CN110646729A - 一种用于航空测试的微断测试组件、系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种用于航空测试的微断测试组件、系统，用于测试待测试设备，该微断测试组件包括：逻辑分析仪；以及连接于待测试设备与逻辑分析仪之间的信号连接器；其中，信号连接器包括：电源端，包括正极端与负极端；第一处理电路，与电源端的输出端连接，包括第一滤波模块以及与滤波模块串联的多个状态指示灯；多个设备连接端，分别连接在第一处理电路与相应数量的待测试设备之间，每一设备连接端均包括正极接线器与负极接线器；第二处理电路，包括第二滤波模块；以及分析仪连接端，包括一并口，并口的输入端分别与多个设备连接端连接，并口的输出端与逻辑分析仪连接。本申请实施例降低了产品测试成本，提高了企业效益。

Description

一种用于航空测试的微断测试组件、系统

技术领域

本申请涉及生产设备领域，特别涉及一种用于航空测试的微断测试组件、系统。

背景技术

在航空领域中，飞机的各个器材均需要满足极高的质量要求，例如，在一些机载设备开关中，其开关的最高精度达到微米级别。因此，若开关精度不满足要求，机上的振动均可能使得这些开关断开而造成故障。

因为机载设备开关意外断开的时间极短，其通断测试需要的精确度很高。本领域中一般会采用专业级别的微断测试组件来进行通断测试，该微断测试组件会利用定制的电路、元器件以及算法来实现对机载设备开关进行测试，而常用的微断测试仪因为硬件规格无法达到要求，使得其无法应用在航空测试的产品微断测试中。

因此，企业若需要进行机载设备开关的微断测试，只能购置昂贵的专业微断测试组件，从而造成较高的产品测试成本，使得企业效益较低。

发明内容

本申请提供了一种用于航空测试的微断测试组件，可以降低企业的产品测试成本。

本申请实施例公开了一种用于航空测试的微断测试组件，用于测试待测试设备,包括：

逻辑分析仪；以及

连接于所述待测试设备与所述逻辑分析仪之间的信号连接器；

其中，所述信号连接器包括：

电源端，包括正极端与负极端；

第一处理电路，与所述电源端的输出端连接，包括第一滤波模块以及与所述滤波模块串联的多个状态指示灯，用于指示设备连接端的连接状态；

多个设备连接端，分别连接在所述第一处理电路与相应数量的待测试设备之间，每一所述设备连接端均包括正极接线器与负极接线器；

第二处理电路，包括第二滤波模块，所述第二滤波模块在每一所述设备连接端的正极接线器与负极接线器之间并联有开关滤波电容；以及

分析仪连接端，包括一并口，所述并口的输入端分别与所述多个设备连接端连接，所述并口的输出端与所述逻辑分析仪连接。

可选的，所述第一滤波模块包括：

第一滤波电容，一端与所述电源端的正极端连接，另一端与所述电源端的负极端连接，用于滤除低频杂波；以及

第二滤波电容，一端与所述电源端的正极端连接，另一端与所述电源端的负极端连接，所述第二滤波电容小于所述第一滤波电容，用于滤除高频杂波的第二滤波电容。

可选的，所述开关滤波电容的电容值与所述第二滤波电容的电容值相当。

可选的，所述第一滤波电容的电容值范围为1-10μF。

可选的，所述第二滤波电容的电容值范围为100-5000pF。

可选的，所述状态指示灯的数量与所述设备连接端的数量对应，并与所述设备连接端串联；

其中，所述第一处理电路还包括：

多个保护电阻，所述保护电阻与所述状态指示灯一一串联。

可选的，所述电源端包括相互并联的串口电源端以及并口电源端。

可选的，所述信号连接器包括PCB板，所述电源端、第一处理电路、多个设备连接端、第二处理电路以及分析仪连接端均设于所述PCB板上，其中：

所述设备连接端分别排列在所述PCB板的相对两侧，所述分析仪连接端设于两侧的所述设备连接端之间；

所述第一处理电路的状态指示灯设于对应的所述设备连接端与所述分析连接端之间。

可选的，所述逻辑分析仪的最大采样率大于或等于100MHz。

本申请实施例还公开了一种用于航空测试的微断测试系统，所述微断测试系统包括：

待测试设备；

用于对所述待测试设备进行振动测试的振动台；以及

与所述待测试设备连接的微断测试组件；

其中，所述微断测试组件为上述任意一项所述的用于航空测试的微断测试组件。

由上可知，本申请实施例中的用于航空测试的微断测试组件、系统，利用信号连接器的配合实现对输入电源进行信号处理，使得经过该信号连接器输入的信号只需要采用一般的逻辑分析仪即可满足航空微断测试的测试要求；该逻辑分析仪与该信号连接器的组合可以大幅降低设备成本，并且该信号连接器可以应用到不同的逻辑分析仪中，进而降低了产品测试成本，提高了企业效益。

附图说明

图1为本申请实施例提供的用于航空测试的微断测试组件的结构示意图。

图2为本申请实施例提供的用于航空测试的微断测试组件的另一结构示意图。

图3为本申请实施例提供的第一处理电路的结构示意图。

图4为本申请实施例提供的用于航空测试的微断测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本申请的较佳实施例进行详细阐述，以使本申请的优点和特征更易被本领域技术人员理解，从而对本申请的保护范围作出更为清楚的界定。

请参阅图1，图中示出了本申请实施例提供的用于航空测试的微断测试组件的结构。

该微断测试组件用于测试待测试设备，该待测试设备包括航空用的微断开关，或者采用该航空用的微断开关相关的设备。具体的，该微断开关因其精度要求较高，最高精度达到微米级别，因此轻微的振动均可能导致微断开关出现开关故障。

其中，该微断测试组件包括逻辑分析仪1以及信号连接器2，该信号连接器2连接于待测试设备与逻辑分析仪1之间。可选的，该逻辑分析仪1可以采用最大采样率为100M以上的逻辑分析仪1，以确保检测精度。可以理解的，该逻辑分析仪1可以采用常见的多种不同型号，例如Kingst LA1010，本申请对此不作限定。

该信号连接器2包括电源端21、第一处理电路22、多个设备连接端23、第二处理电路25以及分析仪连接端24。

该电源端21，包括正极端与负极端。具体的，该电源端21用于连接电源，可以采用pin脚、USB连接器或者是其他电源连接器；并且，其输入电压、电流等参数可以根据实际使用要求进行选用，电源端21的具体形态以及规格在此均不作限定。

第一处理电路22，与电源端21的输出端连接，包括第一滤波模块以及与滤波模块串联的多个状态指示灯221，用于指示设备连接端23的连接状态。

请参阅图2，图中示出了本申请实施例提供的第一处理电路22的结构。

在一些实施例中，如图2所示，该电源端21为作为正极端的DC-In、J1以及负极端的J2，该电源通过正极端J1或者DC-In输入到信号连接器2中。

该第一处理电路22中的第一滤波模块可以包括第一滤波电容C1，一端与电源端21的正极端连接，另一端与电源端21的负极端连接，用于滤除低频杂波；以及第二滤波电容C2，一端与电源端21的正极端连接，另一端与电源端21的负极端连接，该第二滤波电容C2小于第一滤波电容C1，用于滤除高频杂波的第二滤波电容C2。

具体的，该第一滤波电容C1的电容值范围是1-10μF，以滤除电源端21所输出电流中相应的中低频杂波。该第二滤波电容C2的电容值范围是100-5000pF，以滤除电源端21所输出电流中相应的中高频杂波。采用上述电容值滤除杂波更有针对性，较好地滤除波形特征与微断开关相近的杂波。

因为微断开关的信号特征与一般电源所输出的电流的杂波比较类似，通过上述第一滤波模块的设置，可以有效滤除电源端21所输出电流中所存在的各个频段的杂波，只保存微断开关所产生的信号，以避免杂波对检测过程造成干扰，提高检测精度。

在一些实施例中，该状态指示灯221的数量与设备连接端23的数量对应，并与设备连接端23串联；其中，第一处理电路22还包括：多个保护电阻，该保护电阻与状态指示灯221一一串联。

具体的，如图2所示，电源端21包括并口端的正极端221a、负极221b，及串口端212，如USB接口，该电源端21输入的电流经过第一滤波电容C1以及第二滤波电容C2的滤波处理后，通过保护电阻R1-R8以及分别与之一一串联的状态指示灯LED1-LED8输出到端口J4-J11，并进行接地。该端口J4-J11均可与待测试设备的电流输入端连接。该状态指示灯LED1-LED8可以指示当前的待测试设备的连接状态，例如，当待测试设备的微断开关导通时，状态指示灯221因导通电源而亮起，测试人员可以通过该状态指示灯221知悉该微断开关的导通状态，以解决现有测试过程中不易知晓导通状态的问题。

多个设备连接端23，分别连接在第一处理电路22与相应数量的待测试设备之间，每一设备连接端23均包括正极接线器与负极接线器。具体的，该设备连接端23可以根据实际使用采用不同的接线器，例如多根pin脚、旋钮接线器或者是其他方式的接线器。

第二处理电路25，包括第二滤波模块，该第二滤波模块在每一设备连接端23的正极接线器与负极接线器之间并联有开关滤波电容。具体的，该开关滤波电容的电容值与第二滤波电容C2的电容值相当。通过第二滤波模块中的开关滤波电容，可以进一步滤除有可能影响微断开关测试的杂波，使得只利用成本较低的方式即可获得更高的测试准确率，进而降低对逻辑分析仪1的性能需求。

分析仪连接端24，包括一并口，该并口的输入端分别与多个设备连接端23连接，该并口的输出端与逻辑分析仪1连接。该分析仪连接端24可以方便逻辑分析仪1对待测试设备输出的电信号进行采集，以通过逻辑分析仪1对待测试设备进行测试。

可以理解的是，该分析仪连接端24的具体形态可以根据不同逻辑分析仪1的接口进行设定，在此不作限定。

请参阅图3，图中示出了本申请实施例提供的航空测试的微断测试组件的另一结构。

如图3所示，该用于航空测试的微断测试组件，其中信号连接器2包括PCB板，该电源端21、第一处理电路22、多个设备连接端23、第二处理电路25以及分析仪连接端24均设于PCB板上，其中设备连接端23分别排列在PCB板的相对两侧，该分析仪连接端24设于两侧的设备连接端23之间；第一处理电路22的状态指示灯221设于对应的设备连接端23与分析连接端之间。

现有技术中的分析设备一般只能接一台待测试设备，但是通过该信号连接器2可以使用一台多通道逻辑分析仪1同时连接多台设备，以提高测试效率。

并且，当待测试设备只采用两个连接端（正极与负极）时，可以同时测试多台数量与该设备连接端23数量相当的待测试设备；当待测试设备为3个连接端口或者使用更多端口时，可以将待测试设备的连接端口同时连接到多个设备连接端23上，多个并排排布的设计更有利于适应多种不同的设备规格。且通过将设备连接端23放置在PCB板的相对两侧，使得接线放置更加容易。

另外，若待测试设备的数量较多，还可以通过将该信号连接器2的设备连接端23进行并联的方式来实现多设备同时测试的技术效果，相对于现有只能通过专业级别的微断测试组件来进行通断测试的方案，本申请的技术方案组建更加灵活、成本明显更低。

另外，电源端21可以包括相互并联的串口电源端21以及并口电源端21，同时设置多种不同的电源端21，可以适应不同的测试环境，以便于。

测试时，将各设备连接端23与待测试设备进行连接，使得微断开关连接至信号连接器2与逻辑分析仪1所组成的系统中；当电源端21输入电流后，若待测试设备的微断开关导通，则此时相对应端口的状态指示灯221会有相应的亮起，以指示该处导通，反之熄灭则表示该待测试设备的微断开关关闭。

逻辑分析仪1在待测试设备接通后对经过该微断开关的波形进行分析，此时信号连接器2可以滤除掉电源中相应的杂波，使得逻辑分析仪1所获得的信号均为微断开关所产生，以分析在测试过程中待测试设备的微断开关是否出现故障。

由上可知，本申请实施例中的用于航空测试的微断测试组件，利用信号连接器的配合实现对输入电源进行信号处理，使得经过该信号连接器输入的信号只需要采用一般的逻辑分析仪即可满足航空微断测试的测试要求；该逻辑分析仪与该信号连接器的组合可以大幅降低设备成本，并且该信号连接器可以应用到不同的逻辑分析仪中，进而降低了产品测试成本，提高了企业效益。

请参阅图4，图中示出了本申请实施例提供的用于航空测试的微断测试系统的结构。

该微断测试系统包括待测试设备3、用于对待测试设备3进行振动测试的振动台4；以及与待测试设备3连接的微断测试组件；其中，微断测试组件为图1-3任意一项所述实施例中的用于航空测试的微断测试组件，包括电源端21、第一处理电路22、多个设备连接端23、第二处理电路25以及分析仪连接端24。

该微断测试系统通过振动台4对待测试设备3进行振动测试，可以模拟待测试设备3应用在航空飞机上时，该飞机在飞行过程中出现的振动。通过该微断测试组件，企业可以通过信号连接器连接多个待测试设备3，提高测试效率；且企业可以利用成本较低的器材（普通的逻辑分析仪）即可完成航空测试，从而大幅提高企业效益。

上面结合附图对本申请的实施方式作了详细说明，但是本申请并不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本申请宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (10)

1.一种用于航空测试的微断测试组件，用于测试待测试设备，其特征在于，包括：

逻辑分析仪；以及

连接于所述待测试设备与所述逻辑分析仪之间的信号连接器；

其中，所述信号连接器包括：

电源端，包括正极端与负极端；

第一处理电路，与所述电源端的输出端连接，包括第一滤波模块以及与所述滤波模块串联的多个状态指示灯，用于指示设备连接端的连接状态；

多个设备连接端，分别连接在所述第一处理电路与相应数量的待测试设备之间，每一所述设备连接端均包括正极接线器与负极接线器；

第二处理电路，包括第二滤波模块，所述第二滤波模块在每一所述设备连接端的正极接线器与负极接线器之间并联有开关滤波电容；以及

分析仪连接端，包括一并口，所述并口的输入端分别与所述多个设备连接端连接，所述并口的输出端与所述逻辑分析仪连接。

2.如权利要求1所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述第一滤波模块包括：

第一滤波电容，一端与所述电源端的正极端连接，另一端与所述电源端的负极端连接，用于滤除低频杂波；以及

第二滤波电容，一端与所述电源端的正极端连接，另一端与所述电源端的负极端连接，所述第二滤波电容小于所述第一滤波电容，用于滤除高频杂波的第二滤波电容。

3.如权利要求2所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述开关滤波电容的电容值与所述第二滤波电容的电容值相当。

4.如权利要求2或3所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述第一滤波电容的电容值范围为1-10μF。

5.如权利要求2或3所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述第二滤波电容的电容值范围为100-5000pF。

6.如权利要求1所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，

所述状态指示灯的数量与所述设备连接端的数量对应，并与所述设备连接端串联；

其中，所述第一处理电路还包括：

多个保护电阻，所述保护电阻与所述状态指示灯一一串联。

7.如权利要求1所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述电源端包括相互并联的串口电源端以及并口电源端。

8.如权利要求1所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述信号连接器包括PCB板，所述电源端、第一处理电路、多个设备连接端、第二处理电路以及分析仪连接端均设于所述PCB板上，其中：

所述设备连接端分别排列在所述PCB板的相对两侧，所述分析仪连接端设于两侧的所述设备连接端之间；

所述第一处理电路的状态指示灯设于对应的所述设备连接端与所述分析连接端之间。

9.如权利要求1所述的用于航空测试的微断测试组件，其特征在于，所述逻辑分析仪的最大采样率大于或等于100MHz。

10.一种用于航空测试的微断测试系统，其特征在于，所述微断测试系统包括：

待测试设备；

用于对所述待测试设备进行振动测试的振动台；以及

与所述待测试设备连接的微断测试组件；

其中，所述微断测试组件为权利要求1-9任意一项所述的用于航空测试的微断测试组件。

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