CN110639846A - 一种波形测试盘装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种波形测试盘装置，包括底座和测试盘；所述底座上设置有输料槽；所述测试盘包括均设置在底座上的限位盘、遮盖盘和能够自转的转动盘；所述转动盘的边缘紧邻输料槽的出料口，所述转动盘沿其圆周方向自边缘向内开设多个料槽，所述转动盘的底部开设有多个气槽，每个气槽均与一个料槽连通，且连通口位于料槽靠近转动盘圆心侧的侧壁上；所述限位盘和遮盖盘均呈圆环状，所述限位盘紧密的包围在转动盘的周圈，所述限位盘上开设有能够与料槽拼接连通的排料口，所述遮盖盘遮盖在料槽的上方，所述限位盘和遮盖盘在输料槽所在处均开设豁口。其能够循环输送元器件，无缝对接前后工序，输送效率高，结构简单，占用空间小，输送位置准确。
Description
技术领域
本发明涉及测试盘，具体涉及一种波形测试盘装置。
背景技术
元器件在生产过程中或者生产完成后，通常需要对其进行电性波形测试。波形测试是做作为一个单独的工序使用单独的设备进行的。在对其进行测试时，通常是将元器件排布在平台上，而后将探针依次移过每颗元器件，并对每颗元器件进行测试。这种设备平台的结构复杂，运动过程多，且无法无缝对接前后工序。而元器件的个头一般较小，且每天生产的数量巨大，这些额外增加的步骤，大大降低了生产效率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种波形测试盘装置，其能够循环输送元器件，无缝对接前后工序，输送效率高，结构简单，占用空间小，输送位置准确。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种波形测试盘装置，包括底座和测试盘；所述底座上设置有输料槽；所述测试盘包括均设置在底座上的限位盘、遮盖盘和能够自转的转动盘；所述转动盘的边缘紧邻输料槽的出料口，所述转动盘沿其圆周方向自边缘向内开设多个料槽，所述转动盘的底部开设有多个气槽，每个气槽均与一个料槽连通，且连通口位于料槽靠近转动盘圆心侧的侧壁上；所述限位盘和遮盖盘均呈圆环状，所述限位盘紧密的包围在转动盘的周圈，所述限位盘上开设有能够与料槽拼接连通的排料口，所述遮盖盘遮盖在料槽的上方，所述限位盘和遮盖盘在输料槽所在处均开设豁口。
作为优选的，所述料槽与转动盘周面的交接处设置有向外扩散的导向面。
作为优选的，所述料槽在转动盘的边缘处等距均分。
作为优选的，所述遮盖盘上开设有用于侦测料槽内是否存在物料或对物料进行外观测试的侦测孔。
作为优选的，所述底座上设置有重轴，所述重轴的其中一端设置有压杆，所述压杆的自由端设置有压头，所述压头至少压制在料槽的上方。
作为优选的，所述压头的底部设置有导正槽，所述导正槽位于输料槽的出料口和料槽的上方。
作为优选的，所述压头上设置有用于安装侦测料槽是否进料的传感器的传感器支架。
作为优选的，所述重轴与压杆所在端相对的另外一端上设置有感应片，所述底座上设置有与感应片配合的停止传感器。
作为优选的，所述底座上设置有放置驱动源，所述转动盘水平的设置在放置驱动源的自由端。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明通过设置测试盘，能够以圆形循环往复的输送元器件，相对于直线输送，结构更为简单，占用空间更小。
2、本发明通过在转动盘上开设分立的料槽，能够使一颗颗的元器件分离，方便后续的测试和筛选。
3、本发明通过设置气槽和排料口，能够排出瑕疵料，保证生产品质。
4、本发明通过设置限位盘和遮盖盘，能够使元器件始终保持在料槽内，即使在后续扎针测试时，位置依然稳定，为准确的进行波形测试提供了保障。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例技术中的技术方案，下面将对实施例技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还能够根据这些附图获得其他的附图。
图1为测试盘装置的结构示意图；
图2为测试盘的爆炸示意图；
图3为测试盘的仰视示意图；
图4为下压导正单元的仰视结构示意图。
其中，100-底座，101-输料槽，200-旋转驱动源，210-转动盘，211-料槽，212-气槽，213-导向面，220-限位盘，221-排料口，230-遮盖盘，231-侦测孔，240-重轴，241-压杆，242-压头，243-导正槽，244-传感器支架，245-感应片，246-停止传感器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例
参照图1～图4所示，本发明公开了一种波形测试盘装置，包括底座100、旋转驱动源200、测试盘和下压导正单元。
上述底座100上设置有输料槽101。
上述旋转驱动源200设置在底座100上。
上述测试盘包括转动盘210、限位盘220和遮盖盘230。
上述转动盘210水平的设置在旋转驱动源200的自由端。转动盘210的边缘紧邻输料槽101的出料口。转动盘210的边缘处开设有豁口状的料槽211。料槽211从转动盘210的周面开始向内延伸。多个料槽211等距的分布在转动盘210的边缘。旋转驱动源200能够驱动转动盘210旋转，当某个料槽211到达输料槽101的出料口时，元器件即进入料槽211中，并随着转动盘210转动，实现输料；元器件在进入料槽211后，即逐颗分离，位置可控，便于后续的测试，工作效率高。
上述转动盘210的底部开设有多个气槽212。每个气槽212均与一个料槽211连通，且连通口位于料槽211靠近转动盘210圆心侧的侧壁上。气槽212与外部气源连通。气槽212能够对与其连通的料槽211喷气，使该料槽211内的元器件由内而外的被喷出，实现瑕疵料筛选。
作为本发明的进一步改进，上述料槽211与转动盘210周面的交接处设置有向外扩散的导向面213。导向面213能够提高元器件进入料槽211的成功率。
上述限位盘220设置在底座100上。限位盘220呈圆环状。限位盘220紧密的包围在转动盘210的周圈，且在输料槽101所在处开设豁口。限位盘220能够限制料槽211内元器件的水平位置，避免转动盘210在转动时料槽211内的元器件在离心力的作用下从料槽211内脱出。限位盘200上开设有能够与料槽211拼接连通的排料口221。排料口221能够导出排出的将要进入下一工序的元器件或瑕疵料。
上述遮盖盘230设置在底座100上。遮盖盘230呈圆环状。遮盖盘230遮盖在料槽211的上方，且在输料槽101所在处开设豁口。瓶盖盘230能够限制料槽211内元器件的竖直位置，避免元器件向上崩出料槽211，确保作业的连续性、稳定性和可靠性。遮盖盘230上开设有侦测孔231。侦测孔231用于侦测料槽211内是否存在物料或对物料进行外观测试。
上述下压导正单元包括重轴240、压杆241和压头242。上述重轴240转动设置在底座100上，且其中心轴线水平。压杆241设置在重轴240的端部。压头242设置在压杆241的自由端。压头242的底部开设有导正槽243。导正槽243位于输料槽101的出料口和料槽211的上方。导正槽243能够压制在元器件上方，使在水平和竖直方向均能够准确的进入料槽211，保证进入成功率；同时，在导正槽243下方卡料时，只需抬起压头242即可进行清理，操作方便；重轴240具有较大的惯性，减少压头242的波动性。
作为本发明的进一步改进，上述压头242上设置有传感器支架244。传感器支架244用于安装传感器，以侦测导正槽243下方的料槽211是否进入元器件。
作用本发明的进一步改进，上述重轴240与压杆241所在端相对的另外一端上设置有感应片245。底座100上设置有与感应片245配合的停止传感器246。当导正槽243下方卡料时，可以抬起压头242进行清理，同时停止传感器246能够发出信号，进而使装置停止运行。
工作原理：
输料槽101持续输料；旋转驱动源200驱动转动盘210旋转，当料槽211与输料槽101拼合时，元器件即进入料槽211内；而后，该料槽211带动元器件进行输送，到达测试位时，探针从底座100底部穿过底座100扎到元器件上进行测试；同时，下一个料槽211旋转到输料槽101的位置处；以此循环。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理能够在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖点相一致的最宽的范围。
Claims (9)
1.一种波形测试盘装置，其特征在于，包括底座和测试盘；
所述底座上设置有输料槽；
所述测试盘包括均设置在底座上的限位盘、遮盖盘和能够自转的转动盘；
所述转动盘的边缘紧邻输料槽的出料口，所述转动盘沿其圆周方向自边缘向内开设多个料槽，所述转动盘的底部开设有多个气槽，每个气槽均与一个料槽连通，且连通口位于料槽靠近转动盘圆心侧的侧壁上；
所述限位盘和遮盖盘均呈圆环状，所述限位盘紧密的包围在转动盘的周圈，所述限位盘上开设有能够与料槽拼接连通的排料口，所述遮盖盘遮盖在料槽的上方，所述限位盘和遮盖盘在输料槽所在处均开设豁口。
2.如权利要求1所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述料槽与转动盘周面的交接处设置有向外扩散的导向面。
3.如权利要求1所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述料槽在转动盘的边缘处等距均分。
4.如权利要求1所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述遮盖盘上开设有用于侦测料槽内是否存在物料或对物料进行外观测试的侦测孔。
5.如权利要求1所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述底座上设置有重轴，所述重轴的其中一端设置有压杆，所述压杆的自由端设置有压头，所述压头至少压制在料槽的上方。
6.如权利要求5所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述压头的底部设置有导正槽，所述导正槽位于输料槽的出料口和料槽的上方。
7.如权利要求6所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述压头上设置有用于安装侦测料槽是否进料的传感器的传感器支架。
8.如权利要求7所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述重轴与压杆所在端相对的另外一端上设置有感应片，所述底座上设置有与感应片配合的停止传感器。
9.如权利要求1所述的波形测试盘装置，其特征在于，所述底座上设置有放置驱动源，所述转动盘水平的设置在放置驱动源的自由端。
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