CN110988649B - 一种反熔丝型fpga编程波形产生电路及反熔丝检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路及反熔丝检测方法,属于编程烧写电路技术领域。反熔丝型FPGA编程波形产生电路包括波形发生电路和编程时序控制电路,编程码流输入到所述波形发生电路,在所述编程时序控制电路的控制下,所述波形发生电路产生编程波形输出到反熔丝的端口,完成对反熔丝的编程。本发明能够方便快速的对反熔丝进行编程,提高了编程效率。
Description
技术领域
本发明涉及编程烧写电路技术领域,特别涉及一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路及反熔丝检测方法。
背景技术
FPGA作为一种可编程逻辑器件,以其配置灵活、速度快等优点广泛应用于通信、航空航天、医疗、安防视频监控等领域。目前FPGA基本分为反熔丝型、Flash型和SRAM型三种。
反熔丝具有面积小、功耗低、速度快、可靠性高等特点,所以尤其适合作为一次可编程电路的可配置单元。在反熔丝FPGA中,反熔丝单元可用作可配置布线通路和开关,所以对反熔丝熔通电阻一致性要求较高。在FPGA中存在大量反熔丝单元,通常以阵列形式出现,编程反熔丝的波形较为复杂,包括预充电、浮空、施加正反编程高压等过程。
发明内容
本发明的目的在于提供一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路及反熔丝检测方法,以解决目前编程反熔丝的波形操作步骤多、工作复杂的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路,包括波形发生电路和编程时序控制电路;
编程码流输入到所述波形发生电路,在所述编程时序控制电路的控制下,所述波形发生电路产生编程波形输出到反熔丝的端口,完成对反熔丝的编程。
可选的,所述编程时序控制电路包括3个D触发器和组合逻辑电路,
编程控制时钟信号Pclk连到D触发器DF0和DF1的时钟输入端,D触发器DF0的输出Q端连到D触发器DF1的输入D端,D触发器DF1的输出端Q经过反相器INV0连到D触发器DF0的输入端D,构成反馈回路;
反相器INV0的输出与D触发器DF0的Q1输出经过与门送到D触发器DF2的时钟输入端,D触发器DF2的输出Q端经过反相器INV1反馈到输入D端;
在编程控制时钟信号Pclk的控制下,产生4个控制信号:预充电控制信号PC_ctrl、编程高压控制信号VH_ctrl、编程极性控制信号Po_ctrl和浮空控制信号F_ctrl;所述编程时序控制电路是一个3位的状态机,在编程控制时钟信号Pclk作用下,控制状态跳转;D触发器DF0~DF2实现分频的作用。
可选的,所述波形发生电路包括串并转换电路、译码电路和电平转换电路;所述串并转换电路包括若干个DFF0触发器和若干个LAT锁存器,DFF0触发器的输出Q端连到下一级DFF0触发器的输入D端和本级LAT锁存器的输入D端;
所述译码电路包括或非、异或门电路,两级串并转换电路输出为1组2bits输入到所述译码电路,在所述4个控制信号下产生译码输出;
所述电平转换电路在使能有效期间,实现将低电压输入转换成高电压输出。
本发明还提供了一种编程后反熔丝检测方法,包括:
每次编程期间,即反熔丝两端在编程高压驱动下,一端连接编程高压VPP,另一端连接GND,能够通过监测VPP电源的电流,以判断被编程反熔丝的编程击穿程度:
根据欧姆定律R=V/I计算出该反熔丝的熔通电阻,当VPP电流较大,熔通电阻不大于100Ω,判定该反熔丝已被编通,继续编程下一个反熔丝;若VPP电流较小,熔通电阻大于100Ω,则需要重复对该反熔丝编程。
在本发明中提供了一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路及反熔丝检测方法,反熔丝型FPGA编程波形产生电路包括波形发生电路和编程时序控制电路,编程码流输入到所述波形发生电路,在所述编程时序控制电路的控制下,所述波形发生电路产生编程波形输出到反熔丝的端口,完成对反熔丝的编程。本发明能够方便快速的对反熔丝进行编程,提高了编程效率。
附图说明
图1是本发明提供的反熔丝型FPGA编程波形产生电路结构示意图;
图2是反熔丝型FPGA编程波形产生电路中编程时序控制电路结构示意图;
图3是反熔丝型FPGA编程波形产生电路中波形发生电路结构示意图;
图4是输出反熔丝两端的编程波形示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路及反熔丝检测方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
实施例一
本发明提供了一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路,如图1所示,包括波形发生电路和编程时序控制电路;编程码流输入到所述波形发生电路,在所述编程时序控制电路的控制下,所述波形发生电路产生编程波形输出到反熔丝的端口,完成对反熔丝的编程。
请参阅图2,所述编程时序控制电路包括若干个D触发器和组合逻辑电路,D触发器的数量为3个,组合逻辑电路包括多个逻辑门;编程控制时钟信号Pclk连到D触发器DF0和DF1的时钟输入端,D触发器DF0的输出Q端连到D触发器DF1的输入D端,D触发器DF1的输出端Q经过反相器INV0连到D触发器DF0的输入端D,构成反馈回路;反相器INV0的输出与D触发器DF0的输出经过与门送到D触发器DF2的时钟输入端,D触发器DF2的输出Q端经过反相器INV1反馈到输入D端;在编程控制时钟信号Pclk的控制下,产生4个控制信号:预充电控制信号PC_ctrl、编程高压控制信号VH_ctrl、编程极性控制信号Po_ctrl和浮空控制信号F_ctrl;所述编程时序控制电路是一个3位的状态机,在编程控制时钟信号Pclk作用下,控制状态跳转;D触发器DF0~DF2实现分频的作用。
如图3所示,所述波形发生电路包括串并转换电路、译码电路和电平转换电路;所述串并转换电路包括若干个DFF0触发器和若干个LAT锁存器,DFF0触发器的输出Q端连到下一级DFF0触发器的输入D端和本级LAT锁存器的输入D端;所述译码电路包括或非、异或门电路,两级串并转换电路输出为1组2bits输入到所述译码电路,在所述4个控制信号下产生译码输出;所述电平转换电路在使能有效(即EP为高,EN为低)期间,实现将低电压输入转换成高电压输出。
编程码流串行数据SDI在移位时钟Shift_clk的控制下移入DFF0触发器中,在update信号控制下锁存数据,完成串并转换;所述译码电路对LAT锁存器输出数据译码输出,同时受浮空控制信号F_ctrl、全局使能信号GE、编程极性控制信号Po_ctrl、编程高压控制信号VH_ctrl控制;全局使能信号GE在编程期间一直为高,能够切换整体波形发生电路是否为编程模式;浮空控制信号F_ctrl为高时,传输VPP的NMOS管关闭,输出信号N1悬空;浮空控制信号F_ctrl为低时,使能波形输出;浮空控制信号F_ctrl有效出现在输出电平切换期间,如预充电电压过渡到编程高压期间,或者预充电过渡到地期间,N1和N2节点浮空可以隔离两种电源,预防电源短路;同时,N1和N2节点浮空期间,由于布线通道vl和hl具有一定的电荷保持能力,所以能够维持一段时间的预充电压VPP/2;编程极性控制信号Po_ctrl在一个编程周期内翻转一次,可以完成输出VPP/GND的切换,从而实现反熔丝两端信号的反向;
编程高压控制信号VH_ctrl为高时,波形发生电路输出为VPP信号,此时反熔丝两端均被拉到VPP电压;每次编程结束后,将反熔丝两端拉到VPP电压,然后过渡到下一次编程。
将串行编程码数据灌入图3所示的寄存器链中,经过移位锁存,前两个寄存器数据为2’b10,后两个寄存器数据为2’b11,在图2状态机的控制下,然后译码和电平转换,最终输出反熔丝两端的编程波形,如图4所示。
实施例二
本发明实施例二提供了一种编程后反熔丝检测方法,包括:
每次编程期间,即反熔丝两端在编程高压驱动下,一端连接编程高压VPP,另一端连接GND,能够通过监测VPP电源的电流,以判断被编程反熔丝的编程击穿程度:
根据VPP电源的电流I和欧姆定律R=V/I计算出该反熔丝的熔通电阻,当VPP电流较大,熔通电阻不大于100Ω,判定该反熔丝已被编通,继续编程下一个反熔丝;若VPP电流较小,熔通电阻大于100Ω,则需要重复对该反熔丝编程。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述,并非对本发明范围的任何限定,本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于权利要求书的保护范围。
Claims (2)
1.一种反熔丝型FPGA编程波形产生电路,其特征在于,包括波形发生电路和编程时序控制电路;
编程码流输入到所述波形发生电路,在所述编程时序控制电路的控制下,所述波形发生电路产生编程波形输出到反熔丝的端口,完成对反熔丝的编程;
所述编程时序控制电路包括3个D触发器和组合逻辑电路,编程控制时钟信号Pclk连到D触发器DF0和DF1的时钟输入端,D触发器DF0的输出Q端连到D触发器DF1的输入D端,D触发器DF1的输出端Q经过反相器INV0连到D触发器DF0的输入端D,构成反馈回路;
在编程控制时钟信号Pclk的控制下,产生4个控制信号:预充电控制信号PC_ctrl、编程高压控制信号VH_ctrl、编程极性控制信号Po_ctrl和浮空控制信号F_ctrl;所述编程时序控制电路是一个3位的状态机,在编程控制时钟信号Pclk作用下,控制状态跳转;D触发器DF0~DF2实现分频的作用。
2.如权利要求1所述的反熔丝型FPGA编程波形产生电路,其特征在于,所述波形发生电路包括串并转换电路、译码电路和电平转换电路;所述串并转换电路包括若干个DFF0触发器和若干个LAT锁存器,DFF0触发器的输出Q端连到下一级DFF0触发器的输入D端和本级LAT锁存器的输入D端;
所述译码电路包括或非、异或门电路,两级串并转换电路输出为1组2bits输入到所述译码电路,在所述4个控制信号下产生译码输出;
所述电平转换电路在使能有效期间,实现将低电压输入转换成高电压输出。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911155516.2A CN110988649B (zh) | 2019-11-22 | 2019-11-22 | 一种反熔丝型fpga编程波形产生电路及反熔丝检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911155516.2A CN110988649B (zh) | 2019-11-22 | 2019-11-22 | 一种反熔丝型fpga编程波形产生电路及反熔丝检测方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110988649A CN110988649A (zh) | 2020-04-10 |
CN110988649B true CN110988649B (zh) | 2021-11-09 |
Family
ID=70085869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911155516.2A Active CN110988649B (zh) | 2019-11-22 | 2019-11-22 | 一种反熔丝型fpga编程波形产生电路及反熔丝检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110988649B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112953537B (zh) * | 2021-02-05 | 2022-02-15 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 | 电流舵dac的熔丝校准单元电路 |
CN113033138B (zh) * | 2021-03-08 | 2023-03-24 | 电子科技大学 | 一种基于由反熔丝器件控制的电源门控技术的新型fpga结构 |
CN113078898B (zh) * | 2021-04-15 | 2023-07-14 | 泉芯电子技术(深圳)有限公司 | 反熔丝修调电路及其修调方法 |
CN116718901B (zh) * | 2023-08-10 | 2023-11-24 | 成都市硅海武林科技有限公司 | 一种反熔丝fpga高速测试电路 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2661326B2 (ja) * | 1990-05-14 | 1997-10-08 | 日本電気株式会社 | エラスティックストア回路 |
TWI287727B (en) * | 2004-07-02 | 2007-10-01 | Tatung Co | Programmable logic block applied to non-synchronous circuit design |
CN104216807B (zh) * | 2014-09-01 | 2016-03-02 | 深圳航天东方红海特卫星有限公司 | 一种星载计算机自刷新切机系统 |
CN106324474A (zh) * | 2015-06-24 | 2017-01-11 | 华晋书 | 一种针对反熔丝fpga测试烧录系统 |
CN106325900A (zh) * | 2015-06-24 | 2017-01-11 | 赵智达 | 用于反熔丝fpga的烧录器设计 |
CN106341121A (zh) * | 2015-07-06 | 2017-01-18 | 华晋书 | 一种针对反熔丝FPGA的模拟Level-shifter电路 |
CN106708545A (zh) * | 2015-08-17 | 2017-05-24 | 卢骏 | 应用于反熔丝fpga的新型编程器设计 |
CN106470034A (zh) * | 2015-08-17 | 2017-03-01 | 赵智达 | 一种反熔丝型fpga半编程电压驱动电路 |
CN109558662A (zh) * | 2018-11-22 | 2019-04-02 | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 | 反熔丝fpga通用编程器及其编程方法 |
-
2019
- 2019-11-22 CN CN201911155516.2A patent/CN110988649B/zh active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN110988649A (zh) | 2020-04-10 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |