CN209878889U - 一种低电压差分信号差分晶振测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种低电压差分信号差分晶振测试装置，能够同时实现多只晶振通过测试系统进行在线监测，大幅度提升了检测可靠性和检测效率，通过将基板设置为圆环形，设置压接装置对差分晶振进行固定和限位，进一步提高了使用检测装置的便利性和检测的可靠性。本实用新型还通过设置滑动体和指示装置，方便对晶振进行检测时切换需要检测的晶振，且能通过滑动体上的拨片打开压接装置上的指示装置，是使用者能够方便地得知该测试夹具上的晶振是否经过测试，以及是否通过测试。

Description

一种低电压差分信号差分晶振测试装置

技术领域

本实用新型涉及晶振测试技术领域，特别是指一种低电压差分信号(LVDS)差分晶振测试装置。

背景技术

晶体振荡器作为雷达、导弹、卫星、运载火箭等装备的标准频率源，是整机的“心脏”元器件，对整机能否实现总体性能指标有着至关重要的作用。晶体振荡器作为武器装备中非常重要的一部分，既要满足现代军事武器和装备高性能的需求，又要提高晶体振荡器的可靠性筛选检测能力，保障其应用可靠性。

LVDS以低电压摆幅的高速差动信号传输数据，可以实现点对点或一点对多点的连接，具有低功耗、低误码率、低串扰和低辐射等特点，LVDS差分晶振在对信号完整性、低抖动及共模特性要求较高的系统中得到越来越广泛的应用。目前，在元器件可靠性筛选试验时，由于缺少相关的测试技术及硬件资源，LVDS差分晶振往往只能使用测试夹具进行单独测试，严重影响了测试的效率。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种低电压差分信号差分晶振测试装置，提升LVDS差分晶振的测试效率。

基于上述目的本实用新型提供的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，包括基板，基板上安装有若干个用于安装差分晶振的测试单元，测试单元包括用于固定晶振的测试夹具，测试夹具上设有与晶振管脚匹配的探针，各测试夹具均连接有电源输入端、测试输出端与测试公共端；基板上设有电源接口与测试公共接口，且各测试单元的电源输入端并联并与电源接口连接，且各测试单元的测试公共端并联并与测试公共接口连接。

优选地，基板设置为圆环形，各测试单元围绕圆环的圆心均匀分布，各测试单元的测试输出端设置在圆环的外边一侧。

优选地，基板上还设有可拆卸的压接装置，压接装置通过螺栓与基板活动连接，压接装置底部设有与测试夹具匹配的固定槽。

优选地，基板上设有滑动体，滑动体与基板活动连接，且可沿基板移动，滑动体上设有电连接器，滑动体移动时，电连接器的输入端与基板上的测试输出端分别单独连接，电连接器的输出端用于连接晶振优选地，基板表面设有若干包括第一指示灯和第二指示灯的指示装置，指示装置的数量与测试单元相同，且各指示装置分别与各测试单元一一对应。

优选地，压接装置上设有与指示装置匹配的供电体，滑动体上设有拨动供电体的拨片，拨片带动供电体转动，使之与指示装置中的第一输入端或第二输入端接触连接。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的低电压差分信号差分晶振测试装置能够同时实现多只晶振通过测试系统进行在线监测，大幅度提升了检测可靠性和检测效率，通过将基板设置为圆环形，设置压接装置对差分晶振进行固定和限位，进一步提高了使用检测装置的便利性和检测的可靠性。

本实用新型还通过设置滑动体和指示装置，方便对晶振进行检测时切换需要检测的晶振，且能通过滑动体上的拨片打开压接装置上的指示装置，是使用者能够方便地得知该测试夹具上的晶振是否经过测试，以及是否通过测试。

附图说明

图1为本实用新型实施例的低电压差分信号差分晶振测试装置示意图；

图2为本实用新型实施例的图1的A处放大示意图；

图3为本实用新型实施例的低电压差分信号差分晶振测试装置详细结构示意图；

图4为本实用新型实施例的测试夹具结构示意图；

图5为本实用新型实施例的测试系统电路示意图。

其中，图5中：X为待测差分晶振，C为电容，R1、R2、R3为电阻网络中的电阻，A为电流表，V为电压表，P为差分拟合探针，F为频率计，O为示波器。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

一种低电压差分信号差分晶振测试装置，如图1-2所示，包括基板1，基板1上安装有若干用于安装差分晶振的测试单元2，测试单元2包括用于固定晶振的测试夹具7，测试夹具7上设有与晶振管脚匹配的探针8，各测试夹具7均连接有电源输入端、测试输出端5和测试公共端。

可选的，基板1上设有用于供电的电源接口3和用于连接测试系统的测试公共接口4，各测试单元2中的电源输入端并联后与该电源接口3连接，各测试单元2中的测试公共端并联后与所述测试公共接口4连接，则测试时用户只需连接电源接口3和测试公共接口4即可实现与所有的测试单元2连接。

可选的，基板1设置为圆环形，各所述测试单元2围绕圆环的圆心均匀分布，电源接口3和测试公共接口4设置在圆环的内边一侧，各测试单元2的测试输出端5设置在圆环的外边一侧，圆环形的设计既能节约空间，也能起到方便携带拿取的效果。

可选的，基板1上还设有可拆卸的压接装置6，压接装置6通过螺栓与基板1活动连接，压接装置6底部设有与测试夹具7匹配的固定槽，压接装置6对待测差分晶振起到固定和限位的作用，防止差分晶振掉落，上述螺栓可以选用手拧螺栓，进一步方便使用者拆卸。

可选的，考虑到依次测试差分晶振时需依次将测试单元2上的测试输出端5与测试系统连接，较为耗费时间精力，所述基板1的圆环外边一侧还设有滑动体9，滑动体9与基板1活动连接，且可沿基板1的外边移动，滑动体9上设有电连接器(未示出)，滑动体9移动时，电连接器的输入端与基板1上的测试输出端5分别单独连接，电连接器的输出端用于连接晶振测试系统。

可选的，基板1表面设有若干包括第一指示灯和第二指示灯的指示装置11，指示装置11的数量与测试单元2相同，且各指示装置11与各测试单元2一一对应，指示装置11安装在其对应的测试单元2一侧，指示装置11中的第一指示灯和第二指示灯用于指示其对应的测试单元2的测试状态。

可选的，压接装置6上设有与指示装置11匹配的供电体(未示出)，滑动体9上设有拨动所述供电体的拨片10，

拨片10带动供电体转动，使之与指示装置11中的第一输入端或第二输入端接触连接。

可选的，探针7选用高阻探针。

用户在使用本实用新型公开的LVDS的差分晶振的测试电路时，首先根据器件管脚排列，把待测差分晶振摆放在测试夹具7的凹槽中，使差分晶振的管脚分别与测试夹具7上与其对应的管脚一一匹配，多只待测差分晶振同时检测时，依据测试单元2进行逐一摆放，摆放完成后，通过将压接装置6与基板1上的卡扣扣合，使压接装置6安装在基板1上，对测试夹具7中的待测晶振进行固定，此时已具备测试条件，电源接口3中包括VCC端和VCO端，将基板1内环上的VCC端、VCO端和测试公共端分别接至晶振测试系统，如接至晶振温度特性测试系统，通过在测试系统上设置测试条件对差分晶振进行测试。

测试系统主要由耦合电路、电阻网络等设计模块组成，测试系统电路图如图4所示，考虑到不同型号的电路之间互连，由于它们的输入、输出的共模电压都有差异，本设计采用电容C耦合方式进行传输，同时需要考虑传输线端接阻抗与传输线的特性阻抗匹配，减少外部电磁干扰，电路中设置电流表A和电压表V对运行情况进行检测，设置差分拟合探头P，对差分晶振的输出进行差分拟合，设置示波器O示出差分晶振的输出的波形图，示波器O的输出接口连接一频率计F检测差分晶振的输出频率。

用户可通过移动滑动体9，使滑动体9和基板1的相对位置发生改变，进而使滑动体9上的电连接器所接触的测试单元2发生改变，当完成测试后，用户可通过拨动滑动体9上的拨片10带动压接装置6上的供电体转动，使供电体与指示装置11中的第一输入端或第二输入端连接，打开第一指示灯或第二指示灯，具体的，若测试结果表明差分晶振合格，则将供电体向第一输入端一侧转动，使第一指示灯打开，若测试结果表明差分晶振不合格，则将供电体向第二输入端一侧转动，使第二指示灯打开，用户通过第一指示灯和第二指示灯的指示作用可以得知对应的差分晶振的测试结果，当基板1上的差分晶振均完成测试后，用户可通过拆下压接装置6取出差分晶振，同时因为压接装置6取出，基板1上的指示灯均断电关闭。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，包括基板，基板上安装有若干个用于安装差分晶振的测试单元，测试单元包括用于固定晶振的测试夹具，测试夹具上设有与晶振管脚匹配的探针，各所述测试夹具均连接有电源输入端、测试输出端与测试公共端；所述基板上设有电源接口与测试公共接口，且各所述测试单元的电源输入端并联并与所述电源接口连接，且各测试单元的测试公共端并联并与所述测试公共接口连接。

2.根据权利要求1所述的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，所述基板设置为圆环形，各所述测试单元围绕圆环的圆心均匀分布，各所述测试单元的测试输出端设置在圆环的外边一侧。

3.根据权利要求1所述的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，所述基板上还设有可拆卸的压接装置，压接装置通过螺栓与基板活动连接，压接装置底部设有与测试夹具匹配的固定槽。

4.根据权利要求3所述的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，所述基板上设有滑动体，滑动体与基板活动连接，且可沿基板移动，滑动体上设有电连接器，滑动体移动时，电连接器的输入端与基板上的测试输出端分别单独连接，电连接器的输出端用于连接晶振测试系统。

5.根据权利要求4所述的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，所述基板表面设有若干包括第一指示灯和第二指示灯的指示装置，所述指示装置的数量与测试单元相同，且各所述指示装置分别与各所述测试单元一一对应。

6.根据权利要求5所述的一种低电压差分信号差分晶振测试装置，其特征在于，所述压接装置上设有与指示装置匹配的供电体，所述滑动体上设有拨动所述供电体的拨片，所述拨片带动供电体转动，使之与所述指示装置中的第一输入端或第二输入端接触连接。