JP4556993B2 - 状態検査システム - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 126
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 105
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 98
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 58
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 47
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 46
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 35
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 27
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 9
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 235000013311 vegetables Nutrition 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
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- H04N23/72—Combination of two or more compensation controls
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/90—Dynamic range modification of images or parts thereof
- G06T5/92—Dynamic range modification of images or parts thereof based on global image properties
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/53—Control of the integration time
- H04N25/531—Control of the integration time by controlling rolling shutters in CMOS SSIS
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
- G06T2207/10152—Varying illumination
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30128—Food products
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
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Description
CMOS(Complementary Mental-Oxide Semiconductor)センサ(CMOS型の撮像素子)は、その構造上、ローリングシャッタ方式による露光及び信号の読み出しが基本である。ローリングシャッタ方式は、撮像素子の受光エリアで信号の取り込みタイミングが、ライン(画素列)毎に異なる。そのため、動く被写体を撮像したときに、撮像画像が歪んでしまう現象が起こる。この現象は、特に被写体が高速に移動する場合に顕著である。
また、CMOSセンサの画像歪を解決する方法として、CCDの如く一括電子シャッタの機構を撮像素子上に設ける方法がある。この場合、画素の構造が複雑になる為、画素性能を落とす、撮像素子の価格が高くなる、という欠点を有す。
そこで、本発明は、このような従来の技術の有する未解決の課題に着目してなされたものであって、移動する被写体の形状や動きを正確に検出可能な高フレームレートの画像と、被写体の色合いや質感などを正確に検出できる高画質な画像とを比較的低コストで撮像するのに好適な撮像装置を備えた状態検査システムを提供することを目的としている。
つまり、第1〜第Nサブフレーム期間の各サブフレーム期間において、非破壊で画素信号を読み出すことができるので、標準露光時間に対応した1フレームの期間において、第1〜第Nサブフレーム期間において累積して蓄積される電荷量に応じた画素信号(標準露光時間の画素信号)と、第1〜第N−1サブフレーム期間にそれぞれ対応する画素信号(標準露光時間よりも速いレート(短い露光時間)の画素信号)とを同時に得ることができるという効果が得られる。
ここで、上記「光電変換部」は、例えば、CMOS技術を用いて構成されており、CMOS技術を利用した撮像素子としては、例えば、閾値変調型撮像素子(VMIS(Threshold Voltage Modulation Image Sensor))などがある。
このような構成であれば、リセット処理によって蓄積電荷の空になった直後の画素信号を読み出すことができるので、蓄積電荷の殆ど無い状態の画素信号を得ることができる。この画素信号には、固定パターンノイズ成分が含まれるので、第1〜第Nサブフレーム期間の各サブフレーム期間で読み出された画素信号との差分をとることで、これらのサブフレーム期間の画素信号から固定パターンノイズ成分を除去することができるという効果が得られる。
前記画素信号読出手段によって前記リセット処理の直前に読み出した、前記標準露光時間の蓄積電荷量に対応する画素信号が飽和レベルに到達しないように前記各光電変換素子の露光量を制御する。
前記撮像素子において、前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間において蓄積される電荷量に応じた画素信号に基づき、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間にそれぞれ対応する高速撮像画像データを生成する高速撮像画像データ生成手段と、
前記撮像素子において、前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間において蓄積される電荷量に応じた画素信号データと、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間において蓄積された電荷量に応じた画素信号とに基づき、前記標準露光時間に対応する撮像画像データである標準撮像画像データを生成する標準撮像画像データ生成手段と、を備える。
更に、標準のフレームレートで撮像された被写体の標準撮像画像データと、これより高速なフレームレートで撮像された被写体の高速撮像画像データとを並行して生成することができるので、例えば、ベルトコンベアなどに乗せて商品を移動させながら該商品の状態(外観)を検査するシステムに適用することで、標準撮像画像データから被写体(商品)の色合いや質感などを検出し、高速撮像画像データから被写体の形状や動きを検出することで、精度の高い検査を行うことができるという効果が得られる。
前記画素信号読出手段によって前記リセット処理の直前に読み出した、前記標準露光時間の蓄積電荷量に対応する画素信号が飽和レベルに到達しないように前記各光電変換素子の露光量を制御する。
また、照明装置の照明光の光量を最適化するようにしたので、検査精度をより向上させることができるという効果が得られる。
まず、図1に基づき、本発明に係る状態検査システム1の概略構成を説明する。ここで、図1は、本発明に係る状態検査システム1の概略構成を示すブロック図である。
撮像装置100は、標準のフレームレートに対してN倍速のフレームレートによる画素信号の読み出しを行う機能を有しており、標準の1フレームの期間において、同一被写体に対して、N回の画素信号の読み出し処理を行う。そして、標準露光時間に対応する撮像画像データ(以下、標準撮像画像データと称す)と、N回の高速読み出しに対応する撮像画像データ(以下、高速撮像画像データと称す)とを生成する。
制御装置300は、情報処理装置400からのコマンドに応じて、照明装置200の照明光量の制御、ベルトコンベア500の動作の開始や停止の制御、ベルトの速度制御(搬送速度の制御)など、照明装置200及びベルトコンベア500の動作を制御する。
具体的に、システムの初期化動作時における、照明光量の制御においては、撮像装置100で撮像して得られた検査対象物の標準撮像画像データに基づき輝度情報のヒストグラムを生成し、該ヒストグラムが適切な輝度分布のヒストグラムとなるように照明装置200の照明光量を制御するコマンドを生成する。
また、例えば、照明装置200の照明光量の調整だけでは検査対象物の色合いや質感又は形状を正確に検出できる撮像画像が得られないときなどに、標準撮像画像データ及び高速撮像画像データに基づき、ベルトコンベア500のベルトの速度を制御するコマンドを生成する。例えば、搬送速度が速すぎて、適切な撮像画像が得られないようなときは、ベルトの速度を下げるコマンドを生成する。
ここで、情報処理装置400は、上記各機能をソフトウェアを用いて実現するため、および上記各機能の実現に必要なハードウェアを制御するソフトウェアを実行するためのコンピュータシステムを備えている。このコンピュータシステムのハードウェア構成は、図示しないが、CPU(Central Processing Unit)と、RAM(Random Access Memory)と、ROM(Read Only Memory)とを有し、これらの間をPCI(Peripheral Component Interconnect)バス等からなる各種内外バスで接続した構成となっている。
ここで、図2は、撮像装置100の内部構成を示すブロック図である。
撮像装置100は、図2に示すように、CMOS型のセンサセルアレイ(撮像素子)から構成される撮像処理系10と、センサセルアレイから読み出された画素信号に基づき撮像画像データを生成する映像処理系12と、映像処理系12で生成された撮像画像データを情報処理装置400に送信したり、情報処理装置400からの指令を受けて撮像処理系10及び映像処理系12の動作を制御したりするシステムコントローラ14と、撮像画像データの送信処理に用いる伝送用フレームメモリ16とを含んで構成される。
ここで、図3は、撮像処理系10の内部構成を示すブロック図であり、図4は、走査ラインスキャナ54の内部構成を示すブロック図である。
撮像処理系10は、図3に示すように、基準タイミング発生器50と、走査ラインスキャナ54と、センサセルアレイ56と、水平転送部58とを含んで構成される。
走査ラインスキャナ54は、基準タイミング発生器50及び映像処理系12からの各種信号に基づき、リセット処理を行うラインを有効にするリセットライン選択信号を生成する。そして、該生成したリセットライン選択信号をセンサセルアレイ56に出力する。
センサセルアレイ56は、CMOS技術を用いて構成された、受光素子(フォトダイオードなど)及び増幅器を含む複数のセンサセル(画素)が2次元マトリクス状に配設された構成の受光領域を備え、各画素のライン(本実施の形態では走査方向と直交するライン)に対して、アドレス線、リセット線及び読出し線が共通に接続された構成を有している。
ここで、撮像処理系10は、撮像レンズ(不図示)を備えており、被写体からの光を撮像レンズでセンサセルアレイ56に集光し、その集光量に応じた電荷をセンサセルアレイ56の各画素に蓄積させる構成となっている。
水平転送部58は、ノイズ除去用の画像データとそれ以外の画像データとをそれぞれ独立に転送する2系統のチャンネルを有しており、センサセルアレイ56の各画素から読み出された露光時間の異なるN種類の画素信号(アナログ信号)のデータ(以下、画素信号データと称す)をA/D変換し、該変換後のデジタルのデータ(以下、画素データと称す)を、映像処理系12へとシリアルで順次出力する。なお、詳細な構成は後述する。
走査ラインスキャナ54は、図4に示すように、サブフレームカウンタ54aと、走査用ラインカウンタ54bと、リセット制御部54cと、リセット走査アドレスデコーダ54dと、アドレスデコーダ54eとを含んで構成される。
サブフレームカウンタ54aは、基準タイミング発生器50からの標準垂直同期信号及びサブフレーム垂直同期信号に基づきカウントアップ動作を繰り返し、そのカウント値をリセット制御部54cに出力する。具体的に、標準垂直同期信号に同期してカウント値をリセットし、サブフレーム垂直同期信号に同期してカウントアップする。
リセット制御部54cは、サブフレームカウンタ54aのカウント値が初期値(例えば、「1」)のときだけ、走査用ラインカウンタ54bのカウント値をリセット走査アドレスデコーダ54dに出力し、それ以外のときは、選択するラインの無いことを示す値(例えば「0」)をリセット走査アドレスデコーダ54dに出力する。具体的に、サブフレームカウンタ54aのカウント値が第1サブフレーム期間に対応する値であるときに、走査用ラインカウンタ54bのカウント値をリセット走査アドレスデコーダ54dに出力する。
更に、図5〜図6に基づき、撮像処理系10のセンサセルアレイ56からの画素信号の読み出し方法についてより具体的に説明する。
まず、図5に基づき、水平転送部58の詳細な構成を説明する。
ノイズ用水平転送部58aは、リセット処理直後において各画素から読み出された画素信号データをライン単位で記憶するノイズ信号格納ラインメモリ58cと、該ノイズ信号格納ラインメモリ58cに記憶された画素信号データに対して、ライン単位に信号レベルの調整などの画素信号処理を行う画素信号処理部58dと、画素信号処理後の画素信号データに対してA/D変換を行うA/D変換器58eとを含んで構成される。
まず、第1サブフレーム期間において、走査ラインスキャナ54から、読み出しライン選択信号が順に入力され、図5に示すように、この選択信号に対応するラインが読み出しラインとして順に有効にされる。そして、有効にされたラインから1つ前のフレームにおける標準露光時間に対応した画素信号が非破壊で読み出される。この読み出しの直後に、走査ラインスキャナ54から順に入力されるリセットライン選択信号に基づき、各選択信号に対応するラインをリセットラインとして順に有効にし、該有効にしたラインに対してリセット処理を実行する。
第1サブフレーム期間において、各読み出しラインから読み出された標準露光時間に対応する画素信号データは、画素信号用水平転送部58bにおいてデジタルの画素データに変換されて映像処理系12へと転送される。
引き続き、第2〜第Nサブフレーム期間においては、走査ラインスキャナ54から、読み出しライン選択信号が順に入力され、この選択信号に対応するラインが読み出しラインとして順に有効にされる。そして、有効にされたラインから画素信号が非破壊で読み出される。
なお、リセット処理直後の各ラインの画素データをノイズ画像データと称し、第1〜第Nサブフレーム期間に対応する各ラインの画素データを第1〜第Nサブサンプル画像データと称す。
図6(a)に示すように、標準垂直同期信号に同期して標準のフレーム期間が開始されると共に、サブフレーム垂直同期信号に同期して第1サブフレーム期間が開始される。第1サブフレーム期間では、その開始タイミング(第4サブフレームの終了タイミング)において1つ前のフレームにおける標準露光時間に対応する画素信号を非破壊で読み出し且つその直後にリセット処理を行うことになる。そのため、第1サブフレーム期間においては、1つ前のフレームにおける標準露光時間の画素信号データが、画素信号用水平転送部58bでデジタルデータに変換されて第4サブサンプル画像データとして映像処理系12へと出力される。
一方、リセット処理が行われると、第1サブフレームのサブフレーム垂直同期信号(以下、第1サブフレーム垂直同期信号と称す)の立ち下がりエッジから第2サブフレーム垂直同期信号の立ち下がりエッジまでの期間(仮想的な露光期間)を経て、各ラインから蓄積電荷に応じた画素信号が非破壊で順次読み出される。具体的に、第2サブフレーム期間の開始タイミングで画素信号が読み出される。この画素信号データは、画素信号用水平転送部58bでデジタルデータに変換されて第1サブサンプル画像データとして映像処理系12へと出力される。
これにより、標準の1フレームの期間において、該標準の4倍速のフレームレートで4回の画素信号の読み出し処理を行うことができる。
従って、図6(b)に示す、従来の方式による読み出しタイミングによる時間ずれと比較して、各サブフレーム期間におけるタイミングのずれは1/4となる。つまり、N倍速のフレームレートで読み出しを行った場合は、時間のずれを1/Nとすることができる。
ここで、図7は、映像処理系12の内部構成を示すブロック図である。
映像処理系12は、図7に示すように、通信器・撮像制御部12aと、タイミング制御器12bと、高速撮像画像データ生成部12cと、高速画像処理部12dと、標準撮像画像データ生成部12eと、標準画像処理部12fと、メモリアクセス調停器12gと、フレームメモリ12hとを含んで構成される。
タイミング制御器12bは、不図示の水晶振動子やセラミック発振子等から構成されたクロック発振器からのクロック信号に基づき、標準のピクセルクロックのN倍速に相当するN倍速ピクセルクロック、標準のフレームレートに対応する、標準水平同期信号、標準垂直同期信号を生成して、撮像処理系10に送信する。また、撮像処理系10から、サブサンプル水平同期信号、サブフレーム垂直同期信号を受信して、内部処理のための各種同期信号、制御信号を生成する。
フレームメモリ12hへのサブサンプル画像データの記憶処理は、具体的に、タイミング制御器12bからのサブフレーム垂直同期信号及びサブサンプル水平同期信号に基づき、第1〜第Nサブサンプル画像データ及びノイズ画像データの各画素データのアドレスを生成し、該生成したアドレスと各画素データとを組にして書き込み命令と共に、メモリアクセス調停器12gに出力する処理となる。
図8に示すように、センサセルアレイ56の各画素からは、リセット処理直後から次のリセット処理までの間に、図8中の(1)〜(4)のタイミングで、非破壊で画素信号が読み出される。更に、(4)のタイミングでの非破壊読み出しの直後にリセット処理が行われる。そのため、時間の経過に伴い各画素には電荷が蓄積されていき蓄積電荷量が、図8中の信号出力値の傾斜に示すように増加していき、リセット処理が実行されると、図8中の点線で示すリセット後の信号レベルまで下がる。つまり、リセット処理のタイミングによって露光時間が決定される。
このことから本実施の形態の高速撮像画像データ生成部12cは、内部の減算器(不図示)を用いて、隣り合うサブフレームにそれぞれ対応するサブサンプル画像データ同士の減算処理を行い、該減算結果に基づき、各サブフレーム期間に対応する第1〜第N高速撮像画像データを生成する。
標準画像処理部12fは、標準撮像画像データ生成部12eで生成された、標準撮像画像データに対して、例えば、色補間、色変換、ノイズ除去、ディテール処理、γ補正などの画像処理を行い、最終的な出力データとなるカラー標準撮像画像データを生成する。更に、該生成したカラー標準撮像画像データを、各種同期信号(水平同期信号、垂直同期信号、ピクセルクロック)と共に、システムコントローラ14に出力する。
具体的に、高速撮像画像データ生成部12cから画素データの書き込み命令が入力されたときには、指定アドレスへの画素データの書き込み要求をフレームメモリ12hに出力し、一方、画素データの読み込み命令が入力されたときは、指定アドレスからの画素データの読み出し要求をフレームメモリ12hに出力する。
高速撮像画像データ生成部12cは、図9に示すように、第1サブフレーム期間において、撮像処理系10から第4サブサンプル画像データを受信し、フレームメモリ12hから第3サブサンプル画像データを読み出す。そして、受信した第4サブサンプル画像データと読み出した第3サブサンプル画像データとにおける、同じ画素位置の各画素値同士の減算処理を行い、この減算結果から第4高速撮像画像データを生成し、該生成した第4高速撮像画像データを高速画像処理部12dに出力する。つまり、第1サブフレーム期間においては、1つ前のフレームに対する第4高速撮像画像データを生成することになる。
また、映像処理系12から標準撮像画像データ及び高速撮像画像データを受信し、該受信した撮像画像データを伝送用フレームメモリ16に蓄積し、伝送路のプロトコルに準じて、蓄積した撮像画像データを情報処理装置400に向けて送信する。
ここで、図10は、状態検査システム1を農産物(果物や野菜など)の状態検査に適用した一例を示す図である。また、図11は、状態検査システム1の検査開始までの処理の流れを示すフローチャートである。また、図12は、標準撮像画像データの輝度情報のヒストグラムの一例を示す図である。
農産物の状態検査に適用した場合に、本実施の形態の状態検査システム1は、図10に示すように、ベルトコンベア500のベルト上に農産物が載置されて移動する構成となる。更に、ベルトの上方には、ベルトに乗って移動する農産物が撮像領域内に入ったときにその全体が撮像可能なように撮像装置100が配設される。更に、撮像装置100の撮像領域内を移動する農産物の全体を照明できるように照明装置200が配設される。
以下、図11及び図12に基づき、状態検査システム1による農産物の状態検査処理の動作を説明する。
初期化動作は、農産物の状態検査に先立って行われる処理で、まず、照明装置200の照明光量の制御を行う。具体的に、ベルトコンベア500のベルト上に農産物を載置し、ベルトコンベア500を動作させて、撮像すべき検査対象物(農産物)の全体を撮像領域内に入れてベルトコンベア500の動作を停止させる。この状態で、撮像装置100によって撮像領域内の農産物を撮像し、標準撮像画像データ及び高速撮像画像データを生成する。撮像装置100は、初期化動作時においては、標準撮像画像データのみをデータ伝送路を介して情報処理装置400に送信する。
具体的に、上記生成したヒストグラムの輝度分布が、例えば、図12に示すヒストグラムのように適切な輝度分布である場合(ステップS104の「Yes」の分岐)は、照明設定を終了し、状態検査を開始すべく一連の処理を終了して、状態検査処理へと移行する。
そして、照明装置200の照明光量を変更した場合は、変更するごとに撮像装置100で検査対象物を撮像し、該撮像により得られた標準撮像画像データからヒストグラムを生成し(ステップS102)、該生成したヒストグラムの輝度分布が適切か否かを判定する(ステップS104)。
また、情報処理装置400は、移動中の検査対象物を撮像して得られた高速撮像画像データに基づき、検査対象物の形状の検出を正確に行うことができるか否かを判定し、形状の検出を正確に行えないような場合は、例えば、ベルトコンベア500のベルトの速度を制御するコマンドを生成し、該生成したコマンドを制御装置300に送信する。これにより、ベルトコンベア500のベルトの速度を変更することが可能である。
上記初期化動作が完了すると、ベルトコンベア500に対して動作の開始コマンドが送信され、ベルトコンベア500が動作を開始する。これにより、ベルト上に載置された検査対象物が移動を開始し、検査対象物の状態検査が開始される。
情報処理装置400は、撮像装置100から受信した標準撮像画像データに基づき、検査対象物の色合いや質感を検出する。例えば、色情報も考慮したパターンマッチングを行って色合いや質感を検出する。例えば、検査対象物が「りんご」である場合に、りんごの色艶や陰影の状態などに基づき色味(質感)の範囲を設定しておき、標準撮像画像データの色味が設定された色味の範囲内か否かによって、検査対象のりんごの質感を判定(検出)する。
また、情報処理装置400は、撮像装置100から標準撮像画像データを受信するごとに、その輝度情報のヒストグラムを生成し、ヒストグラムに異変があるかどうかを監視する。異変があった場合は、そのことをユーザに通知すると共に、状態検査処理を中断して、ヒストグラムが適切な輝度分布となるように、照明光量を調整する。
このように、4倍速のフレームレートの撮像によって得られた第1〜第4高速撮像画像データに基づき、検査対象物の形状を判定するようにしたので、標準撮像画像データによって形状を判定する従来の方法と比較して、ベルトの速度を高速化することができる。
選別装置は、情報処理装置400からの選別情報に基づき、該当の検査対象物を選別する。
これにより、標準の1フレームの期間において、各画素の電荷の蓄積状態を維持したままで、N回の画素信号の読み出しを行うことができる。
更に、本発明に係る状態検査システム1は、標準撮像画像データに基づき検査対象物の質感を検出することが可能であり、第1〜第N高速撮像画像データに基づき検査対象物の形状や動きを検出することが可能である。
更に、本発明に係る状態検査システム1は、標準撮像画像データに基づき輝度情報のヒストグラムを生成し、該生成したヒストグラムの輝度分布が適切な分布となるように照明装置の照明光量を調整することが可能である。
更に、リセット処理直後の画素信号を読み出して、該画素信号からノイズ画像データを生成することができ、且つ該ノイズ画像データを用いて標準露光時間に対応する画素データから固定パターンノイズ成分を除去することが可能である。
上記実施の形態において、撮像処理系10は、形態1又は2に記載の撮像素子に対応し、撮像装置100は、形態4又は5に記載の撮像装置に対応し、状態検査システム1は、形態7又は8に記載の状態検査システムに対応する。
また、上記実施の形態において、撮像処理系10におけるセンサセルアレイ56の各画素に対して、第1サブフレームの期間においてリセット処理を行う機能は、形態1に記載のリセット処理手段に対応し、走査ラインスキャナ54及びセンサセルアレイ56における第1〜第Nサブフレーム期間において標準のN倍速のフレームレートでN回の画素信号の読み出しを行う機能は、形態1、2、4、5及び6のいずれか1に記載の画素信号読出手段に対応し、高速撮像画像データ生成部12c及び高速画像処理部12dは、形態4又は5に記載の高速撮像画像データ生成手段に対応し、標準撮像画像データ生成部12e及び標準画像処理部12fは、形態4又は5に記載の標準撮像画像データ生成手段に対応する。
また、上記実施の形態においては、状態検査システム1を、農産物の状態検査(外観検査)に適用したが、これに限らず、機械部品などの非生物や、常に動きのある物体など他の種類の検査対象物に適用してもよいし、外観検査に限らず、高速撮像画像データから検査対象物の動きを検出して、検査対象物を動作時の動作検証などに用いてもよい。
この場合に、撮像装置100は、形態3又は6に記載の撮像装置に対応する。
Claims (1)
- ベルトコンベアに載置されて検査領域内を移動する検査対象の状態を検査する状態検査システムであって、
前記検査対象を撮像する撮像装置と、前記検査対象を照明する照明装置と、情報処理装置と、制御装置とを備え、
前記撮像装置は、
受光した光を電荷に変換して蓄積する複数の光電変換素子が2次元マトリクス状に配設された構成の光電変換部と、標準露光時間に対応するフレームレートの各フレーム期間を第1〜第N(Nは2以上の自然数)の順にN個の期間に分割してなる、第1〜第Nサブフレーム期間における前記第1サブフレーム期間において、前記光電変換部の各光電変換素子に蓄積された電荷を空にする処理であるリセット処理を行うリセット処理手段と、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間において、前記各光電変換素子に蓄積される電荷量に応じた電気信号からなる画素信号を、各サブフレーム期間において非破壊で読み出す画素信号読出手段と、を備え、前記画素信号読出手段は、前記各光電変換素子からリセット処理直後の画素信号を読み出すようになっている撮像素子と、
前記画素信号読出手段によって前記リセット処理の直前に読み出した、前記標準露光時間の蓄積電荷量に対応する画素信号が飽和レベルに到達しないように前記各光電変換素子の露光量を制御する露光量制御手段と、
前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間から第n(nは、2≦n≦N)の自然数)サブフレーム期間において蓄積された電荷量に応じた画素信号の輝度値と、前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間から第(n−1)サブフレーム期間において蓄積された電荷量に応じた画素信号の輝度値又は前記リセット処理直後の画素信号の輝度値との差分値に基づき、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間にそれぞれ対応する高速撮像画像データを生成する高速撮像画像データ生成手段と、
前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間において蓄積された電荷量に応じた画素信号の輝度値と、前記画素信号読出手段で読み出された、前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間において蓄積された蓄積電荷量に対応する画素信号の輝度値との差分値に基づき、標準露光時間に対応する撮像画像データである標準撮像画像データを生成する標準撮像画像データ生成手段と、を備え、
前記情報処理装置は、
前記撮像装置で前記検査対象を撮像して得られる標準撮像画像データに基づき、輝度情報のヒストグラムを生成するヒストグラム生成手段と、
前記ヒストグラム生成手段で生成したヒストグラムに基づき、飽和レベルに達している画素が所定数以上あるときは光量を低減し、比較的輝度の低い画素が所定数以上あるときは光量を増加するように前記照明装置の光量を制御する光量制御指示を前記制御装置に送信する光量制御指示送信手段と、
前記標準撮像画像データに基づき、前記検査対象の質感に係る情報を検出する第1検出手段と、
前記高速撮像画像データに基づき、前記検査対象の形状及び動きのうち少なくとも一方に係る情報を検出する第2検出手段と、
前記第2検出手段の検出結果に基づき、前記検査対象の形状及び動きのうち少なくとも一方に係る情報の検出を正確に行うことができるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段で前記形状及び動きのうち少なくとも一方に係る情報の検出を正確に行えないと判定されたときに、前記撮像素子の前記フレーム期間の分割数Nを前記検出をより正確に行える分割数に変更する分割数変更指示を前記撮像装置に送信する分割数変更指示送信手段と、
前記判定手段で前記形状及び動きのうち少なくとも一方に係る情報の検出を正確に行えないと判定されたときに、前記ベルトコンベアのベルトの速度を前記検出をより正確に行える速度に変更する速度変更指示を前記制御装置に送信する分割数変更指示送信手段と、を備え、
前記制御装置は、
前記情報処理装置から受信した前記光量制御指示に応じて、前記照明装置の光量を制御する光量制御手段と、
前記情報処理装置から受信した前記速度変更指示に応じて、前記ベルトコンベアのベルトの速度を変更する速度変更手段と、を備え、
前記撮像装置は、
更に前記情報処理装置から受信した前記分割数変更指示に応じて、前記撮像素子の前記フレーム期間の分割数Nを変更する分割数変更手段を備えることを特徴とする状態検査システム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007316863A JP4556993B2 (ja) | 2007-12-07 | 2007-12-07 | 状態検査システム |
US12/326,573 US8026956B2 (en) | 2007-12-07 | 2008-12-02 | Image sensor, image taking apparatus, and state inspection system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007316863A JP4556993B2 (ja) | 2007-12-07 | 2007-12-07 | 状態検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009141739A JP2009141739A (ja) | 2009-06-25 |
JP4556993B2 true JP4556993B2 (ja) | 2010-10-06 |
Family
ID=40721231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007316863A Active JP4556993B2 (ja) | 2007-12-07 | 2007-12-07 | 状態検査システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8026956B2 (ja) |
JP (1) | JP4556993B2 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4998232B2 (ja) * | 2007-11-27 | 2012-08-15 | セイコーエプソン株式会社 | 撮像装置及び映像記録装置 |
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2007
- 2007-12-07 JP JP2007316863A patent/JP4556993B2/ja active Active
-
2008
- 2008-12-02 US US12/326,573 patent/US8026956B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090147120A1 (en) | 2009-06-11 |
JP2009141739A (ja) | 2009-06-25 |
US8026956B2 (en) | 2011-09-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091009 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091020 |
|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4556993 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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