CN111192937B - 一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 - Google Patents
一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111192937B CN111192937B CN202010016401.1A CN202010016401A CN111192937B CN 111192937 B CN111192937 B CN 111192937B CN 202010016401 A CN202010016401 A CN 202010016401A CN 111192937 B CN111192937 B CN 111192937B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- graphene
- pmma
- electrode
- electron beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 93
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 92
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims abstract description 32
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 30
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 8
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 claims description 90
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 claims description 90
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 238000002791 soaking Methods 0.000 claims description 30
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 24
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 22
- 239000002135 nanosheet Substances 0.000 claims description 21
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 18
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 18
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 claims description 13
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 12
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims description 12
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 10
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims description 6
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 6
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 6
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 6
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 6
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 5
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 20
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 10
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052961 molybdenite Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052982 molybdenum disulfide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 241000588731 Hafnia Species 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 230000005622 photoelectricity Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022466—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/112—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by field-effect operation, e.g. junction field-effect phototransistor
- H01L31/113—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by field-effect operation, e.g. junction field-effect phototransistor being of the conductor-insulator-semiconductor type, e.g. metal-insulator-semiconductor field-effect transistor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
本发明涉及石墨烯加工技术领域,一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,包括以下步骤:a,制取样品;b,样品的定位;c,电极图案化;d,电子束曝光电极;e,变性PMMA的去掉;f,源漏金属电极的沉积;g,器件的成形;h,沉积氧化绝缘层;i,石墨烯电极的准备;j,顶栅场效应晶体管的制作;本发明以转移石墨烯作透明电极取代传统的蒸镀金属电极,避免电子束曝光或金属电极沉积使绝缘氧化层出现裂缝,从而使顶栅场效应晶体管仍能正常工作,并且应用于光电领域。
Description
技术领域
本发明涉及石墨烯加工技术领域,特别涉及一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法。
背景技术
自从2004年曼彻斯顿大学通过机械剥离法获得石墨烯以来,石墨烯一直是该领域的研究热点;单原子层厚度的石墨烯有着非常优良的透光性,在近红外,以及可见光波段的透光率可高达98%,在可见光区,其所反射的光小于入射光的0.1%;另外,石墨烯具有超高的电导性和热导率,是最佳的导电性材料;传统的顶栅场效应晶体管制作,是先制作晶体管,再通过原子层沉积电介质常数较高的绝缘氧化层覆盖晶体管,旋涂PMMA后通过电子束曝光定点图案化栅电极,然后通过热蒸发或电子束蒸发沉积金属作为栅电极,这样做的缺点是绝缘氧化层一般比较薄,电子束曝光的过程中或蒸镀金属栅电极时容易把绝缘氧化层穿透,导致栅电极和源漏电极接触,造成器件失效,另外传统的顶栅场效应晶体管的金属栅电极透光性差,限制其在光电器件方面的应用。
发明内容
本发明的目的在于提供一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,在原有的基础上进行优化,以转移石墨烯作透明电极取代传统的蒸镀金属电极,避免电子束曝光或金属电极沉积使绝缘氧化层出现裂缝,从而使顶栅场效应晶体管仍能正常工作,并且应用于光电领域。
本发明的技术方案是这样的:
一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层MoS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯),作为样品;
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标;
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案;
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性;
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露;
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10 nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au;
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30 min,去掉PMMA,制得器件;
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20nm的 HfO2;
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后在转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3% HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离;
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层WS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯),作为样品;
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标;
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案;
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性;
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露;
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10 nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au;
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30 min,去掉PMMA,制得器件;
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20nm的 HfO2;
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后在转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3% HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离;
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
本发明的有益效果是:
a,对器件结构损坏较小
b,石墨烯的高透光率使顶栅场效应晶体管能应用在光电领域。
附图说明
图1为一种制作超薄透明石墨烯栅电极的器件制作流程图。
图2 为顶栅场效应晶体管的电极连接示意图。
图2中数字代表的含义:
1-SIO2/SI , 2-电极, 3-石墨烯,4-HfO2 , 5-样品。
具体实施方式
以下结合图1、图2详细说明本发明的具体实施方式。
实施例一:
如图1、图2所示,一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层MoS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯),作为样品。
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标。
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案。
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性。
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露。
MoS2为微米级的二维纳米片,要测试其电学性能很难通过宏观的方法测试,比如用两根导线连接其两端测试,所以需要用微纳米加工技术,旋涂PMMA后,电子束进行图案化曝光,并不是把PMMA去掉,而是使其变性,使用显影剂浸泡时,变性的PMMA就会被溶解掉,定影液的作用则是减少显影剂的残留,所以把变性的PMMA洗掉后就能裸露出MoS2;当蒸镀金属的时候,一整片硅片都镀上了金属,包括有PMMA的部分和裸露石墨烯的部分,当用丙酮浸泡时,金属/PMMA的地方会剥离,只留下和样品直接接触的金属。
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10 nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au。
MoS2为微米级的二维纳米片,要测试其电学性能很难通过宏观的方法测试,比如用两根导线连接其两端测试,所以需要电子束进行图案化曝光并蒸镀金属电极方便测试;金(Au)是最好的导电材料,但是Au价格昂贵并且金与样品间的附着力较差,容易脱落,导致接触不好,而铬(Cr)与样品间接触较好,并且铬的功函数较小,但是铬在空气中易氧化,所以外层需要镀惰性金属金(Au)。
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30 min,去掉PMMA,制得器件。
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20nm的 HfO2。
HfO2 的中文名称二氧化铪,在器件中起绝缘栅介质作用。
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后在转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将上述经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3% HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离。
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将上述经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
现在有很先进的转移平台,是配合光学显微镜使用的,把PMMA/石墨烯膜样品固定在可移动悬臂上,目标基底置于PMMA/石墨烯膜的下方,通过光学显微镜找到目标样品,移动机械手使PMMA/石墨烯膜对准样品,慢慢贴合。
石墨烯作为栅电极,利用其对栅绝缘层施加电场,但实际上石墨烯是纳米级的厚
度,而且导线或针尖一划就破,很难通过导线与外界电源连接,所以蒸镀60 nm Au,在光学
系统下观察并且与导线接触,从而与外界电源连接,简单来说就是把栅电极放大。
MoS2是n型半导体,即主要是电子导电,HfO2是绝缘层,当施加的电压是正向电压时,向样品中注入电子,提高器件的性能,当施加的电压是负向电压时,向样品中注入空穴,减弱器件的性能。
实施例二:
如图1、图2所示,一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层WS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯),作为样品。
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标。
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案。
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性。
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露。
WS2为微米级的二维纳米片,要测试其电学性能很难通过宏观的方法测试,比如用两根导线连接其两端测试,所以需要用微纳米加工技术,旋涂PMMA后,电子束进行图案化曝光,并不是把PMMA去掉,而是使其变性,使用显影剂浸泡时,变性的PMMA就会被溶解掉,定影液的作用则是减少显影剂的残留,所以把变性的PMMA洗掉后就能裸露出WS2;当蒸镀金属的时候,一整片硅片都镀上了金属,包括有PMMA的部分和裸露石墨烯的部分,当用丙酮浸泡时,金属/PMMA的地方会剥离,只留下和样品直接接触的金属。
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10 nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au。
WS2为微米级的二维纳米片,要测试其电学性能很难通过宏观的方法测试,比如用两根导线连接其两端测试,所以需要电子束进行图案化曝光并蒸镀金属电极方便测试;金(Au)是最好的导电材料,但是Au价格昂贵并且金与样品间的附着力较差,容易脱落,导致接触不好,而铬(Cr)与样品间接触较好,并且铬的功函数较小,但是铬在空气中易氧化,所以外层需要镀惰性金属金(Au)。
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30 min,去掉PMMA,制得器件。
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20nm的 HfO2。
HfO2 的中文名称二氧化铪,在器件中起绝缘栅介质作用。
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后在转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3% HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离。
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
现在有很先进的转移平台,是配合光学显微镜使用的,把PMMA/石墨烯膜样品固定在可移动悬臂上,目标基底置于PMMA/石墨烯膜的下方,通过光学显微镜找到目标样品,移动机械手使PMMA/石墨烯膜对准样品,慢慢贴合。
石墨烯作为栅电极,利用其对栅绝缘层施加电场,但实际上石墨烯是纳米级的厚
度,而且导线或针尖一划就破,很难通过导线与外界电源连接,所以蒸镀60 nm Au,在光学
系统下观察并且与导线接触,从而与外界电源连接,简单来说就是把栅电极放大。
WS2是n型半导体,即主要是电子导电,HfO2是绝缘层,当施加的电压是正向电压时,向样品中注入电子,提高器件的性能,当施加的电压是负向电压时,向样品中注入空穴,减弱器件的性能。
以上仅为本发明的优选实施例,依据上述实施例所做的等同置换或推演,均应属于本发明的涵盖范围。
Claims (2)
1.一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,其特征在于包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层MoS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA,作为样品;
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标;
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案;
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性;
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露;
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au;
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30min,去掉PMMA,制得器件;
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20 nm的HfO2;
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后再转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3%HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离;
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
2.一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法,其特征在于包括以下步骤:
a,制取样品:采用化学气相法(CVD)合成三角形单层WS2纳米片,并用旋涂机在其表面旋涂一层PMMA,作为样品;
b,样品的定位:把样品转移到带坐标的SiO2/Si基底上,利用雷尼绍拉曼光谱仪的定位功能在显微镜下找到需要的样品,拍照并记录相对坐标;
c,电极图案化:利用CAD软件导入步骤b得到的图片,并绘制电极的图案;
d,电子束曝光电极:将步骤a制得的样品放进扫描电子显微镜的腔室中,输入步骤b的相对位置,定点移动到目标样品处,导入步骤c得到的电极图案进行电子束曝光,使电极图案部分的PMMA变性;
e,变性PMMA的去掉:将经过步骤d处理的样品置于显影剂中浸泡2 min,再置于定影液中浸泡1 min,使样品的电极图案部分裸露;
f,源漏金属电极的沉积:将经过步骤e处理的样品置于电子束蒸发镀膜机中,蒸镀10nm 厚的Cr后再蒸镀80 nm 厚的Au;
g,器件的成形:将经过步骤f处理的样品置于温度为40-50℃的热丙酮溶液中浸泡30min,去掉PMMA,制得器件;
h,沉积氧化绝缘层:利用原子层沉积仪在经过步骤g处理的样品上沉积厚度为20 nm的HfO2;
i,石墨烯电极的准备:以铜箔作基底,采用化学气相法(CVD)在铜箔基底上制取石墨烯薄膜,并在其表面旋涂PMMA,之后再转移到SiO2/Si基底上,通过电子束曝光进行矩形图案化曝光,显影、定影后裸露石墨烯,然后用氧等离子体把裸露的矩形图案的石墨烯刻蚀掉,剩下部分PMMA及所保护的石墨烯;将经过处理的PMMA/石墨烯/SiO2/Si材料放入浓度为3%HF溶液中浸泡5-10min,使PMMA/石墨烯与SiO2/Si基底分离;
j,顶栅场效应晶体管的制作:通过转移平台把步骤i制得的PMMA/石墨烯定点转移到步骤h制得的器件上,然后在150°C条件下烘烤10 min;使用电子束曝光,裸露与金属电极接触的石墨烯,再利用电子束蒸发镀膜机蒸镀60 nm Au作为栅电极的放大电极,方便测试;最后将经过加工处理的器件放入99.9%的丙酮溶液浸泡20min,去掉PMMA,将器件取出吹干,制得顶栅场效应晶体管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010016401.1A CN111192937B (zh) | 2020-01-08 | 2020-01-08 | 一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010016401.1A CN111192937B (zh) | 2020-01-08 | 2020-01-08 | 一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111192937A CN111192937A (zh) | 2020-05-22 |
CN111192937B true CN111192937B (zh) | 2021-04-30 |
Family
ID=70710719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010016401.1A Active CN111192937B (zh) | 2020-01-08 | 2020-01-08 | 一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111192937B (zh) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104766888A (zh) * | 2015-03-26 | 2015-07-08 | 清华大学 | 高介电常数栅介质复合沟道场效应晶体管及其制备方法 |
CN105448714A (zh) * | 2016-01-08 | 2016-03-30 | 温州大学 | 一种大开关比场效应晶体管的制备方法 |
CN110518071A (zh) * | 2018-05-21 | 2019-11-29 | 北京纳米能源与系统研究所 | 利用驻极体调控的场效应晶体管及人造电子皮肤 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102651544B1 (ko) * | 2016-11-21 | 2024-03-28 | 삼성전자주식회사 | 광대역 다기능 광학소자와 그 제조 및 동작방법 |
-
2020
- 2020-01-08 CN CN202010016401.1A patent/CN111192937B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104766888A (zh) * | 2015-03-26 | 2015-07-08 | 清华大学 | 高介电常数栅介质复合沟道场效应晶体管及其制备方法 |
CN105448714A (zh) * | 2016-01-08 | 2016-03-30 | 温州大学 | 一种大开关比场效应晶体管的制备方法 |
CN110518071A (zh) * | 2018-05-21 | 2019-11-29 | 北京纳米能源与系统研究所 | 利用驻极体调控的场效应晶体管及人造电子皮肤 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111192937A (zh) | 2020-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102413942B1 (ko) | 그래핀 시트 상의 패시베이션 층의 침착 | |
CN106206710A (zh) | 一种二维材料异质结场效应晶体管、其制备方法和晶体管阵列器件 | |
CN109755307B (zh) | 一种基于二维层状材料的雪崩场效应晶体管及测量装置 | |
JP6077109B2 (ja) | 金属酸化物半導体層の電気伝導性を増加させる方法 | |
CN108878636A (zh) | 一种基于二碲化钼制备二维热电器件的方法 | |
CN111192937B (zh) | 一种制作超薄透明石墨烯栅电极的方法 | |
CN111987173B (zh) | 一种可集成的二维光电突触器件阵列及其制备方法 | |
CN110634958B (zh) | 一种不稳定的二维材料的半导体薄膜场效应管及其制备方法 | |
CN107132497B (zh) | 用于无损检测半导体薄膜霍尔效应的基片及其制备方法 | |
CN113299558A (zh) | 一种二硫化铪为沟道的浮栅结构晶体管及其制备方法 | |
CN105910737B (zh) | 一种应力定位传感器及其制作方法、应力定位方法 | |
WO2014137180A1 (ko) | 그래핀 산화물의 부분환원을 이용한 탄소기반 전자소자 및 이의 제조방법 | |
WO2018094664A1 (zh) | 场效应晶体管制造方法及场效应晶体管 | |
TWI423381B (zh) | 輔助載台與輔助載台之使用方法 | |
CN115148890A (zh) | 一种基于金属掩膜的铌铝约瑟夫森结的制备方法 | |
CN112234950B (zh) | 一种石墨烯电极二硫化钼谐振器及其制备方法 | |
WO2021256886A1 (ko) | 전도성 기재 및 이를 이용한 분석대상물의 분석방법 | |
CN110620043B (zh) | 一种不稳定的二维材料的半导体薄膜场效应管的制备方法 | |
CN116666498A (zh) | 一种简易制备的等离激元修饰的MoS2宽光谱光敏场效应管及其制备方法 | |
WO2022062483A1 (zh) | 用于显微镜的刻蚀凹坑半导体样品的制备方法 | |
CN117672833A (zh) | 一种基于高k介电层的半导体器件加工方法 | |
Davydovskaya | Photoconductivity in high-quality graphene | |
CN115684654A (zh) | 一种准确测量双电层电势分布的方法 | |
CN111863966A (zh) | 一种硅基背栅全石墨烯场效应晶体管的制备方法 | |
CN114759086A (zh) | 范德华间隙场效应晶体管及其制备方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |