CN111383566B - Mura校正系统 - Google Patents

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Abstract

Mura校正系统，其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura像素执行校正。Mura校正系统可以检测单个Mura像素并实现对所检测的一个Mura像素的校正，并且可以实现对Mura块的某一区域的Mura像素的基于块的校正。

Description

Mura校正系统
技术领域
各种实施方式总体涉及Mura校正系统，并且更具体地，涉及一种对通过拍摄显示面板获得的检测图像中的Mura像素进行校正的Mura校正系统。
背景技术
近来，LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。
由于制造过程中的误差等，可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。
需要对Mura缺陷进行检测和校正，以允许显示面板具有改善的图像质量。
发明内容
各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于亮度值在检测图像中检测块中的单个Mura像素，并且生成待应用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对Mura像素的亮度值进行校正，其中检测图像是通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得的。
此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于从显示在显示面板上的测试图像检测到的检测图像中的亮度值来检测Mura块，将Mura块划分成Mura像素的Mura子块和正常像素的正常子块，在Mura子块和正常子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块，以及生成待应用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对校正子块中的像素的亮度值进行校正。
此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其在Mura子块和正常子块之间选择具有较大面积的子块作为非校正子块，并对非校正子块执行Mura校正。
在实施方式中，Mura校正系统可以包括Mura校正装置，所述Mura校正装置配置成接收与显示面板的每个灰度级的测试图像对应的检测图像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据。
Mura校正装置可以包括Mura块检测器、Mura像素检测器、第一系数生成器，其中：Mura块检测器配置成基于显示面板的平均像素亮度值来在各自包括多个像素的块之中检测具有Mura像素的Mura块，并且提供Mura块的位置值；Mura像素检测器配置成接收Mura块的位置值，基于预设的参考值检测Mura块中的Mura像素，并提供Mura像素的位置值；第一系数生成器配置成接收Mura像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，并且生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据，其中，Mura像素校正方程式是用于将Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板的平均像素亮度值的二次方程式。
此外，Mura校正装置可以包括Mura块检测器、Mura像素检测器以及第一系数生成器，其中：Mura块检测器配置成在各自包括多个像素的块之中检测通过基于显示面板的平均像素亮度值确定的、包括具有密集Mura的Mura像素的Mura块，将Mura块划分成包括Mura像素的第一子块和包括具有相对少量Mura的像素的第二子块，在第一子块和第二子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块，以及提供校正子块的位置值；Mura像素检测器配置成接收校正子块的位置值，并提供校正子块中的像素的位置值；第一系数生成器配置成接收校正子块中的像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，其中，Mura像素校正方程式是用于将校正子块中的每个像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板的平均像素亮度值的二次方程式，以及生成包括校正子块的像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
根据本发明的实施方式，通过基于亮度值在检测图像中检测块中的单个Mura像素并且生成待被应用于二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对Mura像素的亮度值进行校正，可以实现对Mura像素的Mura校正，其中，所述检测图像是通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得的。
此外，根据本发明的实施方式，通过将Mura块的像素划分成Mura子块和正常子块、在Mura子块和正常子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块并且对校正子块中的像素的亮度值进行校正，可以在减轻存储器负担的同时实现对Mura像素的Mura校正。
附图说明
图1是示出根据本公开的实施方式的Mura校正系统的示例的表示的框图。
图2A和图2B是示出测试图像的示例的表示的图。
图3是示出图1的Mura校正装置的示例的表示的框图。
图4是示出与用于相应灰度级的测试图像对应的检测图像的示例的表示的图。
图5是用于帮助对分析检测图像中的Mura块的方法进行说明的图的示例的表示。
图6是示出每个灰度级的Mura块的测量值、Mura校正值和显示面板的平均像素亮度值之间的关系的示例的表示的图。
图7是示出通过应用适应性范围来存储Mura校正方程式的系数值的存储器映射的示例的表示的图。
图8是示出存储普通系数值的存储器映射的示例的表示的图。
图9是用于帮助对用于通过改变Mura块的亮度值的表示范围来获得实际所需系数的方法进行说明的图的示例的表示。
图10是示出针对Mura像素的检测的块的示例的表示的图。
图11是示出按照标准偏差值的降序排序的图10的块的示例的表示的表。
图12是示出选择偏离标准偏差的块的示例的表示的表。
图13是示出提取所述块的Mura像素的坐标值的示例的表示的表。
图14是示出图13所示的块B4的像素的亮度值以及亮度值与标准偏差的差的示例的表示的图。
图15是示出其中的Mura子块的面积比正常子块小的块的示例的表示的图。
图16是示出其中的正常子块的面积比Mura子块小的块的示例的表示的图。
图17是示出图15和图16的非校正子块的Mura校正的示例的表示的查找表。
图18是示出图15和图16的校正子块的像素的Mura像素校正的示例的表示的查找表。
图19是示出图1中所示的驱动器的实施方式的表示的框图。
图20是示出图19中所示的Mura校正单元的实施方式的表示的框图。
图21是用于帮助解释在应用DBV控制时Mura校正值的变化的图的示例的表示。
图22是用于帮助解释在应用偏移控制时Mura校正值的变化的图的示例的表示。
具体实施方式
在下文中，将参照附图详细描述本公开的实施方式。本文和权利要求书中使用的术语不应解释为受限于一般含义或词典含义，而是应基于与本公开的技术方面对应的含义和概念来解释。
本文中描述的实施方式和在附图中示出的配置是本公开的优选实施方式，但是并不代表本公开的所有技术特征。因此，在提交本申请时可以存在能够对本公开作出的多种等同和修改。
由于制造过程中的误差等，在显示图像的像素中会出现具有斑点形式的Mura。显示面板的Mura缺陷可以通过精确地检测在显示面板上显示的测试图像、分析检测图像中的Mura并对Mura进行校正作为分析Mura的结果来解决。
为此，根据本公开的实施方式的Mura校正系统可以如图1所示。
参照图1，Mura校正系统包括：测试图像供应单元20，其将每个灰度级的测试图像提供给显示面板10；图像检测单元30，其拍摄显示在显示面板10上的测试图像并提供拍摄的检测图像；相机校准单元40，其分析检测图像，并且从而提供用于允许图像检测单元30获得精确的检测图像的校准信息；以及Mura校正装置100，其对检测图像执行Mura分析，并生成与Mura分析对应的Mura校正数据。Mura校正装置100配置成将Mura校正数据提供给驱动器200。
在以上配置中，显示面板10可以使用LCD面板或OLED面板。
测试图像供应单元20可以提供如图2A和图2B所示的测试图像。图2A示出以矩阵结构形成小的方形白色图案，并且图2B示出以矩阵结构形成大的方形黑色图案。
与图2A和图2B不同，可以根据显示面板10的尺寸或形状来不同地应用测试图像。即，在测试图像中，图案的形状、尺寸、排列状态或数量可以根据显示面板10的尺寸或形状来确定。另外，不仅可以应用四边形形状而且可以应用与之不同的形状作为包括在测试图像中的图案的形状，并且四边形形状和所述不同形状可以单独地或组合地形成。
测试图像供应单元20可以分开提供用于校准图像检测单元30的拍摄状态的测试图像和用于分析显示面板10的Mura的测试图像。用于校准图像检测单元30的拍摄状态的测试图像可以配置成具有易于对图像的尺寸、旋转和畸变进行分析的图案，并且用于分析显示面板10的Mura的测试图像可以配置成容易获取到显示面板10的每个灰度级的像素亮度值。在本公开的实施方式的描述中，这两种情况都将统称为测试图像。
显示面板10可以接收测试图像(即，从测试图像供应单元20供应的测试图像数据)，可以根据测试图像数据来驱动以矩阵形式布置的像素，并且可以通过像素的驱动来显示测试图像。
图像检测单元30可以理解为使用图像传感器的相机，并且其通过拍摄显示在显示面板10上的测试图像来获得检测图像以对Mura进行分析。可以根据显示面板10的形状或尺寸来不同地设置图像检测单元30的拍摄状态。图像检测单元30可以将拍摄的检测图像(即，检测图像数据)提供给相机校准单元40和Mura校正装置100。可以以与可以被相机校准单元40和Mura校正装置100接收的多种协议对应的格式来发送表示检测图像的检测图像数据。在下面的描述中，检测图像可以被理解为检测图像数据。
相机校准单元40可以配置成：在单独的显示装置(未示出)上显示校准信息，或将校准信息反馈回图像检测单元30，其中，所述校准信息用于根据对通过拍摄图2A或图2B所示的测试图像而获得的检测图像进行分析的结果来对拍摄状态进行校准。
在相机校准单元40在单独的显示装置上显示校准信息的情况下，用户可以检查校准信息并手动校准图像检测单元30的拍摄状态。在图像检测单元30配置成能够通过参考反馈回的校准信息来自动校准拍摄状态的情况下，可以在相机校准单元40将校准信息反馈给图像检测单元30时，自动实施拍摄状态的校准。
Mura分析使用由图像检测单元30拍摄的检测图像。因此，图像检测单元30的拍摄状态的设置可能对Mura分析结果产生实质性影响。
根据本公开的实施方式，通过使用相机校准单元40客观地确定出检测图像没有保持测试图像的原始值并且具有尺寸变化、旋转或畸变的情况，可以对图像检测单元30的拍摄状态进行校准，并且通过校准，可以减少可能因图像检测单元30而出现的误差。
Mura校正装置100从图像检测单元30接收检测图像，并对检测图像执行Mura分析并生成Mura校正数据。
Mura校正装置100可以例示为如图3所示的那样。在图3中，检测图像由V_DATA表示，并且Mura校正数据由C_DATA表示。
Mura校正装置100包括对检测图像V_DATA执行预处理操作的图像接收单元110和噪声衰减滤波器120，并且包括用于对经预处理的检测图像V_DATA进行Mura校正的Mura校正单元130。
图像接收单元110是用于接收从外部图像检测单元30发送的检测图像V_DATA并将所接收的检测图像V_DATA发送到噪声衰减滤波器120的接口部分。
噪声衰减滤波器120用于对检测图像V_DATA的噪声进行滤波。
从图像检测单元30提供的检测图像V_DATA由于图像传感器的电特性而具有噪声。噪声可能会成为在Mura分析中增加误差偏差的因素。
因此，应从检测图像V_DATA中对由于图像传感器的电特性引起的噪声进行滤波。为此，可以使用低通滤波器来配置噪声衰减滤波器120。低通滤波器可以理解为通常指定的高斯滤波器、均值滤波器、中值滤波器等。
检测图像V_DATA在经过图像接收单元110和噪声衰减滤波器120以进行预处理之后，被输入到Mura校正单元130。
Mura校正单元130接收其中的噪声被噪声衰减滤波器120衰减的检测图像V_DATA，并且通过确定每个检测图像V_DATA在包括多个像素的块单元中的亮度值，来检测具有Mura的Mura块。Mura校正单元130生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正成显示面板10的平均像素亮度值。
Mura校正单元130将Mura校正方程式的系数之中的第一系数(例如，最高阶的系数)设置成包括能够改变Mura块的亮度表示范围的适应性范围比特。适应性范围比特用于将第一系数的系数值设置成使得Mura块的Mura测量值和Mura校正值之和近似于平均像素亮度值。Mura校正单元130生成Mura校正数据，其包括Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值。
为此，Mura校正单元130包括Mura块检测器140、系数生成器142、Mura像素检测器150、系数生成器152、存储器160和输出电路170。
Mura块检测器140接收其中的噪声被噪声衰减滤波器120衰减的检测图像V_DATA，并通过确定每个检测图像V_DATA在包括多个像素的块单元中的亮度值，来检测具有Mura的Mura块。
例如，可以从图像检测单元30以具有不同灰度值的帧单元A、B、C...D(如图4所示)提供检测图像V_DATA，并且Mura块检测器140针对每个帧单元在块单元中检测Mura块。图4可以理解为将18个灰度级、48个灰度级、100个灰度级和150个灰度级的帧表示为检测图像V_DATA。
例如，如图5所示，可以将每个帧的检测图像V_DATA划分成以矩阵形式排列的多个块，并且每个块包括以矩阵的形式排列的多个像素。在图5中，附图标记B11、B12...B23分别表示相应的块，并且附图标记P11、P12...P44分别表示相应的像素。
可以在图5的块单元中确定Mura块。Mura块可以基于显示面板10的检测图像V_DATA的每个灰度级的平均亮度值来确定。例如，块可以具有通过包括在所述块中的像素的亮度进行计算的平均亮度值。在块之中，可以将其平均亮度值相对于显示面板10的每个灰度级的平均亮度值偏离标准偏差至少预定水平的块确定为Mura块。
Mura块检测器140生成被确定为Mura块的块的位置值。例如，可以将Mura块的位置值指定为包括在Mura块中的像素中的特定一个像素的位置值。更具体地，当图5的块B23是Mura块并且块B23的像素P11的坐标是(5，9)时，Mura块的位置值可以被指定为(5，9)。
Mura块检测器140将包括Mura块的位置值的数据以及该块的检测图像V_DATA输出到系数生成器142，并且将用于检测图像V_DATA的块的信息(所述信息包括位置信息和检测图像V_DATA)输出到Mura像素检测器150。
系数生成器142生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，用于将Mura块的每个灰度级的测量值校正为显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值，并且将Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值存储在存储器160中。将Mura块的位置值和Mura校正方程式系数的系数值存储在存储器160中以与彼此结合，并且可以限定为Mura校正数据。
在本公开的实施方式中，在驱动器200中执行用于Mura块的Mura校正。为了进行Mura校正，需要能够精确表示Mura块的每个灰度级的亮度值的近似方程式(即，Mura校正方程式)。在确定了Mura校正方程式的情况下，只要确定出每个灰度级的Mura校正方程式系数的系数值，则可以精确地执行Mura校正。
在本公开的实施方式中，Mura校正装置100可以生成用于对Mura块进行Mura校正的Mura校正方程式的系数值，作为Mura校正数据。驱动器200可以具有根据Mura校正方程式执行计算的算法，并且可以通过将输入数据(显示数据)应用于将从Mura校正装置100提供的系数值应用到其中的Mura校正方程式，来向显示面板10提供能够相应于显示数据显示具有改善的图像质量的屏幕的驱动信号。
本公开实施成使用二次Mura校正方程式，以将每个灰度级的Mura块的亮度值最大程度地近似于显示面板10的平均像素亮度值。因此，Mura校正装置100生成Mura校正方程式(其是二次方程式)系数的系数值，并且驱动器200将系数的系数值应用于Mura校正方程式，通过Mura校正方程式校正输入值(显示数据)，并输出与经校正的显示数据对应的驱动信号。
下文中将参考图6描述Mura校正方程式。在图6中，曲线CM表示显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值，曲线CA表示每个灰度级的Mura校正值，并且曲线CB表示每个灰度级的Mura测量值。
【方程式1】
Y＝aX2+bX+c+X
在方程式1中，每个灰度级的Mura校正值表示为aX2+bX+c，每个灰度级的Mura测量值表示为X，并且显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值表示为Y。在方程式1中，X是每个灰度级的Mura测量值(即，灰度级的灰度值)，并且Mura校正方程式的各阶系数表示为a、b和c。
在本公开的实施方式中，可以使用如图7所示的存储器映射来存储Mura校正方程式的各阶的系数值。可以由存储器映射在存储容量范围内设置Mura校正方程式的系数。
在一般情况下，Mura校正方程式的各阶的系数值可以设置为例如由8比特表示，并且可以使用如图8所示的存储器映射进行存储。在图8中，PGA指的是表示系数a的系数值的比特，PGB指的是表示系数b的系数值的比特，并且PGC指的是表示系数c的系数值的比特。
如果Mura块的每个灰度级的亮度值没有显著变化，则通过图8中所示的8比特可以充分表示系数a、b和c的系数值。然而，如果Mura块的每个灰度级的亮度值的变化是很大的，则难以通过8比特来充分表示系数a、b和c的系数值。
为了解决这个问题，本公开的实施方式可以配置成通过应用适应性范围来设置系数中的至少一个指定系数。例如，为了解决图8的上述问题，本公开的实施方式配置成通过应用如图7所示的适应性范围来设置系数之中的最高阶的系数a。
参照图7，系数之中的最高阶的系数a设置成包括适应性范围比特AR和基础范围比特GA，并且其余系数b和c设置成包括基础范围比特GB和GC。系数a、b和c的基础范围比特GA、GB和GC可以设置成具有相同的比特数。适应性范围比特AR被示例为3比特，而基础范围比特GA、GB和GC被示例为7比特。
另一方面，各个系数的基础范围比特GA、GB和GC可以设置成具有不同比特数。换言之，系数a的基础范围比特GA的数量可以设置成m1，系数b的基础范围比特GB的数量可以设置成m2，系数a的基础范围比特GC的数量可以设置成m3，并且适应性范围比特AR的数量可以设置成n。这里，m1、m2、m3和n是自然数。
即，存储器映射的总容量是m1+m2+m3+n比特。在总容量中，可以指定除了被指定给系数a的m1+n比特之外的其余比特，以表示系数b和系数c的基础范围比特GB和GC。例如，可以将系数a设置成具有2比特(n＝2)的适应性范围比特AR和7比特(m1＝7)的基础范围比特GA，可以将系数b设置成具有7比特(m2＝7)的基础范围比特GB，并且可以将系数c设置成具有8比特(m3＝8)的基础范围比特GC。
上述的适应性范围比特AR将改变Mura块的亮度表示范围，以使得Mura块的Mura测量值和Mura校正值之和近似于平均像素亮度值。通过适应性范围比特AR的值的变化而确定的Mura块的亮度表示范围包括分辨率和亮度值范围。即，适应性范围比特AR的变化改变了Mura块的亮度表示范围、分辨率和亮度值范围。
在本公开的实施方式中，可以通过改变适应性范围比特AR来改变系数a。换言之，在Mura块的亮度值的变化很大并且因此Mura校正方程式的值不能通过设置系数a、b和c的基础范围比特来达到显示面板10的平均像素亮度值的情况下，可以通过改变适应性范围比特AR来改变系数a的系数值。通过设置适应性范围比特AR，系数a可以具有最接近于Mura块的亮度表示范围中的实际所需系数值的系数值。
下面将参照图9描述对根据本公开的实施方式的Mura校正方程式的对其应用适应性范围的系数a进行设置的方法。
系数a由适应性范围比特AR和基础范围比特GA表示。在适应性范围比特AR是3比特的情况下，系数a可以具有与8个级的表示范围(诸如，Range0至Range7)对应的值。
图9示出了Mura块的亮度表示范围改变成Range0、Range1和Range2，其中Mura块的亮度表示范围在Range0中最窄，并且在Range2中最宽。
随着适应性范围比特AR的值更高，Mura块的亮度表示范围变得更宽。即，Mura块的亮度值范围变宽，并且Mura块的分辨率变低。
表1示出了系数a的适应性范围比特AR的用于表示256个灰度级的变化。
【表1】
AR -MAX～+MAX 亮度值范围 分辨率
0 -2-8～2-8 2×2-8 (2×2-8)/256
1 -2-9～2-9 2×2-9 (2×2-9)/256
2 -2-10～2-10 2×2-10 (2×2-10)/256
在表1中，在系数a的适应性范围比特AR是3比特的情况下，适应性范围比特AR的值(000)2表示为0，并且与图9的Range0对应；适应性范围比特AR的值(001)2表示为1，并且与图9的Range1对应；以及适应性范围比特AR的值(010)2表示为2，并且与图9的Range2对应。
如表1所示，当适应性范围比特AR的值改变时，Range0、Range1和Range2的表示范围、亮度值范围和分辨率随着适应性范围比特AR的值变得更高而改变。
在上文中，Range0与可以由系数a的基础范围比特GA表示的最大值对应。
如图9所示，在将系数a设置成表示范围Range0并且近似于平均像素亮度值实际所需的系数值REF与表示范围Range0有所偏离的情况下，出现误差F1。
为了消除误差F1，在本公开的实施方式中，可以改变适应性范围比特AR的值。
在适应性范围比特AR的值为2的情况下，可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示范围Range2中。然而，在可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值与可以由表示范围Range2的灰度值表示的值之中最接近的值之间，出现误差F2。
在适应性范围比特AR的值为1的情况下，可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值被包括在表示范围Range1中。可以由实际所需的系数值REF表示的平均像素亮度值与表示范围Range1的最大值+MAX对应。
根据本公开的实施方式，在以上所描述的图9和表1的情况下，可以将适应性范围比特AR的值设置成1，并且系数a的系数值可以通过将与1对应的适应性范围比特AR的值与基础范围比特GA的最大值相结合而获得。
在本公开的实施方式中，可以如以上参考图9和表1描述的方法中那样设置Mura校正方程式的系数a。
在与适应性范围比特AR的变化对应的表示范围中不存在与所需的系数值REF完全对应的值的情况下，系数a的系数值可以通过将与在其中存在最接近值的表示范围对应的适应性范围比特AR的值与基础范围比特GA的最大值相结合而获得。
如上所述，系数生成器142首先通过使用基础范围比特GA、GB和GC来确定Mura校正方程式的系数a、b和c的系数值。在显示面板10的每个灰度级的平均像素亮度值与通过Mura校正方程式得到的值范围偏离的情况下，将最高阶的系数a的适应性范围比特AR设置成使得实际所需的系数值REF具有最接近平均像素亮度值的值。
当如上所述生成用于Mura块的Mura校正方程式的系数的系数值时，系数生成器142将Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值存储在存储器160中，作为Mura校正数据。Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值以查找表的形式存储在存储器160中。Mura块的位置值被用作索引。Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值与彼此结合，使得可以从Mura块的位置值读取Mura校正方程式的系数的系数值。
如上所述，在Mura校正单元130中，Mura块检测器140检测到Mura块，并且由此生成Mura块的位置值，并且系数生成器142生成Mura校正方程式的系数的系数值。
此后，Mura块检测器140可以以帧单元或块单元的形式将检测图像V_DATA输出到Mura像素检测器150。Mura块检测器140将用于普通块和Mura块的检测图像V_DATA的块的信息(所述信息包括位置信息和检测图像V_DATA)输出到Mura像素检测器150。
Mura像素是指具有缺陷并且表示由于制造过程中的误差等而出现的具有像素尺寸的点状Mura的像素。
Mura像素可以在检测图像V_DATA的块单元中进行确定。可以基于显示面板10的平均像素亮度值和相邻像素的亮度值来检测Mura像素。
更具体地，在Mura像素(诸如白点Mura、黑点Mura和黑白点Mura)的亮度值等于或大于基于平均像素亮度值、基于相邻像素的亮度值或者基于平均像素亮度值和相邻像素的亮度值两者设置的参考值的情况下，将相应像素检测为Mura像素。
可以通过用于一个Mura像素的校正方法和基于块的校正方法来校正像素的亮度值。
首先，下面将参考图10至图14描述用于一个Mura像素的校正方法。图10是示出针对Mura像素的检测的块的示例的表示的图，图11是示出按照标准偏差值的降序排序的图10的块的示例的表示的表，图12是示出选择偏离标准偏差的块的示例的表示的表，图13是示出提取所述块的Mura像素的坐标值的示例的表示的表，图14是示出图13所示的块B4的像素的亮度值以及亮度值与标准偏差的差的示例的表示的图。
在Mura校正装置100的Mura校正单元130中，Mura块检测器140、Mura像素检测器150和系数生成器152可以用于对一个Mura像素进行校正。
参照图10，检测图像V_DATA可以划分成以矩阵的形式排列的块(例如，块B1至B4)，并且所述块中的每个均包括以矩阵的形式排列的像素。
例如，在块B1的左顶部像素的位置值是(1，1)的情况下，块B1的位置值可以指定为(1，1)。因此，块B2的位置值可以指定为(1，3)，块B3的位置值可以指定为(3，1)，并且块B4的位置值可以指定为(3，3)。
Mura块检测器140基于显示面板10的平均像素亮度值在各自包括多个像素的块B1至B4之中检测具有Mura像素的Mura块。Mura块检测器140提供检测到的Mura块的位置值。
Mura块检测器140可以检测相对于显示面板10的平均像素亮度值偏离预设的标准偏差Stdev的块作为Mura块。
图10的块的标准偏差Stdev可以如图11所示按标准偏差Stdev的降序排列。用于检测Mura块的标准偏差Stdev可以被理解为显示面板10的平均像素亮度值与相应像素的亮度值之间的差值的平均值。
在图10中以4×4矩阵结构所示的块之中，块B4的各个像素的亮度值为12、12、11和1。与其它块相比，块B4的像素具有相对较高的亮度值，并且结果，其标准偏差Stdev可以计算为4.63。
在Mura块检测器140设置成将与标准偏差Stdev偏离达到2的块确定为Mura块的情况下，图11的表中的块B4对应于Mura块。
因此，Mura块检测器140通过参考图11的表来将块B4检测为如图12所示的Mura块。在图12中，X和Y表示块B4的位置值。
Mura块检测器140可以提供被检测为Mura块的块B4的位置值(3，3)。
当Mura像素检测器150接收到如上所述的由Mura块检测器140检测为Mura块的块B4的坐标值时，Mura像素检测器150基于预设的参考值来在作为Mura块的块B4中检测Mura像素。然后，Mura像素检测器150提供Mura像素的位置值。
在块B4的情况下，示出了标准偏差Stdev是4.6。因此，可以通过在块B4中搜索亮度值偏离标准偏差Stdev达到4.6的像素，来获得如图13所示的Mura像素的坐标。参照图13，可以看出，在块B4中，在位置值(4，4)处具有亮度值为1的像素被提取为Mura像素。
图14示出了各个像素的亮度值相对于块B4的平均亮度值9的偏差。在图14中，可以检查出在块B4中具有位置值(4，4)的像素具有比为4.6的标准偏差Stdev大得多的为8的偏差值。
Mura像素检测器150可以通过上述方法检测Mura像素，并且可以提供Mura像素的位置值。
系数生成器152接收Mura像素的位置值。系数生成器152生成Mura像素校正方程式(其为二次方程式)的系数的系数值，用于将Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板10的平均像素亮度值，并且系数生成器152生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
Mura像素校正方程式可以表示为Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和。X是灰度级的灰度级值，并且a、b和c是系数。
由于在系数生成器152中获取Mura像素校正方程式的系数的系数值的方法与上文所描述的在系数生成器142中获取Mura校正方程式的系数的系数值方法相同，因此本文中将省略对其的重复描述。
系数生成器142可以接收检测到的Mura块的位置值以提取Mura像素。在这种情况下，由于系数生成器142的操作与上面参考图6至图9所描述的相同，因此本文中将省略对其的重复描述。
同时，Mura校正装置100的Mura校正单元130可以控制这样的过程：首先生成上述用于Mura块的Mura校正数据，并且在生成Mura校正数据之后，生成用于Mura块的Mura像素的Mura像素校正数据。
另一方面，将在下面参考图15至图18对以块为单位对块中的像素的亮度值进行校正的方法进行描述。图15是示出其中的Mura子块的面积比正常子块小的块的示例的表示的图，图16是示出其中的正常子块的面积比Mura子块小的块的示例的表示的图，图17是示出图15和图16的非校正子块的Mura校正的示例的表示的查找表，以及图18是示出图15和图16的校正子块的像素的Mura像素校正的示例的表示的查找表。
在Mura校正装置100的Mura校正单元130中，Mura块检测器140、Mura像素检测器150和系数生成器152可以用于以块为单位对块中的像素的亮度值进行校正。
图15示出了具有位置值(188，80)的块B0，并且图16示出了具有位置值(208，108)的块B9。
图15的块B0是否对应于Mura块可以通过Mura块检测器140来确定。
基于显示面板10的平均像素亮度值，块B0包括与某一区域中的Mura像素对应的像素。
因此，Mura块检测器140将块B0检测为Mura块。块B0被划分成具有少量Mura的正常像素的正常子块BS01和具有密集Mura的Mura像素的Mura子块BS02。
由于Mura子块BS02在块B0中具有比正常子块BS01小的面积，因此Mura块检测器140选择Mura子块BS02作为校正子块，并且Mura块检测器140提供作为校正子块的Mura子块BS02的位置值(190，80)。
同时，图16的块B9是否对应于Mura块也可以通过Mura块检测器140来确定。
基于显示面板10的平均像素亮度值，块B9还包括与某一区域中的Mura像素对应的像素。
因此，Mura块检测器140将块B9检测为Mura块。块B9被划分成具有密集Mura的Mura像素的Mura子块BS91和具有少量Mura的正常像素的正常子块BS92。
由于正常子块BS92在块B9中具有比Mura子块BS91小的面积，因此Mura块检测器140选择正常子块BS92作为校正子块，并且提供作为校正子块的正常子块BS92的位置值(208，111)。
如上所述，在本公开的实施方式中，Mura块检测器140选择具有小面积的子块作为校正子块的原因在于，通过减小如图18中所示的查找表的大小，减轻存储器的负担。
如上所述，在Mura块检测器140提供与图15或图16的情况对应的校正子块的位置值时，Mura像素检测器150接收校正子块的位置值并提供校正子块中的像素的位置值。
在图18中可以示出从Mura像素检测器150提供的校正子块中的像素的位置值。图18将包括在图15的Mura子块BS02中的像素的位置值和包括在图16的正常子块BS92中的像素的位置值示出为查找表。
同时，被确定为Mura块的图15的块B0和图16的块B9的位置值可以如图17所示存储在用于Mura块的查找表中。
如图17和图18中所示的查找表可以存储在存储器160中，存储器160通过诸如闪速存储器的记录装置进行配置。
系数生成器152从Mura像素检测器150接收校正子块中的像素的位置值。系数生成器152生成Mura像素校正方程式(其是二次方程式)的系数的系数值，用于将校正子块中的每个像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板10的平均像素亮度值。如图18所示，系数生成器152可以生成Mura像素校正数据，所述Mura像素校正数据包括校正子块的像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值。
Mura像素校正方程式可以通过Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示。X是灰度级的灰度值，且a、b和c是系数。这些系数的系数值可以被存储为图18的校正参数。
由于在系数生成器152中获取Mura像素校正方程式的系数的系数值的方法与上文所描述的在系数生成器142中获取Mura校正方程式的系数的系数值方法相同，因此本文中将省略对其的重复描述。
同时，Mura块检测器140可以选择如图15和图16中的每一个所划分的Mura子块和正常子块之中具有较大面积的子块作为非校正子块，并且还可以提供非校正子块的位置值。
系数生成器142从Mura块检测器140接收非校正子块的位置值。系数生成器142生成Mura校正方程式(其是二次方程式)的系数的系数值，用于将非校正子块的针对每个灰度级的非校正子块的测量值校正成显示面板10的平均像素亮度值。系数生成器142将Mura校正方程式的系数中的最高阶系数设置为包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变非校正子块的亮度表示范围以使得非校正子块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于平均像素亮度值。以上述方式，系数生成器142可以生成包括非校正子块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据，并且可以将Mura校正数据提供给存储器160以将Mura校正数据存储为如图17所示的查找表。
由于上面描述的系数生成器142的操作与上面参考图6至图9描述的相同，本文中将省略对其的重复描述。
同时，Mura校正装置100的Mura校正单元130可以控制这样的过程，即首先生成用于非校正子块的Mura校正数据，并且在生成Mura校正数据之后，生成用于包括在校正子块中的像素的Mura像素校正数据。
通过以上描述，存储器160可以存储从系数生成器142提供的包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据，以及从系数生成器152提供的包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据，如图17和图18中所示。
如果完成了通过Mura块检测器140进行的Mura块检测和通过Mura像素检测器150进行的Mura像素检测，则输出电路170从存储器160接收从Mura块检测器140传送的与Mura块的位置值对应的Mura校正数据以及从Mura像素检测器150传送的与Mura像素的位置值对应的Mura像素校正数据，并将Mura校正数据和Mura像素校正数据提供给驱动器200。
驱动器200将Mura校正数据和Mura像素校正数据存储在诸如配置在其中的闪速存储器的存储位置中。
通过上述方法测试的显示面板10可以制作为具有驱动器200的集合，在其中存储有Mura校正数据和Mura像素校正数据。驱动器200可以通过使用Mura校正数据和Mura像素校正数据来校正Mura块或Mura像素的显示数据。
结果，显示面板10可以通过校正显示数据来显示具有改善的图像质量的屏幕。
更具体地，下文中将参考图19描述驱动器200的实施方式。下文中，驱动器200可以被理解为Mura校正驱动器。
驱动器200配置成包括Mura存储器210、Mura校正单元220和显示亮度值(DBV)控制单元240。驱动器200的实施方式被示例为配置成包括时序控制器230和信号驱动单元250。根据本公开的实施方式，Mura存储器210、Mura校正单元220和DBV控制单元240可以在用于对显示数据进行Mura校正的多种应用中实施，并且这些应用可以不包括时序控制器230和信号驱动单元250。
信号驱动单元250可以包括数据锁存器260、数模转换器(DAC)270、伽马电路280和驱动电路290。
时序控制器230接收Mura校正单元220的显示数据，在其中执行Mura块和Mura像素的Mura校正。时序控制器230配置成在显示数据经过内部处理(诸如用于信号传输的显示数据的协议改变)之后，将显示数据提供给信号驱动单元250的数据锁存器260。
信号驱动单元250配置成接收显示数据，并向连接到驱动电路290的显示面板10提供与显示数据对应的源信号Sout。
数据锁存器260可以配置成包括多个锁存元件，这些锁存元件锁存与显示面板10的一行对应的显示数据，以同时处理显示数据。
伽马电路280配置成向DAC 270提供针对相应灰度级的伽马电压。
DAC 270配置成接收数据锁存器260的显示数据，选择伽马电路280的伽马电压之中的与显示数据对应的灰度级的伽马电压，并将选定的驱动电压输出到驱动电路290。
驱动电路290是用于驱动DAC 270的输出并由此输出源信号Sout的输出缓冲器。驱动电路290的源信号Sout被提供给显示面板10。
根据本公开的驱动器200的实施方式通过使用二次Mura校正方程式来校正包括在显示数据中的Mura块的亮度值，并且为此，包括Mura存储器210和Mura校正单元220。驱动器200可以通过使用二次Mura像素校正方程式来校正包括在显示数据中的Mura像素的亮度值，并且Mura存储器210和Mura校正单元220也可以用于校正Mura像素。
Mura存储器210存储Mura校正数据和Mura像素校正数据，所述Mura校正数据包括用于显示面板10的Mura块的位置值和用于Mura块的系数值，所述Mura像素校正数据包括用于显示面板10的Mura像素的位置值和用于Mura像素的系数值。可以将Mura存储器210的Mura校正数据C_DATA理解为是从上述Mura校正装置100提供的，并且还可以将其理解为Mura像素校正数据。
Mura块、Mura块的位置值、Mura像素和Mura像素的位置值可以如上文参考图5描述的那样进行理解。此外，Mura校正方程式、Mura校正方程式的系数的系数值、Mura像素校正方程式和Mura像素校正方程式的系数的系数值可以如上文参考图6至图9描述的那样进行理解。
在上文参考图5描述的Mura校正方程式的系数中，如上所述，具有最高阶的系数a与其他系数相比还包括适应性范围比特AR。
驱动器200可以通过使用Mura存储器210的Mura校正数据和Mura块的位置值来对Mura块执行Mura校正。此外，驱动器200可以通过使用Mura存储器210的Mura像素校正数据和Mura像素的位置值来对Mura像素执行Mura校正。
首先，下面将描述驱动器200的用于对Mura块进行Mura校正的配置和操作。
Mura校正单元220接收Mura存储器210的Mura校正数据C_DATA，并接收显示数据D_DATA。可以理解，显示数据D_DATA从外部数据源提供给驱动器200，以用于屏幕的显示。
Mura校正单元220将显示数据D_DATA之中的与Mura块的位置值对应的显示数据(第一显示数据)设置为Mura校正方程式的第一输入值X。Mura校正方程式是将用于Mura块的Mura校正数据C_DATA的系数值应用到其中的方程式。Mura校正方程式可以理解为如方程式1中的Y＝aX2+bX+c+X。
Mura校正单元220将Mura校正方程式的系数之中的系数a如图7所示地设置为包括适应性范围比特AR和基础范围比特GA，并且将其余系数b和c如图7所示地设置为包括基础范围比特GB和GC。通过改变基础范围比特GA、GB和GC的表示范围，适应性范围比特AR可以设置成具有与其值最接近于实际所需的系数值a的表示范围对应的值。
Mura校正单元220生成与第一输入值X对应的Mura校正方程式的解作为用于第一显示数据的第一校正显示数据，并将包括Mura块的位置值和第一校正显示数据的显示数据输出到时序控制器230。
同时，Mura校正单元220如图19所示地与用于DBV控制功能的DBV控制单元240连接。
DBV控制单元240接收用于DBV控制的控制信号DBV_C，并向Mura校正单元220提供与控制信号DBV_C对应的控制值X0。控制信号DBV_C是从驱动器200外部提供的电信号，以消除在Mura校正中可能出现的误差，并且可以具有其值在预定范围内变化的电平。控制值X0可以具有与控制信号DBV_C的电平对应的值。下面将参考图20描述Mura校正单元220的与控制值X0对应的操作。
Mura校正单元220可以如图20所示地配置成对Mura块执行Mura校正和DBV控制。
参考图20，Mura校正单元220包括Mura校正方程式设置电路310、输入值调整电路320和校正输出电路330。
Mura校正方程式设置电路310接收Mura校正数据C_DATA，并通过应用Mura块的系数值来设置针对第一输入值X的Mura校正方程式。Mura校正方程式可以被理解为如方程式1中的Y＝aX2+bX+c+X。
输入值调整电路320通过计算用于DBV控制的控制值X0和第一输入值X来设置第三输入值X1，并且将Mura校正方程式改变成针对第三输入值X1的方程式。即，第三输入值X1可以理解为X1＝X-X0，并且Mura校正方程式被改变成如Y＝aX12+bX1+c+X1那样的针对第三输入值X1的方程式。
第一输入值X和控制值X0的计算可以选择为将第一输入值X和控制值X0相加和相乘中的一种。在本公开的实施方式中，计算可以理解为将第一输入值X与负控制值-X0相加。
校正输出电路330可以生成通过替换显示数据D_DATA之中的Mura块的针对第一输入值X的第一显示数据而设置的与第三输入值对应的Mura校正方程式的解作为用于第一显示数据的第一校正显示数据，并且输出包括Mura块的位置值和第一校正显示数据的显示数据D_DATA。
例如，假设系数a的值是0.1，系数b的值是1并且系数c的值是0，在第一输入值X是100的情况下，Mura校正值为Mura校正方程式0.1(100)2+1(100)+0，即1100。
在上述情况下，在输入值在DBV方面变暗5的情况下，第三输入值X1被计算为X1＝100-5＝95，并且Mura校正方程式的Mura校正值变为0.1(95)2+1(95)+0，即997.5。
如上所述，根据本公开的实施方式，Mura校正方程式的Mura校正值可以如图21所描绘出的那样变化，并且因此，可以使通过Mura校正得到的亮度值Y变化输入值变暗的量。
然而，在应用一般的偏移控制的情况下，在Mura校正方程式Y＝aX12+bX1+c+X1中仅改变c的值。在这种情况下，Mura校正方程式的Mura校正值可以如图22所描绘出的那样变化。
在偏移控制中输入值变暗5的情况下，Mura校正方程式的Mura校正值变为0.1(100)2+1(100)+(0-5)，即1095。换句话说，在一般偏移控制的情况下，当通过Mura校正考虑亮度值Y时，改变Mura校正值不与输入值变暗相对应。
如可以从上文描述的图21和图22的对比看出的，本公开的实施方式可以通过经由DBV控制将二次Mura校正方程式和适应性范围应用到系数来精确地校正在Mura校正中可能出现的误差。
除了使用Mura存储器210的Mura像素的位置值和Mura像素校正数据之外，由驱动器200对Mura像素进行的Mura校正可以以与上文描述的对Mura块的Mura校正基本相同的方法来执行。
即，Mura校正单元220接收Mura像素校正数据，将与Mura像素的位置值对应的显示数据(第二显示数据)设置为二次Mura像素校正方程式的第二输入值X，对该二次Mura像素校正方程式应用针对Mura像素的系数。Mura像素校正方程式是对其应用针对Mura像素的Mura像素校正数据的系数值的方程式。Mura像素校正方程式可以被理解为如方程式1中的Y＝aX2+bX+c+X。
Mura校正单元220生成与第二输入值对应的Mura像素校正方程式的解作为用于第二显示数据的第二校正显示数据，并且将包括Mura像素的位置值和第二校正显示数据的显示数据输出到时序控制器230。
在本公开的实施方式中，可以顺序地执行对Mura像素的第一Mura校正和对Mura块的第二Mura校正。
在这种情况下，Mura校正单元220通过对Mura像素执行第一Mura校正，来通过用于第二显示数据的第二校正显示数据来校正显示数据，并且然后，对Mura块执行第二Mura校正。
Mura校正单元220通过第二Mura校正来利用用于第一显示数据的第一校正显示数据来校正显示数据，并将完成第一Mura校正和第二Mura校正的显示数据输出到时序控制器230。
从以上描述中显而易见的是，根据本公开的实施方式，通过使用二次Mura校正方程式校正显示面板的Mura块或Mura像素的亮度值，能够驱动显示面板具有高图像质量。
此外，根据本公开的实施方式，可以通过将适应性范围应用于Mura校正方程式的系数来改变Mura块的亮度值表示范围，并且因此，可以将对超出系数的基础范围比特的表示范围的Mura块的亮度值进行校正，从而可以更有效地改善显示面板的图像质量。
此外，根据本公开的实施方式，可以通过DBV控制来有效地消除在Mura校正中可能出现的误差。
此外，根据本公开的实施方式，可以通过检测单个Mura像素并生成Mura像素校正数据，以将其应用到二次Mura像素校正方程式来对Mura像素的亮度值进行校正，从而实现对Mura像素的Mura校正。
此外，根据本公开的实施方式，可以通过将Mura块的像素划分成Mura子块和正常子块，在Mura子块和正常子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块，并且对校正子块中的像素的亮度值进行校正，在减轻存储器负担的同时实现对Mura像素的Mura校正。
虽然上文已经描述了各种实施方式，但是本领域的技术人员将理解，所描述的实施方式仅是示例性的。因此，不应基于所描述的实施方式来限制本文所描述的公开内容。

Claims (15)

1.一种Mura校正系统，包括：
Mura校正装置，配置成接收检测图像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据，其中所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应；
所述Mura校正装置包括：
Mura块检测器，配置成基于所述显示面板的平均像素亮度值在各自包括多个像素的块之中检测具有所述Mura像素的Mura块，并且提供所述Mura块的位置值；
Mura像素检测器，配置成接收所述Mura块的位置值，基于预设的参考值检测所述Mura块中的Mura像素，并提供所述Mura像素的位置值；以及
第一系数生成器，所述第一系数生成器配置成接收所述Mura像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，并且生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据，其中所述Mura像素校正方程式为用于将所述Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式。
2.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura块检测器将相对于所述显示面板的平均亮度值偏离标准偏差的块检测为所述Mura块。
3.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura像素检测器将所述Mura块中的像素之中的对于所述Mura块的相应平均像素亮度值偏离标准偏差的像素检测为所述Mura像素。
4.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述第一系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura像素校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
5.根据权利要求1所述的Mura校正系统，还包括：
第二系数生成器，配置成接收所述Mura块的位置值，
其中，所述第二系数生成器：
生成Mura校正方程式的系数的系数值，所述Mura校正方程式是用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式；
将所述Mura校正方程式的系数中的最高阶系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮度表示范围以使得用于所述Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值；以及
生成包括所述Mura块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。
6.根据权利要求5所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
7.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器：
将所述系数a设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将所述系数b和所述系数c设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述系数a实际所需的系数值的值。
8.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置首先生成用于所述Mura块的Mura校正数据，并且在生成所述Mura校正数据之后，生成用于所述Mura块的Mura像素的Mura像素校正数据。
9.一种Mura校正系统，包括：
Mura校正装置，配置成接收检测图像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据，其中所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应；
所述Mura校正装置包括：
Mura块检测器，配置成：
在各自包括多个像素的块之中，检测通过基于显示面板的平均像素亮度值确定的、包括具有密集Mura的Mura像素的Mura块，
将所述Mura块划分成包括所述Mura像素的第一子块和包括具有相对少量Mura的像素的第二子块，
在所述第一子块和所述第二子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块，以及
提供所述校正子块的位置值；
Mura像素检测器，配置成接收所述校正子块的位置值，并提供所述校正子块中的像素的位置值；以及
第一系数生成器，配置成：
接收所述校正子块中的像素的位置值，
生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，其中，所述Mura像素校正方程式是用于将所述校正子块中的每个像素的每个灰度级的亮度值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式，以及
生成包括所述校正子块的像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
10.根据权利要求9所述的Mura校正系统，其中，所述Mura块检测器将相对于所述显示面板的平均像素亮度值偏离标准偏差的块检测为所述Mura块，并且基于所述显示面板的平均像素亮度值将所述Mura块划分成所述第一子块和所述第二子块。
11.根据权利要求9所述的Mura校正系统，其中，所述第一系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura像素校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
12.根据权利要求9所述的Mura校正系统，
其中，所述Mura块检测器在所述第一子块和所述第二子块之间选择具有较大面积的子块作为非校正子块，并且进一步提供所述非校正子块的位置值，
其中，Mura校正装置还包括第二系数生成器，其接收所述非校正子块的位置值，以及
其中，所述第二系数生成器生成Mura校正方程式的系数的系数值，其中所述Mura校正方程式是用于将非校正子块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式，将所述Mura校正方程式的系数之中的最高阶系数设置成包括能够改变所述非校正子块的亮度表示范围以使得用于所述非校正子块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值的适应性范围比特，并生成包括所述非校正子块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。
13.根据权利要求12所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。
14.根据权利要求13所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器：
将所述系数a设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将所述系数b和所述系数c设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述系数a实际所需的系数值的值。
15.根据权利要求13所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置首先生成用于所述非校正子块的Mura校正数据，并且在生成所述Mura校正数据之后，生成用于包括在所述校正子块中的像素的Mura像素校正数据。
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