CN116027181B - 一种并行图像处理装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种并行图像处理装置及方法，包括至少一个芯片连接器，所述至少一个芯片连接器内部设置有至少一个用于放置CIS芯片的空腔；若干光源，用于向CIS芯片提供单色光或者混色光照明；并行测试单元与CIS芯片的输出端通信连接，用于接收并储存CIS芯片输出的图像数据；工作站与至少一个芯片连接器、若干光源和并行测试单元通信连接，所述工作站使能至少一个芯片连接器、若干光源和并行测试单元，根据并行测试单元接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试。

Description

一种并行图像处理装置及方法

技术领域

本发明涉及图像传感器检测技术领域，尤其涉及一种并行图像处理装置及方法。

背景技术

目前的CIS（即图像传感器CMOS Image Sensor）的生产测试系统，对CIS芯片的加载、载出、对位、数字直流测试或者成像质量的判定与分级，均依赖计算机控制来实现。随着产能需求的不断增加，对高并测测试的CIS测试系统的需求也不断增加。传统的CIS芯片测试是每一个CIS配备一个影像采撷卡，影像采撷卡与工作站的一台iPC影像测试设备，简称iPC对应连接，即CIS与iPC的数量是一一对应的，即16并测需要16台iPC，依此类推；这样会产生一个问题，如果并测的CIS芯片很多，则工作站的硬件设备、所占空间会不断增加，需要非常大的实体空间，以及繁杂的线束，非常不利于后期的维护管理和故障排查。

公开号为CN103558543A的中国发明专利申请提供了一种对CIS芯片的量产测试方法，该方法公开了CIS芯片采集图像后输出到MIPI桥接芯片，由桥接芯片转换为并行数据发送给FPGA模块，FPGA对采集图像进行处理并将结果上传给测试机的内容，但是该方案是通过复用FPGA的引脚实现的，在连接多个CIS芯片时，当前检测的CIS芯片处于工作状态，其余CIS芯片均是处于等待状态，无法满足高并测试的实时性需求，而且依赖专用总线和接口。因此，提供一种并行图像处理装置及方法，降低设备占用空间和布线复杂度，降低维护工作量，能够同时对多组CIS芯片进行可靠测试，是很有必要的。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种能够同时对多个CIS芯片进行检测的并行图像处理装置及方法。

本发明的技术方案是这样实现的：

一方面，本发明提供了一种并行图像处理装置，包括：

至少一个芯片连接器，所述至少一个芯片连接器内部设置有至少一个空腔，至少一个芯片连接器相邻的端面分别设置有第一窗口和第二窗口，第一窗口和第二窗口分别与至少一个空腔相连通； CIS芯片穿过第二窗口并放置在空腔内，CIS芯片的感光部正对第一窗口设置；

若干光源，其发光部正对第一窗口设置，用于向CIS芯片提供单色光或者混色光照明；

并行测试单元，与至少一个芯片连接器上的各CIS芯片的输出端通信连接，用于接收并储存CIS芯片输出的图像数据；

工作站，与所述至少一个芯片连接器、若干光源和并行测试单元通信连接，所述工作站使能至少一个芯片连接器、若干光源和并行测试单元，根据并行测试单元接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试。

在以上技术方案的基础上，优选的，所述至少一个芯片连接器包括底座和推杆；底座沿预设延伸方向具有两个相邻的第一端面和第二端面；底座内设置有若干空腔，若干空腔沿着预设方向间隔设置；若干第一窗口沿着预设方向间隔设置在第一端面上，若干第二窗口沿着预设方向间隔设置在第二端面上，第一窗口和第二窗口与相邻的空腔相互连通；若干空腔远离第一窗口的表面还设置有若干通孔，若干通孔沿着第一窗口的轴向方向延伸；若干通孔内设置有信号端子，信号端子与若干通孔滑动连接；所述推杆设置在底座远离第一端面的一侧，并与各信号端子固定连接，推杆与底座可滑动连接；推杆带动各信号端子伸出通孔并与空腔内的CIS芯片的引脚一一对应电性连接，进行数字直流测试；所述预设方向为所述底座的水平长度延伸方向。

优选的，所述第一端面上还设置有卡槽；卡槽沿着第一窗口的径向方向延伸，且环绕各第一窗口设置；若干光源插设在卡槽内。

优选的，所述若干光源包括单色光源和混色光源；所述单色光源包括一侧开口的第一壳体，第一壳体沿预设方向设置有若干第一隔室，相邻的第一隔室互不连通，若干第一隔室内分别设置有单色发光部，各单色发光部的规格完全相同；所述混色光源包括一侧开口的第二壳体，第二壳体沿预设方向设置有若干第二隔室，相邻的第二隔室互不连通，若干第二隔室内分别设置有混色发光部，各混色发光部的规格完全相同；第一壳体或者第二壳体的开口部位嵌设在所述卡槽内。

优选的，所述混色发光部为交替设置的条状灯带，相邻的条状灯带的发光颜色互不相同。

优选的，所述并行测试单元包括若干虚拟机模块和数据缓存区；若干虚拟机模块与至少一个芯片连接器上的各CIS芯片的输出端通信连接，若干虚拟机模块获取各CIS芯片在单色光源照射下输出的单色输出帧或者在混色光源照射下的混色输出帧，并将单色输出帧或者混色输出帧发送至数据缓存区中对应存放。

另一方面，本发明还提供了一种并行图像处理方法，包括如下步骤：

配置上述的并行图像处理装置；在至少一个芯片连接器的各空腔内对应放置待测试的CIS芯片；

将单色光源的第一壳体扣设在至少一个芯片连接器的卡槽内，使单色光源的单色发光部维持熄灭状态；

工作站使能至少一个芯片连接器，使推杆沿着第一窗口的轴向方向移动，对各待测试的CIS芯片上电，进行数字直流测试；

通过数字直流测试后，保持单色光源的单色发光部开启状态，由CIS芯片向并行测试单元的虚拟机模块发送单色输出帧，虚拟机模块接收单色输出帧后存储在数据缓存区内；数据缓存区将各单色输出帧发送至工作站，进行均匀度测试和边缘测试；

各CIS芯片输出的单色输出帧通过均匀度测试和边缘测试后，将单色光源更换为混色光源，混色光源的第二壳体嵌设在卡槽内，开启并维持混色发光部的发光状态，CIS芯片向并行测试单元发送混色输出帧，数据缓存区将各混色输出帧拼合后发送至工作站进一步进行色彩检测。

优选的，所述进行数字直流测试，是在单色发光部维持熄灭状态下，工作站向CIS芯片的引脚发出输入信号，由并行测试单元接收并向工作站反馈输出信号；或者工作站向CIS芯片发出通信请求，CIS芯片响应该通信请求并进行应答；当工作站收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，开启单色发光部，再次由工作站向CIS芯片的引脚发出输入信号或者通信请求，如果工作站再次收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，通过数字直流测试。

优选的，所述数据缓存区将各单色输出帧发送至工作站，进行均匀度测试和边缘测试，其中，所述均匀度测试是将单色输出帧对应的图像发送至工作站中，工作站以图像的中心位置的像素相邻的区域作为矩形像素阵列，将单色输出帧对应的图像的非边缘区域划分为若干个M₁×N₁个相邻的矩形像素阵列，位于单色输出帧对应的图像端部的矩形像素阵列距离该图像的边缘间隔奇数个行像素或者列像素，M₁、N₁为整数且M₁≥N₁；将图像的中心位置的矩形像素阵列的各像素的亮度求平均值，得到参考亮度，分别对各矩形像素阵列求取平均亮度，并将单色输出帧对应的图像的非边缘区域的各矩形像素阵列的平均亮度改写为阵列形式，将阵列的各行或者各列的元素分别改写为参考亮度的倍数，如果阵列的某一行或者某一列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试不合格，如果各行或者各列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差均不超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试合格；所述边缘测试是将非矩形像素阵列区域的单色输出帧对应的图像的边缘区域的像素的亮度与图像中心位置的像素的亮度做逐个单独对比，如果边缘区域的各像素的亮度逐个单独对比结果均合格，则表示边缘测试合格，否则，则表示边缘测试不合格。

优选的，所述数据缓存区将各混色输出帧拼合后发送至工作站进一步进行色彩检测，是将至少一个芯片连接器上的各CIS芯片输出的混色输出帧对应的图像，拆成对应的K等分图像，每个等分图像所包含的像素相当；数据缓存区对各等分图像进行标记后，采用如下规则进行拼合：

1）将各等分图像分别标记来源A和位置B，来源A表示属于哪一幅混色输出帧对应的图像，位置B表示属于混色输出帧对应的图像中的位置；

2）从每一幅混色输出帧对应的图像中选取至少一个等分图像，由不同的混色输出帧对应的图像中共选取K个等分图像重新构成一幅完整的图像；

3）属于同一幅混色输出帧对应的图像的不同的等分图像的位置互不相邻，而且仅使用一次；

4）属于不同的混色输出帧对应的图像的等分图像的位置不重复；

5）重复拼接P次，获得P张拼合后的新的图像；P不小于至少一个芯片连接器上放置的CIS芯片数量的80%；

对于获得的P张拼合后的新的图像，分别对构成拼合后的新的图像的各等分图像边界相邻的若干行或者列进行像素值的比较，寻找边界位置相邻的若干行或者若干列的像素值变化规律，找出明显偏离该像素值变化规律的像素点所对应的像素点；完成检测后复位并行测试单元，移除各CIS芯片；放置一批新的CIS芯片，并初始化并行测试单元，重复处理过程。

本发明提供的一种并行图像处理装置及方法，相对于现有技术，具有以下有益效果：

本方案是在并行测试单元内设置多个虚拟机模块，每个虚拟机模块用于独立的与一个芯片连接器上的各CIS芯片信号连接，由该虚拟机模块接收CIS芯片输出的信号或者图像，根据需要暂存在并行测试单元内，直接或者进处理后发送给工作站进行进一步分析处理，当一批CIS芯片测试结束时，对应的虚拟机模块和相应的存储空间被复位释放，直到下一批CIS芯片请求检测时，重新构建与之对应的虚拟机模块，该并行图像处理装置具有较好的适应能力，可减少芯片测试时的等待时间；

进一步采用了对单色输出帧和混色输出帧不同的处理方法，简化了工作站的图形处理工作量，提高了CIS芯片性能识别的效率，并降低了对于装置硬件的要求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一种并行图像处理装置的结构框图；

图2为本发明一种并行图像处理装置的芯片连接器的立体图；

图3为本发明一种并行图像处理装置的光源的仰视图；

图4为本发明一种并行图像处理装置的光源与芯片连接器的组合状态剖切前视图；

图5为本发明一种并行图像处理装置的数据缓存区的示意图；

图6为本发明一种并行图像处理装置及方法的流程图；

图7为本发明一种并行图像处理装置及方法的单色输出帧进行均匀度测试和边缘测试的示意图；

图8为本发明一种并行图像处理装置及方法的各混色输出帧拼合后进行色彩检测的示意图。

附图标记：1、芯片连接器；11、空腔；12、第一窗口；13、第二窗口；14、第一端面；15、第二端面；16、通孔；17、信号端子；2、光源；3、并行测试单元；4、工作站；100、底座；200、推杆；300、卡槽；21、单色光源；22、混色光源。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。

本发明的技术方案是这样实现的：

如图1所示，一方面，本发明提供了一种并行图像处理装置，包括至少一个芯片连接器1、若干光源2、并行测试单元3和工作站4。其中：

至少一个芯片连接器1内部设置有至少一个空腔11，至少一个芯片连接器1相邻的端面分别设置有若干第一窗口12和第二窗口13，第一窗口12和第二窗口13分别与至少一个空腔11相连通；CIS芯片穿过第二窗口13并放置在空腔11内，CIS芯片的感光部正对第一窗口12设置；图示的每个空腔11分别有一个第一窗口12和一个第二窗口13与之对应。第二窗口13作为CIS芯片放入空腔11的通道。图示的空腔11的纵向截面为梯形。芯片连接器1的数量可以根据需要设置，图示的空腔11的数量为8个，但是不视为对方案的限定，各芯片连接器1上的空腔11的数量可以根据需要进行增减。

若干光源2的发光部正对第一窗口12设置，用于向CIS芯片提供单色光或者混色光照明；光源2用于发出特定波长的光，使得CIS芯片产生对应的图像输出信号。

并行测试单元3与至少一个芯片连接器1上的各CIS芯片的输出端通信连接，用于接收并储存CIS芯片输出的图像数据；

工作站4与至少一个芯片连接器1、若干光源2和并行测试单元3通信连接；工作站4使能至少一个芯片连接器1、若干光源2和并行测试单元3，根据并行测试单元3接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试。工作站4使能芯片连接器1，能够对各CIS芯片上电。工作站使能若干光源2，能够使光源2朝正对的CIS芯片发光，或者点亮光源出光侧的图案，以便被CIS芯片接收并处理。工作站4使能并行测试单元3，使并行测试单元3进入工作状态，接收并分别储存各芯片连接器1搭载的CIS芯片的输出数据。

如图2-图4所示，至少一个芯片连接器1包括底座100和推杆200；底座100沿预设延伸方向具有两个相邻的第一端面14和第二端面15；底座100内设置有若干空腔11，若干空腔11沿着预设方向间隔设置；若干第一窗口12沿着预设方向间隔设置在第一端面14上，若干第二窗口13沿着预设方向间隔设置在第二端面15上，第一窗口12和第二窗口13与相邻的空腔11相互连通；若干空腔11远离第一窗口12的表面还设置有若干通孔16，若干通孔16沿着第一窗口12的轴向方向延伸；若干通孔16内设置有信号端子17，信号端子17与若干通孔16滑动连接；推杆200设置在底座100远离第一端面14的一侧，并与各信号端子17固定连接，推杆200与底座100可滑动连接；推杆200带动各信号端子17伸出通孔16并与空腔11内的CIS芯片的引脚一一对应电性连接，进行数字直流测试；此处的预设方向为所述底座100的水平长度延伸方向。

为了更好的与光源2进行连接，防止环境光进入空腔11对CIS芯片产生干扰，在第一端面上还设置有卡槽300；卡槽300沿着第一窗口12的径向方向朝着底座100内延伸，且环绕各第一窗口12设置；若干光源2插设在卡槽300内。

进一步优选的，如图3所示，本方案的若干光源2包括单色光源21和混色光源22；所述单色光源21包括一侧开口的第一壳体，第一壳体沿预设方向设置有若干第一隔室，相邻的第一隔室互不连通，若干第一隔室内分别设置有单色发光部，各单色发光部的规格完全相同；混色光源22包括一侧开口的第二壳体，第二壳体沿预设方向设置有若干第二隔室，相邻的第二隔室互不连通，若干第二隔室内分别设置有混色发光部，各混色发光部的规格完全相同；第一壳体或者第二壳体的开口部位嵌设在卡槽300内。各单色发光部或者各混色发光部互不影响，仅能对正对的CIS芯片进行输出。第一壳体和第二壳体能够扣合在卡槽300内，使第一隔室或者第二隔室与一个第一窗口及空腔对应连通。隔绝环境光对与CIS芯片的影响。

当工作站4使能芯片连接器1时，推杆200沿着第一窗口12的轴向方向向着底座100移动，各信号端子17在推杆200的带动下穿过通孔16并伸出，抵持在空腔11内的CIS芯片的引脚上，并进一步运动，CIS芯片被抵紧在信号端子17和空腔11的内表面之间。当然，也可以进一步将通孔16设置在卡槽300内，信号端子17嵌设在卡槽300处的通孔内，信号端子17与通孔16之间通过拉簧连接，这样可以省去推杆200这个组件，当第一壳体和第二壳体能扣合在卡槽300内时，会使信号端子沿着通孔16的径向方向伸出并抵持在CIS芯片的引脚上，同样能够实现数字直流测试或者图像输出测试功能，而且能简化并行图像处理装置的结构；当从卡槽300内移除光源2后，在拉簧的作用下，信号端子17恢复在通孔16内的初始位置。

作为本方案的一种优选的实施方式，混色发光部为交替设置的条状灯带，相邻的条状灯带的发光颜色互不相同。

如图1和图5所示，并行测试单元3包括若干虚拟机模块和数据缓存区；若干虚拟机模块与至少一个芯片连接器1上的各CIS芯片的输出端通信连接，若干虚拟机模块获取各CIS芯片在单色光源21照射下输出的单色输出帧或者在混色光源22照射下的混色输出帧，并将单色输出帧或者混色输出帧发送至数据缓存区中对应存放。并行测试单元3被工作站4使能后，其内部的虚拟机模块初始化，设置运行环境并从工作站4获取运行程序，并接收被使能后的芯片连接器1上的各CIS芯片的输出帧。

另一方面，为了对各CIS芯片的输出帧进行处理，如图6、图7和图8所示，本发明还提供了一种并行图像处理方法，具体包括如下步骤：

S1：配置上述的并行图像处理装置；在至少一个芯片连接器1的各空腔11内对应放置待测试的CIS芯片。

S2：将单色光源21的第一壳体扣设在至少一个芯片连接器1的卡槽300内，使单色光源21的单色发光部维持熄灭状态。

S3：工作站4使能至少一个芯片连接器1，使推杆200沿着第一窗口12的轴向方向移动，对各待测试的CIS芯片上电，进行数字直流测试。

具体的，是在单色发光部维持熄灭状态下，工作站4向CIS芯片的引脚发出输入信号，由并行测试单元3接收并向工作站4反馈输出信号；或者工作站4向CIS芯片发出通信请求，CIS芯片响应该通信请求并进行应答；当工作站4收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，开启单色发光部，再次由工作站4向CIS芯片的引脚发出输入信号或者通信请求，如果工作站4再次收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，通过数字直流测试。此处是分别在明场和暗场环境，检测CIS芯片的DC性能和通信功能是否完好，为后续的进一步测试做好基础，未通过该过程检测的CIS芯片不必参与后续测试流程。数字直流测试主要内容包括电源直流测试、引脚功能测试、输入输出测试以及双向传输测试等，如检测电源引脚通信引脚或者信号输出引脚的工作状态，确保CIS芯片能够正常工作。

S4：通过数字直流测试后，保持单色光源21的单色发光部开启状态，由CIS芯片向并行测试单元3的虚拟机模块发送单色输出帧，虚拟机模块接收单色输出帧后存储在数据缓存区内；数据缓存区将各单色输出帧发送至工作站4，进行均匀度测试和边缘测试。

具体的，如图7所示，均匀度测试和边缘测试包括如下内容，其中，所述均匀度测试是将单色输出帧对应的图像发送至工作站4中，工作站4以图像的中心位置的像素相邻的区域作为矩形像素阵列，将单色输出帧对应的图像的非边缘区域划分为若干个M₁×N₁个相邻的矩形像素阵列，位于单色输出帧对应的图像端部的矩形像素阵列距离该图像的边缘间隔奇数个行像素或者列像素，M₁、N₁为整数且M₁≥N₁，例如，图7所示的矩形像素阵列的数量为5×5；将图像的最中心位置的矩形像素阵列的各像素的亮度求平均值，得到参考亮度，分别对各矩形像素阵列求取平均亮度，并将单色输出帧对应的图像的非边缘区域的各矩形像素阵列的平均亮度改写为阵列形式，将阵列的各行或者各列的元素分别改写为参考亮度的倍数，如果阵列的某一行或者某一列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试不合格，如果各行或者各列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差均不超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试合格；所述边缘测试是将非矩形像素阵列区域的单色输出帧对应的图像的边缘区域的像素的亮度与图像中心位置的像素的亮度做逐个单独对比，如果边缘区域的各像素的亮度逐个单独对比结果均合格，则表示边缘测试合格，否则，则表示边缘测试不合格。边缘测试不合格的CIS芯片会被挑出，不必流入后续工序中进一步测试。本方案中，可将亮度设定阈值设为参考亮度±1-2%。

上述示例是一种特殊情形，如果因M₁或N₁为偶数，导致图像中心处没有形成图7所示的一个单独矩形像素阵列，而是多个矩形像素阵列均位于图像的中心部位，则可以采用如下两种方式的任一种进行处理：1）将位于单色输出帧对应的图像中心位置的若干个矩形像素阵列，如2个或者4个矩形像素阵列的各像素的亮度求平均值，得到参考亮度，在这种情形下，进行需要对图像中心位置的各矩形像素矩阵的差异性进行初步评估：当图像中心位置的若干个矩形像素阵列的所有像素的亮度求平均值经初步评估差异极小时，如差异不超过0.5%时，才能将图像中心处的多个矩形像素阵列的各像素的亮度求平均值，作为参考亮度使用；2）以单色输出帧对应的图像中心位置为圆形，构建虚拟圆，构建虚拟圆的内接正多边形，该内接正多边形同时与多个图像中心位置的若干个矩形像素阵列相交，对内接正多边形内部的各像素的亮度进行遍历，如内接正多边形各像素的亮度差异极小时，如差异不超过0.5%时，才能将图像中心处的虚拟圆的内接正多边形的各像素的亮度求平均值，作为参考亮度使用，与内接正多边形以外的各矩形像素阵列内的像素进行比较。如果当前单色输出帧对应的图像中心处的若干个矩形像素阵列或者内接正多边形内的各像素的亮度不符合差异性初步评估的要求，即差异不超过0.5%时，认定输出该单色输出帧对应的图像的CIS芯片状态待定，再更换另一个CIS芯片重复上述过程，如果连续3次以上在同一个芯片连接器1的相同空腔内放置不同的CIS芯片，均出现图像中心处的若干个矩形像素阵列或者内接正多边形内的各像素的亮度不符合差异性初步评估的要求，则更换光源重试；如果状态待定的CIS芯片更换至同一个芯片连接器1的不同位置的空腔，仍存在图像中心处的若干个矩形像素阵列或者内接正多边形内的各像素的亮度不符合差异性初步评估的要求，则认定该CIS芯片故障，不必进行后续测试。

S5：各CIS芯片输出的单色输出帧通过均匀度测试和边缘测试后，将单色光源21更换为混色光源22，混色光源22的第二壳体嵌设在卡槽300内，开启并维持混色发光部的发光状态，CIS芯片向并行测试单元3发送混色输出帧，数据缓存区将各混色输出帧拼合后发送至工作站4进一步进行色彩检测。

具体的，是将至少一个芯片连接器1上的各CIS芯片输出的混色输出帧对应的图像，拆成对应的K等分图像，K等分图像包括M₂行N₂列，如图8简图所示的4×2的等分图图像，每个等分图像所包含的像素相当；数据缓存区对各等分图像进行标记后，采用如下规则进行拼合：

将各等分图像分别标记来源A和位置B，来源A表示属于哪一幅混色输出帧对应的图像，位置B表示属于混色输出帧对应的图像中的位置；如A1B1表示来源混色输出帧对应的图像A1的B1位置的等分图像，依此类推，字母A后面的编号规则可以是按CIS芯片在至少一个芯片连接器1的排列顺序，字母B后面的编号规则，可以是附图8中的从上至下、从左至右，也可以是预先设定的其他顺序，如从左往右、从下往上亦可；

2）从每一幅混色输出帧对应的图像中选取至少一个等分图像，由不同的混色输出帧对应的图像中共选取K个等分图像重新构成一幅完整的图像；如图8下图所示，拼接后重新构成的图像其来源于A1B1、A2B2、A3B3、A4B4、A2B5、A1B6、A4B7和A3B8；

3）属于同一幅混色输出帧对应的图像的不同的等分图像的位置互不相邻，而且仅使用一次；

4）属于不同的混色输出帧对应的图像的等分图像的位置不重复；图中的混色输出帧对应的图像只有四个，但是等分图像的数量K=8，所以必然有部分或者全部的混色输出帧对应的图像中选用了超过一个等分图像，但是这些等分图像不能相邻，且在同一个重新构成一幅完整的图像中不能重复使用，这样的好处是在多次重复拼接时，尽可能多的用到同一幅混色输出帧对应的图像的不同的等分图像的位置；如果混色输出帧的数量不小于等分图像的数量K，则可以从每个混色输出帧中只选取一个等分图像；

5）重复拼接P次，获得P张拼合后的新的图像，每一次拼接时从同一个混色输出帧中选取的一个或者多个等分图像的位置各不相同；P不小于至少一个芯片连接器1上放置的CIS芯片数量的80%，并向上取整；如图1结合图8所示，图1上的CIS芯片数量假定为8各，则P=8×80%=6.4，向上取整为7次。

对于获得的P张拼合后的新的图像，分别对构成拼合后的新的图像的各等分图像边界相邻的若干行或者列进行像素值的比较，寻找边界位置相邻的若干行或者若干列的像素值变化规律，找出各混色输出帧中是否存在明显偏离该像素值变化规律的像素点，如存在，则表明未通过色彩检测，如不存在，则表示CIS芯片通过色彩检测且性能合格。

此处提到的对构成拼合后的新的图像的各等分图像边界相邻的若干行或者列进行像素值的比较，寻找边界位置相邻的若干行或者若干列的像素值变化规律，具体的，是从边界位置向两相邻的等分图像的边界处向等分图像内部选取若干个行或者若干个列的像素值，这些行或者列的像素值的RGB像素值理论上相近，确定若干个行或者列的位置后，分别对位于同一行或者同一列的各等分图像上的对应像素的RGB像素值进行对比，通过对当前选取像素点同一列或者同一行的前向若干像素以及后向若干像素进行RGB像素值大小排序，如果当前像素的RGB像素值为相邻若干像素的RGB像素值排序的序列的极大值或者极小值，而且当前像素的RGB像素值偏离前向若干像素以及后向若干像素进行RGB像素值的5%-10%以上，则认为CIS芯片通过未色彩检测；如果当前像素的RGB像素值不是相邻若干像素的RGB像素值排序的序列的极大值或者极小值，且当前像素的RGB像素值没有偏离前向若干像素以及后向若干像素进行RGB像素值的5%-10%以上，则认为CIS芯片通过色彩检测且性能合格。此处的RGB像素值是分别计算和比较的。

完成当前CIS芯片的检测后复位并行测试单元3，重置虚拟机模块，从至少一个芯片连接器1移除各CIS芯片，放置一批新的CIS芯片，并初始化并行测试单元，重复处理过程。

以上所述仅为本发明的较佳实施方式而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种并行图像处理方法，其特征在于，包括如下步骤：

配置并行图像处理装置；在至少一个芯片连接器（1）的各空腔（11）内对应放置待测试的CIS芯片；

将单色光源（21）的第一壳体扣设在至少一个芯片连接器（1）的卡槽（300）内，使单色光源（21）的单色发光部维持熄灭状态；

工作站（4）使能至少一个芯片连接器（1），使推杆（200）沿着第一窗口（12）的轴向方向移动，对各待测试的CIS芯片上电，进行数字直流测试；

通过数字直流测试后，保持单色光源（21）的单色发光部开启状态，由CIS芯片向并行测试单元（3）的虚拟机模块发送单色输出帧，虚拟机模块接收单色输出帧后存储在数据缓存区内；数据缓存区将各单色输出帧发送至工作站（4），进行均匀度测试和边缘测试；

各CIS芯片输出的单色输出帧通过均匀度测试和边缘测试后，将单色光源（21）更换为混色光源（22），混色光源（22）的第二壳体嵌设在卡槽（300）内，开启并维持混色发光部的发光状态，CIS芯片向并行测试单元（3）发送混色输出帧，数据缓存区将各混色输出帧拼合后发送至工作站（4）进一步进行色彩检测；

所述数据缓存区将各混色输出帧拼合后发送至工作站（4）进一步进行色彩检测，是将至少一个芯片连接器（1）上的各CIS芯片输出的混色输出帧对应的图像，拆成对应的K等分图像，每个等分图像所包含的像素相当；数据缓存区对各等分图像进行标记后，采用如下规则进行拼合：

1）将各等分图像分别标记来源A和位置B，来源A表示属于哪一幅混色输出帧对应的图像，位置B表示属于混色输出帧对应的图像中的位置；

2）从每一幅混色输出帧对应的图像中选取至少一个等分图像，由不同的混色输出帧对应的图像中共选取K个等分图像重新构成一幅完整的图像；

3）属于同一幅混色输出帧对应的图像的不同的等分图像的位置互不相邻，而且仅使用一次；

4）属于不同的混色输出帧对应的图像的等分图像的位置不重复；

5）重复拼接P次，获得P张拼合后的新的图像；P不小于至少一个芯片连接器（1）上放置的CIS芯片数量的80%；

对于获得的P张拼合后的新的图像，分别对构成拼合后的新的图像的各等分图像边界相邻的若干行或者列进行像素值的比较，寻找边界位置相邻的若干行或者若干列的像素值变化规律，找出各混色输出帧中是否存在明显偏离该像素值变化规律的像素点，如存在，则表明未通过色彩检测，如不存在，则表示CIS芯片通过色彩检测且性能合格；完成检测后复位并行测试单元，移除各CIS芯片；放置一批新的CIS芯片，并初始化并行测试单元，重复处理过程；所述并行图像处理装置，包括：

至少一个芯片连接器（1），所述至少一个芯片连接器（1）内部设置有至少一个空腔（11），至少一个芯片连接器（1）相邻的端面分别设置有第一窗口（12）和第二窗口（13），第一窗口（12）和第二窗口（13）分别与至少一个空腔（11）相连通；CIS芯片穿过第二窗口（13）并放置在空腔（11）内，CIS芯片的感光部正对第一窗口（12）设置；

若干光源（2），其发光部正对第一窗口（12）设置，用于向CIS芯片提供单色光或者混色光照明；

并行测试单元（3），与至少一个芯片连接器（1）上的各CIS芯片的输出端通信连接，用于接收并储存CIS芯片输出的图像数据；

工作站（4），与所述至少一个芯片连接器（1）、若干光源（2）和并行测试单元（3）通信连接，所述工作站（4）使能至少一个芯片连接器（1）、若干光源（2）和并行测试单元（3），根据并行测试单元（3）接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试；

所述至少一个芯片连接器（1）包括底座（100）和推杆（200）；底座（100）沿预设延伸方向具有两个相邻的第一端面（14）和第二端面（15）；底座（100）内设置有若干空腔（11），若干空腔（11）沿着预设方向间隔设置；若干第一窗口（12）沿着预设方向间隔设置在第一端面（14）上，若干第二窗口（13）沿着预设方向间隔设置在第二端面（15）上，第一窗口（12）和第二窗口（13）与相邻的空腔（11）相互连通；若干空腔（11）远离第一窗口（12）的表面还设置有若干通孔（16），若干通孔（16）沿着第一窗口（12）的轴向方向延伸；若干通孔内设置有信号端子（17），信号端子（17）与若干通孔（16）滑动连接；所述推杆（200）设置在底座（100）远离第一端面（14）的一侧，并与各信号端子（17）固定连接，推杆（200）与底座（100）可滑动连接；推杆（200）带动各信号端子（17）伸出通孔（16）并与空腔（11）内的CIS芯片的引脚一一对应电性连接，进行数字直流测试；所述预设方向为所述底座（100）的水平长度延伸方向；

所述第一端面上还设置有卡槽（300）；卡槽（300）沿着第一窗口（12）的径向方向延伸，且环绕各第一窗口（12）设置；若干光源（2）插设在卡槽（300）内；

所述若干光源（2）包括单色光源（21）和混色光源（22）；所述单色光源（21）包括一侧开口的第一壳体，第一壳体沿预设方向设置有若干第一隔室，相邻的第一隔室互不连通，若干第一隔室内分别设置有单色发光部，各单色发光部的规格完全相同；所述混色光源（22）包括一侧开口的第二壳体，第二壳体沿预设方向设置有若干第二隔室，相邻的第二隔室互不连通，若干第二隔室内分别设置有混色发光部，各混色发光部的规格完全相同；第一壳体或者第二壳体的开口部位嵌设在所述卡槽（300）内；

所述混色发光部为交替设置条状灯带，相邻的条状灯带的发光颜色互不相同；

所述并行测试单元（3）包括若干虚拟机模块和数据缓存区；若干虚拟机模块与至少一个芯片连接器（1）上的各CIS芯片的输出端通信连接，若干虚拟机模块获取各CIS芯片在单色光源（21）照射下输出的单色输出帧或者在混色光源（22）照射下的混色输出帧，并将单色输出帧或者混色输出帧发送至数据缓存区中对应存放。

2.根据权利要求1所述的一种并行图像处理方法，其特征在于，所述进行数字直流测试，是在单色发光部维持熄灭状态下，工作站（4）向CIS芯片的引脚发出输入信号，由并行测试单元（3）接收并向工作站（4）反馈输出信号；或者工作站（4）向CIS芯片发出通信请求，CIS芯片响应该通信请求并进行应答；当工作站（4）收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，开启单色发光部，再次由工作站（4）向CIS芯片的引脚发出输入信号或者通信请求，如果工作站（4）再次收到合规的输出信号或者CIS芯片的应答后，通过数字直流测试。

3.根据权利要求1所述的一种并行图像处理方法，其特征在于，所述数据缓存区将各单色输出帧发送至工作站（4），进行均匀度测试和边缘测试，其中，所述均匀度测试是将单色输出帧对应的图像发送至工作站（4）中，工作站（4）以图像的中心位置的像素相邻的区域作为矩形像素阵列，将单色输出帧对应的图像的非边缘区域划分为若干个M₁×N₁个相邻的矩形像素阵列，位于单色输出帧对应的图像端部的矩形像素阵列距离该图像的边缘间隔奇数个行像素或者列像素，M₁、N₁为整数且M₁≥N₁；将图像的中心位置的矩形像素阵列的各像素的亮度求平均值，得到参考亮度，分别对各矩形像素阵列求取平均亮度，并将单色输出帧对应的图像的非边缘区域的各矩形像素阵列的平均亮度改写为阵列形式，将阵列的各行或者各列的元素分别改写为参考亮度的倍数，如果阵列的某一行或者某一列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试不合格，如果各行或者各列的元素的平均亮度与参考亮度的偏差均不超过亮度设定阈值，则表示均匀度测试合格；所述边缘测试是将非矩形像素阵列区域的单色输出帧对应的图像的边缘区域的像素的亮度与图像中心位置的像素的亮度做逐个单独对比，如果边缘区域的各像素的亮度逐个单独对比结果均合格，则表示边缘测试合格，否则，则表示边缘测试不合格。