CN110988734B - 故障检测装置、方法和设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种故障检测装置，所述装置包括控制装置和显示装置，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接；所述控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置；所述显示装置，用于接收所述控制装置发送的比对结果，并将比对结果进行显示。本申请还提供了一种方法和故障检测设备。通过此种方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

Description

故障检测装置、方法和设备

技术领域

本发明涉及LED灯照明技术领域，尤其涉及一种故障检测装置、方法和设备。

背景技术

LED显示屏包括大量的LED灯和对应的恒流芯片。恒流芯片具有多个控制信号脚，当LED显示屏中某一个芯片的某个控制信号引脚虚焊或功能不正常时，会导致其级联的下面几个芯片都不正常工作。当某个信号腿断路没有输出时，也很难判断是哪颗芯片出现了问题等。现有LED显示屏会存在信号传输导致的异常现象，同时由于虚焊造成的异常现象，以及信号传输中断需人为排除异常的现象对于显示屏电路上种种异常情况。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供的一种故障检测装置、方法和设备，可实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

为了实现上述目标，本发明提供了一种故障检测装置，所述装置包括控制装置和显示装置，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接；所述控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置；所述显示装置，用于接收所述控制装置发送的比对结果，并将比对结果进行显示。

可选地，所述控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置为通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。

可选地，所述确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置包括：分别将所述第一待检测信号和所述第二待检测信号与对应的标准信号进行比对；确定与所述标准信号不同的待检测信号，将比对结果发送至所述显示装置。

可选地，所述控制装置，还用于确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号相等，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对。

可选地，所述将比对结果进行显示为显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

可选地，所述控制装置为单片机，所述显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。

可选地，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接为所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接。

可选地，所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的相同功能的待检测引脚连接。

可选地，所述待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SDI和SDO。

本申请还提供了一种故障检测方法，应用于单片机，所述单片机与所述显示装置相连，所述单片机分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接，所述方法包括：分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置；通过所述显示装置将比对结果进行显示。

本申请还提供了一种故障检测设备，所述故障检测设备包括任一如上所述的控制装置和显示装置，其中，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接。

本发明实施例提供的一种故障检测装置、方法和设备，通过将第一待检测芯片和第二待检测芯片分别和控制装置连接，使得控制装置可以获取第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，通过将控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对以确定该引脚是否存在故障，如果不存在故障，则继续检测其他待检测引脚；如果存在故障，则将存在的故障的引脚信息和芯片信息通过显示装置进行显示。通过此种方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的故障检测装置的电路结构示意图；

图2为本申请一实施例提供的单片机与两个待检测芯片连接的电路结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的待检测芯片结构示意图；

图4为本申请一实施例提供的接口输入电路与单片机的电路结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的接口输入电路的结构示意图；

图6为本申请一实施例提供的故障检测方法的流程图；

图7为本申请另一实施例提供的故障检测方法的流程图；

图8为本申请一实施例提供的故障检测设备的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求收及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

如图1所示，本申请提供了一种故障检测装置100，该故障检测装置100包括控制装置和显示装置。控制装置和显示装置连接，控制装置可以向显示装置发送指令以控制显示装置显示相应的信息。工作时，控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接并进行检测，并将检测结果发送给显示装置进行显示，以使得工作人员获知发生故障的芯片的信息。

其中，控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置。

具体地，控制装置与至少两个个待检测芯片连接，如图2所示，在本实施方式中，至少一个待检测芯片的数量为2，即，控制装置与两个待检测芯片连接，通过此种方式，使得控制装置可以同时检测多个待检测芯片，提高了检测效率。

在本实施方式中，控制装置为单片机，待检测芯片为恒流芯片，单片机包括多个I/O口，恒流芯片包括多个待检测引脚，其中，通过将需要检测的恒流芯片的待检测引脚与单片机的I/O口进行连接以使控制装置与待检测芯片进行连接。需要说明的是，当待检测芯片的数量为2时，所述单片机的I/O口与所述至少一个待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与两个所述待检测芯片的相同功能的待检测引脚连。举例而言，将第一恒流芯片和第二恒流芯片的相同功能的控制信号脚分别接入单片机的两个I/O口，以进行数学信号数据的采集。

如图3所示，在本实施方式中，恒流芯片的待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SD I和SDO。

其中，单片机内部通过I/O口，编写程序以通过读取指令读取与单片机的I/O口连接的待检测引脚的信号波形数据，进而将获取的信号波形数据进行比对，以完成控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，进而确定是否出现故障。在本是实施方式中，由于控制信号脚或数据传输脚产生的信号均为数字信号，也即，0,1,0,1所对应的高低电平的转换，因此，在控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对时，进行的是数字比对。

在本实施方式中，所述控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置为通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。在本实施方式中，所述确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置包括：分别将所述第一待检测信号和所述第二待检测信号与对应的标准信号进行比对；确定与所述标准信号不同的待检测信号，将比对结果发送至所述显示装置。

如图4和图5所示，在本实施方式中，单片机与接口输入电路相连，该接口输入电路产生的信号为标准信号，该标准信号发送至单片机和待检测芯片，单片机获取到该标准信号和待检测芯片输入的待检测信号后，通过将标准信号与待检测信号进行比对，以确定待检测信号与标准信号是否相同，进而确定该待检测芯片的待检测引脚是否存在故障。

控制装置，还用于确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号相等，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对。

具体地，通过条件转移指令将第一待检测信号与第二待检测信号进行数字比对，如果比对结果为相等，则按照顺序比对下一个待检测数字信号与对应的标准信号。如果比对结果为不相等，则调用中断指令，单片机控制将比对结果发送至显示装置，然后再继续执行待检测数字信号与标准信号的比对。

在本实施方式中，所述将比对结果进行显示为显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。举例而言，比对结果可以包括出现故障的芯片编号和该芯片对应的出现故障的引脚的编号，通过此种实施方式，使得用户可以清楚地知道第几个芯片的第几个引脚出现故障，实现精确定位，并清楚地提示用户。

在本实施方式中，显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。具体地，通过单片机其他I/O口上的总线驱动器和8位的LED数码管组成实现比对结果的发送和显示，当发生了信号中断事件导致比对数据时发生数据不等时，将结果显示出来。

通过上述实施方式，通过将待检测芯片和控制装置连接，使得控制装置可以获取待检测芯片中的待检测引脚的待检测数字信号，通过将该第一待检测信号与第二待检测信号进行比对以确定该引脚是否存在故障，如果不存在故障，则继续检测其他待检测引脚；如果存在故障，则将存在的故障的引脚信息和芯片信息通过显示装置进行显示。通过此种方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

图6位本申请一实施例提供的故障检测方法，应用于单片机，所述方法包括：

步骤S610，分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置；

步骤S620，通过所述显示装置将比对结果进行显示。

通过上述实施方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

具体地，所述单片机与所述显示装置相连，所述单片机与至少一个待检测芯片进行连接。在本实施方式中，至少一个待检测芯片的数量为2，即，单片机与两个待检测芯片连接，通过此种方式，使得单片机可以同时检测多个待检测芯片，提高了检测效率。

在本实施方式中，待检测芯片为恒流芯片，单片机包括多个I/O口，恒流芯片包括多个待检测引脚，其中，通过将需要检测的恒流芯片的待检测引脚与单片机的I/O口进行连接以使控制装置与待检测芯片进行连接。需要说明的是，当待检测芯片的数量为2时，所述单片机的I/O口与所述至少一个待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与两个所述待检测芯片的相同功能的待检测引脚连。举例而言，将第一恒流芯片和第二恒流芯片的相同功能的控制信号脚分别接入单片机的两个I/O口，以进行数学信号数据的采集。

在本实施方式中，恒流芯片的待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SDI和SDO。

在步骤S610中，单片机内部通过I/O口，编写程序以通过读取指令读取与单片机的I/O口连接的待检测引脚的信号波形数据，进而将获取的信号波形数据与对应的标准信号进行比对，以完成控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，进而确定是否出现故障。在本是实施方式中，由于控制信号脚或数据传输脚产生的信号均为数字信号，也即，0,1,0,1所对应的高低电平的转换，因此，在控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对时，进行的是数字比对。

如图7所示，在本实施方式中，步骤S610包括如下步骤：

步骤S6101，通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。

步骤S6102，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号相等，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对。

在本实施方式中，单片机与接口输入电路相连，该接口输入电路产生的信号为标准信号，该标准信号发送至单片机和待检测芯片，单片机获取到该标准信号和待检测芯片输入的待检测信号后，通过将标准信号与待检测信号进行比对，以确定待检测信号与标准信号是否相同，进而确定该待检测芯片的待检测引脚是否存在故障。

具体地，通过条件转移指令将标准信号与待检测信号进行数字比对，如果比对结果为相等，则按照顺序比对下一个待检测数字信号与对应的标准信号。如果比对结果为不相等，则调用中断指令，单片机控制将比对结果发送至显示装置，然后再继续执行待检测数字信号与标准信号的比对。

在本实施方式中，所述将比对结果进行显示为显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。举例而言，比对结果可以包括出现故障的芯片编号和该芯片对应的出现故障的引脚的编号，通过此种实施方式，使得用户可以清楚地知道第几个芯片的第几个引脚出现故障，实现精确定位，并清楚地提示用户。

在本实施方式中，显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。具体地，通过单片机其他I/O口上的总线驱动器和8位的LED数码管组成实现比对结果的发送和显示，当发生了信号中断事件导致比对数据时发生数据不等时，将结果显示出来。

通过上述实施方式，通过将待检测芯片和控制装置连接，使得控制装置可以获取待检测芯片中的待检测引脚的待检测数字信号，通过将该待检测信号与对应的标准信号进行比对以确定该引脚是否存在故障，如果不存在故障，则继续检测其他待检测引脚；如果存在故障，则将存在的故障的引脚信息和芯片信息通过显示装置进行显示。通过此种方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

图8为本申请一实施例提供一种故障检测设备，故障检测设备包括控制装置和显示装置，其中，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接。所述控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置；所述显示装置，用于接收所述控制装置发送的比对结果，并将比对结果进行显示。

可选地，所述控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置为通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。

可选地，所述确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置包括：分别将所述第一待检测信号和所述第二待检测信号与对应的标准信号进行比对；确定与所述标准信号不同的待检测信号，将比对结果发送至所述显示装置。

可选地，所述控制装置，还用于确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号相等，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对。

可选地，所述将比对结果进行显示为显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

可选地，所述控制装置为单片机，所述显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。

可选地，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接为所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接。

可选地，所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的相同功能的待检测引脚连接。

可选地，所述待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SDI和SDO。

通过上述实施方式，可以实现实时检测电路，而且可以精确定位发生问题的芯片和引脚，避免人为排查原因造成的大量的耗时。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。

上述各实施方式中的对应的技术特征在不导致方案矛盾或不可实施的前提下，可以相互使用。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本申请的保护之内。

Claims (9)

1.一种故障检测装置，其特征在于，应用于已组装于LED显示屏中的芯片的引脚检测，所述LED显示屏包括多个LED灯以及与LED对应的多个控制芯片，所述控制芯片包括多个引脚，所述故障检测装置包括控制装置和显示装置，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接，其中，所述第一待检测芯片和第二待检测芯片为所述多个控制芯片中的芯片，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接的步骤为所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接，所述待检测引脚为所述控制芯片中的多个引脚中的引脚；

所述控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对是否相同，并将比对结果发送至所述显示装置，其中，当相同时，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对，所述待检测信号为通过读取待检测引脚的信号波形数据所获得的信号；

所述显示装置，用于接收所述控制装置发送的比对结果，并将比对结果进行显示，包括，显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置为通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置包括：

分别将所述第一待检测信号和所述第二待检测信号与对应的标准信号进行比对；

确定与所述标准信号不同的待检测信号，将比对结果发送至所述显示装置。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制装置为单片机，所述显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接为所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的相同功能的待检测引脚连接。

7.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SDI和SDO。

8.一种故障检测方法，其特征在于，应用于单片机，用于LED显示屏中的芯片检测，所述LED显示屏包括多个LED灯以及与LED对应的多个控制芯片，所述控制芯片包括多个引脚，所述单片机与显示装置相连，所述单片机分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接，其中，所述第一待检测芯片和第二待检测芯片为所述多个控制芯片中的芯片，控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接的步骤为所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接，所述待检测引脚为所述控制芯片中的多个引脚中的引脚，所述方法包括：

分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对是否相同，并将比对结果发送至所述显示装置，其中，当相同时，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对，所述待检测信号为通过读取待检测引脚的信号波形数据所获得的信号；

通过所述显示装置将比对结果进行显示，包括，显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

9.一种故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备包括如权利要求1-7任一项所述的控制装置和显示装置，其中，所述控制装置与所述显示装置连接，

所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接。

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