CN110823923A - 一种显示屏内部电路检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示屏检测技术领域,公开了一种显示屏内部电路检测装置,包括显示器、检测组件和上下料组件;所述检测组件包括底座、设置于所述底座上的检测平台、滑动于所述底座两侧的顶盖、用于扫描显示屏内部电路的扫描激光器和驱动所述扫描激光器滑动于所述顶盖的驱动机构,且所述扫描激光机高度可调节地连接所述驱动机构,所述顶盖的滑动方向与所述扫描激光器的滑动方向相垂直;所述上下料机构包括机械手和用于输送显示屏的传送带,所述机械手安装在所述底座上,将所述传送带上的显示屏搬运至所述检测平台;所述扫描激光器与所述显示器电连接。本发明使扫描激光器具有X、Y、Z三向全局扫描检测功能,提高了检测质量及精度,也提高了检测效率。

Description

一种显示屏内部电路检测装置
技术领域
本发明涉及显示屏检测技术领域,特别是涉及一种显示屏内部电路检测装置。
背景技术
手机内屏及液晶显示屏等均为上下两层薄膜场效应晶体管基板和彩色滤光片基板,且内部存在液晶电路,随着显示屏的大屏化和显示屏的柔性化发展,手机内屏及液晶显示屏的面积越来越大,厚度越来越薄,内部的液晶线路和屏幕周边的微细电路对显示效果有着重要的影响,而在薄膜场效应晶体管基板和彩色滤光片基板生产过程中往往存在金属颗粒的掺杂、凸起不足、IC输出电路缺陷、电路刮断而引起的亮斑、亮线等不良问题而影响显示器的显示效果,因而需要对显示屏内部电路中的掺杂的金属颗粒、凸起、电路缺陷、刮伤进行检测,保证后期显示器的显示效果,并刷选出显示器中的不良产品进行修复。
目前,常用的显示屏内部电路缺陷检修机,主要是通过摄像头与XY数控运动把电路板的形貌录入电脑,通过电脑程序检测电路板的缺陷。但是采用该方法是无法对液晶内部电路进行检测的,只适合于表面检测,且检测过程中往往是单工位、无倍数选择,存在明显的检测效率低、检测精度差等问题;其次,检测过程中需要人工上下料,检测料率低下;另外,上下料均采用采用普通的橡胶式多点真空吸盘,在搬运过程中往往存在划擦、损坏等问题。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供一种显示屏内部电路检测装置,提高检测质量及效率,提高检测精度,避免显示屏损坏。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种显示屏内部电路检测装置,包括显示器、检测组件和上下料组件;
所述检测组件包括底座、设置于所述底座上的检测平台、滑动于所述底座两侧的顶盖、用于扫描显示屏内部电路的扫描激光器和驱动所述扫描激光器滑动于所述顶盖的驱动机构,且所述扫描激光器高度可调节地连接所述驱动机构,所述顶盖的滑动方向与所述扫描激光器的滑动方向相垂直;
所述上下料机构包括机械手和用于输送显示屏的传送带,所述机械手安装在所述底座上,将所述传送带上的显示屏搬运至所述检测平台;
所述扫描激光器与所述显示器电连接。
优选地,所述顶盖的下端的两侧设有导轮,所述导轮通过第一电机驱动,所述底座上位于所述检测平台的两侧设有导槽,所述顶盖上对应所述导槽设有导杆。
优选地,所述驱动机构包括与所述导槽相垂直设置的丝杆、驱动所述丝杆转动的第二电机和与所述丝杆转动连接的螺母,所述扫描激光器连接所述螺母。
优选地,所述扫描激光器为多个,多个所述扫描激光器沿所述丝杆的长度方向均布。
优选地,所述机械手上设有吸盘,所述吸盘包括本体,所述本体上设有至少一个微孔陶瓷真空器和至少一个振动器。
优选地,所述扫描激光器包括转塔底座和设置在所述转塔底座下端的中倍镜、高倍镜和低倍镜。
优选地,所述中倍镜、高倍镜和低倍镜均包括光源和设置在所述光源前方的物镜,所述光源与所述物镜之间设有第一滤波片,所述光源与所述第一滤波片之间设有偏正片,所述物镜与所述第一滤波片之间设有反射镜,且所述反射镜朝所述物镜倾斜设置,所述反射镜的前方设有目镜,且所述目镜与所述物镜相垂直,所述反射镜与所述目镜之间设有第二滤波片。
优选地,所述反射镜与所述物镜之间的夹角为30-60度,所述偏正片、所述第一滤波片及所述物镜相互平行,所述目镜与所述第二滤波片相平行。
优选地,包括支架,所述支架的一端连接所述显示器,另一端连接所述底座,且所述支架与所述机械手分别设置在所述底座的两端。
优选地,所述检测平台上设有至少一个限位块。
本发明实施例一种显示屏内部电路检测装置与现有技术相比,其有益效果在于:通过将顶盖滑动设置于底座,扫描激光器滑动设置于顶盖,且顶盖的滑动方向与所述扫描激光器的滑动方向相垂直,同时扫描激光器高度可调节地连接驱动机构,从而保证了扫描激光器具有X、Y、Z三向全局扫描检测功能,提高了检测质量及精度。另外,通过设置传送带及机械手,待检测的显示屏通过传送带传输,并通过机械手搬运到检测平台,提高了检测效率。本发明结构简单,使用效果好,易于推广使用。
附图说明
图1为本发明的显示屏内部电路检测装置的结构示意图。
图2为本发明的显示屏内部电路检测装置的吸盘为圆形的结构示意图。
图3为本发明的显示屏内部电路检测装置的吸盘为方形的结构示意图。
图4为本发明的显示屏内部电路检测装置的扫描激光器的结构示意图。
图5为本发明的显示屏内部电路检测装置的扫描激光器的工作原理示意图。
其中:1-显示器,2-检测组件,21-底座,211-导槽,22-检测平台,23-顶盖,24-扫描激光器,241-转塔底座,242-中倍镜,2421-光源,2422-物镜,2423-第一滤波片,2424-偏正片,2425-反射镜,2426-目镜,2427-第二滤波片,243-高倍镜,244-低倍镜,25-导轮,26-导杆,3-上下料组件,31-传送带,32-机械手,33-吸盘,331-本体,332-微孔陶瓷真空器,333-振动器,4-支架,5-限位块,6-显示屏。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
如图1所示,本发明实施例优选实施例的一种显示屏内部电路检测装置,包括显示器1、检测组件2和上下料组件3;
所述检测组件2包括底座21、设置于所述底座21上的检测平台22、滑动于所述底座21两侧的顶盖23、用于扫描显示屏6内部电路的扫描激光器24和驱动所述扫描激光器24滑动于所述顶盖23的驱动机构,且所述扫描激光器24高度可调节地连接所述驱动机构,所述顶盖23的滑动方向与所述扫描激光器24的滑动方向相垂直;
所述上下料机构3包括机械手32和用于输送显示屏6的传送带31,所述机械手32安装在所述底座21上,将所述传送带31上的显示屏6搬运至所述检测平台22;
所述扫描激光器24与所述显示器1电连接,所述扫描激光器24的检测结果将直接显示在所述显示器1上。
基于上述技术特征的显示屏内部电路检测装置,通过将顶盖23滑动设置于底座21,扫描激光器24滑动设置于顶盖23,且顶盖23的滑动方向与所述扫描激光器24的滑动方向相垂直,同时扫描激光器24高度可调节地连接驱动机构,从而保证了扫描激光器24具有X、Y、Z三向全局扫描检测功能,提高了检测质量及精度。另外,通过设置传送带31及机械手32,待检测的显示屏6通过传送带31传输,并通过机械手32搬运到检测平台,提高了检测效率。本发明结构简单,使用效果好,易于推广使用。
本实施例中,所述顶盖23的下端的两侧设有导轮25,所述导轮25通过第一电机驱动,所述底座21上位于所述检测平台22的两侧设有导槽211,所述顶盖23上对应所述导槽211设有导杆26。通过所述第一电机驱动所述顶盖23移动,同时,在所述导槽211及所述导杆26的作用下,保证了所述顶盖23的移动方向,避免了所述顶盖23在移动过程中位置发生偏移,影响检测结果。另外,为保证所述扫描激光器24沿所述顶盖23的滑动方向与所述顶盖23沿所述底座21的的滑动方向相垂直,所述驱动机构包括与所述导槽211相垂直设置的丝杆、驱动所述丝杆转动的第二电机和与所述丝杆转动连接的螺母,所述扫描激光器24连接所述螺母。滑动时,所述第二电机启动,驱动所述丝杆转动,所述螺母将沿所述丝杆移动,从而实现了所述扫描激光器24的移动。
另外,由于所述扫描激光器24需要高度可调节地连接所述驱动机构,实现所述扫描激光器在Z轴方向的调节,所以实际连接时可以通过气缸、液压缸等连接所述螺母与所述扫描激光器24,也可以通过齿轮结构或链轮机构连接。由于这些均为现有技术,这里不再详细说明。
本实施例中,为进一步提高检测效率,所述扫描激光器24为多个,优选三个。多个所述扫描激光器24沿所述丝杆的长度方向均布,从而实现了同时对多个显示屏6的相同位置检测,提高了检测效率。
请参阅附图2-3,本实施例中,所述机械手32上设有吸盘33,所述吸盘33包括本体331,所述本体331上设有至少一个微孔陶瓷真空器332和至少一个振动器333,所述振动器333优选超声波振动器,所述振动器333设置在所述微孔陶瓷真空器332的外侧。由于在吸附过程中,如果显示屏6的表面潮湿或者有静电,吸附显示屏6时容易一次吸到多片相叠加的显示屏6影响检测,甚至会出现在搬运过程中有的显示屏6自动分离而造成破损,通过设置振动器333,吸附时多个所述振动器333先依次工作然后整体工作,能够实现显示屏6的有效分离。另外,由于普通的橡胶式多点真空吸搬运过程中往往存在划擦、损坏显示屏6等问题,而采用微孔陶瓷真空吸盘能减少或消除此类问题。微孔陶瓷真空器332能提供大面积均匀的吸附力与支撑力,减小因应力集中而导致工件的损坏。实际使用时,所述本体331上及所述微孔陶瓷真空器332均可设置成圆形、方形或其他不规则形状,且大小可以根据需要进行更换,实现多块所述微孔陶瓷真空器332平稳吸附一个大工件或者多块微孔陶瓷真空器同时吸附多个小工件。
请参阅附图4-5,本实施例中,所述扫描激光器24包括转塔底座241和设置在所述转塔底座241下端的中倍镜242、高倍镜243和低倍镜244。检测时先使用所述低倍镜244进行检测,而当显示屏6内部的电路过于微细无法采用所述低倍镜244观察时,可以切换到所述中倍镜242或者所述高倍镜243进行微细结构的损伤缺陷观察。所以,所述中倍镜242、高倍镜243和低倍镜244的结构相同,只是组成他们的镜片之间的间距、厚度等参数不同。具体地,中倍镜242、高倍镜243和低倍镜244均包括光源2421和设置在所述光源2421前方的物镜2422,所述光源2421与所述物镜2422之间设有第一滤波片2423,所述光源2421与所述第一滤波片2423之间设有偏正片2424,所述物镜2422与所述第一滤波片2423之间设有反射镜2425,且所述反射镜2425朝所述物镜2422倾斜设置,具体地,所述反射镜2425与所述物镜2422之间的夹角为30-60度。所述反射镜2425的前方设有目镜2426,且所述目镜2426与所述物镜2422相垂直,所述反射镜2425与所述目镜2426之间设有第二滤波片2427。所述偏正片2424、所述第一滤波片2423及所述物镜相互平行,所述目镜2426与所述第二滤波片2423相平行。
工作时,所述光源2421产生激光,通过所述偏正片2423、第一滤波片2423矫正滤波后,所述物镜2422将光斑激光聚焦为线状激光扫描,并且通过软件和编程实现聚焦的位置可根据显示屏6内部的电路距离显示屏6表面的距离来调节,实现对显示屏6内部电路的无损伤检测,扫描后的光线经过所述反射镜2425通过所述第二滤波片2427滤波,最终将显示屏6内部电路及表面结构清晰成像在所述目镜2426上或者显示在显示器1上。
本实施例中,所述显示屏内部电路检测装置还包括支架4,所述支架4的一端连接所述显示器1,另一端连接所述底座21,且所述支架4与所述机械手32分别设置在所述底座21的两端。
本实施例中,所述检测平台22上设有至少一个限位块5。通过设置所述限位块5,所述机械手32将显示屏6搬运至所述检测平台22时可以准确定位,保证检测精度。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示屏内部电路检测装置,其特征在于:包括显示器、检测组件和上下料组件;
所述检测组件包括底座、设置于所述底座上的检测平台、滑动于所述底座两侧的顶盖、用于扫描显示屏内部电路的扫描激光器和驱动所述扫描激光器滑动于所述顶盖的驱动机构,且所述扫描激光器高度可调节地连接所述驱动机构,所述顶盖的滑动方向与所述扫描激光器的滑动方向相垂直;
所述上下料机构包括机械手和用于输送显示屏的传送带,所述机械手安装在所述底座上,将所述传送带上的显示屏搬运至所述检测平台;
所述扫描激光器与所述显示器电连接。
2.如权利要求1所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述顶盖的下端的两侧设有导轮,所述导轮通过第一电机驱动,所述底座上位于所述检测平台的两侧设有导槽,所述顶盖上对应所述导槽设有导杆。
3.如权利要求2所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述驱动机构包括与所述导槽相垂直设置的丝杆、驱动所述丝杆转动的第二电机和与所述丝杆转动连接的螺母,所述扫描激光器连接所述螺母。
4.如权利要求3所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述扫描激光器为多个,多个所述扫描激光器沿所述丝杆的长度方向均布。
5.如权利要求1所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述机械手上设有吸盘,所述吸盘包括本体,所述本体上设有至少一个微孔陶瓷真空器和至少一个振动器。
6.如权利要求1-5任一项所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述扫描激光器包括转塔底座和设置在所述转塔底座下端的中倍镜、高倍镜和低倍镜。
7.如权利要求6所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述中倍镜、高倍镜和低倍镜均包括光源和设置在所述光源前方的物镜,所述光源与所述物镜之间设有第一滤波片,所述光源与所述第一滤波片之间设有偏正片,所述物镜与所述第一滤波片之间设有反射镜,且所述反射镜朝所述物镜倾斜设置,所述反射镜的前方设有目镜,且所述目镜与所述物镜相垂直,所述反射镜与所述目镜之间设有第二滤波片。
8.如权利要求7所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述反射镜与所述物镜之间的夹角为30-60度,所述偏正片、所述第一滤波片及所述物镜相互平行,所述目镜与所述第二滤波片相平行。
9.如权利要求1-5任一项所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:包括支架,所述支架的一端连接所述显示器,另一端连接所述底座,且所述支架与所述机械手分别设置在所述底座的两端。
10.如权利要求1-5任一项所述的显示屏内部电路检测装置,其特征在于:所述检测平台上设有至少一个限位块。
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