
定位组件10为长方体结构,易于成型,且方便后期定位标志的定位,定位标志为定位槽101,定位槽101加工方便且标记清晰,长期使用也不容易损坏。长方体定位组件10的四个侧面均设有定位槽101,使定位组件10与上板30的基准线更加精准对齐,四个定位槽101在定位组件10的顶面的基准延伸线的交点与定位组件10和线锤20的连接点在定位组件10的顶面上的投影重合。定位槽101的宽度较为优选的是等于上板30的基准线的线宽,从而使对齐精度更高。
需要说明的是,基准延伸线是指定位槽101在定位组件10的顶面上沿上板30的基准线的长度方向延伸的线,其中,上板30的基准线向下方延伸后要经过沿其长度方向延伸而形成的基准延伸线的对应的定位槽101所在的侧面。
在其他可替代的实施方式中,定位组件10不局限于长方体结构,可以采用其他易于成型且方便定位的结构,例如梯形体。定位组件10可以不同四个侧面上都设有定位槽101,但需要满足至少两个相邻侧面上均设有定位槽101,同时也需要满足两个定位槽101在定位组件10的顶面的基准延伸线的交点与定位组件10和线锤20的连接点在定位组件10的顶面上的投影重合。定位标志还可以采用其他结构,例如定位贴纸。
定位组件10的顶部设有磁铁50,磁铁50用于使定位组件10连接在上板30上。定位组件10通过磁铁50的磁性连接在上板30上,且定位组件10还可以在上板30上移动,方便调整定位组件10的位置来对齐定位槽101和上板30的基准线,也不用再人工一直将定位组件10固定在上板30上,技术人员可以离开上板30到下板40处操作线锤20并测量。
线锤20包括连接线201和锤体202,连接线201的上端与定位组件10连接,连接线201的下端与锤体202连接,通过调整连接线201的长度来实现锤体202相对于定位组件10可移动。
基准校验装置还包括设于定位组件10内部的收纳组件(图中未示出),收纳组件与定位组件10连接,以保证两者位置的固定,收纳组件用于收纳连接线201并调整连接线201的长度。需要说明的是,收纳组件的工作原理本领域技术人员可以参考卷尺,使用时可以自由拉动连接线201,不使用时可以自动回收连接线201。
定位组件10的底面设有通孔60,用于穿过连接线201,使得连接线201能够进入定位组件10的内部与收纳组件连接,方便收纳组件对连接线201的收纳与固定。当不使用基准校验装置时,将连接线201收纳于收纳组件中,能够防止连接线201的磨损,也使连接线201不容易打结以影响之后的使用。通过收纳组件来调整连接线201的长度以适应具有不同间隔的上下板40,增加基准校验装置的灵活性。
锤体202的下端设有弹性套头70,用于防止因多次使用基准校验装置而导致锤体202的下端产生磨损的情况。对于弹性套头70的材料,本领域技术人员可以采用常见的具有弹性的材料,例如硅胶。
本实施例还提供了一种基准校验方法,如图1-4所示,基准校验方法利用了上述的基准校验装置,用于检测上板30的基准线和下板40的基准线之间的偏差。基准校验方法包括以下步骤:
步骤S1:将定位组件10连接在上板30上;
步骤S2:移动定位组件10使定位标志对齐上板30的基准线;
步骤S3:拉动线锤20,使线锤20刚好触碰到下板40;
步骤S4:使用测量工具测量线锤20的中心与下板40的基准线之间的偏差。
技术人员通过设于定位组件10的顶部的磁铁50的磁性,使定位组件10连接在上板30上且可以在上板30上移动,移动定位组件10直至定位组件10上的定位标志即定位槽101与上板30的基准线对齐,从而完成定位组件10的定位,因为磁铁50的磁性,定位后的定位组件10相对于上板30保持静止,技术人员可以离开上板30到达下板40进行之后的操作。拉动线锤20,使线锤20刚好触碰到下板40,然后使用测量工具测量线锤20的中心与下板40的基准线之间的偏差,此偏差也为上板30的基准线和下板40的基准线之间的偏差。只需要一个技术人员即可进行全部的定位过程和测量过程,使整体操作更加简便,节省了人力和总的工时,提高效率。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于装置或元件被正常使用时的放置位置,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须在任何时刻都具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,除非文中另有说明。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种基准校验装置,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,所述上板和所述下板均包括至少两根相互垂直的基准线,其特征在于,所述基准校验装置包括:
定位组件,所述定位组件上设有定位标志,所述定位标志用于对齐所述上板的基准线,所述定位组件用于与所述上板连接;以及
线锤,所述线锤与所述定位组件连接,所述线锤的长度可调节。
2.如权利要求1所述的基准校验装置,其特征在于,当所述定位标志与所述上板的基准线对齐时,所述线锤在所述上板上的投影的中心与所述上板中两相互垂直的基准线重合。
3.如权利要求1所述的基准校验装置,其特征在于,所述定位标志为定位槽,所述定位组件的至少两个相邻侧面上均设有所述定位槽,两个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的顶面上的投影重合。
4.如权利要求1所述的基准校验装置,其特征在于,所述定位组件为长方体。
5.如权利要求4所述的基准校验装置,其特征在于,所述定位标志为定位槽,所述定位组件的四个侧面上均设有所述定位槽,四个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的顶面上的投影重合。
6.如权利要求1所述的基准校验装置,其特征在于,所述定位组件的顶部设有磁铁,所述磁铁用于使所述定位组件连接在所述上板上。
7.如权利要求1所述的基准校验装置,其特征在于,所述线锤包括连接线和锤体,所述连接线的上端与所述定位组件连接,所述连接线的下端与所述锤体连接,所述锤体相对于所述定位组件可移动。
8.如权利要求7所述的基准校验装置,其特征在于,所述基准校验装置还包括设于所述定位组件的内部的收纳组件,所述收纳组件用于收纳所述连接线并调整所述连接线的长度。
9.如权利要求7所述的基准校验装置,其特征在于,所述锤体的底部设有弹性套头。
10.一种基准校验方法,用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差,其特征在于,所述基准校验方法利用了如权利要求1-9中任意一项所述的基准校验装置,所述基准校验方法包括以下步骤:
步骤S1:将所述定位组件连接在所述上板上;
步骤S2:移动所述定位组件使所述定位标志对齐所述上板的基准线;
步骤S3:拉动所述线锤,使所述线锤刚好触碰到所述下板;
步骤S4:使用测量工具测量所述线锤的中心与所述下板的基准线之间的偏差。
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