CN104142469A - 一种开关性能测试电路 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种开关性能测试电路，包括：稳压电路、计数器、第一开关控制器、第二开关控制器、第三开关控制器、第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块，计数器包括第一数显表、第二数显表、第三数显表；第一开关控制器一端与稳压电路和第一数显表的第一触点连接，另一端与第一测试模块和第一数显表的第二触点连接；第二开关控制器一端与稳压电路和第二数显表的第一触点连接，另一端与第二测试模块和第二数显表的第二触点连接；第三开关控制器一端与稳压电路和第三数显表的第一触点连接，另一端与第三测试模块和第三数显表的第二触点连接。采用本发明，具有提高开关性能测试的测试效率和测试数据的准确性的优点。

Description

一种开关性能测试电路

技术领域

本发明涉及测试电路领域，尤其涉及一种开关性能测试电路。

背景技术

随着科技的发展，电子产品的种类也日益增多，轻触开关、机械开关作为一种产品通断调节控制的主要装置，开关的使用也越来越广泛，因此开关的性能（也为开关的使用寿命）成为一个成为人们关注的主要问题之一。目前，不同行业的不同产品在使用过程中对开关的使用寿命一般都是不一样的，一般可以满足市场需求的开关的使用寿命都是可按压上万次，有点轻触开关甚至要十万次甚至几十万次，为了测试开关的性能，检测开关是否为合格产品，则需要对开关性能进行测试。

现有技术中，对开关的性能进行测试时需要将测试开关固定在开关按钮测试装置上，测试过程中通过万用表的导通档位去检测开关按钮的好坏，无法通过测试电路直接测试开关按钮的好坏，无法根据开关按钮在测试电路中的状态直观判断开关的性能是否合格，测试效率低。

发明内容

本发明实施例提供一种开关性能测试电路，可直接用于检测开关的性能，可监控测试开关的有效测试次数，判断开关是否合格，提高了开关性能测试的测试效率和测试数据的准确性。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种开关性能测试电路，包括：稳压电路、计数器、第一开关控制器、第二开关控制器、第三开关控制器、第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块，所述计数器包括第一数显表、第二数显表、第三数显表；

所述第一开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第一数显表的第一触点连接，所述第一开关控制器另一端分别与所述第一测试模块和所述计数器的第一数显表的第二触点连接；

所述第二开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第二数显表的第一触点连接，所述第二开关控制器另一端分别与所述第二测试模块和所述计数器的第二数显表的第二触点连接；

所述第三开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第三数显表的第一触点连接，所述第三开关控制器另一端分别与所述第三测试模块和所述计数器的第三数显表的第二触点连接。

其中，所述稳压电路，包括：

变压器、整流桥堆、稳压管、第一滤波电容、第二滤波电容；

所述变压器一端与所述开关性能测试电路的输入端连接，所述变压器另一端与所述整流桥堆的输入端连接；

所述第一滤波电容一端与所述整流桥堆的输出端连接，所述第一滤波电容另一端接地；

所述稳压管一端与所述整流桥堆的输出端连接，所述稳压管另一端分别与所述第一测试模块、所述第二测试模块、所述第三测试模块、所述计数器的输入端连接；

所述第二滤波电容一端与所述稳压管连接，所述第二滤波电容另一端接地。

其中，所述开关性能测试电路，还包括：

第一分压电阻，第二分压电阻；

所述第一分压电阻一端与所述稳压管连接，所述第一分压电阻另一端分别与所述第一测试模块、所述第二测试模块、所述第三测试模块、所述第二分压电阻连接；

所述第二分压电阻一端与所述第一分压电阻连接，所述第二分压电阻另一端与所述计数器的输入端连接。

其中，所述计数器与所述第一开关控制器之间，包括：

第一开关控制器保护电阻；

所述第一开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第一数显表的第一触点连接，所述第一开关控制器保护电阻另一端与所述第一开关控制器连接。

其中，所述计数器与所述第二开关控制器之间，包括：

第二开关控制器保护电阻；

所述第二开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第二数显表的第一触点连接，所述第二开关控制器保护电阻另一端与所述第二开关控制器连接。

其中，所述计数器与所述第三开关控制器之间，包括：

第三开关控制器保护电阻；

所述第三开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第三数显表的第一触点连接，所述第三开关控制器保护电阻另一端与所述第三开关控制器连接。

其中，所述第一测试模块，包括：

第一测试开关、第一保护电阻、第一指示器；

所述第一测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第一测试开关另一端与所述第一开关控制器连接；

所述第一保护电阻一端与所述第一开关控制器连接，所述第一保护电阻另一端与所述第一指示器连接；

所述第一指示器一端与所述第一保护电阻连接，所述第一指示器另一端与所述稳压模块连接。

其中，所述第二测试模块，包括：

第二测试开关、第二保护电阻、第二指示器；

所述第二测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第二测试开关另一端与所述第二开关控制器连接；

所述第二保护电阻一端与所述第二开关控制器连接，所述第二保护电阻另一端与所述第二指示器连接；

所述第二指示器一端与所述第二保护电阻连接，所述第二指示器另一端与所述稳压模块连接。

其中，所述第三测试模块，包括：

第三测试开关、第三保护电阻、第三指示器；

所述第三测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第三测试开关另一端与所述第三开关控制器连接；

所述第三保护电阻一端与所述第三开关控制器连接，所述第三保护电阻另一端与所述第三指示器连接；

所述第三指示器一端与所述第三保护电阻连接，所述第三指示器另一端与所述稳压模块连接。

其中，所述第一指示器、所述第二指示器、所述第三指示器，包括：LED灯、蜂鸣器、喇叭中至少一种。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

本发明实施例中所描述的开关性能测试电路结构简单，在测试开关性能时可通过计数器以及开关控制器辅助测试，可监控测试开关的有效测试次数，可更加直观判断测试模块的状态，提高了开关性能测试的效率，降低了开关性能测试的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种开关性能测试电路的电路原理图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例中所描述的开关性能测试电路中所包括的指示器，即第一指示器、第二指示器、第三指示器，可包括：LED灯、蜂鸣器、喇叭等可发出指示信号的指示器。上述指示器仅是举例，而非穷举，包含但不限于上述指示器。下面将以LED灯为例，对本发明实施例中所描述的开关性能测试电路进行具体描述。

参见图1，是本发明实施例提供的一种开关性能测试电路的实施例电路原理图。本实施例中所描述的开关性能测试电路，包括：

稳压电路500、计数器400、第一开关控制器K1、第二开关控制器K2、第三开关控制器K3、第一测试模块100、第二测试模块200、第三测试模块300，所述计数器400，包括：第一数显表、第二数显表、第三数显表；

第一开关控制器K1一端分别与稳压电路500和计数器400的第一数显表的第一触点B1连接，第一开关控制器K1另一端分别与第一测试模块100和计数器400的第一数显表的第二触点B2连接；第二开关控制器K2一端分别与稳压电路500和计数器400的第二数显表的第一触点C1连接，第二开关控制器K2另一端分别与第二测试模块200和计数器400的第二数显表的第二触点C2连接；第三开关控制器K3一端分别与稳压电路500和计数器400的第三数显表的第一触点D1连接，第三开关控制器K3另一端分别与第三测试模块300和计数器400的第三数显表的第二触点D2连接。

具体实现中，上述第一开关控制器K1、第二开关控制器K2、第三开关控制器K3均可为继电器，即可分别为继电器K1、继电器K2和继电器K3。当测试电路通过输入端L和输入端N接入电流之后，稳压电路500则可开始工作，稳压电路500将从输入端接入电压转为为电路所需的稳定电压之后则可导通后面的第一测试模块100，第二测试模块200，第三测试模块300，以及计数器400。计数器400开始通电后，若继电器K1导通，计数器400中第一数显表对应的计数模块则可开始工作，可根据继电器K1的通断状态进行计数，继电器K1每通断一次，第一数显表对应的计数模块则计数一次，并将计数次数累计并显示至第一数显表上；若继电器K2导通，计数器400中第二数显表对应的计数模块则可开始工作，可根据继电器K2的通断状态进行计数，继电器K2每通断一次，第二数显表对应的计数模块则计数一次，并将计数次数累计并显示至第二数显表上；若继电器K3导通，计数器400中第三数显表对应的计数模块则可开始工作，可根据继电器K3的通断状态进行计数，继电器K3每通断一次，第三数显表对应的计数模块则计数一次，并将计数次数累计并显示至第三数显表上。具体实现中，继电器K1、继电器K2、继电器K3的通断则决定于第一测试模块100、第二测试模块200、第三测试模块300的通断。当第一测试模块100正常导通时，继电器K1则可导通，当第一测试模块100出现故障无法导通时，继电器K1则无法导通。同样的，当第二测试模块200正常导通时，继电器K2则可导通，当第二测试模块200出现故障，无法导通时，继电器K2则无法导通；当第三测试模块300正常导通时，继电器K3则可导通，当第三测试模块300出现故障，无法导通时，继电器K3则无法导通。

进一步的，本发明实施例中所描述的开关测试电路中的稳压电路500，包括：

变压器T、整流桥堆BD1、稳压管Q1、第一滤波电容C1、第二滤波电容C2；

变压器T一端与开关性能测试电路的输入端L、N连接，变压器T另一端与整流桥堆BD1的输入端连接；第一滤波电容C1一端与整流桥堆BD1的输出端连接，第一滤波电容C1另一端接地；稳压管Q1一端与整流桥堆BD1的输出端连接，稳压管Q1另一端分别与第一测试模块100、第二测试模块200、第三测试模块300、计数器400的输入端连接；第二滤波电容C2一端与所述稳压管Q1连接，第二滤波电容C2另一端接地。

具体实现中，测试电路通过输入端L和输入端N接入交流电压之后，稳压电路500可则通过其变压器T将接入的大电压变压为测试电路所需的电压值大小，再通过其整流桥堆BD1进行整流，将接入交流电压转变为直流电压，再通过其稳压管Q1和第一滤波电容C1、第二滤波电容C2进行处理，得到测试电路所需的电压值大小的直流电压输出给第一测试模块100和第二测试模块200、第三测试模块300，以及计数器400。

在一些可行的实施方式中，在本发明实施例中所描述的开关性能测试电路，还包括：

第一分压电阻R1，第二分压电阻R5；

第一分压电阻R1一端与稳压管Q1连接，第一分压电阻R1另一端分别与第一测试模块100、第二测试模块200、第三测试模块300、第二分压电阻R5连接；第二分压电阻R5一端与第一分压电阻R1连接，第二分压电阻R5另一端与计数器400的输入端连接。

上述分压电阻R1、R2主要起分压作用，分压电阻R2可将分压电阻R1分压后的电压再进行分压，分压电阻R1、R2可将稳压电路输出的稳定电压转变为计数器所需的稳定电压。

在一些可行的实施方式中，上述计数器400与第一开关控制器K1之间，包括：

第一开关控制器保护电阻R6；

第一开关控制器保护电阻R6一端与计数器400的第一数显表的第一触点B1连接，第一开关控制器保护电阻R6另一端与第一开关控制器K1连接。

上述计数器400与第二开关控制器K2之间，包括：

第二开关控制器保护电阻R7；

第二开关控制器保护电阻R7一端与计数器400的第二数显表的第一触点C1连接，第二开关控制器保护电阻R7另一端与第二开关控制器K2连接。

上述计数器400与第三开关控制器K3之间，包括：

第三开关控制器保护电阻R8；

第三开关控制器保护电阻R8一端与计数器400的第三数显表的第一触点D1连接，第三开关控制器保护电阻R8另一端与第三开关控制器K3连接。

具体实现中，上述第一开关控制器保护电阻R6可在第一开关控制器K1（即继电器K1）导通或者断开时保护继电器K1和计数器400的第一数显表，防止继电器K1导通或者断开瞬间电流过大，损伤计数器或者继电器K1。同样的，第二开关控制器保护电阻R7可在第二开关控制器K2（即继电器K2）导通或者断开时保护继电器K2和计数器400的第二数显表，第三开关控制器保护电阻R8可在第三开关控制器K3（即继电器K3）导通或者断开时保护继电器K3和计数器400的第三数显表。

在一些可行的实施方式中，上述第一测试模块100，包括：

第一测试开关S1、第一保护电阻R2、第一指示器LED1；

第一测试开关S1一端与第一分压电阻R1连接，第一测试开关S1另一端与第一开关控制器K1连接；第一保护电阻R2一端与第一开关控制器K1连接，第一保护电阻R2另一端与第一指示器LED1连接；第一指示器LED1一端与第一保护电阻R2连接，第一指示器LED1另一端与所述稳压模块500连接。

上述第二测试模块200，包括：

第二测试开关S2、第二保护电阻R3、第二指示器LED2；

第二测试开关S2一端与第一分压电阻R1连接，第二测试开关S2另一端与第二开关控制器K2连接；第二保护电阻R3一端与第二开关控制器K2连接，第二保护电阻R3另一端与第二指示器LED2连接；第二指示器LED2一端与第二保护电阻R3连接，第二指示器LED2另一端与稳压模块500连接。

上述第三测试模块300，包括：

第三测试开关S3、第三保护电阻R4、第三指示器LED3；

第三测试开关S3一端与第一分压电阻R1连接，第三测试开关S3另一端与第三开关控制器K3连接；第三保护电阻R4一端与第三开关控制器K3连接，第三保护电阻R4另一端与第三指示器LED3连接；第三指示器LED3一端与第三保护电阻R4连接，第三指示器LED3另一端与稳压模块500连接。

具体实现中，在第一测试模块100中，当第一测试开关S1按下时，若第一测试开关正常导通，第一测试模块100则可从分压电阻R1端接入电流，从而导通继电器K1的常开点，继电器K1的常开点导通之后，第一指示器LED1则可发亮。当第一测试开关处于正常工作状态时，第一测试开关S1每次按压一次（即第一测试开关S1每进行一次测试），继电器K1则断开一次，即继电器K1的通断次数即可反映第一测试开关S1的通断次数。继电器K1还可将其常开点的通断次数反馈给计数器400中第一数显表对应的计数模块，即可将第一测试开关S1的通断次数反馈给计数器400，以通过第一数显表对应的计数模块进行累计计数，将第一测试开关S1的测试次数显示给测试用户。当第一测试开关S1出现故障时，即使按压第一测试开关S1，继电器K1也不会导通，LED1也无法正常发光。第一测试开关出现故障时，继电器K1无法导通，则无法导通计数器400的第一数显表对应的计数模块，使其进行工作，即计数器400只可记载第一测试开关S1正常导通的次数，也即第一测试开关S1的有效测试次数。具体实现中，第二测试模块200、第三测试模块300也可根据上述第一测试模块100的实施方式进行第二测试开关S2、第三测试开关S3的测试，并可将第二测试开关S2、第三测试开关S3的有效测试次数反馈至计数器400，通过计数器400进行累计计数并显示第二测试开关S2、第三测试开关S3的有效测试次数，还可通过第二指示器LED2和第三指示器LED3显示第一测试开关S2、第二测试开关S3的测试状态，在此不再赘述。

下面结合图1，具体描述本发明实施例提供的一种开关性能测试电路的工作原理。

具体实现中，可预先将测试开关（也可称样品开关）焊接到电路的开关连接点上，将测试开关固定在测试电路上。例如，可将第一测试开关S1焊接到开关连接点A1、A2上，将第二测试开关S2焊接到开关连接点A3、A4上，并将第三测试开关S3焊接到开关连接点A5、A6上，将测试开关S1、S2、S3焊接到测试电路上之后则可开始测试工作。

测试开始时，则可给测试电路的L、N端输入AC220V的电压，此时稳压电路500则可工作。测试电路的L端和N端接入AC220V的电压之后，则可通过变压器T进行变压，可将AC220V的电压降低为AC12V，然后再经过整流桥堆BD1进行整流，得到12V的直流电压。整流桥堆BD1输出12V的直流电压之后，则可经过第一滤波电容C1进行滤波，接着通过稳压管Q1进行处理，得到稳定的12V直流电压，得到稳定的12V直流电压之后，再经过第二滤波电容C2进行滤波，得到稳定的直流电压供电路进行开关性能的测试。其中，上述变压器T、整流桥堆BD1、稳压管Q1、第一滤波电容C1、第二滤波电容C2构成了本实施例中所描述的开关性能测试电路的稳压电路500，用于输出稳定的直流电压供测试电路工作。其中，变压器T用于将AC220V的电压变压为AC12V的电压，桥堆BD1起到整流作用，用于将交流电压转变为直流电压，即可将AC12V的电压转变为DC12V的电压，电容C1、C2主要起滤波作用，用于吸收峰值电压，Q1为稳压管，用于输出稳定电压。稳压电路500输出稳定的DC12V的电压供测试电路工作后，电流流向第一分压电阻R1，经过第一分压电阻R1进行分压之后，再经过第二分压电阻R2、第一测试开关S1、第二测试开关S2、第三测试开关S3分别流向计数器400、第一开关控制器K1、第二开关控制器K2、第三开关控制器K3、、第一保护电阻R2、第二保护电阻R3、第三保护电阻R4，以及LED1、LED2、LED3上。计数器400、第一测试模块100、第二测试模块200、第三测试模块300通电后则可正常工作，可对第一测试开关S1、第二测试开关S2、第三测试开关S3进行测试。具体实现中，在第一测试模块100中，当第一测试开关S1按下时，若第一测试开关S1正常导通，第一测试模块100则可从分压电阻R1端接入电流，从而导通继电器K1的常开点，继电器K1的常开点导通之后，第一指示器LED1则可发亮。当第一测试开关S1处于正常工作状态时，第一测试开关S1每次按压一次（即第一测试开关S1每进行一次测试），继电器K1则断开一次，即继电器K1的通断次数即可反映第一测试开关S1的通断次数。继电器K1导通之后，则可导通计数器400的第一数显表对应的计数模块，使计数模块开始计数。继电器K1可将其常开点的通断次数反馈给计数器400中第一数显表对应的计数模块，即可将第一测试开关S1的通断次数反馈给计数器400，以通过第一数显表对应的计数模块进行累计计数，并将第一测试开关S1的测试次数显示给测试用户。当第一测试开关S1出现故障时，即使按压第一测试开关S1，继电器K1也不会导通，LED1也无法正常发光。第一测试开关出现故障时，继电器K1无法导通，则无法导通计数器400的第一数显表对应的计数模块，使其进行工作，即计数器400只可记载第一测试开关S1正常导通的次数，也即第一测试开关S1的有效测试次数。测试用户可通过LED1的发光状况判断第一测试开关S1的工作状态，还可通过计数器的第一数显表直接判断第一测试开关S1的有效测试次数，即可直接判断第一测试开关S1的寿命。具体实现中，第二测试模块200、第三测试模块300也可根据上述第一测试模块100的实施方式进行第二测试开关S2、第三测试开关S3的测试，并可将第二测试开关S2、第三测试开关S3的有效测试次数反馈至计数器400，通过计数器400进行累计计数并通过计数器400的第二数显表和第三数显表显示第二测试开关S2、第三测试开关S3的有效测试次数，还可通过第二指示器LED2和第三指示器LED3显示第一测试开关S2、第二测试开关S3的测试状态，在此不再赘述。

本发明实施例中所描述的开关性能测试电路结构简单、成本低，可通过继电器将测试开关的测试次数反馈给计数器，并通过计数器对测试开关的有效测试次数进行累计计数并显示到计数器的数显表上，还可通过LED灯的工作状态来判断测试开关的工作状态。测试用户可可通过LED灯的工作状态来判断测试开关在测试过程中是否能够正常导通电路，即测试开关是否正常工作，还可通过计数器的数显表上的数据判断测试开关的有效测试次数是否符合要求，即测试开关是否达标，提高了开关性能测试的测试效率和测试数据的准确性。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种开关性能测试电路，其特征在于，包括：

稳压电路、计数器、第一开关控制器、第二开关控制器、第三开关控制器、第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块，所述计数器包括第一数显表、第二数显表、第三数显表；

所述第一开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第一数显表的第一触点连接，所述第一开关控制器另一端分别与所述第一测试模块和所述计数器的第一数显表的第二触点连接；

所述第二开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第二数显表的第一触点连接，所述第二开关控制器另一端分别与所述第二测试模块和所述计数器的第二数显表的第二触点连接；

所述第三开关控制器一端分别与所述稳压电路和所述计数器的第三数显表的第一触点连接，所述第三开关控制器另一端分别与所述第三测试模块和所述计数器的第三数显表的第二触点连接。

2.如权利要求1所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述稳压电路，包括：

变压器、整流桥堆、稳压管、第一滤波电容、第二滤波电容；

所述变压器一端与所述开关性能测试电路的输入端连接，所述变压器另一端与所述整流桥堆的输入端连接；

所述第一滤波电容一端与所述整流桥堆的输出端连接，所述第一滤波电容另一端接地；

所述稳压管一端与所述整流桥堆的输出端连接，所述稳压管另一端分别与所述第一测试模块、所述第二测试模块、所述第三测试模块、所述计数器的输入端连接；

所述第二滤波电容一端与所述稳压管连接，所述第二滤波电容另一端接地。

3.如权利要求2所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述开关性能测试电路，还包括：

第一分压电阻，第二分压电阻；

所述第一分压电阻一端与所述稳压管连接，所述第一分压电阻另一端分别与所述第一测试模块、所述第二测试模块、所述第三测试模块、所述第二分压电阻连接；

所述第二分压电阻一端与所述第一分压电阻连接，所述第二分压电阻另一端与所述计数器的输入端连接。

4.如权利要求1所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述计数器与所述第一开关控制器之间，包括：

第一开关控制器保护电阻；

所述第一开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第一数显表的第一触点连接，所述第一开关控制器保护电阻另一端与所述第一开关控制器连接。

5.如权利要求1所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述计数器与所述第二开关控制器之间，包括：

第二开关控制器保护电阻；

所述第二开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第二数显表的第一触点连接，所述第二开关控制器保护电阻另一端与所述第二开关控制器连接。

6.如权利要求1所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述计数器与所述第三开关控制器之间，包括：

第三开关控制器保护电阻；

所述第三开关控制器保护电阻一端与所述计数器的第三数显表的第一触点连接，所述第三开关控制器保护电阻另一端与所述第三开关控制器连接。

7.如权利要求2所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述第一测试模块，包括：

第一测试开关、第一保护电阻、第一指示器；

所述第一测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第一测试开关另一端与所述第一开关控制器连接；

所述第一保护电阻一端与所述第一开关控制器连接，所述第一保护电阻另一端与所述第一指示器连接；

所述第一指示器一端与所述第一保护电阻连接，所述第一指示器另一端与所述稳压模块连接。

8.如权利要求2所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述第二测试模块，包括：

第二测试开关、第二保护电阻、第二指示器；

所述第二测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第二测试开关另一端与所述第二开关控制器连接；

所述第二保护电阻一端与所述第二开关控制器连接，所述第二保护电阻另一端与所述第二指示器连接；

所述第二指示器一端与所述第二保护电阻连接，所述第二指示器另一端与所述稳压模块连接。

9.如权利要求2所述的开关性能测试电路，其特征在于，所述第三测试模块，包括：

第三测试开关、第三保护电阻、第三指示器；

所述第三测试开关一端与所述第一分压电阻连接，所述第三测试开关另一端与所述第三开关控制器连接；

所述第三保护电阻一端与所述第三开关控制器连接，所述第三保护电阻另一端与所述第三指示器连接；

所述第三指示器一端与所述第三保护电阻连接，所述第三指示器另一端与所述稳压模块连接。

10.如权利要求7-9任意一项所述的开关性能测试电路，所述第一指示器、所述第二指示器、所述第三指示器，包括：LED灯、蜂鸣器、喇叭中至少一种。