CN110675084A - 一种基于mes系统的led晶圆测试管理系统 - Google Patents

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尹华
王福成
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Abstract

本发明公开了一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,基于MES系统的基础上,在MES系统内增加生产时间智能管控模块,当测试过程中某个子流程超过了预设的生产时间,系统将该子流程的背景颜色变深,并且其排列顺序改变,超时越多,排列顺序越靠前,从而提醒产线上的人员对出现问题的子流程进行故障排查,以确保最终的生产时间不会超过交货期,保证产品能够按时出货,生产超时批次大幅度减少,提高企业的生产管理能力、企业形象和企业竞争力。

Description

一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统
技术领域
本发明涉及LED芯片测试生产技术领域,尤其是涉及一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统。
背景技术
LED晶圆是LED的核心部分,事实上,LED的波长、亮度、正向电压等主要光电参数基本上取决于晶圆材料。LED的相关电路元件的加工与制作都是在晶圆上完成的,所以晶圆技术与设备是晶圆制造技术的关键所在。
为了确保芯片的质量,生产出来的LED晶圆均需要进行各种参数检测;然而在LED晶圆测试的过程中有许多不确定因素,特别是设备故障停机的时间实在是难以把控,若处理不及时则会耽误生产进度,交货期延误,使公司承受高额赔偿金;目前的MES生产管理系统中并不存在生产时间管理的模块,基本都是超出规定生产时间后才被发现,生产过程中对生产时间没有准确数据和预判,造成了很多管理上的缺失。
基于近些年LED芯片行业发展迅速,LED芯片产能需求也日益增长,进入该行业的企业也越来越多,竞争加剧,为了保持企业的竞争优势,各家企业都对生产时间提供出更加严格的要求,因此一个能够提前警示产线技术人员,解决生产意外的管理系统显得尤为重要。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的是提供一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,以解决上述问题。
为了实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,包括以下步骤:
1)将LED晶圆测试过程中涉及到的各类型设备的产能UPH进行整理,根据设备的产能设定测试的总时间T总,将晶圆测试设备的产能UPH和设定测试的总时间T总录入到MES系统中;
2)根据测试流程的总时间T和晶圆测试设备的产能UPH,对总时间T总进行分配,制定测试过程中每个子流程的最大允许生产时间T流程n,并且录入到MES系统中,总时间T总与T流程n的关系符合下列公式:T总≥T流程1+T流程2+T流程3+....+T流程n=∑T流程 n
3)设定好上述数据后MES系统对生产流程的时间进行监控,在监控屏幕上显示每个流程的实际用时T实际n,每个流程的实际用时T实际n都设有背景颜色,当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,其背景颜色发生改变,以实现提醒产线人员采取措施优先生产该流程批次;
4)后续流程采取措施后,该超时流程的追上生产进度,T实际n未超出制定的测试时间T流程n时,背景颜色恢复正常;
5)生产过程继续正常进行,在测试的过程中MES系统始终保持监测∑T实际 n是否大于T总,若大于T总则返回至步骤3)。
进一步的技术方案中,步骤3)中每个流程的测试时间T实际n包括设备开机的等待或调试时间T等待、操作人员取放物料的时间T取放料、设备故障停机的时间T宕机,符合以下公式:T实际n=T等待+T取放料+T宕机。
进一步的技术方案中,步骤3)中,当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,其背景颜色加深,超出时间越多,背景颜色越高亮。
进一步的技术方案中,步骤3)中,每个流程的实际用时T实际均按照流程顺序依次排列并且显示在监控屏幕上,当某个流程的实际用时T实际超出制定的测试时间T流程时,MES系统自动对其排列顺序进行升级,超出时间越多,排列顺序越靠前,未超时的流程依然按照原来的顺序排列。
采用上述结构,本发明和现有技术相比所具有的优点是:本发明基于MES系统的基础上,增加生产时间智能管控模块,当测试过程中某个子流程超过了预设的生产时间,系统将该子流程的背景颜色变深,并且其排列顺序改变,超时越多,排列顺序越靠前,从而提醒产线上的人员对出现问题的子流程进行故障排查,以确保最终的生产时间不会超过交货期,保证产品能够按时出货,生产超时批次大幅度减少,提高企业的生产管理能力、企业形象和企业竞争力。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的管理系统逻辑框图;
图2是本发明的检测过程中,监控屏幕显示的监控图。
具体实施方式
下面对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在LED芯片的测试过程中,一般都会用到LED芯片测试机,对LED芯片的光、电参数进行检测,由于检测的过程中会涉及到多个流程,若其中某一流程出现意外,将会导致该批次的产品总体生产时间加长,延误了交货期限,为了解决上述问题,本发明提供了一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,该管理系统的逻辑框图如图1所示,具体包括以下步骤:
将LED晶圆测试过程中涉及到的各类型设备的产能UPH进行整理,根据设备的产能设定测试的总时间T总,将晶圆测试设备的产能UPH和设定测试的总时间T总录入到MES系统中。
根据测试流程的总时间T和晶圆测试设备的产能UPH,对总时间T总进行分配,制定测试过程中每个子流程的最大允许生产时间T流程n,将T流程n录入到MES系统中,总时间T总与T流程的关系符合下列公式:T总≥T流程1+T流程2+T流程3+....+T流程n=∑T流程 n,其中n代表流程的数量,例如检测的子流程有8项,则n=8,n的值根据检测子流程的变化而改变。
设定好上述数据后MES系统对生产流程的时间进行监控,具体可通过检测设备的实际产能UPH实际来估算完成该批次生产的时间用时T实际n,每个流程的测试时间T实际n包括设备开机的等待或调试时间T等待、操作人员取放物料的时间T取放料、设备故障停机的时间T宕机,符合以下公式:T实际=T等待+T取放料+T宕机,其中T等待和T取放都是可以预测的时间,基本可以控制在固定的时间范围内,T宕机是不可预测的变量。
测试的过程中,在监控屏幕上显示每个流程的实际用时T实际n,每个流程的实际用时T实际n都设有背景颜色,当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,其背景颜色发生改变,主要表现为其背景颜色加深,超出时间越多,背景颜色越高亮,以实现提醒产线人员采取措施优先生产该流程批次,另外每个流程的实际用时T实际n均按照流程顺序依次排列并且显示在监控屏幕上,具体如图2所示。
当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,MES系统自动对其排列顺序进行升级,超出时间越多,排列顺序越靠前,未超时的流程依然按照原来的顺序排列。
后续流程采取措施解决机台的故障问题后,该超时流程的追上生产进度,T实际n未超出制定的测试时间T流程n时,背景颜色恢复正常;具体解决故障的措施,产线的技术人员根据实际问题而定,为了追赶生产进度,技术人员通常会采用多投入备用机台,对超时的子流程进行应急生产处理,以提高该流程的产能。
采取应急措施追赶上生产进度后,生产过程继续正常进行,在测试的过程中MES系统始终保持监测∑T实际 n是否大于T总,若大于T总则返回至步骤3)。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (4)

1.一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,其特征在于,包括以下步骤:
1)将LED晶圆测试过程中涉及到的各类型设备的产能UPH进行整理,根据设备的产能设定测试的总时间T总,将晶圆测试设备的产能UPH和设定测试的总时间T总录入到MES系统中;
2)根据测试流程的总时间T和晶圆测试设备的产能UPH,对总时间T总进行分配,制定测试过程中每个子流程的最大允许生产时间T流程n,并且录入到MES系统中,总时间T总与T流程n的关系符合下列公式:T总≥T流程1+T流程2+T流程3+....+T流程n=∑T流程n;
3)设定好上述数据后MES系统对生产流程的时间进行监控,在监控屏幕上显示每个流程的实际用时T实际n,每个流程的实际用时T实际n都设有背景颜色,当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,其背景颜色发生改变,以实现提醒产线人员采取措施优先生产该流程批次;
4)后续流程采取措施后,该超时流程的追上生产进度,T实际n未超出制定的测试时间T流程n时,背景颜色恢复正常;
5)生产过程继续正常进行,在测试的过程中MES系统始终保持监测∑T实际n是否大于T总,若大于T总则返回至步骤3)。
2.根据权利要求1所述的一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,其特征在于:步骤3)中每个流程的测试时间T实际n包括设备开机的等待或调试时间T等待、操作人员取放物料的时间T取放料、设备故障停机的时间T宕机,符合以下公式:T实际n=T等待+T取放料+T宕机。
3.根据权利要求1所述的一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,其特征在于:步骤3)中,当某个流程的实际用时T实际超出制定的测试时间T流程时,其背景颜色加深,超出时间越多,背景颜色越高亮。
4.根据权利要求1或3所述的一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统,其特征在于:步骤3)中,每个流程的实际用时T实际均按照流程顺序依次排列并且显示在监控屏幕上,当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时,MES系统自动对其排列顺序进行升级,超出时间越多,排列顺序越靠前,未超时的流程依然按照原来的顺序排列。
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