CN110830795B - 一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备 - Google Patents

一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,涉及数字图像处理技术领域;该检测方法包括:获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素;本发明通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,大大提高了坏点检测的准确性。

Description

一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备
技术领域
本发明属于数字图像处理技术领域,更具体地,涉及一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备。
背景技术
图像传感器是利用光电器件的光电转换功能,将感光面上的光像转换为与光像成相应比例关系的电信号。与光敏二极管,光敏三极管等“点”光源的光敏元件相比,图像传感器是将其受光面上的光像,分成许多小单元,将其转换成可用的电信号的一种功能器件。
图像传感器被广泛地应用在数码相机和其他电子光学设备中,主要包括CCD传感器和CMOS传感器;由于制造工艺和材料差异,目前图像传感器中可能会存在坏点像素,导致相机采集的图像中的像素值不准确;因此,相机在出厂前,生产厂商会对相机图像传感器中的坏点像素进行检测并将坏点像素坐标存储到相机中;在使用该相机拍摄图像时,可直接调用该坏点坐标对采集图像中的坏点进行矫正;但由于坏点检测标准不同,实际工业检测中,采集相机存储的坏点坐标进行校正后仍不足以满足检测要求,影响检测精度和生产效率;并且相机在高温环境下长时间工作后,坏点像素也会越来越多,从而破坏了其采集图像的清晰度和完整性。
随着图像传感器的图像处理能力越来越强大,对于坏点的检测和修复已经通过实时处理的方式来进行;现有的图像传感器坏点检测方法,一般在一帧图像中,通过判断某一像素点与领域像素点的差别来确认该像素点是否为坏点,如中国专利CN101212703A影像坏点像素检测方法,其根据邻域像素点亮度差及均值设置坏点上限阈值和下限阈值,若该待检测像素点亮度值在两者之间则为正常点,反之为坏点;此类方法的坏点误检率较高,经常将噪点误认为坏点,校正后图像也会出现失真情况,且实时检测对于连续坏点区可能出现较大误检和漏检,耗时较长。
发明内容
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本发明提供了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,一定百分比以上图像帧中均出现的疑似坏点被确认为真正的坏点像素,大大提高了坏点检测的准确性。
为实现上述目的,按照本发明的第一个方面,提供了一种图像传感器坏点检测方法,该方法包括以下步骤:
获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,对外部图像进行坏点检测具体为:
计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对所述平均图像进行坏点检测。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,对所述暗场图像进行坏点检测具体为:
获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,确认灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像,对所述亮场图像进行坏点检测具体为:
将经过快速傅里叶变换的亮场图像与构造的高斯滤波器在频域中进行卷积,对卷积后的图像矩阵再进行快速傅里叶变换;将变换后图像划分为多个相同大小的掩膜块并分别计算每个所述掩膜块中的各像素点的灰度范围;利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值对亮场图像进行分割并计算连通区域,根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点并记录其位置坐标。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法还包括对图像传感器进行灰尘检测的步骤:
获取所述图像传感器采集的均匀面阵光源上的至少两个不同位置的显示图像,当各显示图像中的相同位置处均存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法还包括对图像传感器进行灰尘检测的步骤:
获取所述图像传感器采集的积分球内部的光源显示图像,当所述光源显示图像中存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法,当所述外部图像为bayer图像格式的彩色图像时,将所述彩色图像拆分为多个单色通道图像并分别进行坏点检测。
优选的,上述图像传感器坏点检测方法还包括以下步骤:
将所述实际坏点像素对应的位置坐标更新到图像传感器的原始坏点文件中。
按照本发明的第二个方面,还提供了一种图像传感器坏点检测装置,该装置包括:
检测模块,用于获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
统计模块,用于比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则设定该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,所述检测模块对外部图像进行坏点检测具体为:
计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对所述平均图像进行坏点检测。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,所述检测模块对所述暗场图像进行坏点检测具体为:
获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,认定灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像,所述检测模块对所述亮场图像进行坏点检测具体为:
将经过快速傅里叶变换的亮场图像与构造的高斯滤波器在频域中进行卷积,对卷积后的图像矩阵再进行快速傅里叶变换;将变换后图像划分为多个相同大小的掩膜块并分别计算每个所述掩膜块中的各像素点的灰度范围;利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值对亮场图像进行分割并计算连通区域,根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点并记录其位置坐标。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置还包括对灰尘检测模块;
所述灰尘检测模块用于获取相机拍摄的均匀面阵白光源上的至少两个不同位置的显示图像,当各显示图像中的相同位置处均存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置还包括灰尘检测模块;
所述灰尘检测模块用于获取所述图像传感器采集的积分球内部的光源的显示图像,当所述显示图像中存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置,当所述外部图像为bayer图像格式的彩色图像时,所述检测模块将所述彩色图像拆分为多个单色通道图像并分别进行坏点检测。
优选的,上述图像传感器坏点检测装置还包括更新模块;
所述更新模块用于将所述实际坏点像素对应的位置坐标更新到图像传感器的原始坏点文件中。
按照本发明的第三个方面,还提供了一种电子设备,包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元,其中,所述存储单元存储有计算机程序,当所述计算机程序被所述处理单元执行时,使得所述处理单元执行上述任一项所述方法的步骤。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明提供的图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,一定百分比以上图像帧中均出现的疑似坏点被确认为真正的坏点像素,大大提高了坏点检测的准确性。
(2)本发明提供的图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,通过对每个曝光时间下连续采集的多帧图像进行平均,检测平均图像中的坏点,可有效减少噪声影响,提高了坏点检测准确性。
(3)本发明提供的图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,进行暗点检测前先进行灰尘检测,除去灰尘后再进行暗点检测,可有效排除灰尘对暗点检测的影响;暗点检测过程中,根据指定的形状及大小特征选择暗点区域,有效提高暗点检测的准确性。
(4)本发明提供的图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,离线进行坏点检测,只需检测一次,记录坏点坐标,后续加载相应文件进行坏点校正,不受检测场景影响,有效提高了坏点校正的效率;采集图像传感器对应的原始图像数据进行坏点检测,检测的坏点坐标有效对应了实际图像传感器的位置,有效提高坏点校正的准确性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的图像传感器坏点检测方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的图像传感器坏点检测的详细工作流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
实施例一
图1是本实施例提供的图像传感器坏点检测方法的流程图,图2是本实施例提供的图像传感器坏点检测的详细工作流程图;参见图1、2所示,该方法包括以下步骤:
S100:获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
本实施例以应用图像传感器的数码相机为例进行说明,数码相机在不同曝光时间下采集多组外部图像,记录每个曝光时间下的外部图像的灰度数据;对各外部图像进行坏点检测,初步检出各曝光时间下外部图像中的疑似坏点作为备选坏点并记录备选坏点的位置坐标。本实施例中,数码相机分别使用8bit raw和bayer图像格式采集外部图像,并将其转换为未经过任何压缩的bmp格式,即图像传感器的原始图像数据;在该原始图像数据的基础上进行坏点检测。
S200:比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则设定该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素;
通过设置比例阈值对各曝光时间下外部图像中的备选坏点作进一步筛选,本实施例将比例阈值设为80%,如果相同出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值大于等于80%,则认为位置坐标的备选坏点为数码相机中的实际坏点像素。
由于图像传感器中的坏点受曝光时间影响不大,本实施例通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,一定百分比以上图像帧中均出现的疑似坏点被确认为真正的坏点像素,大大提高了坏点检测的准确性。
作为本实施例的一个优选示例,上述图像传感器坏点检测方法中,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,对外部图像进行坏点检测具体包括:计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对平均图像进行坏点检测。
本实施例中,图像传感器在每个曝光时间下均采集N帧图像,N的取值不作具体限制,本实施例优选为15-20帧;分别计算每个曝光时间下的N帧图像的灰度平均值,得到一幅平均图像,然后对该平均图像进行坏点检测。
通过对每个曝光时间下连续采集的多帧图像进行平均,检测平均图像中的坏点,可有效减少噪声影响,提高了坏点检测准确性。
本实施例中所述的数码相机包括单色相机和彩色相机,对于彩色相机,其对应采集的外部图像为彩色图像,须将该彩色图像拆分为多个单色通道图像,如R、G、B通道图像,并分别对R通道、G通道、B通道图像进行坏点检测;对于每个曝光时间下采集的多帧图像,需要将每帧图像拆分为R、G、B通道图像,然后分别对各帧图像对应的R通道图像进行平均,得到R通道平均图像;同样,可以得到G通道平均图像和B通道平均图像;然后分别对R、G、B通道平均图像进行坏点检测并通过设置比例阈值作进一步筛选。
可选的,上述图像传感器坏点检测方法,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,对所述暗场图像进行坏点检测具体为:获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,确认灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。
本实施例中,图像传感器在不同曝光时间下采集暗场环境下的多组暗场图像,每个曝光时间下对应的暗场图像均包括多帧图像,多帧图像平均后得到暗场平均图像;
对每个曝光时间下对应的暗场平均图像进行亮点检测,设置亮点灰度阈值T,初步检出各曝光时间下暗场平均图像中的疑似亮点,并记录疑似亮点的灰度值及位置坐标;针对每个曝光时间下的疑似亮点,相互比较其疑似亮点的位置坐标,超过80%以上的多个暗场平均图像中均出现相同位置坐标的疑似亮点,则判定该疑似亮点为图像传感器中的实际亮点,并记录该实际亮点的灰度值及位置坐标。
进一步的,上述图像传感器坏点检测方法,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像,对所述亮场图像进行坏点检测具体为:
对亮场图像进行滤波和快速傅里叶变换,将变换后的亮场图像划分为多个设定大小的掩膜块,分别计算每一所述掩膜块中的各像素点的灰度范围;利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值对亮场图像进行分割并计算连通区域,根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点并记录其位置坐标。
本实施例中,图像传感器在不同曝光时间下采集亮场环境下的多组亮场图像,每个曝光时间下对应的亮场图像均包括多帧图像,多帧图像平均后得到亮场平均图像;
对每个曝光时间下对应的亮场平均图像进行暗点检测,首先,针对各亮场平均图像用高斯滤波器构造一个或多个合适通道的滤波器,将经过快速傅里叶变换的亮场平均图像与构造的高斯滤波器在频域中进行卷积,对卷积后得到的图像矩阵再进行快速傅里叶变换;然后将变换后的图像分为K*K pixel的多个矩形掩膜块,计算每个矩形掩膜块中像素点的灰度范围;根据该灰度范围确定该亮场平均图像的全局阈值,利用全局阈值对图像进行分割,计算区域内的连通部分,然后根据指定的形状及大小特征从连通部分中筛选出疑似暗点,记录不同曝光时间下对应的疑似暗点的灰度值及位置坐标;针对每个曝光时间下的疑似暗点,相互比较疑似暗点的位置坐标,超过80%以上的多个亮场平均图像中均出现相同位置坐标的疑似暗点,则判定该疑似暗点为图像传感器中的实际暗点,并记录该实际暗点的灰度值及位置坐标;
作为本实施例的一个优选示例,在采集亮场图像进行暗点检测之前,需要先对数码相机进行灰尘检测,保证设备处于无尘状态下采集亮场图像,避免灰尘对暗点检测造成干扰;本实施例提供两种方式进行灰尘检测,第一种方式:数码相机贴着均匀面阵光源,在某一亮度标准范围内,采集第一位置处的显示图像;然后改变数码相机与均匀面阵光源的相对位置,采集第二位置处的显示图像;比较两张显示图像,若图像中同一位置均存在大于X个像素大小的不规则形状的暗像素块(X的大小根据需求进行设置),则说明数码相机上有灰尘,需要进行设备清洁;清洁完成后,重复上述步骤进行灰尘检测。本实施例中,均匀面阵光源优选采用白光源;显示图像的数量至少为两张,具体数量本实施例不作具体限制,数量约多灰尘的检测精度越高。第二种方式:将数码相机放置于积分球的透光孔处,采集积分球内部的光源的显示图像,当显示图像中存在大于X个像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘,需要进行设备清洁;清洁完成后,重复上述步骤进行灰尘检测。
S300:将所述实际坏点像素对应的位置坐标更新到图像传感器的原始坏点文件中。
本实施例中,将实际亮点和实际暗点的位置坐标与数码相机的原始坏点文件进行比较,将未包含在原始坏点文件中的实际亮点和实际暗点的位置坐标添加到原始坏点文件中,保存为数码相机可读的坏点文件,导入到对应相机中进行坏点校正。
实施例二
本实施例提供了一种图像传感器坏点检测装置,用于实现上述图像传感器坏点检测方法;该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现,并可集成在电子设备上;具体的,该装置包括检测模块和统计模块;
检测模块用于获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
统计模块用于比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则设定该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。
通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,一定百分比以上图像帧中均出现的疑似坏点被确认为真正的坏点像素,大大提高了坏点检测的准确性。
作为本实施例的一个优选示例,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,检测模块对外部图像进行坏点检测具体包括:
计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对各平均图像进行坏点检测。
通过对每个曝光时间下连续采集的多帧图像进行平均,检测平均图像中的坏点,可有效减少噪声影响,提高了坏点检测准确性。
可选的,当图像传感器采集的外部图像为彩色图像时,检测模块首先将彩色图像拆分为多个单色通道图像并分别进行坏点检测。
作为本实施例的一个优选示例,上述图像传感器坏点检测装置,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,检测模块对所述暗场图像进行亮点检测,具体的:检测模块获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,认定灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选亮点。
进一步的,图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像,检测模块还对所述亮场图像进行暗点检测,具体的:
检测模块首先对亮场图像进行快速傅里叶变换,将经过快速傅里叶变换的亮场图像与构造的高斯滤波器在频域中进行卷积,对卷积后得到的图像矩阵再进行快速傅里叶变换;将变换后的亮场图像划分为多个相同大小的掩膜块,分别计算每一所述掩膜块中的各像素点的灰度范围;利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值对亮场图像进行分割并计算连通区域,根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点并记录其位置坐标。
检测模块获取备选亮点和备选暗点之后,由统计模块分别对备选亮点和备选暗点作进一步筛选,得到图像传感器中的实际亮点和实际暗点。
作为本实施例的一个优选示例,上述图像传感器坏点检测装置还包括对灰尘检测模块;该灰尘检测模块用于获取相机拍摄的均匀面阵光源上的至少两个不同位置的显示图像,当各显示图像中的相同位置处均存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘;或者,灰尘检测模块获取所述图像传感器采集的积分球内部的光源的显示图像,当该显示图像中存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
如果确认图像传感器上存在灰尘,则需要进行设备清洁;清洁完成后,灰尘检测模块重复上述过程进行灰尘检测。
作为本实施例的一个优选示例,上述图像传感器坏点检测装置还包括更新模块;该更新模块用于将实际亮点和实际暗点对应的位置坐标更新到图像传感器的原始坏点文件中;
本实施例中,更新模块将实际亮点和实际暗点的位置坐标与数码相机的原始坏点文件进行比较,将未包含在原始坏点文件中的实际亮点和实际暗点的位置坐标添加到原始坏点文件中,保存为数码相机可读的坏点文件,导入到对应相机中进行坏点校正。
实施例三
本实施例还提供了一种电子设备,其包括至少一个处理器、以及至少一个存储器,其中,存储器中存储有计算机程序,当计算机程序被处理器执行时,使得处理器执行实施例一中图像传感器坏点检测方法的步骤,具体步骤参见实施例一,此处不再赘述;本实施例中,处理器和存储器的类型不作具体限制,例如:处理器可以是微处理器、数字信息处理器、片上可编程逻辑系统等;存储器可以是易失性存储器、非易失性存储器或者它们的组合等。
该电子设备也可以与一个或多个外部设备 (如键盘、指向终端、显示器等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备交互的终端通信,和/或与使得该电子设备能与一个或多个其它计算终端进行通信的任何终端(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口进行。并且,电子设备还可以通过网络适配器与一个或者多个网络(例如局域网(Local Area Network,LAN),广域网(Wide Area Network,WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种图像传感器坏点检测方法,其特征在于,包括:
获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。
2.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,对外部图像进行坏点检测具体为:
计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对所述平均图像进行坏点检测。
3.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,对所述暗场图像进行坏点检测具体为:
获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,确认灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。
4.如权利要求1或3所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括亮场图像,对所述亮场图像进行坏点检测具体为:
将亮场图像划分为多个相同大小的掩膜块并分别计算每个所述掩膜块中的各像素点的灰度范围;利用根据各掩膜块对应的所述灰度范围确定的全局阈值计算亮场图像中的连通区域,并根据预设的形状和/或大小特征从所述连通区域中筛选出备选暗点。
5.如权利要求4所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,在进行暗点检测之前还包括对图像传感器进行灰尘检测的步骤:
获取所述图像传感器采集的均匀面阵光源上的至少两个不同位置的显示图像,当各显示图像中的相同位置处均存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
6.如权利要求4所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,还包括对图像传感器进行灰尘检测的步骤:
获取所述图像传感器采集的积分球内部的光源显示图像,当所述光源显示图像中存在大于预设像素点的不规则形状的暗像素块,则确认该图像传感器上存在灰尘。
7.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,当所述外部图像为彩色图像时,将所述彩色图像拆分为多个单色通道图像并分别进行坏点检测。
8.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测方法,其特征在于,还包括以下步骤:
将所述实际坏点像素对应的位置坐标更新到图像传感器的原始坏点文件中。
9.一种图像传感器坏点检测装置,其特征在于,包括:
检测模块,用于获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;
统计模块,用于比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。
10.一种电子设备,其特征在于,包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元,其中,所述存储单元存储有计算机程序,当所述计算机程序被所述处理单元执行时,使得所述处理单元执行权利要求1~8任一项所述方法的步骤。
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