CN220289744U - 一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装 - Google Patents
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Abstract
本发明所述一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，属于元器件筛选领域，包括印制板、老化测试座、电阻，印制板上电装有多个老化测试座，老化测试座的脚位与待测表面贴片差分晶体振荡器的脚位一致，每个老化测试座的第1引脚、第2引脚均为NC空脚，第3引脚GND接地，第4引脚OUT+、第5引脚OUT‑各连接一个电阻，电阻的另一端均接地，第6引脚VCC连接印制板电压接口VCC为其供电；第4引脚OUT+、第5引脚OUT‑与其所连接的电阻之间均引出测试焊盘作为测试口，用于测试待测件。待测件安装于老化测试座，通过老化设备和测试仪表对其进行老化测试。本发明可同时进行多个待测件的老化测试试验，提高了老化测试效率。
Description
技术领域
本发明属于元器件筛选领域，具体涉及一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，适用于表面贴片差分晶体振荡器的老化及测试试验。
背景技术
晶体振荡器作为信号产生元器件，在军工和民用领域都有着非常普遍的应用。其中表面贴片差分晶体振荡器在工程应用中会出现如信号无输出、信号电平不达标等问题，通过可靠的老化测试手段，可以剔除表面贴片差分晶体振荡器的次品，从而提高产品的可靠性。而目前由于受老化设备、老化测试座的客观原因限制：如老化板只能做老化试验不能同时进行测试；测试座在测试表面贴片差分晶体振荡器时，多为单个测试，需要逐个更换待测器件，耗时较多等；使该类器件的老化测试效率低下，难以保证使用要求。
因此，有必要设计一种适用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，用于高效的筛选次品。
发明内容
要解决的技术问题：
为了避免现有技术的不足之处，本发明提供一种表面贴片差分晶体振荡器老化测试工装，该工装配合试验室老化设备及测试仪表，能够同时完成表面贴片差分晶体振荡器的老化以及测试试验。
本发明的技术方案是：一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，包括印制板1-1、老化测试座1-2、电阻；
所述印制板1-1上电装有多个老化测试座1-2，老化测试座1-2的脚位与待测表面贴片差分晶体振荡器的脚位一致，每个老化测试座1-2的第1引脚、第2引脚均为NC空脚，第3引脚GND接地，第4引脚OUT+、第5引脚OUT-各连接一个电阻，电阻的另一端均接地，第6引脚VCC连接印制板电压接口VCC为其供电；所述第4引脚OUT+、第5引脚OUT-与其所连接的电阻之间均引出测试焊盘作为测试口，用于测试待测件；
待测表面贴片差分晶体振荡器安装于老化测试座1-2，通过老化设备2和测试仪表4对其进行老化测试。
本发明的进一步技术方案是：所述老化测试座1-2通过其引脚焊接于印制板1-1的焊接面实现电装。
本发明的进一步技术方案是：所述老化测试座1-2的型号为LCC6翻盖式测试座。
本发明的进一步技术方案是：所述电阻阻值相同，并与测试仪表4端口的阻抗相匹配。
本发明的进一步技术方案是：所述电阻阻值为50Ω。
本发明的进一步技术方案是：所述印制板1-1的外形尺寸为长*宽*高：600mm*290mm*1.6mm。
本发明的进一步技术方案是：所述印制板1-1上电装有77个老化测试座1-2。
本发明的进一步技术方案是：所述印制板1-1的材料为沉金。
有益效果
本发明的有益效果在于：本发明所述一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，根据常用的表面贴片差分晶体振荡器的供电电压、功耗以及老化设备的电压、电流指标，确定可同时老化的表面贴片差分晶体振荡器数量，结合老化设备各区老化板卡槽的外形规格，确定印制板规格和能够安装的老化测试座数量。通过将多个老化测试座电装于印制板，使其引脚与设计电路接通，即为本发明所述老化测试工装，也被称为老化测试板。通过将相应数量的待测表面贴片差分晶体振荡器一一对应安装于每个老化测试座，即可同时进行多个待测件的老化测试试验。
本发明通过在第4引脚OUT+、第5引脚OUT-的输出电路均加装50Ω电阻并接地，使信号形成回路，由于测试仪表的端口为50Ω，从而和测试仪表相匹配，使测试时仪表损耗减小；通过在加装50Ω电阻的输出电路均引出测试焊盘即可作为测试口进行测试。
本发明不同于传统的表面贴片差分晶体振荡器老化测试工装，通过一体化设计，将老化板和测试座相结合，实现一个工装完成老化和测试两种试验。本发明可一次性完成77只表面贴片差分晶体振荡器的老化，老化后可直接将每个测试口连接测试仪表的测试探头进行测试，节省了现有测试过程中逐个更换器件所用时间，提高了筛选效率。
附图说明
图1为本发明所述老化测试工装原理示意图；
图2为本发明所述老化测试工装老化示意图；
图3为本发明所述老化测试工装测试示意图。
附图标记说明：1.用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装1-1.印制板1-2.老化测试座 2.老化设备 3.直流电源 4.测试仪表 5.测试探头 6.供电夹具A1-A154.测试口R1-R154.电阻。
具体实施方式
下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
参阅图1、图2，本发明所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装1，包括印制板1-1、老化测试座1-2、电阻；所述印制板1-1一面为零件面，另一面为焊接面，印制板1-1上设有多组老化测试座1-2插装孔位；所述老化测试座1-2插装于印制板1-1的零件面，其引脚穿过印制板1-1，并焊接于印制板1-1的焊接面。老化测试座1-2内安装待测表面贴片差分晶体振荡器。
根据常用的表面贴片差分晶体振荡器的供电电压为+5V、+3.3V、+1.8V，功耗均≤330mW，以及老化设备2的标准指标有50V/20A，25V/40A，根据老化设备2输出功率满足待测器件所需的要求，通过功耗计算可获知该老化设备2能同时为多少数量待测器件进行老化试验；同时结合老化设备2各区老化板卡槽的外形规格，设计印制板1-1规格为长*宽*高：600mm*290mm*1.6mm，考虑印制板1-1外形尺寸和差分晶体振荡器的功耗两方面因素，确定该老化测试工装1一次性可老化77只表面贴片差分晶体振荡器。因此，本实施例中印制板1-1设有77组老化测试座1-2的插装孔位，并电装77个老化测试座1-2。为了防止老化测试工装1长期反复插拔，造成插拔接触面损坏，本实施例选择印制板1-1的材料为沉金。
参阅图1、2，所述老化测试座为LCC6翻盖式测试座，77个老化测试座通过其引脚插装于印制板的77组插装孔位，并对其进行编号G1-G77，老化测试座1-2的引脚焊接于印制板1-1的焊接面，每个老化测试座1-2的第1引脚、第2引脚均为NC空脚，第3引脚GND接地，第4引脚OUT+、第5引脚OUT-各连接一个50Ω的电阻，如图1中R1、R2,电阻的另一端均接地使信号形成回路，第6引脚VCC连接印制板电压接口VCC为其供电；所述第4引脚OUT+、第5引脚OUT-与其所连接的电阻之间均引出测试焊盘作为测试口,如图1中A1、A2测试口，直至A153、A154测试口，用于测试待测件。
参阅图1、图2，老化测试座1-2的脚位与待测表面贴片差分晶体振荡器的脚位一致，当待测表面贴片差分晶体振荡器安装于老化测试座1-2，通过老化测试座1-2引脚的电路连接即可实现待测表面贴片差分晶体振荡器相同的电路接通。
使用本发明所述老化测试工装进行老化测试试验流程：
参阅图2，本实施例中使用的待测表面贴片差分晶体振荡器型号为：ZPB
35-L-125-V3-A5-03，将77只待测表面贴片差分晶体振荡器安装于77个老化测试座1-2，保证接触良好后将老化测试工装1插入老化设备2的8个工作区的任一个工作区，根据试验条件，设置老化设备2的供电电压，给老化测试工装1供电，开始进行老化试验，完成该项试验后，降低老化设备2的电压至0V，关闭老化设备2，取出老化测试工装1即可进入测试试验。
参阅图3，通过使用供电夹具6，将老化测试工装1的加电口与直流电源3相连接，设置直流电源3的电压给待测表面贴片差分晶体振荡器供电，使用测试仪表4具体为示波器的测试探头5探测老化测试工装1上的每个测试口，测量77个待测表面贴片差分晶体振荡器频率信号输出是否正常，测试完成后即完成测试试验。
本发明所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，实现了老化与测试的一体化设计，填补了差分晶体振荡器老化测试方面的空白，节省了工作时间，提高了工作效率。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (8)
1.一种用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：包括印制板(1-1)、老化测试座(1-2)、电阻；
所述印制板(1-1)上电装有多个老化测试座(1-2)，老化测试座(1-2)的脚位与待测表面贴片差分晶体振荡器的脚位一致，每个老化测试座(1-2)的第1引脚、第2引脚均为NC空脚，第3引脚GND接地，第4引脚OUT+、第5引脚OUT-各连接一个电阻，电阻的另一端均接地，第6引脚VCC连接印制板电压接口VCC为其供电；所述第4引脚OUT+、第5引脚OUT-与其所连接的电阻之间均引出测试焊盘作为测试口，用于测试待测件；
待测表面贴片差分晶体振荡器安装于老化测试座(1-2)，通过老化设备(2)和测试仪表(4)对其进行老化测试。
2.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述老化测试座(1-2)通过其引脚焊接于印制板(1-1)的焊接面实现电装。
3.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述老化测试座(1-2)的型号为LCC6翻盖式测试座。
4.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述电阻阻值相同，并与测试仪表(4)端口的阻抗相匹配。
5.根据权利要求4所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述电阻阻值为50Ω。
6.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述印制板(1-1)的外形尺寸为长*宽*高：600mm*290mm*1.6mm。
7.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述印制板(1-1)上电装有77个老化测试座(1-2)。
8.根据权利要求1所述用于表面贴片差分晶体振荡器的老化测试工装，其特征在于：所述印制板(1-1)的材料为沉金。
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