CN111105738A - 显示面板的检验设备 - Google Patents

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CN111105738A CN201911023292.XA CN201911023292A CN111105738A CN 111105738 A CN111105738 A CN 111105738A CN 201911023292 A CN201911023292 A CN 201911023292A CN 111105738 A CN111105738 A CN 111105738A
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金大弘
李炯珍
梁成勳
吴世允
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Abstract

公开了显示面板的检验设备，该检测设备包括：接触件，包括与显示面板的数据焊盘接触的第一探针和与显示面板的公共电压焊盘接触的第二探针；信号发生器，联接至第一探针，信号发生器配置成生成与第一灰度级对应的第一数据电压和与第二灰度级对应的第二数据电压；电力发生器，联接至第二探针，电力发生器配置成生成第一公共电压和第二公共电压，第二公共电压的电压电平与第一公共电压的电压电平不同；以及缺陷检测器，配置成通过去除由于第一探针和第二探针的接触故障产生的接触噪声来检测显示面板的缺陷。

Description

显示面板的检验设备
技术领域
示例性实施方式大体上涉及用于显示面板的检验设备以及使用该检验设备的用于显示面板的检验方法。
背景技术
当制造显示设备时，进行各种检验以检测产品中的缺陷。可以通过利用探针将测试信号施加至显示面板并且检查显示面板的栅极线、数据线和像素之间的短路或开路状态来检测缺陷。在这里，可能由于探针等的接触(例如，接触故障)而产生接触噪声，从而可能无法精确地检测显示面板的缺陷。
发明内容
根据一些示例性实施方式的方面涉及能够精确地检测显示面板的缺陷的用于显示面板的检验设备(例如，显示面板检验设备)。
根据一些示例性实施方式的另一方面涉及能够精确地检测显示面板的缺陷的用于显示面板的检验方法(例如，显示面板检验方法)。
根据示例性实施方式，用于显示面板的检验设备可包括：接触件，包括第一探针和第二探针，第一探针配置成接触显示面板的数据焊盘，第二探针配置成接触显示面板的公共电压焊盘；信号发生器，联接至第一探针，信号发生器配置成生成与第一灰度级对应的第一数据电压和与第二灰度级对应的第二数据电压；电力发生器，联接至第二探针，电力发生器配置成生成第一公共电压和第二公共电压，第二公共电压的电压电平与第一公共电压的电压电平不同；以及缺陷检测器，配置成通过去除(例如，补偿)由于第一探针和第二探针的接触故障而产生的接触噪声来检测显示面板的缺陷。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可配置成基于在第一数据电压和第一公共电压通过接触件被提供至显示面板时检测到的第一检验图像、在第一数据电压和第二公共电压通过接触件被提供至显示面板时检测到的第二检验图像以及在第二数据电压和第一公共电压通过接触件被提供至显示面板时检测到的第三检验图像来检测显示面板的缺陷。
在示例性实施方式中，第一检验图像可包括显示面板的缺陷以及接触噪声，并且第二检验图像可包括显示面板的缺陷而不具有接触噪声。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可配置成基于第一检验图像检测接触噪声和显示面板的缺陷的位置和亮度，并且基于第二检验图像检测显示面板的缺陷的位置。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可配置成基于第一检验图像和第二检验图像检测第一检验图像中所包括的接触噪声的位置和亮度，并生成配置成补偿接触噪声的补偿数据。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可配置成将补偿数据提供至信号发生器，并且信号发生器可配置成基于补偿数据生成与第二灰度级对应的第二数据电压。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可配置成基于第三检验图像检测显示面板的缺陷。
在示例性实施方式中，缺陷检测器可包括：视觉相机，配置成对显示面板进行成像，并获取第一检验图像、第二检验图像和第三检验图像；第一缺陷检测器，配置成基于第一检验图像和第二检验图像检测接触噪声的位置和亮度，生成配置成补偿接触噪声的补偿数据，并将补偿数据输出至信号发生器；以及第二缺陷检测器，配置成基于第三检验图像检测显示面板的缺陷。
在一些示例性实施方式中，第一数据电压可配置成在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动，第一公共电压可以具有处于第一电压电平与第二电压电平之间的电压电平，并且第二公共电压可以具有高于第一电压电平的电压电平。
在一些示例性实施方式中，第二公共电压的电压电平与第一数据电压的第一电压电平之间的差可大于或等于第一数据电压的第一电压电平与第一公共电压的电压电平之间的差。
在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级是最大灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值低的灰度级值。
在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级是最小灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值高的灰度级值。
根据示例性实施方式，用于显示面板的检验方法可包括：通过第一探针将与第一灰度级对应的第一数据电压提供至显示面板的数据焊盘并且通过第二探针将第一公共电压提供至显示面板的公共电压焊盘；通过对显示面板进行成像获取第一检验图像；通过第一探针将第一数据电压提供至数据焊盘并且通过第二探针将第二公共电压提供至公共电压焊盘，其中第二公共电压的电压电平与第一公共电压的电压电平不同；通过对显示面板进行成像获取第二检验图像；基于第一检验图像和第二检验图像检测由于第一探针和第二探针的接触故障产生的接触噪声的位置和亮度；生成配置成补偿接触噪声的亮度的补偿数据；通过第一探针将与第二灰度级对应的第二数据电压提供至数据焊盘并且通过第二探针将第一公共电压提供至公共电压焊盘，其中第二数据电压是基于补偿数据生成的；通过对显示面板进行成像获取第三检验图像；以及基于第三检验图像检测显示面板的缺陷。
在示例性实施方式中，第一数据电压可配置成在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动。
在示例性实施方式中，第一公共电压可以具有处于第一电压电平与第二电压电平之间的电压电平。
在示例性实施方式中，第二公共电压的电压电平可比第一电压电平高。
在示例性实施方式中，第二公共电压的电压电平与第一数据电压的第一电压电平之间的差可大于或等于第一数据电压的第一电压电平与第一公共电压的电压电平之间的差。
在示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值低的灰度级值。
在示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值高的灰度级值。
在示例性实施方式中，第一检验图像可包括显示面板的缺陷以及接触噪声，并且第二检验图像可包括显示面板的缺陷而不具有接触噪声。
根据本公开的实施方式，用于显示面板的检验设备和用于显示面板的检验方法可通过改变提供至显示面板中的公共电压焊盘的公共电压的电压电平(例如，从第一公共电压改变至第二公共电压)来检测接触噪声，并通过生成补偿数据来补偿接触噪声。因此，用于显示面板的检验设备和用于显示面板的检验方法可精确地检测显示面板的缺陷。
附图说明
通过结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解说明性的、非限制性的示例性实施方式。
图1是示出根据示例性实施方式的用于显示面板的检验设备的框图。
图2是示出利用图1的检验设备检测显示面板的缺陷的过程的图。
图3是示出图1的检验设备中所包括的接触件和图2的显示面板的图。
图4A至图4C是示出图1的检验设备中所包括的信号发生器和电力发生器的操作的图。
图5A至图5C是示出根据用于描述图1的检验设备中所包括的缺陷检测器的操作的图4A至图4C的信号发生器和电力发生器的操作而在图1的缺陷检测器中检测到的第一检验图像至第三检验图像的图。
图6是示出图1的检验设备中所包括的缺陷检测器的框图。
图7是示出根据示例性实施方式的用于显示面板的检验方法的流程图。
具体实施方式
在下文中，将参考附图对本发明构思进行更详细地说明。
图1是示出根据示例性实施方式的用于显示面板的检验设备的框图。图2是示出利用图1的检验设备检测显示面板的缺陷的过程的图。图3是示出图1的检验设备中所包括的接触件和图2的显示面板的图。
参考图1和图2，显示面板的检验设备100可包括接触件(例如，接触部或接触单元)110、信号发生器120、电力发生器130和缺陷检测器140。在如图2中所示的显示面板200的制造过程(例如，视觉检验过程)中，显示面板200可设置在台150上。检验设备100可通过接触件110接触设置在台150上的显示面板200。检验设备100可通过接触件110向显示面板200提供驱动信号(例如，栅极信号、数据信号等)和驱动电压(例如，电源电压、公共电压等)并通过分析显示在显示面板200上的图像来检测显示面板200的缺陷。
显示面板200可包括数据线、栅极线和多个像素。像素可形成在数据线和栅极线的交会区域或交叉区域中。在一些示例性实施方式中，像素中的每一个可包括电联接至栅极线和数据线的薄膜晶体管以及联接至薄膜晶体管的液晶电容器和存储电容器。在一些实施方式中，显示面板200可以是液晶显示面板。
参考图3，显示面板200可包括显示区域DA和非显示区域NDA。数据线、栅极线和像素可形成在显示区域DA中。联接至数据线的焊盘(例如，数据焊盘210)、联接至栅极线的栅极焊盘、联接至电力线的电力焊盘、联接至公共电压线的公共电压焊盘215等可形成在非显示区域NDA中。电力线和公共电压线可包括至少一条线。可替代地，电力线和公共电压线可包括至少一个面(例如，平面形状)。可替代地，电力线和公共电压线可形成为网格形状。在检验过程之后，可将焊盘联接至栅极集成电路(IC)和数据集成电路。例如，栅极集成电路和数据集成电路可形成在驱动芯片中并且可以作为玻璃上芯片(COG)安装在非显示区域NDA中的焊盘上。可替代地，栅极集成电路和数据集成电路可形成在驱动芯片中，作为膜上芯片(COF)安装在柔性印刷电路板(FPCB)上并且通过柔性印刷电路板联接至非显示区域NDA中的焊盘。
参考图3，接触件110可包括第一探针112和第二探针114。在显示面板200的检验过程中，接触件110的第一探针112可与显示面板200的数据焊盘210接触，并且接触件110的第二探针114可与公共电压焊盘215接触。
信号发生器120可联接至接触件110的第一探针112。信号发生器120可生成与第一灰度级(例如，第一灰度值)对应的第一数据电压Vdata1和与第二灰度级(例如，第二灰度值)对应的第二数据电压Vdata2。例如，当与第一灰度级对应的第一数据电压Vdata1被提供至显示面板200时，容易检测线缺陷，并且当与第二灰度级对应的第二数据电压Vdata2被提供至显示面板200时，容易检测线缺陷、像素缺陷、污点缺陷等。
根据调整液晶层的排列的方法，液晶显示设备可分类为扭曲向列(TN)模式、垂直取向(VA)模式、面内切换(IPS)模式、边缘场切换(FFS)模式等。显示面板200可以根据驱动信号和驱动电压没有被提供至显示面板200时显示面板200的颜色而被分类为标准黑色面板或标准白色面板。例如，扭曲向列模式液晶显示设备可以是标准白色设备，这是因为在没有提供驱动信号和驱动电压时显示面板200的颜色是白色(透明)的。垂直取向模式液晶显示设备可以是标准黑色设备，这是因为在没有提供驱动信号和驱动电压时显示面板200的颜色是黑色(不透明)的。
在一些示例性实施方式中，当显示面板200是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值。例如，当以8比特位驱动液晶显示设备时，第一灰度级可与255灰度级对应(例如，可具有255的灰度级值)。即，当显示面板200是标准黑色面板时，信号发生器120可将与255灰度级对应的第一数据电压Vdata1提供至显示面板200。显示面板200可基于第一数据电压Vdata1显示白色图像。第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值(即，最大灰度级值)低的灰度级值。例如，信号发生器120可将与125灰度级对应(例如，可具有125的灰度级值)的第二数据电压Vdata2提供至显示面板200。显示面板200可基于第二数据电压Vdata2显示灰色图像。
在其它示例性实施方式中，当显示面板200是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值。例如，当以8比特位驱动液晶显示设备时，第一灰度级可与0灰度级对应(例如，可具有0的灰度级值)。即，当显示面板200是标准白色面板时，信号发生器120可将与0灰度级对应的第一数据电压Vdata1提供至显示面板200。显示面板200可基于第一数据电压Vdata1显示黑色图像。第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值(即，最小灰度级值)高的灰度级值。例如，信号发生器120可将与125灰度级对应(例如，可具有125的灰度级值)的第二数据电压Vdata2提供至显示面板200。显示面板200可基于第二数据电压Vdata2显示灰色图像。
电力发生器130可联接至第二探针114并生成第一公共电压Vcom1和第二公共电压Vcom2。当信号发生器120中生成的第一数据电压Vdata1在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动(例如，周期性地切换)时，第一公共电压Vcom1可以具有处于第一电压电平与第二电压电平之间的电压电平。此外，当第一数据电压Vdata1在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动时，第二公共电压Vcom2可以具有高于第一电压电平的电压电平。在这里，第二公共电压Vcom2的电压电平与第一数据电压Vdata1的第一电压电平之间的差可大于或等于第一数据电压Vdata1的第一电压电平与第一公共电压Vcom1的电压电平之间的差。
缺陷检测器140可通过去除由于第一探针112和第二探针114的接触故障而产生的接触噪声来检测显示面板200的缺陷。缺陷检测器140可在第一数据电压Vdata1和第一公共电压Vcom1通过接触件110被提供至显示面板200时检测第一检验图像。缺陷检测器140可在第一数据电压Vdata1和第二公共电压Vcom2通过接触件110被提供至显示面板200时检测第二检验图像。缺陷检测器140可在第二数据电压Vdata2和第一公共电压Vcom1通过接触件110被提供至显示面板200时检测第三检验图像。缺陷检测器140可基于第一检验图像、第二检验图像和第三检验图像检测显示面板200的缺陷。
当第一数据电压Vdata1和第一公共电压Vcom1被提供至显示面板200时，缺陷检测器140可检测包括显示面板200的缺陷和接触噪声的第一检验图像。第一数据电压Vdata1可在第一电压电平与第二电压电平之间摆动。第一公共电压Vcom1可具有处于第一电压电平与第二电压电平之间的电压电平。当由于第一探针112和第二探针114的接触故障而在公共电压线与数据线之间出现短路时(即，当公共电压线与数据线之间未出现电势差时)，可能出现具有与显示面板200的线缺陷相同形状(信号)的接触噪声。缺陷检测器140可基于第一检验图像检测接触噪声和显示面板200的缺陷的位置和亮度。
当第一数据电压Vdata1和第二公共电压Vcom2被提供至显示面板200时，缺陷检测器140可检测包括显示面板200的缺陷的第二检验图像。第二公共电压Vcom2可具有高于第一电压电平的电压电平。例如，第二公共电压Vcom2的电压电平与第一数据电压Vdata1的第一电压电平之间的差大于或等于第一数据电压Vdata1的第一电压电平与第一公共电压Vcom1的电压电平之间的差。当第一数据电压Vdata1和第二公共电压Vcom2通过第一探针112和第二探针114被提供至显示面板200时，即使可能出现第一探针112和第二探针114的接触故障，也可不出现接触噪声，这是因为在提供至公共电压线的第二公共电压Vcom2与提供至数据线的第一数据电压Vdata1之间存在电势差。因此，第二检验图像可包括显示面板200的缺陷而不包括(例如，没有)接触噪声。
缺陷检测器140可基于第一检验图像和第二检验图像检测第一检验图像中所包括的接触噪声的位置和亮度，并生成补偿接触噪声的亮度的补偿数据Cdata。即，缺陷检测器140可以将出现在第一检验图像中而未出现在第二检验图像中的缺陷视为(例如，识别为)接触噪声，并且可检测第一检验图像中的接触噪声的位置和亮度。缺陷检测器140可生成用于补偿出现接触噪声的位置的亮度的补偿数据Cdata。例如，当第一检验图像中出现接触噪声的位置的亮度比周围亮度高时，缺陷检测器140可生成补偿数据Cdata以便降低产生接触噪声的位置的亮度。缺陷检测器140可将补偿数据Cdata提供至信号发生器120。信号发生器120可基于补偿数据Cdata生成与第二灰度级对应的第二数据电压Vdata2。
当第二数据电压Vdata2和第一公共电压Vcom1被提供至显示面板200时，缺陷检测器140可检测包括显示面板200的缺陷的第三检验图像。第三检验图像可以是经补偿使得接触噪声的亮度等于周围亮度的图像。可通过第三检验图像检测显示面板的缺陷，诸如线缺陷、像素缺陷、污点缺陷等。
如上所述，根据示例性实施方式的显示面板的检验设备100可通过检测接触噪声、生成补偿数据Cdata和补偿接触噪声来精确地检测显示面板的缺陷，其中，通过改变提供至显示面板中的公共电压焊盘215的公共电压的电压电平来检测接触噪声。
图4A至图4C是示出图1的检验设备中所包括的信号发生器和电力发生器的操作的图。图5A至图5C是示出根据用于描述图1的检验设备中所包括的缺陷检测器的操作的图4A至图4C的信号发生器和电力发生器的操作而在图1的缺陷检测器中检测到的第一检验图像至第三检验图像的图。
参考图4A，信号发生器可生成与第一灰度级对应的第一数据电压Vdata1。在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值。在其它示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值。第一数据电压Vdata1可在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动。在这里，第二电压电平LV2可低于第一电压电平LV1。
电力发生器可生成第一公共电压Vcom1。第一公共电压Vcom1可具有处于第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间的电压电平。
从信号发生器生成的第一数据电压Vdata1可通过接触件的第一探针被提供至显示面板中的数据焊盘。从电力发生器生成的第一公共电压Vcom1可通过接触件的第二探针被提供至显示面板中的公共电压焊盘。
当第一数据电压Vdata1和第一公共电压Vcom1被提供至显示面板时，缺陷检测器可检测第一检验图像IMG_T1。如图5A中所示，第一检验图像IMG_T1可包括显示面板的缺陷(例如，线缺陷)和接触噪声。当接触件的第一探针和第二探针与显示面板中的数据焊盘和公共电压焊盘的接触不稳定时，可能由于提供至显示面板中的数据线的第一数据电压Vdata1与提供至显示面板中的公共电压线的第一公共电压Vcom1之间不存在电势差而出现接触噪声。在这里，接触噪声的形状可与显示面板的缺陷类似。
参考图4B，信号发生器可生成与第一灰度级对应的第一数据电压Vdata1。在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值。在其它示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值。第一数据电压Vdata1可在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动。在这里，第二电压电平LV2可低于第一电压电平LV1。
电力发生器可生成第二公共电压Vcom2。第二公共电压Vcom2的电压电平可高于第一电压电平LV1。在这里，第二公共电压Vcom2的电压电平与第一数据电压Vdata1的第一电压电平LV1之间的差D2可大于或等于第一数据电压Vdata1的第一电压电平LV1与第一公共电压Vcom1的电压电平之间的差D1。
从信号发生器生成的第一数据电压Vdata1可通过接触件的第一探针被提供至显示面板中的数据焊盘。从电力发生器生成的第二公共电压Vcom2可通过接触件的第二探针被提供至显示面板中的公共电压焊盘。
当第一数据电压Vdata1和第二公共电压Vcom2被提供至显示面板时，缺陷检测器可检测第二检验图像IMG_T2。如图5B中所示，第二检验图像IMG_T2可包括显示面板的缺陷(例如，线缺陷)。当第一数据电压Vdata1和第二公共电压Vcom2被提供至显示面板时，虽然接触件的第一探针和第二探针与显示面板中的数据焊盘和公共电压焊盘的接触可能不稳定，但是提供至显示面板中的数据线的第一数据电压Vdata1与提供至显示面板中的公共电压线的第二公共电压Vcom2之间仍可出现电势差。因此，可去除接触噪声。
参考图4C，信号发生器可基于从缺陷检测器提供的补偿数据生成与第二灰度级对应的第二数据电压Vdata2。在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第二灰度级可具有比第一灰度级低的灰度级值。在其它示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第二灰度级可具有比第一灰度级高的灰度级值。第二数据电压Vdata2可在第三电压电平LV3与第四电压电平LV4之间摆动。在这里，第三电压电平LV3可比第一电压电平LV1低，并且第四电压电平LV4可比第二电压电平LV2高。
电力发生器可生成第一公共电压Vcom1。第一公共电压Vcom1可与提供至显示面板以检测第一检验图像IMG_T1的第一公共电压Vcom1相同。第一公共电压Vcom1可具有处于第三电压电平LV3与第四电压电平LV4之间的电压电平。
从信号发生器生成的第二数据电压Vdata2可通过接触件的第一探针被提供至显示面板中的数据焊盘。从电力发生器生成的第一公共电压Vcom1可通过接触件的第二探针被提供至显示面板中的公共电压焊盘。
当第二数据电压Vdata2和第一公共电压Vcom1被提供至显示面板时，缺陷检测器可检测第三检验图像IMG_T3。如图5C中所示，第三检验图像IMG_T3可包括显示面板的缺陷。虽然接触件的第一探针和第二探针与显示面板中的数据焊盘和公共电压焊盘的接触可能不稳定，但是第三检验图像IMG_T3仍可仅包括显示面板的缺陷，这是因为补偿数据对接触噪声的亮度进行了补偿。在这里，因为与第二灰度级对应的第二数据电压Vdata2被提供至显示面板，所以可通过第三检验图像IMG_T3检测显示面板的缺陷，诸如线缺陷、像素缺陷、污点缺陷等。
图6是示出图1的检验设备中所包括的缺陷检测器的框图。
参考图6，缺陷检测器140可包括视觉相机142、第一缺陷检测器144和第二缺陷检测器146。
视觉相机142可对显示面板进行成像(例如，拍摄显示面板)。当第一数据电压和第一公共电压通过检验设备的接触件被提供至显示面板时，视觉相机142可对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第一检验图像IMG_T1。当第一数据电压和第二公共电压通过检验设备的接触件被提供至显示面板时，视觉相机142可对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第二检验图像IMG_T2。当第二数据电压和第一公共电压通过检验设备的接触件被提供至显示面板时，视觉相机142可对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第三检验图像IMG_T3。
第一缺陷检测器144可基于第一检验图像IMG_T1和第二检验图像IMG_T2检测接触噪声的位置和亮度，生成补偿第一检验图像IMG_T1的接触噪声的补偿数据Cdata并将补偿数据Cdata输出至信号发生器。第一检验图像IMG_T1可包括显示面板的缺陷(例如，线缺陷)和接触噪声。第一缺陷检测器144可存储第一检验图像IMG_T1中的接触噪声和显示面板的缺陷的位置和亮度。第二检验图像IMG_T2可包括显示面板的缺陷。第一缺陷检测器144可通过将第二检验图像IMG_T2与第一检验图像IMG_T1进行比较来存储第一检验图像IMG_T1中的接触噪声的位置和亮度。第一缺陷检测器144可生成补偿第一检验图像IMG_T1中的接触噪声的亮度的补偿数据Cdata。例如，当第一检验图像IMG_T1中生成接触噪声的位置的亮度高于周围亮度时，第一缺陷检测器144可生成使出现接触噪声的位置处的亮度下降的补偿数据Cdata。第一缺陷检测器144可将补偿数据Cdata提供至信号发生器。
第二缺陷检测器146可以基于第三检验图像IMG_T3检测显示面板的缺陷。第三检验图像IMG_T3可以是其中去除了接触噪声的图像。即，第三检验图像IMG_T3可包括显示面板的除了(例如，没有)由于检验设备的接触件的接触故障而产生的接触噪声之外的缺陷(例如，线缺陷、像素缺陷、污点缺陷等)。第二缺陷检测器146可以基于第三检验图像IMG_T3检测显示面板的缺陷。
如上所述，用于显示面板的检验设备的缺陷检测器140可对第一检验图像IMG_T1、第二检验图像IMG_T2和第三检验图像IMG_T3进行成像，基于第一检验图像IMG_T1和第二检验图像IMG_T2生成补偿接触噪声的补偿数据Cdata，并基于第三检验图像IMG_T3检测显示面板的缺陷。因此，可以精确地检测显示面板的缺陷。
图7是示出根据示例性实施方式的用于显示面板的检验方法的流程图。
参考图7，显示面板的检验方法可包括：将第一数据电压和第一公共电压提供至显示面板的操作S100；检测第一检验图像的操作S200；将第一数据电压和第二公共电压提供至显示面板的操作S300；检测第二检验图像的操作S400；检测接触噪声的位置和亮度的操作S500；生成补偿数据的操作S600；将第二数据电压和第一公共电压提供至显示面板的操作S700；检测第三检验图像的操作S800；以及检测显示面板的缺陷的操作S900。
用于显示面板的检验方法可在操作S100中将第一数据电压和第一公共电压提供至显示面板。联接至数据线的数据焊盘和联接至公共电压线的公共电压焊盘可形成在显示面板的非显示区域中。用于显示面板的检验方法可通过第一探针将与第一灰度级对应的第一数据电压提供至数据焊盘，并通过第二探针将第一公共电压提供至公共电压焊盘。在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值。在其它示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值。第一数据电压可在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动。第一公共电压可以具有处于第一电压电平与第二电压电平之间的电压电平。
用于显示面板的检验方法可在操作S200中对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第一检验图像。当由于第一探针和第二探针的接触故障而在公共电压线与数据线之间出现短路时(即，当公共电压线与数据线之间未出现电势差时)，可能出现具有与显示面板的线缺陷相同形状的接触噪声。第一检验图像可包括显示面板的缺陷和接触噪声。
用于显示面板的检验方法可在操作S300中将第一数据电压和第二公共电压提供至显示面板。用于显示面板的检验方法可通过第一探针将与第一灰度级对应的第一数据电压提供至数据焊盘，并通过第二探针将第二公共电压提供至公共电压焊盘。第一数据电压可在第一电压电平与低于第一电压电平的第二电压电平之间摆动。第二公共电压可以具有高于第一电压电平的电压电平。
用于显示面板的检验方法可在操作S400中对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第二检验图像。在这里，即使出现第一探针和第二探针的接触故障，也可不出现接触噪声，这是因为提供至公共电压线的第二公共电压与提供至数据线的第一数据电压之间存在电势差。因此，第二检验图像可包括显示面板的缺陷，而不包括(例如，没有)接触噪声。
用于显示面板的检验方法可在操作S500中基于第一检验图像和第二检验图像检测接触噪声的位置和亮度。用于显示面板的检验方法可通过比较第一检验图像和第二检验图像来检测第一检验图像中接触噪声的位置和亮度，这是因为第一检验图像可包括显示面板的缺陷和接触噪声，并且第二检验图像可包括(例如，仅包括)显示面板的缺陷。
用于显示面板的检验方法可在操作S600中生成补偿接触噪声的亮度的补偿数据。当第一检验图像中接触噪声的亮度高于或低于周围亮度时，用于显示面板的检验方法可生成补偿接触噪声的亮度的补偿数据。
用于显示面板的检验方法可在操作S700中将第二数据电压和第一公共电压提供至显示面板。用于显示面板的检验方法可基于补偿数据生成与第二灰度级对应的第二数据电压。用于显示面板的检验方法可通过第一探针将与第二灰度级对应的第二数据电压提供至数据焊盘，并通过第二探针将第一公共电压提供至公共电压焊盘。在一些示例性实施方式中，当显示面板是标准黑色面板时，第一灰度级可以是最大灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值低的灰度级值。在其它示例性实施方式中，当显示面板是标准白色面板时，第一灰度级可以是最小灰度级值，并且第二灰度级可具有比第一灰度级的灰度级值高的灰度级值。当与第二灰度级对应的第二数据电压被提供至显示面板时，可在显示面板上显示灰色图像。第二数据电压可在低于第一电压电平的第三电压电平与高于第二电压电平的第四电压电平之间摆动。
用于显示面板的检验方法可在操作S800中对显示面板进行成像并检测(例如，获取)第三检验图像。虽然可能出现由于第一探针和第二探针的接触故障而引起的公共电压线与数据线之间的短路，但是第三检验图像仍可仅包括显示面板的缺陷，这是因为第二数据电压是基于补偿接触噪声的补偿数据生成的。
用于显示面板的检验方法可在操作S900中基于第三检验图像检测显示面板的缺陷。用于显示面板的检验方法可基于其中去除了接触噪声的第三检验图像检测显示面板的缺陷(例如，线缺陷、像素缺陷、污点缺陷等)。
如上所述，用于显示面板的检验方法可通过改变公共电压的电压电平而基于第一检验图像和第二检验图像生成补偿接触噪声的补偿数据，以及基于补偿了接触噪声的第三检验图像检测显示面板的缺陷。因此，可以精确地检测显示面板的缺陷。
本发明构思可以应用于显示设备和/或具有(例如，包括)显示设备的电子设备。例如，本发明构思可以应用于计算机监视器、膝上型计算机、数码相机、蜂窝电话、智能电话、智能平板、电视、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、MP3播放器、导航系统、游戏机、视频电话等。
当诸如“……中的至少一个”或“从……中选择的至少一个”的表述位于一列表的元素之后时，修饰整个列表的元素而不是修饰该列表中的个别元素。此外，当描述本发明的实施方式时，“可”的使用是指“本发明的一个或多个实施方式”。此外，术语“示例性”旨在指代示例或说明。将理解的是，当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“连接至”、“联接至”或“邻近于”另一元件或层时，它可以直接在该另一元件或层上、直接连接至、联接至或相邻于该另一元件或层，或者可以存在一个或多个介于中间的元件或层。相反，当元件或层被称为“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接至”、“直接联接至”或“紧邻于”另一元件或层时，不存在介于中间的元件或层。
根据本文中所描述的本发明实施方式的用于显示面板的检验设备和/或任何其它相关设备或组件可利用任何适当的硬件、固件(例如，专用集成电路)、软件或者软件、固件和硬件的组合进行实施。例如，用于显示面板的检验设备的各种组件可形成在一个集成电路(IC)芯片上或者形成在分开的IC芯片上。另外，用于显示面板的检验设备的各种组件可以实施在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上，或者形成在一个衬底上。另外，用于显示面板的检验设备的各种组件可以是在一个或多个计算设备中的一个或多个处理器上运行的、执行计算机程序指令并且与用于执行本文中所描述的各种功能的其它系统组件交互的进程或线程。计算机程序指令存储在可使用标准存储设备(诸如，以随机存取存储器(RAM)为例)在计算设备中实施的存储器中。计算机程序指令还可存储在其它非暂时性计算机可读介质(诸如，以CD-ROM、闪存驱动器等为例)中。另外，本领域标准技术人员将认识到，在不背离本发明的示例性实施方式的范围的情况下，各种计算设备的功能可组合或集成到单个计算设备中，或者特定计算设备的功能可分布到一个或多个其它计算设备上。
前述内容是对示例性实施方式的说明，并且不应解释为对示例性实施方式进行限制。虽然已经描述了示例性实施方式，但本领域技术人员将容易理解的是，在不实质性地背离本发明构思的新颖教导和有益效果的情况下，示例性实施方式中的许多适当的修改是可能的。因此，所有这些修改旨在包括在如权利要求及其等同中限定的本发明构思的范围内。因此，应理解的是，前述内容是对各种示例性实施方式的说明，并且不应解释为受限于所公开的特定示例性实施方式，并且对所公开的示例性实施方式的修改以及其它示例性实施方式旨在包括在所附权利要求及其等同的范围内。

Claims (12)

1.用于显示面板的检验设备，包括：
接触件，包括第一探针和第二探针，所述第一探针配置成接触所述显示面板的数据焊盘，所述第二探针配置成接触所述显示面板的公共电压焊盘；
信号发生器，联接至所述第一探针，所述信号发生器配置成生成与第一灰度级对应的第一数据电压和与第二灰度级对应的第二数据电压；
电力发生器，联接至所述第二探针，所述电力发生器配置成生成第一公共电压和第二公共电压，所述第二公共电压的电压电平与所述第一公共电压的电压电平不同；以及
缺陷检测器，配置成通过去除由于所述第一探针和所述第二探针的接触故障产生的接触噪声来检测所述显示面板的缺陷。
2.根据权利要求1所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器配置成：基于在所述第一数据电压和所述第一公共电压通过所述接触件被提供至所述显示面板时检测到的第一检验图像、在所述第一数据电压和所述第二公共电压通过所述接触件被提供至所述显示面板时检测到的第二检验图像以及在所述第二数据电压和所述第一公共电压通过所述接触件被提供至所述显示面板时检测到的第三检验图像来检测所述显示面板的所述缺陷。
3.根据权利要求2所述的检验设备，其中，所述第一检验图像包括所述接触噪声和所述显示面板的所述缺陷，并且所述第二检验图像包括所述显示面板的所述缺陷而不具有所述接触噪声。
4.根据权利要求2所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器配置成基于所述第一检验图像检测所述接触噪声和所述显示面板的所述缺陷的位置和亮度，并且基于所述第二检验图像检测所述显示面板的所述缺陷的所述位置。
5.根据权利要求2所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器配置成基于所述第一检验图像和所述第二检验图像检测所述第一检验图像中所包括的所述接触噪声的位置和亮度，并生成配置成补偿所述接触噪声的补偿数据。
6.根据权利要求5所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器配置成将所述补偿数据提供至所述信号发生器，以及
其中，所述信号发生器配置成基于所述补偿数据生成与所述第二灰度级对应的所述第二数据电压。
7.根据权利要求2所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器配置成基于所述第三检验图像检测所述显示面板的所述缺陷。
8.根据权利要求2所述的检验设备，其中，所述缺陷检测器包括：
视觉相机，配置成对所述显示面板进行成像并获取所述第一检验图像、所述第二检验图像和所述第三检验图像；
第一缺陷检测器，配置成基于所述第一检验图像和所述第二检验图像检测所述接触噪声的位置和亮度，生成配置成补偿所述接触噪声的补偿数据，并将所述补偿数据输出至所述信号发生器；以及
第二缺陷检测器，配置成基于所述第三检验图像检测所述显示面板的所述缺陷。
9.根据权利要求1所述的检验设备，其中，所述第一数据电压配置成在第一电压电平与低于所述第一电压电平的第二电压电平之间摆动，
所述第一公共电压具有处于所述第一电压电平与所述第二电压电平之间的电压电平，以及
所述第二公共电压的电压电平高于所述第一电压电平。
10.根据权利要求9所述的检验设备，其中，所述第二公共电压的所述电压电平与所述第一数据电压的所述第一电压电平的差大于或等于所述第一数据电压的所述第一电压电平与所述第一公共电压的所述电压电平的差。
11.根据权利要求1所述的检验设备，其中，所述显示面板是标准黑色面板，并且所述第一灰度级是最大灰度级值，且所述第二灰度级具有比所述第一灰度级的所述最大灰度级值低的灰度级值。
12.根据权利要求1所述的检验设备，其中，所述显示面板是标准白色面板，并且所述第一灰度级是最小灰度级值，且所述第二灰度级具有比所述第一灰度级的所述最小灰度级值高的灰度级值。
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