CN110927413A - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种测试装置，包括探针模组和压紧组件，探针模组包括探针座及多个探针，探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，压紧组件包括底框、上盖及两压爪，底框用于与测试电路板相固定，探针模组位于底框中，底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳两压爪，上盖设于底框上，并在上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与上盖连接及通过一支轴与底框连接，且拉轴位于支轴的外侧，上盖在弹性元件的弹性力作用下，使拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。本发明提高下压力，以便能更好的适用引脚数量较多的电子器件。

Description

测试装置

技术领域

本发明涉及电子测试装置领域，尤其涉及一种用于电子器件的测试装置。

背景技术

采用测试装置对电子器件例如集成电路芯片进行操作，例如芯片烧录和芯片测试时，通常是将测试装置安装在测试机架上并对准的测试机架上的测试电路板，使芯片上的测试引脚放置在测试装置的测试座中，通过测试装置将芯片的测试引脚与测试电路板进行电性导通。

现有测试装置中，需要下压芯片，通过下压芯片使引脚与测试装置的-探针稳定接触，得以进行电性导通。由于有的芯片引脚数量较多，需要的探针个数(或导电体面积)也较多(大)，而探针又是具有一定弹力的导体，因此为了能够下压更多的探针，测试装置需要非常大的下压力，测试机架的下压力是有限的，因此限制了测试装置所能测试的最大引脚数量，而且也容易达下压极限值，造成接触不良而出现误判。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测试装置，旨在实现提高下压力，以便能更好的适用引脚数量较多的电子器件。

为实现上述目的，本发明提供一种测试装置，所述测试装置包括探针模组和压紧组件，所述探针模组包括探针座及多个探针，所述探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，所述多个探针设于所述探针座中并贯穿探针座的上、下两侧，用于将位于探针模组下侧的测试电路板与位于探针模组的收容槽内的电子器件电性导通，所述压紧组件包括底框、上盖及两压爪，所述底框用于与所述测试电路板相固定，所述探针模组位于所述底框中，所述底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳所述两压爪，所述上盖设于所述底框上，并在所述上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与所述上盖连接及通过一支轴与所述底框连接，且所述拉轴位于所述支轴的外侧，所述上盖在所述弹性元件的弹性力作用下，使所述拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。

优选地，所述上盖设有用于对拉轴进行导向和限位的横向导槽，所述底框设有用于对所述拉轴进行导向和限位的斜槽，所述底框设有用于对所述支轴进行导向和限位的横向支撑槽，所述横向支撑槽位于所述斜槽的内侧；在所述第一位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的内端和所述斜槽的顶端，所述支轴位于所述横向支撑槽的内端，所述压爪呈内伸状态以用于压紧收容槽中的电子器件；在所述第二位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的外端和所述斜槽的底端，所述支轴位于所述横向支撑槽的外端，所述压爪呈外移状态以用于松开收容槽中的电子器件。

优选地，所述斜槽包括位于上部的一竖直段和位于下部的一倾斜段，所述倾斜段由所述竖直段的底端向外向下倾斜延伸。

优选地，所述上盖与所述底框的两缺口相对的两侧各自向下延伸有两拉柱，所述两拉柱呈间隔设置，所述横向导槽设于所述拉柱上并靠近所述拉柱的底端设置，所述压爪的外端位于所述两拉柱之间，所述底框于与所述两拉柱相对的侧面上分别设有所述斜槽，所述拉轴的两端分别穿过两拉柱上横向导槽并插入所述斜槽中。

优选地，在所述第一位置时，所述拉轴和支轴在水平方向上平齐。

优选地，所述底框与所述两拉柱相对的侧面上分别设有两第一竖向导槽，用于对所述两拉柱进行限位和导向。

优选地，所述底框的另一相对两侧各自设置有第二竖向导槽，所述上盖对应所述第二竖向导槽朝向所述底框延伸有限位柱，所述第二竖向导槽用于对所述限位柱进行导向和限位。

优选地，所述底框于所述第二竖向导槽内形成有限位凸块，所述限位柱上对应所述限位凸块设有限位槽，所述限位槽用于所述限位凸块进行导向和限位。

优选地，所述弹性元件包括四根压缩弹簧，所述四根压缩弹簧分别设置在所述底框和上盖的四个角的位置。

优选地，所述探针座包括底板、中固定板和上浮板、所述中固定板和上浮板依次设置在所述底板上，通过所述底板和中固定板对多个探针进行固定，所述上浮板与中固定板之间设有压缩弹簧以形成浮动连接。

本发明的测试装置中，通过设置压爪、拉轴和支轴，利用杠杆结构将下压力放大，增大的压爪下压力能使电子器件的引脚与导电体更稳定的测试，能更好的适用引脚数量较多的电子器件，避免了误测的发生，并且可以减少测试机架下压需求力。并且，通过设置斜槽，可以增加压爪的打开退出距离，方便电子器件的取放。

附图说明

图1为本发明测试装置一实施例的部分分解示意图。

图2为图1所示测试装置的一组装剖视图。

图3为图1所示测试装置的另一组装剖视图。

图4为图1所示测试装置中压紧组件的分解示意图。

图5为图1所示测试装置中探针模组的分解示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1至图5所示为本发明测试装置的一实施例，所述测试装置包括探针模组1和压紧组件2，所述探针模组1包括探针座11及多个探针12，所述探针座11的上侧中部设有用于放置电子器件(图中未示出)的收容槽111，所述多个探针12设于所述探针座11中并贯穿探针座11的上、下两侧，用于将位于探针12模组1下侧的测试电路板(图中未示出)与位于探针12模组1的收容槽111内的电子器件电性导通，所述压紧组件2包括底框21、上盖22及两压爪23，所述底框21用于与所述测试电路板相固定，所述探针模组1位于所述底框21中，所述底框21的相对两侧分别设有两缺口211以分别用于容纳所述两压爪23，所述上盖22设于所述底框21上，并在所述上盖22和底框21之间设有弹性元件24，每一压爪23通过一拉轴25与所述上盖22连接及通过一支轴26与所述底框21连接，且所述拉轴25位于所述支轴26的外侧，所述上盖22在所述弹性元件24的弹性力作用下，使所述拉轴25、支轴26及压爪23位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖22预定距离，可以使拉轴25、支轴26及压爪23联动至松开电子器件的的第二位置。

在本实施例中，所述上盖22设有用于对拉轴25进行导向和限位的横向导槽221，所述底框21设有用于对所述拉轴25进行导向和限位的斜槽212，所述底框21设有用于对所述支轴26进行导向和限位的横向支撑槽213，所述横向支撑槽213位于所述斜槽212的内侧；在所述第一位置时，所述拉轴25位于所述横向导槽221的内端(如图3所示)和所述斜槽212的顶端(如图2所示)，所述支轴26位于所述横向支撑槽213的内端(如图3所示)，所述压爪23呈内伸状态以用于压紧收容槽111中的电子器件；在下压上盖22的过程中，上盖22带动拉轴25沿斜槽212向下并向外移动，同时拉轴25沿横向导槽221向外移动，压爪23和支轴26在拉轴25的拉动作用下联动，使得压爪23和支轴26向外移动的同时压爪23发生转动而松开电子器件，当下压上盖22预定距离至所述第二位置时，所述拉轴25位于所述横向导槽221的外端和所述斜槽212的底端，所述支轴26位于所述横向支撑槽213的外端，所述压爪23呈外移状态以用于松开收容槽111中的电子器件。

在本实施例中，所述斜槽212包括位于上部的一竖直段2121和位于下部的一倾斜2122，所述倾斜段2122由所述竖直段2121的底端向外向下倾斜延伸。

在本实施例中，所述上盖22与所述底框21的两缺口211相对的两侧各自向下延伸有两拉柱222，所述两拉柱222呈间隔设置，所述横向导槽221设于所述拉柱222上并靠近所述拉柱222的底端设置，所述压爪23的外端位于所述两拉柱222之间，所述底框21于与所述两拉柱222相对的侧面上分别设有所述斜槽212，所述拉轴25的两端分别穿过两拉柱222上的横向导槽221并插入所述斜槽212中。

在本实施例中，在所述第一位置时，所述拉轴25和支轴26在水平方向上平齐，这样能够使弹性元件24对所述拉轴25、支轴26及压爪23进行更好的锁定。

所述底框21与所述两拉柱222相对的侧面上分别设有两第一竖向导槽214，用于对所述两拉柱222进行限位和导向。

所述底框21的另一相对两侧各自设置有第二竖向导槽215，所述上盖22对应所述第二竖向导槽215朝向所述底框21延伸有限位柱223，所述第二竖向导槽215用于对所述限位柱223进行导向和限位。在本实施例中，底框21的每一侧的第二竖向导槽215的数量为两个，上盖22上对应的限位柱223也为两个。

进一步地，所述底框21于所述第二竖向导槽215内形成有限位凸块216，所述限位柱223上对应所述限位凸块216设有限位槽224，所述限位槽224用于所述限位凸块216进行导向和限位。

在本实施例中，所述弹性元件24包括四根压缩弹簧，所述四根压缩弹簧分别设置在所述底框21和上盖22的四个角的位置。压缩弹簧的数量及设置位置并不局限如此，在其它实施例中，可以为其它形式，例如只在两个对角设置压缩弹簧，或者将压缩弹簧设置在底框21四周边缘的中间位置。

在本实施例中，所述探针座11包括底板112、中固定板113和上浮板114、所述中固定板113和上浮板114依次设置在所述底板112上，通过所述底板112和中固定板113对多个探针12进行固定，所述上浮板114与中固定板113之间设有压缩弹簧115以形成浮动连接。

所述测试装置中，通过设置压爪23、拉轴25和支轴26，利用杠杆结构将下压力放大，增大的压爪23下压力能使电子器件的引脚与导电体更稳定的测试，能更好的适用引脚数量较多的电子器件，避免了误测的发生，并且可以减少测试机架下压需求力。并且，通过设置斜槽212，可以增加压爪23的打开退出距离，方便电子器件的取放。

测试装置中，压爪23的拉轴25固定点与压爪23的支轴26固定点距离大，使得在弹性元件24对上盖22的弹力一定的情况下，压爪23的压点与支轴26固定点的距离比支轴26固定点与拉轴26固定点的距离比值越大，则压爪爪23压点产生的力越大。

本发明并不局限于以上实施方式，在上述实施方式公开的技术内容下，还可以进行各种变化。凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括探针模组和压紧组件，

所述探针模组包括探针座及多个探针，所述探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，所述多个探针设于所述探针座中并贯穿探针座的上、下两侧，用于将位于探针模组下侧的测试电路板与位于探针模组的收容槽内的电子器件电性导通，

所述压紧组件包括底框、上盖及两压爪，所述底框用于与所述测试电路板相固定，所述探针模组位于所述底框中，所述底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳所述两压爪，所述上盖设于所述底框上，并在所述上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与所述上盖连接及通过一支轴与所述底框连接，且所述拉轴位于所述支轴的外侧，所述上盖在所述弹性元件的弹性力作用下，使所述拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上盖设有用于对拉轴进行导向和限位的横向导槽，所述底框设有用于对所述拉轴进行导向和限位的斜槽，所述底框设有用于对所述支轴进行导向和限位的横向支撑槽，所述横向支撑槽位于所述斜槽的内侧；在所述第一位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的内端和所述斜槽的顶端，所述支轴位于所述横向支撑槽的内端，所述压爪呈内伸状态以用于压紧收容槽中的电子器件；在所述第二位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的外端和所述斜槽的底端，所述支轴位于所述横向支撑槽的外端，所述压爪呈外移状态以用于松开收容槽中的电子器件。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述斜槽包括位于上部的一竖直段和位于下部的一倾斜段，所述倾斜段由所述竖直段的底端向外向下倾斜延伸。

4.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述上盖与所述底框的两缺口相对的两侧各自向下延伸有两拉柱，所述两拉柱呈间隔设置，所述横向导槽设于所述拉柱上并靠近所述拉柱的底端设置，所述压爪的外端位于所述两拉柱之间，所述底框于与所述两拉柱相对的侧面上分别设有所述斜槽，所述拉轴的两端分别穿过两拉柱上的横向导槽并插入所述斜槽中。

5.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，在所述第一位置时，所述拉轴和支轴在水平方向上平齐。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述底框与所述两拉柱相对的侧面上分别设有两第一竖向导槽，用于对所述两拉柱进行限位和导向。

7.如权利要求1至6中任意一项所述的测试装置，其特征在于，所述底框的另一相对两侧各自设置有第二竖向导槽，所述上盖对应所述第二竖向导槽朝向所述底框延伸有限位柱，所述第二竖向导槽用于对所述限位柱进行导向和限位。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述底框于所述第二竖向导槽内形成有限位凸块，所述限位柱上对应所述限位凸块设有限位槽，所述限位槽用于所述限位凸块进行导向和限位。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述弹性元件包括四根压缩弹簧，所述四根压缩弹簧分别设置在所述底框和上盖的四个角的位置。

10.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述探针座包括底板、中固定板和上浮板、所述中固定板和上浮板依次设置在所述底板上，通过所述底板和中固定板对多个探针进行固定，所述上浮板与中固定板之间设有压缩弹簧以形成浮动连接。

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